CN209283244U - 一种混合多模olt光模块测试板 - Google Patents
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Abstract
本实用新型属于光通信技术领域,公开了一种混合多模OLT光模块测试板,包括:金手指插座、微处理器电路、第一SD检测器、第二SD检测器;金手指插座的I2C端口连接微处理器电路,金手指插座的GPON端口连接第一SD检测器,金手指插座的XGPON端口连接第二SD检测器;第一SD检测器、第二SD检测器分别与微处理器电路连接,微处理器电路通过USB接口与上位机连接。本实用新型解决了现有技术中GPON和XG‑PON共存的OLT光模块在测试中模式倒换频繁、插拔频繁,导致研发和生产测试效率较低、光模块易损坏的问题,达到了提高研发和生产测试效率,降低测试成本的技术效果。
Description
技术领域
本实用新型涉及光通信技术领域,尤其涉及一种混合多模OLT光模块测试板。
背景技术
PON(无源光网络)网络由OLT(光线路终端)、ONU(光网络单元)和ODN(光分配网)组成,由于PON网络技术具有高性能、运维成本低等显著优势,在国内已成为宽带接入的主流。
当前PON网络技术中GPON(吉比特无源光网络)网络技术应用非常广泛,GPON网络技术的下行速率是2.488Gbps,上行速率是1.244Gbps。随着用户对通讯速率需求的增长,XGPON(万兆比特无源光网络)网络技术应运而生,XGPON网络技术的下行速率是9.953Gbps,上行速率是2.488Gbps。
在运营商对PON网络进行升级或扩容时,鉴于延续原有GPON网络用户和节省空间降低成本等原因,一般会优先采用GPON和XG-PON共存的OLT光模块(即Combo PON光模块)。
Combo PON光模块集成了GPON OLT光模块和XGPON OLT光模块,拥有两个发射机和两个接收机,如采用传统的测试方法,需要分别测试两个发射部分和两个接收部分的信号,尤其对于OLT光模块不易检测的SD信号,不仅造成测试模式倒换频繁,不利于提高研发和生产测试效率,而且频繁的插拔易造成光模块损坏,也不能组成自动测试系统。
实用新型内容
本申请实施例通过提供一种混合多模OLT光模块测试板,解决了现有技术中GPON和XG-PON共存的OLT光模块在测试中模式倒换频繁、插拔频繁,导致研发和生产测试效率较低、光模块易损坏的问题。
本申请实施例提供一种混合多模OLT光模块测试板,包括:包括:金手指插座、微处理器电路、第一SD检测器、第二SD检测器;
所述金手指插座的I2C端口连接所述微处理器电路,所述金手指插座的GPON端口连接所述第一SD检测器,所述金手指插座的XGPON端口连接所述第二SD检测器;所述第一SD检测器、所述第二SD检测器分别与所述微处理器电路连接,所述微处理器电路通过USB接口与上位机连接。
优选的,所述混合多模OLT光模块测试板还包括:第一复位电路;所述第一复位电路与所述第一SD检测器连接。
优选的,所述混合多模OLT光模块测试板还包括:第一显示电路;所述第一显示电路分别与所述第一SD检测器、所述微处理器电路连接。
优选的,所述混合多模OLT光模块测试板还包括:第二复位电路;所述第二复位电路与所述第二SD检测器连接。
优选的,所述混合多模OLT光模块测试板还包括:第二显示电路;所述第二显示电路分别与所述第二SD检测器、所述微处理器电路连接。
优选的,所述第一复位电路为手动复位电路。
优选的,所述第一显示电路采用发光二极管显示。
优选的,所述第二复位电路为手动复位电路。
优选的,所述第二显示电路采用发光二极管显示。
本申请实施例中提供的一个或多个技术方案,至少具有如下技术效果或优点:
在本申请实施例中,将GPON和XG-PON共存的OLT光模块插入金手指插座,并完成相关信号线连接后,光模块在测试过程中不再需要进行信号连接线的更改或倒换,配合自动测试指令能一次性完成光模块的相关信号测试,可大幅提高研发和生产测试效率,降低测试成本。
附图说明
为了更清楚地说明本实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本实用新型的一个实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型实施例提供的一种混合多模OLT光模块测试板的框架示意图。
其中,1-金手指插座、2-第一复位电路、3-第一显示电路、4-第一SD检测器、5-微处理器电路、6-第二SD检测器、7-第二复位电路、8-第二显示电路。
具体实施方式
本实施例提供一种混合多模OLT光模块测试板主要包括:金手指插座、微处理器电路、第一SD检测器、第二SD检测器。
所述金手指插座的I2C端口连接所述微处理器电路,所述金手指插座的GPON端口连接所述第一SD检测器,所述金手指插座的XGPON端口连接所述第二SD检测器;所述第一SD检测器、所述第二SD检测器分别与所述微处理器电路连接,所述微处理器电路通过USB接口与上位机连接。
将GPON和XG-PON共存的OLT光模块插入金手指插座,并完成相关信号线连接后,光模块在测试过程中不再需要进行信号连接线的更改或倒换,配合自动测试指令能一次性完成光模块的相关信号测试。
为了更好的理解上述技术方案,下面将结合说明书附图以及具体的实施方式对上述技术方案进行详细的说明。
本实施例提供了一种混合多模OLT光模块测试板,如图1所示,包括:金手指插座1、第一复位电路2(即图1中的复位电路1)、第一显示电路3(即图1中的显示电路1)、第一SD检测器4(即图1中的SD检测器1)、微处理器电路5、第二SD检测器6(即图1中的SD检测器2)、第二复位电路7(即图1中的复位电路2)、第二显示电路8(即图1中的显示电路2)。
所述金手指插座1的I2C端口连接所述微处理器电路5,所述微处理器电路5分别连接所述第一SD检测器4、所述第一显示电路3、所述第二SD检测器6、所述第二显示电路8。所述金手指插座1的I2C端口连接到所述微处理器电路5,使插入所述金手指插座1的光模块可以和所述微处理器电路5进行通信,所述微处理器电路5通过USB接口和上位机连接,通过上位机可以对光模块进行读取和写入操作。
