CN220019355U - 一种用于圆偏振荧光光谱仪的样品固定支架 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种用于圆偏振荧光光谱仪的样品固定支架，包括可拆卸连接的支撑底板与夹持组件，所述夹持组件用于夹紧待测样品；所述支撑底板上嵌设有刻度盘，所述刻度盘的表面设置有角度刻度，所述夹持组件包括活动连接的固定台与紧固件，所述固定台可拆卸固定于所述刻度盘上，所述固定台设置有“U”型样品槽，所述“U”型样品槽用于对待测样品进行限位，所述紧固件贯穿所述固定台，并伸入“U”型样品槽内，所述紧固件用于对待测样品进行固定。本实用新型能够用于粉末、薄膜和液体材料样品的检测，可以移动样品，以转换不同的位置通电测试，还能够进行旋转角度的调整，以适应外置激光器。

Description

一种用于圆偏振荧光光谱仪的样品固定支架

技术领域

本实用新型属于样品检测技术领域，涉及样品的固定，尤其涉及一种用于圆偏振荧光光谱仪的样品固定支架。

背景技术

圆偏振荧光光谱仪(Circularly Polarized Luminescence，CPL)能够通过测量手性发光物质左右圆偏振荧光强度的差异，分析手性分子激发态的结构，表征材料的光学活性。圆二色光谱(Circular Dichroism，CD)用于表征这类物质的基态的光学活性，CPL光谱与之相辅相成，可以获得其激发态的信息。圆偏振发光材料在3D显示、信息加密、存储、光电器件以及不对称光催化等方面具有重要的应用价值。因此，圆偏振发光光谱的研究引起了人们的广泛关注。

圆偏振荧光领域起步晚，现在全国仅有几十台圆偏振光谱仪，研究领域已经进一步拓展开来。圆偏振发光测试的样品具有各种形态，测试的激发能量由标配的氙灯光源拓展到激光光源和电致发光。然而，仪器匹配的样品架只有一种，且只适合液体的测试，薄膜的测试则需要借助双面胶固定，粉末测试也需使用夹片夹具。样品的多样式可以通过其他方法进行测试，但是，常规的支架却无法满足90°的激光激发测试与电致发光CPL测试。其中，90°激光激发测试要求样品架能够旋转角度，而常规支架并不能够实现角度的调整。此外，在电致发光CPL测试，稳压电源通过鳄鱼夹夹住器件的正负极，才能激发样品片的发光，样品片需要被固定夹紧，同时还需进行移动，使得发光点对准光路聚焦点，这些点常规支架都不能实现。因此，需要对现有的常规样品固定装置进行改进，使其能够根据测试要求进行相应调整。

实用新型内容

针对现有技术存在的不足，本实用新型的目的在于提供一种用于圆偏振荧光光谱仪的样品固定支架，能够用于不同规格的比色皿、石英夹片、薄膜和块状材料样品的检测，可以移动样品，以转换不同的位置通电测试，还能够进行旋转角度的调整，以适应外置激光器。

为达此目的，本实用新型采用以下技术方案：

本实用新型提供了一种用于圆偏振荧光光谱仪的样品固定支架，所述的用于圆偏振荧光光谱仪的样品固定支架包括可拆卸连接的支撑底板与夹持组件，所述夹持组件用于夹紧待测样品；

所述支撑底板上嵌设有刻度盘，所述刻度盘的表面设置有角度刻度，所述夹持组件包括活动连接的固定台与紧固件，所述固定台可拆卸固定于所述刻度盘上，所述固定台设置有“U”型样品槽，所述“U”型样品槽用于对待测样品进行限位，所述紧固件贯穿所述固定台，并伸入“U”型样品槽内，所述紧固件用于对待测样品进行固定。

