CN219996106U - 一种高精度半蚀刻钢片测量治具 - Google Patents
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Abstract
一种高精度半蚀刻钢片测量治具,包括有测量固定板、固定基座和若干个限位柱,所述限位柱一端固定安装在固定基座内,其另一端活动安装在测量固定板内,所述测量固定板上设有固定半蚀刻钢片的工件放置位,所述工件放置位上设有放置部、若干个第一承接槽和若干个第二承接槽,所述第一承接槽和第二承接槽对称设置在放置部上,所述工件放置位上还设有上测量通孔,所述上测量通孔位于放置部内部,且与第一承接槽、第二承接槽连通设置;所述固定基座上设有工件支撑位,所述工件支撑位上表面与放置部下表面连接,所述工件支撑位开设有下测量通孔,所述下测量通孔与上测量通孔连通设置。本实用新型具有测量效率高、精确度高、使用方便和结构简单等优点。
Description
技术领域
本实用新型涉及测量治具技术领域,具体为一种高精度半蚀刻钢片测量治具。
背景技术
半蚀刻钢片在加工过程中,会根据工艺要求在半蚀刻钢片上开设凹槽,但由于凹槽在加工时存在随机性的加工误差,因此后期需要测量凹槽的实际槽深和槽宽,确保槽深和槽宽的实际数据在预定范围内,符合生产工艺要求。
市面上常用二次元测量设备进行测量,在测量半蚀刻钢片的凹槽数据时,由操作人员将一个半蚀刻钢片放在工作台上,手握住半蚀刻钢片的两端,将半蚀刻钢片固定在工作台上,然后利用二次元测量设备进行投影得出凹槽数据,测量完成一个再接着测量下一个,这样的测量效率低,操作复杂,严重影响了工作效率,而且由于半蚀刻钢片的厚度很薄,人工固定的方式容易在测量时发生位置偏移,稳定性较差,以至于测量的结果不准确,精度不高。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种高精度半蚀刻钢片测量治具,旨在解决上述技术问题,本实用新型高精度半蚀刻钢片测量治具,具有测量效率高、精确度高、使用方便、结构简单和使用效果好等优点。
为了达到上述目的,本实用新型通过以下技术方案来实现:
一种高精度半蚀刻钢片测量治具,包括有测量固定板、固定基座和若干个限位柱,所述限位柱的一端固定安装在固定基座内,其另一端活动安装在测量固定板内,所述测量固定板上设有固定半蚀刻钢片的工件放置位,所述工件放置位上设有放置部、若干个第一承接槽和若干个第二承接槽,所述第一承接槽和第二承接槽对称设置在放置部上,所述工件放置位上还开设有上测量通孔,所述上测量通孔位于放置部内部,且与第一承接槽、第二承接槽连通设置;
所述固定基座上设有工件支撑位,所述工件支撑位的上表面与放置部的下表面连接,所述工件支撑位开设有下测量通孔,所述下测量通孔与上测量通孔连通设置,所述下测量通孔的直径大于上测量通孔。当使用时,所述固定基座下表面与二次元测量仪的工作台连接。
进一步地,所述工件支撑位上还设有支撑部,所述支撑部的上表面与放置部的下表面连接。
进一步地,所述半蚀刻钢片上设有第一固定部、第二固定部和测量部,所述第一固定部活动安装在第一承接槽内,所述第二固定部活动安装在第二承接槽内,所述测量部位于上测量通孔内,所述测量部上设有若干个凹槽,所述第一固定部的一端部的下端面可与支撑部上表面活动连接,所述第二固定部的一端部的下端面可与支撑部上表面活动连接。
进一步地,所述测量固定板上设有若干个上限位孔,所述上限位孔位于工件放置位的一侧,所述限位柱的另一端活动安装在测量固定板的上限位孔内。
进一步地,所述固定基座上设有若干个下固定孔,所述下固定孔与上限位孔对应,所述限位柱的一端固定安装在固定基座的下固定孔内。
进一步地,所述测量固定板和固定基座的外轮廓尺寸一致。
进一步地,所述测量固定板、固定基座、上测量通孔和下测量通孔的形状均为圆角矩形结构。
本实用新型高精度半蚀刻钢片测量治具,具有如下的有益效果:
