CN220040507U - 一种小型号片式薄膜电阻器测试夹具 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种小型号片式薄膜电阻器测试夹具，包括：壳体组件和测试组件；壳体组件包括底壳和上盖，底壳内形成有容置腔以及与容置腔连通的开口，测试组件穿设在开口中；上盖与底壳转动连接；测试组件包括浮板、多个探针和电路板；浮板上设置有容置槽，容置槽内设置有通孔；浮板沿测试夹具的竖直方向在第一位置和第二位置之间滑动；多个探针固定在浮板的下方，电路板固定在多个探针的下方；探针的第一端与电路板接触，第二端与通孔相对应；上盖转动至打开位置时，浮板位于第一位置远离探针；上盖上设置有压块，压块用于当上盖转动至关闭位置时，将电阻器压紧在容置槽内并且将浮板压至第二位置使得探针的第二端穿过通孔与电阻器接触。

Description

一种小型号片式薄膜电阻器测试夹具

一、所属技术领域

本实用新型涉及精密测试技术领域，尤其涉及一种小型号片式薄膜电阻器测试夹具。

二、背景技术

随着科技的不断发展，要求电阻器既要实现小型化，又要具有高精度和高稳定性。为了确保电阻器的质量、精度和可靠性，在生产过程中需要对其进行温度特性、介质耐电压、功率处理等多项测试。目前，通常采用精密电表配合表笔或者采用测试夹具对电阻器进行测量。

而由于片式薄膜电阻器的尺寸很小，如长1毫米宽0.5毫米的片式薄膜电阻器电极宽度仅为0.2毫米，现有表笔的笔头通常较大，无法对电阻器进行精准的对位测量。而现有的测试夹具在对电阻器进行测试时，容易发生晃动，从而引起阻值变化，造成测量结果的不准确。

三、实用新型内容

有鉴于此，本公开实施例提供一种小型号片式薄膜电阻器测试夹具。

所述电阻器测试夹具包括：壳体组件和测试组件；

所述壳体组件包括底壳和上盖，所述底壳内形成有容置腔以及与所述容置腔连通的开口，所述测试组件穿设在所述开口中；所述上盖与所述底壳转动连接，使得所述上盖在打开位置和关闭位置之间转动；

所述测试组件包括浮板、多个探针和电路板；

所述浮板上设置有容置槽，用于放置待测的电阻器，所述容置槽内设置有至少两个通孔；所述浮板能够沿所述测试夹具的竖直方向在第一位置和第二位置之间滑动；

多个所述探针固定在所述浮板的下方，所述电路板固定在多个所述探针的下方；多个所述探针的数量与所述通孔的数量相对应，所述探针的第一端与所述电路板接触，第二端与所述通孔相对应；

所述上盖转动至所述打开位置时，所述浮板位于所述第一位置远离所述探针；

所述上盖上设置有压块，所述压块用于当所述上盖转动至所述关闭位置时，将待测的所述电阻器压紧在所述容置槽内并且将所述浮板压至所述第二位置使得多个所述探针的所述第二端穿过所述通孔与所述电阻器接触。

在一些实施例中，所述测试组件还包括：

针板，多个所述探针固定在所述针板上，所述针板上设置有定位柱；

所述浮板上设置有开口；

所述浮板通过所述开口套在所述定位柱上，使得所述浮板能够沿所述测试夹具的所述竖直方向在所述第一位置和所述第二位置之间滑动。

在一些实施例中，所述定位柱上套有弹簧，用于为所述浮板提供回复力；

所述弹簧位于所述针板和所述浮板之间；

所述上盖从所述关闭位置转动至所述打开位置时，所述浮板通过所述弹簧提供的回复力从所述第二位置滑动至所述第一位置。

在一些实施例中，所述壳体组件为金属制构件；

所述浮板为绝缘制构件。

在一些实施例中，所述容置槽的数量为多个，多个所述容置槽间隔设置在所述浮板上。

在一些实施例中，多个所述容置槽的形状相同；或者，多个所述容置槽的形状不同。

在一些实施例中，所述容置槽内设置有四个所述通孔；

当所述上盖转动至所述关闭位置时，四个所述探针分别穿过四个所述通孔与待测的所述电阻器的电极接触。

在一些实施例中，所述浮板背离所述容置腔的一侧朝靠近所述容置腔的一侧凹陷，形成凹陷部；

所述容置槽设置在所述凹陷部内。

在一些实施例中，所述上盖还设置有锁定件，用于所述上盖转动至所述关闭位置时，通过所述锁定件锁定所述上盖和所述底壳。

在一些实施例中，所述锁定件为手扣。

本公开实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：

本公开实施例的测试夹具包括浮板和压块，待测的电阻器是放置在浮板的容置槽内的，而浮板能够沿测试夹具的竖直方向在第一位置和第二位置之间滑动。当上盖处于打开位置时，浮板位于第一位置，并且远离探针，这样能够保障向容置槽内放置电阻器时不会由于探针的突出而造成电阻器的位置偏移。当上盖出于关闭位置时，在压块的作用下浮板向第二位置滑动，此时，探针能够穿过容置槽内的通孔与电阻器接触，从而保障探针对位的精确，而电阻器也同样能够在压块的作用下压紧在容置槽内，不会发生晃动，提高了测量的准确性。