本实用新型中的用于圆偏振荧光光谱仪的样品固定支架，具有结构简单、操作容易、适用性强的特点，能够对粉末、薄膜和液体样品进行装样，使用过程中，将光路聚焦到待测样品上进行测试。样品固定支架能够用于不同规格的比色皿、石英夹片、薄膜和块状材料的常规透过光致发光圆偏振信号测试、电致发光圆偏振发光信号的测试，保证了器件的稳定，同时，可通过移动装载有样品的夹持组件，变换不同的位置进行通电测试，还可以根据具有角度刻度的刻度盘，调整夹持组件的角度，利用外置激光器激发样品，实现激光激发的圆偏振发光的测试。

作为本实用新型一个优选技术方案，所述固定台的侧壁上开设有锁紧通孔，所述紧固件由所述锁紧通孔伸入所述“U”型样品槽内。

需要说明的是，本实用新型在使用过程中，先将待测样品置于固定台的“U”型样品槽内，再将紧固件由锁紧通孔插入“U”型样品槽内，抵住待测样品，使得待测样品紧贴固定台未开设锁紧通孔的侧壁上完成装样，保证待测样品的稳定性，光路聚焦到待测样品上进行测试，可调整紧固件的伸入“U”型样品槽的深度，以适应不同规格尺寸的待测样品。

作为本实用新型一个优选技术方案，所述“U”型样品槽的底部表面开设有限位通孔，所述限位通孔贯穿所述固定台，用于可拆卸连接所述固定台与支撑底板。

作为本实用新型一个优选技术方案，所述支撑底板的表面开设有定位孔，所述定位孔与所述限位通孔对应设置，所述定位孔用于固定所述固定台，所述限位通孔与所述刻度盘中心之间留有间隙，使得所述刻度盘中心位于所述固定台远离所述紧固件一端的侧壁的延长面上。

需要说明的是，本实用新型中支撑底板表面开设的限位通孔与刻度盘中心并非重合，在安装固定台时，固定台远离紧固件一端的侧壁(即未开设锁紧通孔的侧壁)落在刻度盘的中心水平轴上，通过以限位通孔为转动中心，转动固定台的侧壁，能够实现待测样品的角度调整。

作为本实用新型一个优选技术方案，所述支撑底板的表面还开设有若干固定孔，所述固定孔用于固定所述支撑底板。

需要说明的是，采用本实用新型提供的样品固定支架进行各种测试时，将支撑底板安装于圆偏振荧光光谱仪的标准支架上，并利用固定孔实现支撑底板的固定。

作为本实用新型一个优选技术方案，所述支撑底板与所述刻度盘一体成型。

作为本实用新型一个优选技术方案，所述锁紧通孔为螺纹孔，所述紧固件包括锁紧螺栓。所述锁紧螺栓旋入所述螺纹孔内，并抵住待测样品进行固定。

作为本实用新型一个优选技术方案，所述固定台的长度为21～25mm，例如可以是21mm、22mm、23mm、24mm或25mm，但并不仅限于所列举的数值，该数值范围内其他未列举的数值同样适用。

所述固定台的宽度为13～18mm，例如可以是13mm、14mm、15mm、16mm、17mm或18mm，但并不仅限于所列举的数值，该数值范围内其他未列举的数值同样适用。

所述固定台的高度为27～31mm，例如可以是27mm、28mm、29mm、30mm或31mm，但并不仅限于所列举的数值，该数值范围内其他未列举的数值同样适用。

所述“U”型样品槽的长度为8～13mm，例如可以是8mm、9mm、10mm、11mm、12mm或13mm，但并不仅限于所列举的数值，该数值范围内其他未列举的数值同样适用。

所述“U”型样品槽的宽度为13～18mm，例如可以是13mm、14mm、15mm、16mm、17mm或18mm，但并不仅限于所列举的数值，该数值范围内其他未列举的数值同样适用。

所述“U”型样品槽的高度为10～15mm，例如可以是10mm、11mm、12mm、13mm、14mm或15mm，但并不仅限于所列举的数值，该数值范围内其他未列举的数值同样适用。