1、测量效率高,本实用新型配合二次元投影仪进行测量,可以一次性测量十二个半蚀刻钢片,相比于一个一个测量的操作方式,本实用新型的测量效率更高、操作简单、实用性更强;
2、精确度高,本实用新型高精度半蚀刻钢片测量治具,将半蚀刻钢片放在工件放置位上,半蚀刻钢片的两端分别定位固定在第一承接槽、第二承接槽内,对半蚀刻钢片进行位置方向的定位固定,稳定性好,避免在测量时发生位置偏移而导致数据产生偏差,进而提高测量的准确性,而且通过上测量通孔和下测量通孔之间的连通设置,使得二次元投影仪能对半蚀刻钢片进行投影测量凹槽上的槽深和槽宽,测量精确度高,使用效果好;
3、结构简单,本实用新型高精度半蚀刻钢片测量治具,主要包括测量固定板、固定基座和若干个限位柱组成,其构成零部件少,结构简单,生产制作成本低、利于推广。
附图说明
图1为本实用新型高精度半蚀刻钢片测量治具的整体示意图;
图2为图1所示的另一视觉的结构示意图;
图3为图1所示的不含半蚀刻钢片的结构示意图;
图4为图1所示的半蚀刻钢片的结构示意图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本实用新型的技术方案,下面结合实施例及附图对本实用新型产品作进一步详细的说明。
需要说明的是,当元件被称为“固定于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件;当一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的,并不表示是唯一实施方式。
除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的,不是旨在于限制本实用新型。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
如图1至图3所示,一种高精度半蚀刻钢片测量治具,包括有测量固定板1、固定基座2和若干个限位柱3,所述限位柱3的一端固定安装在固定基座2内,其另一端活动安装在测量固定板1内,所述测量固定板1上设有固定半蚀刻钢片4的工件放置位5,所述工件放置位5上设有放置部6、若干个第一承接槽7和若干个第二承接槽8,所述第一承接槽7和第二承接槽8对称设置在放置部6上,所述工件放置位5上还开设有上测量通孔9,所述上测量通孔9位于放置部6内部,且与第一承接槽7、第二承接槽8连通设置;所述固定基座2上设有工件支撑位10,所述工件支撑位10的上表面与放置部6的下表面连接,所述工件支撑位10开设有下测量通孔11,所述下测量通孔11与上测量通孔9连通设置,所述下测量通孔11的直径大于上测量通孔9。本实施例的第一承接槽7和第二承接槽8的数量均为十二个。
需要说明的是,本实用新型配合二次元投影仪进行测量,可以一次性测量十二个半蚀刻钢片4,将半蚀刻钢片4放在工件放置位5上,半蚀刻钢片4的两端分别固定在第一承接槽7、第二承接槽8内,通过上测量通孔9和下测量通孔11之间的连通设置,使得二次元投影仪能对半蚀刻钢片4进行投影测量所需要的数据,测量精确度高,相比于一个一个测量的操作方式,本实用新型的测量效率更高、实用性强。
如图4所示,所述半蚀刻钢片4上设有第一固定部12、第二固定部13和测量部14,所述测量部14的一端与第一固定部12连接,所述测量部14的另一端与第二固定部13连接,所述第一固定部12、第二固定部13和测量部14之间一体化成型,所述第一固定部12活动安装在第一承接槽7内,所述第二固定部13活动安装在第二承接槽8内,所述测量部14位于上测量通孔9内,所述测量部14上设有若干个凹槽15。
需要说明的是,本实用新型是通过二次元投影仪配合,进行测量凹槽15上的槽深和槽宽,测量精确度高,使用效果好;且通过第一固定部12活动安装在第一承接槽7内,第二固定部13活动安装在第二承接槽8内,限定了半蚀刻钢片4的位置,稳定性好,避免在测量时发生位置偏移而导致数据产生偏差,精确度高,使用效果好。