所述第一SD检测器4接收来自所述金手指插座1的GPON SD跳变信号,当GPON SD信号由低变高时,所述第一SD检测器4会检测到此跳变,并将检测器输出置高,所述第一显示电路3可显示此跳变,或者由所述微处理器电路5进行转换后,通过USB在上位机上显示该跳变状态。
由于所述第一SD检测器4会将输出信号进行保持,为了检测下一个跳变信号,需要将所述第一SD检测器4进行复位。此时,可采用所述第一复位电路2,或者采用采用上位机给所述微处理器电路5下达指令,使所述微处理器电路5对所述第一SD检测器4输出一个复位信号,使所述第一SD检测器4输出信号复位,所述第一SD检测器4可待命检测下一个跳变信号。
所述第一复位电路2为手动复位电路,可采用复位按钮的形式。所述第一显示电路3可采用发光管显示。
所述第二SD检测器6接收来自所述金手指插座1的XGPON SD跳变信号,当XGPON SD信号由低变高时,所述第二SD检测器6会检测到此跳变,并将检测器输出置高,所述第二显示电路8可显示此跳变,或者由所述微处理器电路5进行转换后,在上位机上显示该跳变状态。
由于所述第二SD检测器6会将输出信号进行保持,为了检测下一个跳变信号,需要将所述第二SD检测器6进行复位,此时可采用所述第二复位电路7,或者采用上位机给所述微处理器电路5下达指令,使所述微处理器电路5对所述第二SD检测器6输出一个复位信号,使所述第二SD检测器6输出信号复位,所述第二SD检测器6可待命检测下一个跳变信号。
所述第二复位电路7为手动复位电路,可采用复位按钮的形式。所述第二显示电路8可采用发光管显示。
需要说明的是,本实用新型中的复位电路、显示电路、微处理器电路采用现有技术中相应的常用电路即可,SD检测器采用常规型号即可。
本实用新型提供的测试板采用了能同时检测GPON SD和XGPON SD信号的电路,在OLT光模块插入金手指插座、完成相关信号线连接后,测试过程中不再需要进行信号连接线的更改或倒换,配合自动测试指令能一次性完成光模块的相关信号测试,可大幅提高研发和生产测试效率,降低测试成本。
利用本实用新型对SD信号进行检测时,既能采用手动模式进行检测,也可以采用自动模式进行检测。具体的,既可以在缺少上位机时采用手动测试,也可以在上位机上显示SD检测器的输出状态,或者通过上位机给SD检测器下达复位信号。此外,配合合适的自动测试指令,该测试板还可以用于完成光模块自动测试。
最后所应说明的是,以上具体实施方式仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制,尽管参照实例对本实用新型进行了详细说明,本领域的普通技术人员应当理解,可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换,而不脱离本实用新型技术方案的精神和范围,其均应涵盖在本实用新型的权利要求范围当中。
Claims (9)
1.一种混合多模OLT光模块测试板,其特征在于,包括:金手指插座、微处理器电路、第一SD检测器、第二SD检测器;
所述金手指插座的I2C端口连接所述微处理器电路,所述金手指插座的GPON端口连接所述第一SD检测器,所述金手指插座的XGPON端口连接所述第二SD检测器;所述第一SD检测器、所述第二SD检测器分别与所述微处理器电路连接,所述微处理器电路通过USB接口与上位机连接。
2.根据权利要求1所述的混合多模OLT光模块测试板,其特征在于,还包括:第一复位电路;所述第一复位电路与所述第一SD检测器连接。
3.根据权利要求1所述的混合多模OLT光模块测试板,其特征在于,还包括:第一显示电路;所述第一显示电路分别与所述第一SD检测器、所述微处理器电路连接。
4.根据权利要求1所述的混合多模OLT光模块测试板,其特征在于,还包括:第二复位电路;所述第二复位电路与所述第二SD检测器连接。
5.根据权利要求1所述的混合多模OLT光模块测试板,其特征在于,还包括:第二显示电路;所述第二显示电路分别与所述第二SD检测器、所述微处理器电路连接。
6.根据权利要求2所述的混合多模OLT光模块测试板,其特征在于,所述第一复位电路为手动复位电路。
7.根据权利要求3所述的混合多模OLT光模块测试板,其特征在于,所述第一显示电路采用发光二极管显示。
8.根据权利要求4所述的混合多模OLT光模块测试板,其特征在于,所述第二复位电路为手动复位电路。
9.根据权利要求5所述的混合多模OLT光模块测试板,其特征在于,所述第二显示电路采用发光二极管显示。
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CN201920256325.4U CN209283244U (zh) | 2019-02-28 | 2019-02-28 | 一种混合多模olt光模块测试板 |
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Publications (1)
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110557693A (zh) * | 2019-09-26 | 2019-12-10 | 上海欣诺通信技术股份有限公司 | 光网络协议分析仪 |
CN113382324A (zh) * | 2021-08-12 | 2021-09-10 | 武汉西迪特通信技术有限公司 | Gpon&epon模式可切换的方法及双模olt头端设备 |
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CN113382324B (zh) * | 2021-08-12 | 2021-11-23 | 武汉西迪特通信技术有限公司 | Gpon&epon模式可切换的方法及双模olt头端设备 |
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