CN220019805U - 一种pcb排针测试装置 - Google Patents

一种pcb排针测试装置 Download PDF

Info

Publication number
CN220019805U
CN220019805U CN202321699094.7U CN202321699094U CN220019805U CN 220019805 U CN220019805 U CN 220019805U CN 202321699094 U CN202321699094 U CN 202321699094U CN 220019805 U CN220019805 U CN 220019805U
Authority
CN
China
Prior art keywords
fixing
probe
pin header
pcb
notch
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202321699094.7U
Other languages
English (en)
Inventor
韦锦景
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Zhongshan Suntech Intelligent Technology Co ltd
Original Assignee
Zhongshan Suntech Intelligent Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Zhongshan Suntech Intelligent Technology Co ltd filed Critical Zhongshan Suntech Intelligent Technology Co ltd
Priority to CN202321699094.7U priority Critical patent/CN220019805U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN220019805U publication Critical patent/CN220019805U/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

本实用新型公开了一种PCB排针测试装置。该PCB排针测试装置包括探针固定座,探针固定座间隔开设有竖向贯通的多个固定槽,至少一固定槽内竖向设有一探针组,探针组包括两根底部相对弯折的弹性探针。本实用新型通过两根底部相对弯曲的弹性探针夹紧PCB板的排针,形成两点式接触,相比现有使用两根组装针扎中排针进行测试,本实用新型只需下压探针固定座,即可使弹性探针与PCB排针紧密接触,测试更加方便,同时可适配不同直径规格的PCB排针,以及避免测试时弹性探针和PCB排针之间产生侧滑和扎不准的现象,测试数据更准确。

