CN220137281U - 一种光耦的测试电路 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及光耦的测试电路技术领域，具体为一种光耦的测试电路，本实用新型可以在于不利用机台和电路板就可以直接测试光耦的好坏；本电路测试采用HCPL‑2231光耦，专一性强，操作简单灵活；本测试电路质量轻，便于携带，只需配对一台电源即可测试此光耦的好坏；通过光耦U1采用8脚直插光耦底座与电路板相连接，从而方便后续光耦U1的插拔；本测试电路输入端串了200欧姆的电阻，对光耦U1起到限流，保护的作用。
Description
技术领域
本实用新型涉及光耦的测试电路技术领域，具体为一种光耦的测试电路。
背景技术
针对多种的、不同的空间位置的情况，需要方便的对其进行扫描与检测，仅是固定点位的显然不能满足不同的需求。
在相关技术中，将每一光耦检测点排列成行列工整的矩阵形式，然后通过红外反射对这一矩阵点位上的物体进行检测，其中每行统一供电，每列的输出点通过二极管并联到一起，则可以通过单行通电，并检测每一列的信号测得这一行上每一点的检测情况；然后更换下一行通电，循环扫描来实现整个矩阵的检测的方式，然而针对电路测试HCPL-2231光耦时，需要利用专门的机台和电路板进行测试，存在测试麻烦和不方便维护的问题。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种光耦的测试电路，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种光耦的测试电路，包括光耦U1、限流电阻R1、限流电阻R2、按钮开关S1、按钮开关S2、发光二极管D1、发光二极管D2、电源VCC和电源VCC1，所述光耦U1的引脚1串联连接有限流电阻R1，所述限流电阻R1通过按钮开关S1与电源VCC相连接，所述光耦U1的引脚4串联连接有限流电阻R2，所述限流电阻R2通过按钮开关S2与电源VCC相连接，所述光耦U1的引脚2、引脚3和引脚5接地，所述光耦U1的引脚8连接电源VCC1，所述光耦U1的引脚6串联连接有发光二极管D2，所述光耦U1的引脚7串联连接有发光二极管D1，所述发光二极管D1和发光二极管D2的一端接地。
优选的，所述光耦U1的采用的型号为HCPL-2231光耦。
优选的，所述限流电阻R1和限流电阻R2采用电阻为200欧的直插色环电阻。
优选的，所述电源VCC和电源VCC1提供5V/1A的直流电。
优选的，所述光耦U1采用8脚直插光耦底座与电路板相连接。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：本实用新型可以在于不利用机台和电路板就可以直接测试光耦的好坏；本电路测试采用HCPL-2231光耦，专一性强，操作简单灵活；本测试电路质量轻，便于携带，只需配对一台电源即可测试此光耦的好坏；通过光耦U1采用8脚直插光耦底座与电路板相连接，从而方便后续光耦U1的插拔；本测试电路输入端串了200欧姆的电阻，对光耦U1起到限流，保护的作用。
附图说明
图1为本实用新型的电路结构示意图；
图2为本实用新型的光耦U1的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“竖直”、“上”、“下”、“水平”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
在本实用新型的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
请参阅图1-2，本实用新型提供一种技术方案：一种光耦的测试电路，包括光耦U1、限流电阻R1、限流电阻R2、按钮开关S1、按钮开关S2、发光二极管D1、发光二极管D2、电源VCC和电源VCC1，光耦U1的引脚1串联连接有限流电阻R1，限流电阻R1通过按钮开关S1与电源VCC相连接，光耦U1的引脚4串联连接有限流电阻R2，限流电阻R2通过按钮开关S2与电源VCC相连接，光耦U1的引脚2、引脚3和引脚5接地，光耦U1的引脚8连接电源VCC1，光耦U1的引脚6串联连接有发光二极管D2，光耦U1的引脚7串联连接有发光二极管D1，发光二极管D1和发光二极管D2的一端接地。
进一步的，光耦U1的采用的型号为HCPL-2231光耦。
进一步的，限流电阻R1和限流电阻R2采用电阻为200欧的直插色环电阻。
进一步的，电源VCC和电源VCC1提供5V/1A的直流电。
进一步的，光耦U1采用8脚直插光耦底座与电路板相连接。
工作原理：电源VCC和电源VCC1分别接一路5v，1A的直流电，经过按钮开关S1和S2，经过200欧的限流电阻，到HCPL-2231光耦U1的引脚1和引脚4，光耦的内部结构，输入是二个光敏二极管，二极管会工作，输出的v01和v02会有一个高电平出来，将v01和v02接到发光二极管D1和D2上面，发光二极管D1和D2接收到高电平会亮，以此来判断光耦的好坏。
本实用新型可以在于不利用机台和电路板就可以直接测试光耦的好坏；本电路测试采用HCPL-2231光耦，专一性强，操作简单灵活；本测试电路质量轻，便于携带，只需配对一台电源即可测试此光耦的好坏；通过光耦U1采用8脚直插光耦底座与电路板相连接，从而方便后续光耦U1的插拔；本测试电路输入端串了200欧姆的电阻，对光耦U1起到限流，保护的作用。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围有所附权利要求及其等同物限定。
Claims (5)
1.一种光耦的测试电路，包括光耦U1、限流电阻R1、限流电阻R2、按钮开关S1、按钮开关S2、发光二极管D1、发光二极管D2、电源VCC和电源VCC1，其特征在于：所述光耦U1的引脚1串联连接有限流电阻R1，所述限流电阻R1通过按钮开关S1与电源VCC相连接，所述光耦U1的引脚4串联连接有限流电阻R2，所述限流电阻R2通过按钮开关S2与电源VCC相连接，所述光耦U1的引脚2、引脚3和引脚5接地，所述光耦U1的引脚8连接电源VCC1，所述光耦U1的引脚6串联连接有发光二极管D2，所述光耦U1的引脚7串联连接有发光二极管D1，所述发光二极管D1和发光二极管D2的一端接地。
2.根据权利要求1所述的一种光耦的测试电路，其特征在于：所述光耦U1的采用的型号为HCPL-2231光耦。
3.根据权利要求1所述的一种光耦的测试电路，其特征在于：所述限流电阻R1和限流电阻R2采用电阻为200欧的直插色环电阻。
4.根据权利要求1所述的一种光耦的测试电路，其特征在于：所述电源VCC和电源VCC1提供5V/1A的直流电。
5.根据权利要求1所述的一种光耦的测试电路，其特征在于：所述光耦U1采用8脚直插光耦底座与电路板相连接。
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2023
- 2023-06-01 CN CN202321386991.2U patent/CN220137281U/zh active Active
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