如图1至图3所示,所述工件支撑位10上还设有支撑部16,所述支撑部16的上表面与放置部6的下表面连接,所述第一固定部12的一端部的下端面可与支撑部16上表面活动连接,所述第二固定部13的一端部的下端面可与支撑部16上表面活动连接。所述支撑部16进一步提高了本实用新型的稳定性。
如图1至图3所示,所述测量固定板1上设有若干个上限位孔17,所述上限位孔17位于工件放置位5的一侧,所述限位柱3的另一端活动安装在测量固定板1的上限位孔17内。所述固定基座2上设有若干个下固定孔,所述下固定孔与上限位孔17对应,所述限位柱3的一端固定安装在固定基座2的下固定孔内。本实施例的限位柱3的数量为三个。
需要说明的是,安装时,将测量固定板1的上限位孔17对准限位柱3方向,使得限位柱3插入上限位孔17内,提高测量固定板1与固定基座2之间连接的稳定性,进一步提高了本实用新型的整体稳定性。
如图1至图3所示,所述测量固定板1和固定基座2的外轮廓尺寸一致。所述测量固定板1、固定基座2、上测量通孔9和下测量通孔11的形状均为圆角矩形结构。
以上所述,仅为本实用新型的较佳实施例而已,并非对本实用新型作任何形式上的限制;凡本行业的普通技术人员均可按说明书附图所示和以上所述而顺畅地实施本实用新型;但是,凡熟悉本专业的技术人员在不脱离本实用新型技术方案范围内,可利用以上所揭示的技术内容而做出的些许更动、修饰与演变的等同变化,均为本实用新型的等效实施例;同时,凡依据本实用新型的实质技术对以上实施例所作的任何等同变化的更动、修饰与演变等,均仍属于本实用新型的技术方案。
Claims (7)
1.一种高精度半蚀刻钢片测量治具,其特征在于:包括有测量固定板、固定基座和若干个限位柱,所述限位柱的一端固定安装在固定基座内,其另一端活动安装在测量固定板内,所述测量固定板上设有固定半蚀刻钢片的工件放置位,所述工件放置位上设有放置部、若干个第一承接槽和若干个第二承接槽,所述第一承接槽和第二承接槽对称设置在放置部上,所述工件放置位上还开设有上测量通孔,所述上测量通孔位于放置部内部,且与第一承接槽、第二承接槽连通设置;
所述固定基座上设有工件支撑位,所述工件支撑位的上表面与放置部的下表面连接,所述工件支撑位开设有下测量通孔,所述下测量通孔与上测量通孔连通设置,所述下测量通孔的直径大于上测量通孔。
2.根据权利要求1所述的高精度半蚀刻钢片测量治具,其特征在于:所述工件支撑位上还设有支撑部,所述支撑部的上表面与放置部的下表面连接。
3.根据权利要求2所述的高精度半蚀刻钢片测量治具,其特征在于:所述半蚀刻钢片上设有第一固定部、第二固定部和测量部,所述第一固定部活动安装在第一承接槽内,所述第二固定部活动安装在第二承接槽内,所述测量部位于上测量通孔内,所述测量部上设有若干个凹槽,所述第一固定部的一端部的下端面可与支撑部上表面活动连接,所述第二固定部的一端部的下端面可与支撑部上表面活动连接。
4.根据权利要求1所述的高精度半蚀刻钢片测量治具,其特征在于:所述测量固定板上设有若干个上限位孔,所述上限位孔位于工件放置位的一侧,所述限位柱的另一端活动安装在测量固定板的上限位孔内。
5.根据权利要求4所述的高精度半蚀刻钢片测量治具,其特征在于:所述固定基座上设有若干个下固定孔,所述下固定孔与上限位孔对应,所述限位柱的一端固定安装在固定基座的下固定孔内。
6.根据权利要求5所述的高精度半蚀刻钢片测量治具,其特征在于:所述测量固定板和固定基座的外轮廓尺寸一致。
7.根据权利要求6所述的高精度半蚀刻钢片测量治具,其特征在于:所述测量固定板、固定基座、上测量通孔和下测量通孔的形状均为圆角矩形结构。
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