Description

一种PCB排针测试装置
技术领域
本实用新型涉及PCB排针测试技术领域,尤其涉及一种PCB排针测试装置。
背景技术
排针被广泛应用于PCB板的连接上,有万用连接器的美名,但因其针脚凸出PCB板面,不方便进行测试,针脚直径规格多,导致对其进行测试比较困难,而且测其阻抗等功能时,用一线单点测试会有误差大,测试精度不达标等问题。
实用新型内容
本实用新型实施例提供了一种PCB排针测试装置,旨在解决现有的排针测试技术测试困难和测试误差大的问题。
本实用新型提供一种PCB排针测试装置,包括探针固定座,所述探针固定座间隔开设有竖向贯通的多个固定槽,至少一所述固定槽内竖向设有一探针组,所述探针组包括两根底部相对弯折的弹性探针。
进一步的,所述探针固定座包括固定卡板和盖合于所述固定卡板侧面的盖板,所述固定槽设于所述固定卡板的一侧,多个所述固定槽面向所述盖板的一侧开放设置,所述固定卡板和所述盖板以可拆卸的方式连接。
进一步的,所述固定槽内还竖向设有垫块,所述垫块位于两根所述弹性探针之间。
进一步的,每一所述弹性探针的底部包括第一折弯部和连接于所述第一折弯部底部的第二折弯部,在每一所述探针组中,其中一弹性探针的第一折弯部与第二折弯部的连接处朝向另一弹性探针折弯。
进一步的,每一所述弹性探针位于所述固定槽的部分为固定部,所述固定部的至少一侧向内凹陷形成第一缺口,所述固定槽与所述第一缺口相对的位置朝向所述固定部延伸形成卡接于所述第一缺口中的第一凸块。
进一步的,所述垫块至少一侧向内凹陷形成第二缺口,所述固定槽与所述第二缺口相对的位置朝向所述垫块延伸形成卡接于所述第二缺口中的第二凸块。
进一步的,所述第一缺口和第二缺口的位置相同且形状匹配,所述第一凸块和第二凸块的位置相同且形状匹配。
进一步的,每一所述弹性探针的顶部向上延伸至所述固定槽外,用于连接至测试板卡上。
进一步的,所述弹性探针的顶部通过飞线连接至所述测试板卡或者焊接至所述测试板卡上。
进一步的,所述固定卡板面向所述盖板的一侧设有安装孔,所述盖板相对所述安装孔的位置设有固定孔,通过连接件穿过所述安装孔和固定孔使所述盖板与所述固定卡板固定连接。
本实用新型实施例提供了一种PCB排针测试装置。该PCB排针测试装置包括探针固定座,探针固定座间隔开设有竖向贯通的多个固定槽,至少一固定槽内竖向设有一探针组,探针组包括两根底部相对弯折的弹性探针。本实用新型通过两根底部相对弯曲的弹性探针夹紧PCB排针,形成两点式接触,相比现有使用两根组装针扎中排针进行测试,本实用新型只需下压探针固定座,即可使弹性探针与PCB排针紧密接触,测试更加方便,同时可适配不同直径规格的PCB排针,以及避免测试时弹性探针和PCB排针之间产生侧滑和扎不准的现象,测试数据更准确。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型实施例提供的PCB排针测试装置的整体示意图;
图2为本实用新型实施例提供的PCB排针测试装置一视角的爆炸图;
图3为图2中A区域的放大示意图;
图4为本实用新型实施例提供的PCB排针测试装置中固定卡板的示意图;
图5为本实用新型实施例提供的PCB排针测试装置中探针组和垫块对齐的示意图;
图6为本实用新型实施例提供的PCB排针测试装置中探针组和垫块分开的示意图;
图7为本实用新型实施例提供的PCB排针测试装置中探针组和垫块安装于固定卡板的示意图。
图示:1、探针固定座;11、固定卡板;111、固定槽;101、第一凸块;112、安装孔;12、盖板;121、固定孔;13、垫块;131、第二缺口;2、弹性探针;21、第一折弯部;22、第二折弯部;23、固定部;231、第一缺口;3、PCB排针。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
应当理解,当在本说明书和所附权利要求书中使用时,术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在,但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
还应当理解,在此本实用新型说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本实用新型。如在本实用新型说明书和所附权利要求书中所使用的那样,除非上下文清楚地指明其它情况,否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
还应当进一步理解,在本实用新型说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合,并且包括这些组合。
如图1所示,本实用新型实施例提供一种PCB排针测试装置,包括探针固定座1,探针固定座1上间隔开设有竖向贯通的多个固定槽111,至少一固定槽111内竖向设有一探针组,探针组包括两根底部相对弯折的弹性探针2。本实用新型通过两根底部相对弯曲的弹性探针2夹紧PCB排针3,形成两点式接触,相比现有使用两根组装针扎中排针进行测试,本实用新型实施例在进行测试时,只需下压探针固定座1,即可使弹性探针2与PCB排针3紧密接触,测试更加方便。同时可利用两根弹性探针2的弹力,夹紧不同直径规格的PCB排针3,从而适配不同直径规格的PCB排针3。这样可避免测试时弹性探针2和PCB排针3之间产生侧滑和扎不准的现象,测试数据更准确。
如图2和图4所示,为了便于用户对固定槽111内的探针组进行更换调整,探针固定座1包括固定卡板11和盖合于固定卡板11侧面的盖板12,固定槽111设于固定卡板11面向盖板12的一侧,多个固定槽111面向盖板12的一侧开放设置,固定卡板11和盖板12以可拆卸的方式连接。固定卡板11和盖板12以可拆卸的方式连接,在需要更换调整探针组时,用户可快速拆开盖板12,进而进行探针组的更换或调整。