作为本实用新型一个优选技术方案，所述支撑底板的长度为105～120mm，例如可以是105mm、108mm、110mm、112mm、115mm、116mm、118mm或120mm，但并不仅限于所列举的数值，该数值范围内其他未列举的数值同样适用。

所述支撑底板的宽度为145～170mm，例如可以是145mm、151mm、156mm、158mm、160mm、163mm、165mm、168mm或170mm，但并不仅限于所列举的数值，该数值范围内其他未列举的数值同样适用。

所述支撑底板的厚度为8～12mm，例如可以是8mm、9mm、10mm、11mm或12mm，但并不仅限于所列举的数值，该数值范围内其他未列举的数值同样适用。

作为本实用新型一个优选技术方案，所述刻度盘的直径为15～25mm，例如可以是15mm、16mm、18mm、20mm、21mm、22mm、23mm、24mm或25mm，但并不仅限于所列举的数值，该数值范围内其他未列举的数值同样适用。

为了帮助本领域技术人员更好地了解本实用新型的整体技术方案及工作过程，本实用新型示例性地提供了如下有关采用样品固定支架进行测试的方法，包括如下步骤：

(1)采用M4六角螺丝穿过固定台的定位孔，并插入支撑底板的限位通孔内，拧紧固定螺丝，实现固定台与支撑底板的连接；

(2)取下CPL的标准支架，采用螺丝插入支撑底板的固定孔，以将支撑底板固定于标准支架上；

(3)将待测样品置于“U”型样品槽内，将紧固件由锁紧通孔伸入“U”型样品槽，并抵住待测样品，调节拧紧紧固件，使得待测样品紧贴固定台的侧壁，完成装样；

(4)在进行外置光源侧面90°测试时，则需放松连接固定台与支撑底板的固定螺丝，逆时针旋转固定台30°后，再拧紧固定螺丝。

本实用新型所述的数值范围不仅包括上述例举的点值，还包括没有例举出的上述数值范围之间的任意的点值，限于篇幅及出于简明的考虑，本实用新型不再穷尽列举所述范围包括的具体点值。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果为：

本实用新型中提供的一种用于圆偏振荧光光谱仪的样品固定支架，具有结构简单、操作容易、适用性强的特点，能够对粉末、薄膜和液体样品进行装样，使用过程中，将光路聚焦到待测样品上进行测试。样品固定支架能够用于不同规格的比色皿、石英夹片、薄膜和块状材料的常规透过光致发光圆偏振信号测试、电致发光圆偏振发光信号的测试，保证了器件的稳定，同时，可通过移动装载有样品的夹持组件，变换不同的位置进行通电测试，还可以根据具有角度刻度的刻度盘，调整夹持组件的角度，利用外置激光器激发样品，实现激光激发的圆偏振发光的测试。

附图说明

图1为本实用新型一个具体实施方式提供的用于圆偏振荧光光谱仪的样品固定支架的结构示意图；

图2为本实用新型一个具体实施方式提供的支撑底板的结构示意图；

图3为本实用新型一个具体实施方式提供的固定台的结构示意图；

图4为本实用新型一个应用例1提供的进行电致发光CPL测试的示意图；

图5为本实用新型一个应用例2提供的进行外置光源侧面90°测试发光CPL检测的示意图。

其中，1-支撑底板；2-固定台；3-刻度盘；4-紧固件；5-限位通孔；6-锁紧通孔；7-定位孔；8-固定孔；9-“U”型样品槽；10-待测样品。

具体实施方式

需要理解的是，在本实用新型的描述中，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

需要说明的是，在本实用新型的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以通过具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本实用新型的技术方案。

