CN220063181U - 一种用于光线测试的分光仪 - Google Patents

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杨震
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Abstract

本实用新型公开了一种用于光线测试的分光仪,其中包括支撑架和安装于支撑架顶部的分光仪本体,所述支撑架的底部固定连接有支撑脚,所述分光仪本体的中端顶部设置有支撑杆,所述支撑杆的内部活动连接有调节杆,所述支撑杆的顶部固定连接有碟簧,所述碟簧的顶部固定连接有活动抵块,所述活动抵块的内壁开设有通孔,所述活动抵块的顶部设置有放置台,该装置通过设置有支撑架、支撑脚、分光仪本体、通孔、支撑杆、调节杆、碟簧、活动抵块和放置台,方便了对放置台的高度进行调节,并在调节后实现旋转和滑动的同步限位,继而提高了调节的牢固性,避免了意外滑动或转动的情况,满足了人们的工作需求,值得进行推广使用。

Description

一种用于光线测试的分光仪
技术领域
本实用新型属于半导体技术方向,具体涉及一种用于光线测试的分光仪。
背景技术
分光仪又称分光计,是用来准确测量光线偏折角度的仪器。分光仪利用各种原理可以将一束混合光分成多束纯光,一般用于光谱分析。以光电倍增管等光探测器在不同波长位置,测量谱线强度的装置。其构造由一个入射狭缝,一个色散系统,一个成像系统和一个或多个出射狭缝组成。以色散元件将辐射源的电磁辐射分离出所需要的波长或波长区域,并在选定的波长上(或扫描某一波段)进行强度测定,分光仪被广泛的用于半导体发光实验中。
现有的分光仪在进行高度调节时,一般通过螺栓螺母结构实现,而螺栓螺母结构虽然具有滑动锁紧功能,但不具有角度的锁紧功能,使得在实验过程中容易发生转动后导致滑动的情况。该现象成为本领域人员亟待解决的问题。
实用新型内容
本实用新型的目的在于针对现有的装置一种用于光线测试的分光仪,以解决上述背景技术中提出的问题。
为了解决上述技术问题,本实用新型提供如下技术方案:一种用于光线测试的分光仪,包括支撑架和安装于支撑架顶部的分光仪本体,所述支撑架的底部固定连接有支撑脚,所述分光仪本体的中端顶部设置有支撑杆,所述支撑杆的内部活动连接有调节杆,所述支撑杆的顶部固定连接有碟簧,所述碟簧的顶部固定连接有活动抵块,所述活动抵块的内壁开设有通孔,所述活动抵块的顶部设置有放置台,所述放置台的顶部安装有定位机构,通过设置有支撑架、支撑脚、分光仪本体、通孔、支撑杆、调节杆、碟簧、活动抵块和放置台,方便了对放置台的高度进行调节,并在调节后实现旋转和滑动的同步限位,继而提高了调节的牢固性,避免了意外滑动或转动的情况,满足了人们的工作需求,值得进行推广使用。
本实用新型进一步说明,所述调节杆的顶部伸出支撑杆的内部,且支撑杆与调节杆之间为螺纹连接,方便了调节杆转动的同时进行滑动。
本实用新型进一步说明,所述调节杆与碟簧为贯穿连接,且活动抵块通过碟簧与支撑杆构成伸缩结构,方便了碟簧有效的进行伸缩形变。
本实用新型进一步说明,所述活动抵块为环形结构,且活动抵块的顶部与放置台的底部相互抵接,方便了活动抵块对放置台施加阻尼。
本实用新型进一步说明,所述放置台与调节杆为固定连接,且调节杆通过放置台与支撑杆构成旋转结构,方便了通过放置台拨动调节杆旋转。
本实用新型进一步说明,所述定位机构包括支撑块,所述支撑块的内壁固定连接有固定杆,所述固定杆的外壁活动连接有活动块,通过定位机构设置有支撑块、固定杆、活动块和垫片,实现了对半导体进行快速的定位功能,继而避免了物体在被测过程中发生偏移的情况,提高了使用时的稳定性。
本实用新型进一步说明,所述支撑块为“凹”字形结构,且活动块通过固定杆与支撑块构成旋转结构,且活动块与固定杆之间设置有扭簧,方便了带动活动块复位转动。
本实用新型进一步说明,所述活动块的一侧固定连接有垫片,且垫片为弹性结构,方便了通过垫片减少对半导体的挤压。
与现有技术相比,本实用新型所达到的有益效果是:本实用新型,
(1)通过设置有支撑架、支撑脚、分光仪本体、通孔、支撑杆、调节杆、碟簧、活动抵块和放置台,方便了对放置台的高度进行调节,并在调节后实现旋转和滑动的同步限位,继而提高了调节的牢固性,避免了意外滑动或转动的情况,满足了人们的工作需求,值得进行推广使用;
(2)通过定位机构设置有支撑块、固定杆、活动块和垫片,实现了对半导体进行快速的定位功能,继而避免了物体在被测过程中发生偏移的情况,提高了使用时的稳定性。
附图说明
附图用来提供对本实用新型的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型,并不构成对本实用新型的限制。在附图中:
图1是本实用新型的整体结构示意图;
图2是本实用新型的正视结构示意图;
图3是本实用新型的定位机构组成结构示意图;
图4是本实用新型的支撑杆与碟簧连接结构示意图;
图5是本实用新型的活动抵块与放置台连接结构示意图。
图中:1、支撑架;2、支撑脚;3、分光仪本体;4、通孔;5、支撑杆;6、调节杆;7、碟簧;8、活动抵块;9、放置台;10、定位机构;1001、支撑块;1002、固定杆;1003、活动块;1004、垫片。
具体实施方式
以下结合较佳实施例及其附图对本实用新型技术方案作进一步非限制性的详细说明。显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-5,本实用新型提供技术方案:一种用于光线测试的分光仪,包括支撑架1和安装于支撑架1顶部的分光仪本体3,支撑架1的底部固定连接有支撑脚2,分光仪本体3的中端顶部设置有支撑杆5,支撑杆5的内部活动连接有调节杆6,支撑杆5的顶部固定连接有碟簧7,碟簧7的顶部固定连接有活动抵块8,活动抵块8的内壁开设有通孔4,活动抵块8的顶部设置有放置台9,放置台9的顶部安装有定位机构10,通过设置有支撑架1、支撑脚2、分光仪本体3、通孔4、支撑杆5、调节杆6、碟簧7、活动抵块8和放置台9,方便了对放置台9的高度进行调节,并在调节后实现旋转和滑动的同步限位,继而提高了调节的牢固性,避免了意外滑动或转动的情况,满足了人们的工作需求,值得进行推广使用,上述分光仪本体3的型号为FGY-01型分光仪。
调节杆6的顶部伸出支撑杆5的内部,且支撑杆5与调节杆6之间为螺纹连接,方便了调节杆6转动的同时进行滑动。
调节杆6与碟簧7为贯穿连接,且活动抵块8通过碟簧7与支撑杆5构成伸缩结构,方便了碟簧7有效的进行伸缩形变。
活动抵块8为环形结构,且活动抵块8的顶部与放置台9的底部相互抵接,方便了活动抵块8对放置台9施加阻尼。
放置台9与调节杆6为固定连接,且调节杆6通过放置台9与支撑杆5构成旋转结构,方便了通过放置台9拨动调节杆6旋转。
定位机构10包括支撑块1001,支撑块1001的内壁固定连接有固定杆1002,固定杆1002的外壁活动连接有活动块1003,通过定位机构10设置有支撑块1001、固定杆1002、活动块1003和垫片1004,实现了对半导体进行快速的定位功能,继而避免了物体在被测过程中发生偏移的情况,提高了使用时的稳定性。
支撑块1001为“凹”字形结构,且活动块1003通过固定杆1002与支撑块1001构成旋转结构,且活动块1003与固定杆1002之间设置有扭簧,方便了带动活动块1003复位转动。
活动块1003的一侧固定连接有垫片1004,且垫片1004为弹性结构,方便了通过垫片1004减少对半导体的挤压。
首先拨动活动块1003旋转,使得活动块1003带动扭簧形变,接着通过扭簧的弹性,将带动活动块1003复位转动,使得活动块1003带动垫片1004对半导体进行定位,接着拨动放置台9旋转,当拨动放置台9的力气大于碟簧7的阻尼力时,将使得放置台9摆脱活动抵块8的抵紧,使得放置台9带动调节杆6旋转,使得调节杆6通过支撑杆5的螺纹连接进行旋转并滑动,从而使得对放置台9的高度进行调节,与此同时,放置台9将推动活动抵块8滑动,使得活动抵块8带动碟簧7形变,后续通过碟簧7的弹性,使得活动抵块8复位滑动后对放置台9施加阻尼,使得放置台9不会轻易发生转动。
在本实用新型的描述中,需要理解的是,术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。
最后需要指出的是:以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案,而非对其限制。尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (8)