如图2所示,固定槽111内还竖向设有垫块13,垫块13位于两根弹性探针2之间。两根弹性探针2在垫块13的作用下,可稳定的固定于固定槽111内,用户可更改垫块13长度调整两根弹性探针2的间距,使两根弹性探针2的间距能够适配不同直径的PCB排针3,从而满足测试需要。
在一实施例中,每一弹性探针2的底部包括第一折弯部21和连接于第一折弯部21底部的第二折弯部22,在每一探针组中,其中一弹性探针2的第一折弯部21与第二折弯部22的连接处朝向另一弹性探针2折弯。如图2和图3所示,其中一根弹性探针2的第一折弯部21和第二折弯部22连接形成大于号“>”的结构,另一根弹性探针2的第一折弯部21和第二折弯部22连接形成小于号“>”的结构,两根弹性探针2的底部共同构成类似“X”的结构,使用探针组测试PCB排针3时,两根弹性探针2在第二折弯部22的导向作用下,更便于两根弹性探针2夹住PCB排针3。其中,两根弹性探针2的第一折弯部21和第二折弯部22的连接处的间距小于PCB排针3的针脚直径,使两根弹性探针2可夹紧PCB排针3,接触更紧密。
在一实施例中,每一弹性探针2位于固定槽111的部分为固定部23,固定部23的至少一侧向内凹陷形成第一缺口231,固定槽111与第一缺口231相对的位置朝向固定部23延伸形成卡接于第一缺口231中的第一凸块101。如图2所示,固定部23的两侧向内凹陷形成两个第一缺口231,固定槽111与两个第一缺口231相对的位置朝向固定部23延伸形成卡接于第一缺口231的两个第一凸块101。固定部23通过两个第一缺口231与固定槽111的两个第一凸块101卡接,提升弹性探针2固定于固定槽111内的稳定性。
在一实施例中,垫块13至少一侧向内凹陷形成第二缺口131,固定槽111与第二缺口131相对的位置朝向垫块13延伸形成卡接于第二缺口131中的第二凸块。如图2所示,垫块13的两侧向内凹陷形成两个第二缺口131,固定槽111与两个第二缺口131相对的位置朝向垫块13延伸形成卡接于第二缺口131的两个第二凸块。垫块13通过两个第二缺口131与固定槽111的两个第二凸块卡接,提升垫块固定于固定槽111内的稳定性。
其中,第一缺口231和第二缺口131的位置可以相同且形状匹配,固定槽111的第一凸块101和第二凸块的位置相同且形状匹配,此时第一凸块101和第二凸块为同一凸块,从而便于用户在安装探针组时,根据第一缺口231和第二缺口131对齐垫块13和弹性探针2,将垫块13和弹性探针2一同或依次放入固定槽111中使第一缺口231和第二缺口131与凸块卡接。具体在安装探针组时,可打开盖板12,依次将其中一根弹性探针2、垫块13、另一根弹性探针2从固定槽111开放的一侧推入固定槽111内,然后盖合盖板12并固定即可。或者如图5所示,先将其中一根弹性探针2、垫块13、另一根弹性探针2按第一缺口231和第二缺口131的位置对齐,然后作为一个整体一并从固定槽111开放的一侧推入固定槽111内,然后盖合盖板12并固定即可,完成探针组的安装如图7所示。其中,如图6所示为探针组与垫块13分开后的示意图。不论采用哪种方式,均可提高安装效率和稳定性。
当然,第一缺口231和第二缺口131的位置可以不同或者形状不匹配,此时,固定槽111的第一凸块101和第二凸块的位置可以不同且形状不匹配,例如第一缺口231设置于弹性探针2靠上的位置,第二缺口131设置于垫块13靠下的位置,同样能实现安装弹性探针2和垫块的目的。
如图1所示,每一弹性探针2的顶部向上延伸至固定槽111外,用于连接至测试板卡上。通过弹性探针2的顶部向上延伸至固定槽111外,便于弹性探针2与测试板卡连接。
进一步的,弹性探针2的顶部通过飞线连接至测试板卡或者焊接至测试板卡上。其中,飞线也称跳线,是指印刷电路板上因设计缺陷、测试目的或是其他设计考量,将电路板上的两个节点直接用电线连通的一种方法。通过飞线或焊接的方式将弹性探针2的顶部与测试板卡连接,实现弹性探针2和测试板卡之间的信号交互。
如图2和图4所示,固定卡板11面向盖板12的一侧设有安装孔112,盖板12相对安装孔112的位置设有固定孔121,通过连接件穿过安装孔112和固定孔121使盖板12与固定卡板11固定连接。本实施例中,通过连接件穿过安装孔112和固定孔121,实现固定卡板11和盖板12之间的可拆卸连接,便于用户对固定槽111内的弹性探针2进行更换和间距调整。
本实用新型通过两根底部相对弯曲的弹性探针2夹紧PCB排针3,形成两点式接触,相比现有使用两根组装针扎中PCB排针3进行测试,本实用新型实施例在进行测试时,只需下压探针固定座1,即可使弹性探针2与PCB排针3紧密接触,测试更加方便。同时可利用两根弹性探针2的弹力,夹紧不同直径规格的PCB排针3,从而适配不同直径规格的PCB排针3。这样可避免测试时弹性探针2和PCB排针3之间产生侧滑和扎不准的现象,测试数据更准确。
说明书中各个实施例采用递进的方式描述,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处,各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言,由于其与实施例公开的方法相对应,所以描述的比较简单,相关之处参见方法部分说明即可。应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型原理的前提下,还可以对本实用新型进行若干改进和修饰,这些改进和修饰也落入本实用新型权利要求的保护范围内。
还需要说明的是,在本说明书中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的。
包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的状况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