在一个具体实施方式中，本实用新型提供了一种用于圆偏振荧光光谱仪的样品固定支架，如图1所示，包括可拆卸连接的支撑底板1与夹持组件，所述夹持组件用于夹紧待测样品10。如图2所示，所述支撑底板1上嵌设有刻度盘3，所述刻度盘3的表面设置有角度刻度，所述夹持组件包括活动连接的固定台2与紧固件4，所述固定台2可拆卸固定于所述刻度盘3上，如图3所示，所述固定台2设置有“U”型样品槽9，所述“U”型样品槽9用于对待测样品10进行限位，所述固定台2的侧壁上开设有锁紧通孔6，所述紧固件4由所述锁紧通孔6伸入所述“U”型样品槽9内，用于对待测样品10进行固定。所述锁紧通孔6为螺纹孔，所述紧固件4包括锁紧螺栓。所述锁紧螺栓旋入所述螺纹孔内，并抵住待测样品10进行固定。

本实用新型在使用过程中，先将待测样品10置于固定台2的“U”型样品槽9内，再将紧固件4由锁紧通孔6插入“U”型样品槽9内，抵住待测样品10，使得待测样品10紧贴固定台2未开设锁紧通孔6的侧壁上完成装样，保证待测样品10的稳定性，光路聚焦到待测样品10上进行测试，可调整紧固件4的伸入“U”型样品槽9的深度，以适应不同规格尺寸的待测样品10。

所述“U”型样品槽9的底部表面开设有限位通孔5，所述限位通孔5贯穿所述固定台2，所述支撑底板1的表面开设有定位孔7，所述定位孔7与所述限位通孔5对应设置，将螺丝依次插入定位孔7与所述限位通孔5内，实现所述固定台2与支撑底板1的可拆卸连接。所述支撑底板1与所述刻度盘3一体成型，所述限位通孔5与所述刻度盘3中心之间留有间隙，使得所述刻度盘3中心位于所述固定台2远离所述紧固件4一端的侧壁的延长面上。本实用新型中支撑底板1表面开设的限位通孔5与刻度盘3中心并非重合，在安装固定台2时，固定台2远离紧固件4一端的侧壁(即未开设锁紧通孔6的侧壁)落在刻度盘3的中心水平轴上，通过以限位通孔5为转动中心，转动固定台2的侧壁，能够实现待测样品10的角度调整。本实用新型提供的样品固定支架用于液体或粉末材料的检测时，可将待测样品10置于不同规格的比色皿中，利用夹持组件固定比色皿进行测试，当用于石英夹片、薄膜或块状材料的检测时，可直接利用夹持组件夹紧待测样品10进行测试。

所述支撑底板1的表面还开设有若干固定孔8，所述固定孔8用于固定所述支撑底板1。采用本实用新型提供的样品固定支架进行各种测试时，将支撑底板1安装于圆偏振荧光光谱仪的标准支架上，并利用固定孔8实现支撑底板1的固定。本实用新型的支撑底板1采用铝合金加工处理，表面发黑处理，材质轻盈，结实牢固，加工容易。

在一些实施方式中，所述固定台2的长度为21～25mm，所述固定台2的宽度为13～18mm，所述固定台2的高度为27～315mm。所述“U”型样品槽9的长度为8～13mm，所述“U”型样品槽9的宽度为13～18mm，所述“U”型样品槽9的高度为10～15mm。

在一些实施方式中，所述支撑底板1的长度为102～120mm，所述支撑底板1的宽度为1435～170mm，所述支撑底板1的厚度为8～12mm，所述刻度盘3的直径为15～25mm。

为了帮助本领域技术人员更好地了解本实用新型的整体技术方案及工作过程，本实用新型示例性地提供了如下有关采用样品固定支架进行测试的方法，包括如下步骤：

(1)采用M4六角螺丝穿过固定台2的定位孔7，并插入支撑底板1的限位通孔5内，拧紧固定螺丝，实现固定台2与支撑底板1的连接；

(2)取下CPL的标准支架，采用螺丝插入支撑底板1的固定孔8，以将支撑底板1固定于标准支架上；

(3)将待测样品10置于“U”型样品槽9内，将紧固件4由锁紧通孔6伸入“U”型样品槽9，并抵住待测样品10，调节拧紧紧固件4，使得待测样品10紧贴固定台2的侧壁，完成装样；

(4)在进行外置光源侧面90°测试时，则需放松连接固定台2与支撑底板1的固定螺丝，逆时针旋转固定台15-30°后，再拧紧固定螺丝。

实施例1

本实施例提供了一种用于圆偏振荧光光谱仪的样品固定支架，包括支撑底座与夹持组件。夹持组件包括活动连接的固定台2与紧固件4，固定台2上设置有“U”型样品槽9。“U”型样品槽9的底部表面开设有限位通孔5，限位通孔5贯穿固定台2，支撑底板1的表面开设有定位孔7，定位孔7与限位通孔5对应设置，将螺丝依次插入定位孔7与限位通孔5内，实现固定台2与支撑底板1的可拆卸连接。紧固件4采用M4螺丝，固定台2的侧壁上开设有锁紧通孔6(记为右侧壁)，紧固件4由锁紧通孔6伸入“U”型样品槽9内，用于对待测样品10进行固定。

固定台2的长度为23mm，宽度为15mm，高度为30mm，“U”型样品槽9的长度为13mm，宽度为15mm，高度为13mm，限位通孔5位于右侧壁距离底边25mm处，采用M4螺丝孔。

支撑底板1上嵌设有直径为20mm的刻度盘3，刻度盘3的表面设置有角度刻度，刻度盘3中心与支撑底板1的定位孔7之间留有间隙，即限位通孔5与刻度盘3中心并非重合，使得刻度盘3中心位于固定台2为开设锁紧通孔6的侧壁(记为左侧壁)的延长面上。支撑底板1的表面沿四周边缘分别开设四个固定孔8，用于将支撑底板1固定在仪器内。其中，支撑底板1的长度为110mm，宽度为151mm，厚度为10mm。固定孔8与支撑底板1两侧边缘的距离分别为5mm和7.2mm，固定孔8是直径为5mm的圆孔，支撑底座表面的定位孔7的深度为7mm。

应用例1

本应用例中采用实施例1提供的样品固定支架进行电致发光CPL测试。首先采用M4六角螺丝穿过固定台2的定位孔7，并插入支撑底板1的限位通孔5内，拧紧固定螺丝，实现固定台2与支撑底板1的连接。取下CPL的标准支架，采用螺丝插入支撑底板1的固定孔8，以将支撑底板1固定于标准支架上。将用电激发的CPL器件待测样品10(样品片)置于“U”型样品槽9内，并靠近固定台2的左侧壁，旋转紧固件4，以固定待测样品10。如图4所示，将稳压电源的正负极鳄鱼夹夹住样品片的正负极，提供小电压，激发器件发光，拧松紧固件4，调整样品片的位置，使得样品片的发光点位于光路聚焦点上，再调大电压，提高激发器件的发光强度，开始测试。电致发光器件的发光强度稳定性差，长时间检测导致荧光减弱，尤其在高电压下器件容易损坏，导致没法测试。因此，在进行测试前，需要提前调好CPL测试的参数，电压使用小电压，正式测试前再调大电压，直接点测试。CPL标准支架，只能把样品片放在支架上，无法进行固定，而且挡住了整个样品片，无法夹鳄鱼夹，也没法移动发光点位置。

应用例2

本应用例中采用实施例1提供的样品固定支架进行外置光源侧面90°测试发光CPL检测。如图5所示，由于待测样品10的发光强度弱，只能用激光激发的上转化发光材料，需要设置外置激光器，激光器放在垂直于光路方向的90°的位置。当待测样品10是水平放置时，激光无法照射到待测样品10上，需要将待测样品10旋转一定的角度，才能让激光点照射在待测样品10上，产生的荧光在光路聚焦点上。

首先采用M4六角螺丝穿过固定台2的定位孔7，并插入支撑底板1的限位通孔5内，拧紧固定螺丝，实现固定台2与支撑底板1的连接。取下CPL的标准支架，采用螺丝插入支撑底板1的固定孔8，以将支撑底板1固定于标准支架上。将用电激发的CPL器件样品片置于“U”型样品槽9内，并靠近固定台2的左侧壁，旋转紧固件4，以固定样品片。根据支撑底板1上的刻度盘3表面的角度刻度，拧松连接支撑底板1与固定台2的固定螺丝后，可以转动固定台2左侧壁的角度，得到合适的发光强度，通过旋转角度还能避免杂散光的干扰，避免假信号的产生。

本实用新型提供的样品支架结果简单，装样容易，适用性强，能够调整待测样品10的角度，可用于圆偏振荧光光谱仪的测试，适合进行粉末、薄膜和液体样品的常规CPL测试，可通过移动装载有样品的夹持组件，变换不同的位置进行通电测试，还可以根据具有角度刻度的刻度盘3，调整夹持组件的角度，利用外置激光器激发样品，实现激光激发的圆偏振发光的测试。

申请人声明，以上所述仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，所属技术领域的技术人员应该明了，任何属于本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，均落在本实用新型的保护范围和公开范围之内。

Claims (10)

1.一种用于圆偏振荧光光谱仪的样品固定支架，其特征在于，所述的用于圆偏振荧光光谱仪的样品固定支架包括可拆卸连接的支撑底板与夹持组件，所述夹持组件用于夹紧待测样品；

所述支撑底板上嵌设有刻度盘，所述刻度盘的表面设置有角度刻度，所述夹持组件包括活动连接的固定台与紧固件，所述固定台可拆卸固定于所述刻度盘上，所述固定台设置有“U”型样品槽，所述“U”型样品槽用于对待测样品进行限位，所述紧固件贯穿所述固定台，并伸入“U”型样品槽内，所述紧固件用于对待测样品进行固定。

2.根据权利要求1所述的用于圆偏振荧光光谱仪的样品固定支架，其特征在于，所述固定台的侧壁上开设有锁紧通孔，所述紧固件由所述锁紧通孔伸入所述“U”型样品槽内。

3.根据权利要求1所述的用于圆偏振荧光光谱仪的样品固定支架，其特征在于，所述“U”型样品槽的底部表面开设有限位通孔，所述限位通孔贯穿所述固定台，用于可拆卸连接所述固定台与支撑底板。

4.根据权利要求3所述的用于圆偏振荧光光谱仪的样品固定支架，其特征在于，所述支撑底板的表面开设有定位孔，所述定位孔与所述限位通孔对应设置，所述定位孔用于固定所述固定台，所述限位通孔与所述刻度盘中心之间留有间隙，使得所述刻度盘中心位于所述固定台远离所述紧固件一端的侧壁的延长面上。

5.根据权利要求1所述的用于圆偏振荧光光谱仪的样品固定支架，其特征在于，所述支撑底板的表面还开设有若干固定孔，所述固定孔用于固定所述支撑底板。

6.根据权利要求1所述的用于圆偏振荧光光谱仪的样品固定支架，其特征在于，所述支撑底板与所述刻度盘一体成型。

7.根据权利要求2所述的用于圆偏振荧光光谱仪的样品固定支架，其特征在于，所述锁紧通孔为螺纹孔，所述紧固件包括锁紧螺栓。

8.根据权利要求7所述的用于圆偏振荧光光谱仪的样品固定支架，其特征在于，所述固定台的长度为21～25mm；

所述固定台的宽度为13～18mm；

所述固定台的高度为27～31mm；

所述“U”型样品槽的长度为8～13mm；

所述“U”型样品槽的宽度为13～18mm。

9.根据权利要求1所述的用于圆偏振荧光光谱仪的样品固定支架，其特征在于，所述支撑底板的长度为105～120mm，所述支撑底板的宽度为145～170mm。

10.根据权利要求9所述的用于圆偏振荧光光谱仪的样品固定支架，其特征在于，所述刻度盘的直径为15～25mm。