1.一种用于光线测试的分光仪,包括支撑架(1)和安装于支撑架(1)顶部的分光仪本体(3),其特征在于:所述支撑架(1)的底部固定连接有支撑脚(2),所述分光仪本体(3)的中端顶部设置有支撑杆(5),所述支撑杆(5)的内部活动连接有调节杆(6),所述支撑杆(5)的顶部固定连接有碟簧(7),所述碟簧(7)的顶部固定连接有活动抵块(8),所述活动抵块(8)的内壁开设有通孔(4),所述活动抵块(8)的顶部设置有放置台(9),所述放置台(9)的顶部安装有定位机构(10)。
2.根据权利要求1所述的一种用于光线测试的分光仪,其特征在于:所述调节杆(6)的顶部伸出支撑杆(5)的内部,且支撑杆(5)与调节杆(6)之间为螺纹连接。
3.根据权利要求1所述的一种用于光线测试的分光仪,其特征在于:所述调节杆(6)与碟簧(7)为贯穿连接,且活动抵块(8)通过碟簧(7)与支撑杆(5)构成伸缩结构。
4.根据权利要求1所述的一种用于光线测试的分光仪,其特征在于:所述活动抵块(8)为环形结构,且活动抵块(8)的顶部与放置台(9)的底部相互抵接。
5.根据权利要求1所述的一种用于光线测试的分光仪,其特征在于:所述放置台(9)与调节杆(6)为固定连接,且调节杆(6)通过放置台(9)与支撑杆(5)构成旋转结构。
6.根据权利要求1所述的一种用于光线测试的分光仪,其特征在于:所述定位机构(10)包括支撑块(1001),所述支撑块(1001)的内壁固定连接有固定杆(1002),所述固定杆(1002)的外壁活动连接有活动块(1003)。
7.根据权利要求6所述的一种用于光线测试的分光仪,其特征在于:所述支撑块(1001)为“凹”字形结构,且活动块(1003)通过固定杆(1002)与支撑块(1001)构成旋转结构,且活动块(1003)与固定杆(1002)之间设置有扭簧。
8.根据权利要求6所述的一种用于光线测试的分光仪,其特征在于:所述活动块(1003)的一侧固定连接有垫片(1004),且垫片(1004)为弹性结构。
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