四、附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。

图1是根据一示例性实施例示出的一种测试夹具的示意性立体图；

图2是根据一示例性实施例示出的一种测试夹具的上盖处于打开位置时的示意性立体图；

图3是根据一示例性实施例示出的一种测试夹具的示意性剖视图；

图4是根据一示例性实施例示出的一种测试夹具的局部示意性剖视图；

图5是根据一示例性实施例示出的一种测试夹具的示意性俯视图。

附图标记说明

1-壳体组件；11-底壳；12-上盖；121-压块；122-锁定件；2-测试组件；21-浮板；211-容置槽；212-通孔；213-凹陷部；22-探针；22a-探针的第一端；22b-探针的第二端；23-电路板；24-针板；241-定位柱；242-弹簧；100-测试夹具。

五、具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或者相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置的例子。

在本公开中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本公开。除非另作定义，本公开使用的技术术语或科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开说明书以及权利要求书中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。同样，“一个”或者“一”等类似词语也不表示数量限制，而是表示存在至少一个，若仅指代“一个”时会单独说明。“多个”或者“若干”表示两个及两个以上。除非另行指出，“前部”、“后部”、“下部”和/或“上部”等类似词语只是为了便于说明，而并非限于一个位置或者一种空间定向。“包括”或者“包含”等类似词语意指出现在“包括”或者“包含”前面的元件或者物件涵盖出现在“包括”或者“包含”后面列举的元件或者物件及其等同，并不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似词语并非限定于物理的或者机械的连接，而且可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。在本公开说明书和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解，本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。

如图1和图2所示，本公开实施例提供了一种小型号片式薄膜电阻器测试夹具100。该测试夹具100包括：壳体组件1和测试组件2。

壳体组件1是测试夹具的外部保护壳体，壳体组件1包括底壳11，底壳11内形成有容置腔，用于容置实现测试夹具功能的各种功能性器件。底壳11上还形成有开口，开口与容置腔连通，测试组件2穿设在开口中。

壳体组件1还包括上盖12，上盖12与底壳11转动连接，使得上盖12能够在打开位置和关闭位置之间转动。

当上盖12处于打开位置时，上盖12远离底壳11，显露出设在开口中的测试组件2。当上盖12处于关闭位置时，上盖12扣合在底壳11上。

示例性地，上盖12和底壳11例如可以通过转动轴转动连接，这样，上盖12可以围绕转动轴转动，从而使得上盖12能够在打开位置和关闭位置之间转动。

又示例性地，上盖12和底壳11可以通过铰接的方式转动连接，并且在铰接端处可以设置有弹簧，使得上盖12能够自动打开，并且在自动代开后能够保持抬起状态。

当然，上盖12和底壳11也可以通过任何其他合适的方式转动连接。

在本公开实施例中，壳体组件1大体呈长方体的形状。长方体的形状便于用户握持，同时结构简单，易于加工。

在一些其他实施例中，壳体组件1也可以例如呈正方体形状或者圆柱体形状等任何其他形状，本公开实施例不对其结构形状进行具体的限定。

测试组件2为容置腔内用于实现测试夹具测试功能的组件。测试组件2包括浮板21、多个探针22和电路板23。

如图5所示，浮板21上设置有容置槽211，用于放置待测的电阻器(图中未示出)。容置槽211的形状和尺寸可以与待测的电阻器的形状和尺寸相同，如此，能够降低电阻器在测试过程中发生位移的可能性，提高测量的准确性。

如图3所示，容置槽211内设置有至少两个通孔212，通孔212的位置与待测电阻器的电极相对应，同时还与探针22的第二端22b相对应，如此，在进行测试时，探针22的第二端22b能够穿过通孔212与待测电阻器的电极接触，从而保障探针22对位的糟准。

如图3和图4所示，浮板21能够沿测试夹具的竖直方向在第一位置和第二位置之间滑动。

第一位置是指浮板21与底壳11的开口处齐平时的位置，此时，浮板21远离多个探针22，如此，能够保障容置槽211的槽底壁的平整，这样在放入电阻器时，能够保障电阻器不会由于探针的突出而造成位置的偏移。