Claims (10)

1.一种PCB排针测试装置,其特征在于,包括探针固定座,所述探针固定座间隔开设有竖向贯通的多个固定槽,至少一所述固定槽内竖向设有一探针组,所述探针组包括两根底部相对弯折的弹性探针。
2.根据权利要求1所述的PCB排针测试装置,其特征在于,所述探针固定座包括固定卡板和盖合于所述固定卡板侧面的盖板,所述固定槽设于所述固定卡板的一侧,多个所述固定槽面向所述盖板的一侧开放设置,所述固定卡板和所述盖板以可拆卸的方式连接。
3.根据权利要求2所述的PCB排针测试装置,其特征在于,所述固定槽内还竖向设有垫块,所述垫块位于两根所述弹性探针之间。
4.根据权利要求3所述的PCB排针测试装置,其特征在于,每一所述弹性探针的底部包括第一折弯部和连接于所述第一折弯部底部的第二折弯部,在每一所述探针组中,其中一弹性探针的第一折弯部与第二折弯部的连接处朝向另一弹性探针折弯。
5.根据权利要求3所述的PCB排针测试装置,其特征在于,每一所述弹性探针位于所述固定槽的部分为固定部,所述固定部的至少一侧向内凹陷形成第一缺口,所述固定槽与所述第一缺口相对的位置朝向所述固定部延伸形成卡接于所述第一缺口中的第一凸块。
6.根据权利要求5所述的PCB排针测试装置,其特征在于,所述垫块至少一侧向内凹陷形成第二缺口,所述固定槽与所述第二缺口相对的位置朝向所述垫块延伸形成卡接于所述第二缺口中的第二凸块。
7.根据权利要求6所述的PCB排针测试装置,其特征在于,所述第一缺口和第二缺口的位置相同且形状匹配,所述第一凸块和第二凸块的位置相同且形状匹配。
8.根据权利要求1所述的PCB排针测试装置,其特征在于,每一所述弹性探针的顶部向上延伸至所述固定槽外,用于连接至测试板卡上。
9.根据权利要求8所述的PCB排针测试装置,其特征在于,所述弹性探针的顶部通过飞线连接至所述测试板卡或者焊接至所述测试板卡上。
10.根据权利要求2所述的PCB排针测试装置,其特征在于,所述固定卡板
面向所述盖板的一侧设有安装孔,所述盖板相对所述安装孔的位置设有固定孔,
通过连接件穿过所述安装孔和固定孔使所述盖板与所述固定卡板固定连接。
CN202321699094.7U 2023-06-30 2023-06-30 一种pcb排针测试装置 Active CN220019805U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202321699094.7U CN220019805U (zh) 2023-06-30 2023-06-30 一种pcb排针测试装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202321699094.7U CN220019805U (zh) 2023-06-30 2023-06-30 一种pcb排针测试装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN220019805U true CN220019805U (zh) 2023-11-14

Family

ID=88688168

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202321699094.7U Active CN220019805U (zh) 2023-06-30 2023-06-30 一种pcb排针测试装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN220019805U (zh)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101307365B1 (ko) 접촉자 및 전기적 접속장치
US5214375A (en) Multi-point probe assembly for testing electronic device
KR101674135B1 (ko) 프로브 카드
JPS6326579A (ja) 集積回路を試験するための改良された接点装置
JPH022547B2 (zh)
CN110389243B (zh) 探针卡装置
CN102193079A (zh) 智能电能表辅助端子弹片式接线器
JPS6161384A (ja) 自己整合形電気接続組体
US4939454A (en) Connector system for printed circuit board test facility
CN220019805U (zh) 一种pcb排针测试装置
JP6362507B2 (ja) 接触ばねブロック、接触ソケット、接触ばねブロックの接触ばねを交換する方法及び接触ソケットの接触ばねを交換する方法
US4847553A (en) Needle card contacting mechanism for testing micro-electronic components
KR20100065916A (ko) 웨이퍼 검사용 프로브 카드
CN215986252U (zh) 一种硬连接抗干扰分流器及电能表
CN217133309U (zh) 用于电路板测试的针盘治具
CN112213533A (zh) 针座结构及采用该针座结构的测试治具
KR20110039952A (ko) 탐침 구조물 및 이를 갖는 프로브 카드
EP2060922A1 (en) Microstructure testing head
CN217305226U (zh) 压接压头及显示面板测试装置
CN218744090U (zh) 一种快速夹芯片测试装置
CN215497163U (zh) 一种btb连接器测试用弹片针
US6888361B1 (en) High density logic analyzer probing system
CN213398720U (zh) 一种贴片电阻的测试治具
CN221102446U (zh) 一种中间连接件及电气连接结构
CN215894847U (zh) 一种测试片及测试结构

Legal Events

Date Code Title Description
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant