CN220207484U - 一种用于x射线测试的变温高压透射样品台 - Google Patents
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Abstract
一种用于X射线测试的变温高压透射样品台，包括接线盒(1)、支架(2)、调节距离旋钮(3)、旋钮固定架(4)、低温高压台平台(5)、感温元件(6)、铜块(7)、控温片(8)、第一铜片(9)、第一铍窗(10)、低温高压台主体(11)、第二铍窗(12)、第二铜片(13)；支架(2)固定于X射线设备样品台位置(23)处，使得X射线从光源(22)发出后穿过样品台样品腔室，接线盒(1)固定于支架(2)的下方；低温高压台平台(5)用第一螺丝(14)固定于支架(2)的上侧。
Description
技术领域
本实用新型属于机械领域。具体地说属于科学仪器领域，更具体地涉及一种用于X射线测试的变温高压透射样品台。
背景技术
在对样品进行X射线的测试中，有时需要在不同温度及不同压力下对样品进行测试。因此承载样品的样品台需要具备调节温度与压力的功能，且能够适用于不同样品的测试。目前主流变温样品台为反射模式，只能够在室温以上对X射线吸收系数比较高的无机粉末进行压力测试工作，不能应用于室温以下的测试，且不能应用于低吸收系数粉末样品的测试，不能承载薄膜样品。因此，需要开发一种变温高压透射台，在实现较宽范围变温的同时，不仅仅能够适用于所有粉末样品的测试，还能够应用于薄膜样品。
实用新型内容
本实用新型的实施例提供了一种可在低于室温的情况下进行高压测试的透射样品台，可以在不同温度下进行对X射线吸收系数低的样品及薄膜样品的高压测试。
本实用新型的实施例提供了一种用于X射线测试的变温透射样品台，整体装置为一体式结构，能够安装于X射线仪器样品台位置，能够在低于室温之下对不同样品进行高压透射测试，其采用以下技术方案：
一种用于X射线测试的变温高压透射样品台，其包括接线盒，支架，调节距离旋钮，旋钮固定架，低温高压台平台，铜块，控温片，第一铜片，第一铍窗，低温高压台主体，第二铍窗，第二铜片，感温元件；其中，所述低温高压台平台固定于X射线仪器样品台位置；所述接线盒固定于低温高压台平台下部，起到梳理导线的作用；所述第一铍窗，第一铜片，控温片，铜块依次固定于低温高压台主体前侧；所述第二铍窗，第二铜片依次固定于低温高压台主体后侧；所述感温元件固定于低温高压台主体底部，上端位于样品腔室内，另外一端通过导线连接加热控温设备；所述低温高压台主体固定于低温高压台平台上；所述低温高压台平台固定于支架上；所述旋钮固定架固定于支架上；所述调节距离旋钮拧在螺丝固定架上且与低温高压台平台嵌合，通过旋转旋钮实现低温高压台平台的左右移动；所述控温片上设有入水口与出水口，连接冷却水循环装置用来精确控温；所述低温高压台主体上方与右侧分别存在一对气路出入口，连接压力表与气体钢瓶来控制压力；所述装置首先将样品置于低温高压台主体的样品腔室内，将样品台组装完毕后通过控温片进行控温，通过气路控压，通过螺丝调节光路，实现不同温度不同压力下的X射线透射测试工作。
本实用新型开发了一种用于X射线测试的变温高压透射样品台，该样品台能够在不同温度下，包括在低于室温下进行不同压力的X射线透射测试。同时，该样品台能够测试所有粉末样品及薄膜样品，拓宽了样品台的应用范围。
附图说明
图1是已有的变温高压反射样品台结构示意图。
图2是本实用新型实施例提供的变温高压透射样品台结构示意图。
图3是本实用新型实施例提供的变温高压透射样品台各部件结构示意图。
图4是本实用新型实施例提供的变温高压透射样品台在X射线设备中位置图。
图5是本实用新型实施例提供的变温高压透射样品台局部结构示意图。
图6是本实用新型实施例提供的变温高压透射样品台另一局部结构示意图。
附图标记说明：
图1中，a)反射模式高压样品台外貌，b)反射模式高压样品台样品槽视图。
图3中，1：接线盒，2：支架，3：调节距离旋钮，4：旋钮固定架，5：低温高压台平台，6：感温元件，7：铜块，8：控温片，9：第一铜片，10：第一铍窗，11：低温高压台主体，12：第二铍窗，13：第二铜片。
图4中，22：X射线光源，23：X射线设备样品台固定处。
图5为调节距离旋钮3、旋钮固定架4与低温高压台平台5的组装后剖面图，14：第一螺丝，15：第二螺丝，16：第三螺丝，17：第一长条孔洞，18：第二长条孔洞，19：嵌合结构。
图6为低温高压主体11的具体部位说明，20：样品腔室，21：孔洞。
具体实施方式
目前市场上主流的高压样品台为反射型高压样品台，其使用温度在室温之上。图1左图a)为反射型高压样品台外貌，右图b)为反射型高压样品台样品槽视图。该样品台可以在反射模式下进行室温以上高压下样品的结构分析，也可以在温度或者压力变化下观测样品结构的变化。但是这种反射型高压样品台只适合对X射线吸收系数高的样品的高温高压测试，这使得其应用受到了限制。
本实用新型中，将样品台由反射模式修改为透射模式，可以适用于所有粉末样品与薄膜样品。且通过控温片的加入实现了室温以下的测试。
如图2所示，本实用新型的实施例提供了一种用于X射线测试的变温高压透射样品台，所述样品台为安装于X射线样品台位置的一体式结构。
如图2-图3所示，用于X射线测试的变温高压透射样品台包括接线盒1、支架2、调节距离旋钮3、旋钮固定架4、低温高压台平台5、感温元件6、铜块7、控温片8、第一铜片9、第一铍窗10、低温高压台主体11、第二铍窗12、第二铜片13。支架2固定于X射线设备样品台位置23处，使得X射线从光源22发出后穿过样品台样品腔室，具体位置如图4所示。接线盒1固定于支架2的下方。低温高压台平台5用第一螺丝14固定于支架2的上侧。调节距离旋钮3为螺丝结构，拧入旋钮固定架4中央的螺母孔洞，且调节距离旋钮3末端与低温高压台平台5形成嵌合结构19，将旋钮固定架4用第二螺丝15固定于支架2上侧，如图5、图6所示。另外，第一螺丝14固定于第一长条孔洞17中，通过旋转调节距离旋钮3能够实现低温高压台平台5的左右移动(定义第一长条孔洞17长轴方向为左右方向)。低温高压台主体11通过第三螺丝16固定于低温高压台平台5上方，其中间为样品腔室20。第一铍窗10与第二铍窗12分别固定于低温高压台主体11两侧封住样品腔室，第一铜片9与第二铜片13分别用六个螺丝固定于第一铍窗10与第二铍窗12的外侧，第一铜片9外侧固定有控温片8，控温片8的外侧固定铜块7，铜块7通过角上四个螺丝直接与低温高压台主体11连接。感温元件6从下方分别穿过支架2、低温高压台主体5上的第二长条孔洞18与低温高压台平台11上孔洞21插入样品腔室20内，另一端通过接线盒中的导线连接加热控温装置，用于样品腔室内的精确控温。控温片8通过导线连接加热控温装置，控温片8为具有一定厚度片状结构，内部设置水流通道，水流通道具有出入水口，出入水口连接冷却水循环装置进行精确控温。低温高压台主体11上侧与一侧边分别有一套气体出入口，形成气体回路，通过连接压力表与高压气体钢瓶来实现压力的控制。
通过以上结构的设计，可以实现样品在不同温度与不同压力下的透射测试工作。测试时，首先将样品预制为小圆片，放入低温高压台主体11中间的样品腔室内，依次将第二铍窗12，第二铜片13安装好形成密闭腔室。通过调节距离旋钮3的旋转实现样品台的左右移动，从而调节X射线的入射位置。通过控温片8与感温元件6实现精确控温。通过低温高压台主体11上的气路控制压力。上述的调节能够实现不同温度与压力下样品的X射线透射测试工作。
本实用新型实施例提供的用于X射线测试的变温高压透射样品台能够对所有粉末样品与薄膜样品进行室温以下的高压透射测试工作，也可以进行较大范围内的温度与压力变化下样品结构的变化测试工作，功能性超过现有的反射型高压样品台。
以上所述仅为本实用新型的优选实施例，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可能会有各种更改和变化。凡在不脱离本实用新型的原理和精神范围之内的更改和变化，均在本实用新型专利保护范围之内。
Claims (4)
1.一种用于X射线测试的变温高压透射样品台，其特征在于，所述用于X射线测试的变温高压透射样品台包括接线盒(1)、支架(2)、调节距离旋钮(3)、旋钮固定架(4)、低温高压台平台(5)、感温元件(6)、铜块(7)、控温片(8)、第一铜片(9)、第一铍窗(10)、低温高压台主体(11)、第二铍窗(12)、第二铜片(13)；
支架(2)固定于X射线设备样品台位置(23)处，使得X射线从光源(22)发出后穿过样品台样品腔室，接线盒(1)固定于支架(2)的下方；低温高压台平台(5)用第一螺丝(14)固定于支架(2)的上侧；调节距离旋钮(3)为螺丝结构，拧入旋钮固定架(4)中央的螺母孔洞，且调节距离旋钮(3)末端与低温高压台平台(5)形成嵌合结构(19)，将旋钮固定架(4)用第二螺丝(15)固定于支架(2)上侧；第一螺丝(14)固定于第一长条孔洞(17)中，通过旋转调节距离旋钮(3)能够实现低温高压台平台(5)的左右移动；低温高压台主体(11)通过第三螺丝(16)固定于低温高压台平台(5)上方，其中间为样品腔室(20)；第一铍窗(10)与第二铍窗(12)分别固定于低温高压台主体(11)两侧封住样品腔室，第一铜片(9)与第二铜片(13)分别用六个螺丝固定于第一铍窗(10)与第二铍窗(12)的外侧，第一铜片(9)外侧固定有控温片(8)，控温片(8)的外侧固定铜块(7)，铜块(7)通过角上四个螺丝直接与低温高压台主体(11)连接。
2.根据权利要求1所述的用于X射线测试的变温高压透射样品台，其特征在于，感温元件(6)从下方分别穿过支架(2)、低温高压台主体(11)上的第二长条孔洞(18)与低温高压台平台(5)上孔洞(21)插入样品腔室(20)内，另一端通过接线盒中的导线连接加热控温装置，用于样品腔室内的精确控温。
3.根据权利要求2所述的用于X射线测试的变温高压透射样品台，其特征在于，控温片(8)通过导线连接加热控温装置，控温片(8)为具有一定厚度片状结构，内部设置水流通道，水流通道具有出入水口，出入水口连接冷却水循环装置进行精确控温。
4.根据权利要求3所述的用于X射线测试的变温高压透射样品台，其特征在于，低温高压台主体(11)上侧与一侧边分别有一套气体出入口，形成气体回路，通过连接压力表与高压气体钢瓶来实现压力的控制。
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