第二位置是指浮板21被下压进入到底壳11的容置腔内时的位置，此时，探针22会穿过通孔212，与容置槽211内的电阻器接触，从而开始进行测试。

多个探针22固定在浮板21的下方，电路板23固定在多个探针22的下方。多个探针22的数量与通孔212的数量相对应，一个探针22与一个通孔212相对应。探针22的第一端22a与电路板23接触，第二端22b与通孔212相对应。第一端22a是第二端22b的相反端。

上盖12转动至打开位置时，浮板21位于第一位置远离探针22，此时，容置槽的槽底壁能够保持平整，且上盖12处于打开位置时，浮板21的上方没有任何遮挡，用户可以直接将待测的电阻器准确且平稳的放置在容置槽211内。

如图2和图3所示，上盖12上设置有压块121，压块121用于当上盖12转动至关闭位置时，将待测的电阻器压紧在容置槽211内并且将浮板21压至第二位置使得多个探针22的第二端22b穿过通孔212与电阻器接触。这样，既能够保障探针22对位的精确，同时还能够保障待测的电阻器在压块的作用下压紧在容置槽211内，不会发生晃动，提高了测量的准确性。

在本公开实施例中，探针22可以为弹性探针，即，探针22的第一端22a和第二端22b可以相对于探针本体伸缩。这样，当浮板21在压块121的作用下滑动至第二位置，使得探针22与电阻器接触时，能够降低探针22损坏电阻器的可能性。

如图3和图4所示，测试组件2还包括：针板24，用于固定多个探针22。针板24上形成有多个让位孔，多个让位孔的数量与探针22的数量相同，并且多个让位孔的直径尺寸略小于探针的直径尺寸，一个探针22与一个让位孔过盈配合，使得多个探针22分别固定在多个让位孔中，从而实现多个探针22的固定。

针板24上设置有定位柱241。浮板21上设置有开口，开口的位置与定位柱241的位置相对应，浮板22通过开口套在定位柱241上，使得浮板21能够沿测试夹具的竖直方向在所述第一位置和所述第二位置之间滑动。

在本公实施例中，定位柱241与针板24形成为一体结构，如此，能够在保障连接稳定性的同时，减少构件的数量，节约成本。

在一些其他实施例中，定位柱241例如也可以通过粘合等任何其他合适方法固定在针板24上。

在本公开实施例中，针板24上设置有两个定位柱241，两个定位柱241分别位于针板24相对的两端，如此，能够保障浮板21在第一位置和第二位置之间滑动时的滑动稳定性。

在一些其他实施例中，针板24上还可以设置有更多个定位柱241。示例性地，可以设置有四个定位柱241，四个定位柱241分别位于针板24的四角。

如图4所示，定位柱241上套有弹簧242，弹簧242用于为浮板21提供回复力。弹簧242位于针板24和浮板21之间，当上盖12从关闭位置转动至打开位置时，浮板21通过弹簧242提供的回复力从二位置滑动至第一位置。

壳体组件1为金属制构件，浮板21为绝缘制构件。

在本公开实施例中，壳体组件1由金属材料制成，金属材料的导热性良好，在对电阻器进行温度系数测试时，能够更快的将温度传导至浮板21所在的区域，使得位于容置槽211内的电阻能够更快的达到测试温度。

示例性地，壳体组件可以由铝合金或钛合金制成。

浮板21可以由塑料等绝缘材料制成，塑料材料包括但不限于聚碳酸酯材料(Polycarbonate，PC)，PC材料具有良好的机械性能，具有高强度、良好的尺寸稳定性和低蠕变性。

浮板21由塑料材料制成一方面能够降低测试中发生短路的可能性，另一方面塑料材料的硬度相对较低，更加易于在其上制作用于容置待测电阻器的容置槽。

本领域技术人员应当理解，壳体组件1和浮板21也可以由任何其他合适的材料制成，本公开实施例不做具体的限制。

容置槽211的数量为多个，多个容置槽211间隔设置在浮板21上。

如图5所示，在本公开实施例中，浮板21上设置有三排共九个容置槽211，九个容置槽211间隔布置在浮板21上，如此，可以同时对九个电阻器进行测试。

在一些其他实施例中，浮板上21上可以设置有更少或者更多个容置槽。可以根据实际使用需求以及测试夹具的尺寸大小设置适当数量的容置槽。

多个容置槽211的形状相同；或者，多个容置槽211的形状不同。

在本公开实施例中，多个容置槽211的形状是相同的。当然，在一些其他实施例中，多个容置槽211的形状可以不同，用户可以根据实际待测的电阻器的形状来确定容置槽211的形状。

在本公开实施例中，容置槽211内设置有四个通孔212，分别供四个探针22穿过。当上盖12转动至关闭位置时，四个探针22分别穿过四个通孔212与待测的电阻器的电极接触。

其中，四个探针中的两个探针用于向电阻器提供测试电流，另外两个探针用于测试电阻器的电压，与仅通过两个探针进行测试相比，能够消除探针对电阻器压降的影响，进一步的确保测试精度。

如图4所示，浮板21背离容置腔的一侧朝靠近容置腔的一侧凹陷，形成凹陷部213，容置槽211设置在凹陷部213内。

凹陷部213的尺寸与压块121的尺寸相同，或者略大于压块121的尺寸。浮板21上设置有凹陷部213能够使得压块121对电阻器的压合更加紧密，同时，能够保障上盖12处于关闭位置时，上盖12与底壳11之间的贴合更加紧密。

如图1至图3所示，上盖12还设置有锁定件122，用于上盖12转动至关闭位置时，通过锁定件122锁定上盖12和底壳11，如此，能够防止在测试过程中上盖12的抬起，保障了压块压合的稳定性，提高了测量的准确性。

在本公开实施例中，锁定件122为手扣，手扣的结构简单，便于制造，并且很容易开合，使得上盖12能够灵活的在打开位置和关闭位置之间切换。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的申请后，将容易想到本公开的其它实施方案。本公开旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变换遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由权利要求指出。

应当理解的是，本公开不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围的情况下进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限制。

Claims (10)

1.一种小型号片式薄膜电阻器测试夹具，其特征在于，包括：壳体组件和测试组件；

所述壳体组件包括底壳和上盖，所述底壳内形成有容置腔以及与所述容置腔连通的开口，所述测试组件穿设在所述开口中；所述上盖与所述底壳转动连接，使得所述上盖在打开位置和关闭位置之间转动；

所述测试组件包括浮板、多个探针和电路板；

所述浮板上设置有容置槽，用于放置待测的电阻器，所述容置槽内设置有至少两个通孔；所述浮板能够沿所述测试夹具的竖直方向在第一位置和第二位置之间滑动；

多个所述探针固定在所述浮板的下方，所述电路板固定在多个所述探针的下方；多个所述探针的数量与所述通孔的数量相对应，所述探针的第一端与所述电路板接触，第二端与所述通孔相对应；

所述上盖转动至所述打开位置时，所述浮板位于所述第一位置远离所述探针；

所述上盖上设置有压块，所述压块用于当所述上盖转动至所述关闭位置时，将待测的所述电阻器压紧在所述容置槽内并且将所述浮板压至所述第二位置使得多个所述探针的所述第二端穿过所述通孔与所述电阻器接触。

2.根据权利要求1所述的测试夹具，其特征在于，所述测试组件还包括：

针板，多个所述探针固定在所述针板上，所述针板上设置有定位柱；

所述浮板上设置有开口；

所述浮板通过所述开口套在所述定位柱上，使得所述浮板能够沿所述测试夹具的所述竖直方向在所述第一位置和所述第二位置之间滑动。

3.根据权利要求2所述的测试夹具，其特征在于，

所述定位柱上套有弹簧，用于为所述浮板提供回复力；

所述弹簧位于所述针板和所述浮板之间；

所述上盖从所述关闭位置转动至所述打开位置时，所述浮板通过所述弹簧提供的回复力从所述第二位置滑动至所述第一位置。

4.根据权利要求1所述的测试夹具，其特征在于，

所述壳体组件为金属制构件；

所述浮板为绝缘制构件。

5.根据权利要求1所述的测试夹具，其特征在于，

所述容置槽的数量为多个，多个所述容置槽间隔设置在所述浮板上。

6.根据权利要求5所述的测试夹具，其特征在于，

多个所述容置槽的形状相同；或者，

多个所述容置槽的形状不同。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的测试夹具，其特征在于，所述容置槽内设置有四个所述通孔；

当所述上盖转动至所述关闭位置时，四个所述探针分别穿过四个所述通孔与待测的所述电阻器的电极接触。

8.根据权利要求1所述的测试夹具，其特征在于，

所述浮板背离所述容置腔的一侧朝靠近所述容置腔的一侧凹陷，形成凹陷部；

所述容置槽设置在所述凹陷部内。

9.根据权利要求1所述的测试夹具，其特征在于，

所述上盖还设置有锁定件，用于所述上盖转动至所述关闭位置时，通过所述锁定件锁定所述上盖和所述底壳。

10.根据权利要求9所述的测试夹具，其特征在于，

所述锁定件为手扣。