CN219958508U - 一种显示接口测试电路及设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种显示接口测试电路及设备，该显示接口测试电路通过改进现有技术中用于测试显示接口性能的配套测试显示板的电路结构，在其上增设发光检测电路，由于发光检测电路能够检测发光器件的发光信息，并将所述发光信息反馈给所述控制主板，实现了检测信息的自动采集和上报，无需人工干预，测试结果可靠性强、准确率高。

Description

一种显示接口测试电路及设备

技术领域

本实用新型涉及测试工装技术领域，具体涉及一种显示接口测试电路及设备。

背景技术

随着科技的发展，很多家用电器(例如，空调、冰箱、洗衣机等)都带有显示板，控制主板会通过自带的显示接口驱动显示板显示信息，包括：显示温度、故障等信息，以方便给用户反馈，或指引客户进行操作。

而显示接口的测试，现有技术是通过待测显示接口连接配套的测试显示板，人工遥控控制主板来控制被测显示板，使用人工肉眼观察被测显示板显示情况，判断其是否缺划(显示板局部字符或笔画显示不清、某一笔画无法显示等故障)、多划、短路等异常情况，可靠性差、误判率高。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服上述技术不足，提供一种显示接口测试电路及设备，以解决相关技术中人工检测显示接口的性能导致的可靠性差和误判率高的技术问题。

为达到上述技术目的，本实用新型采取了以下技术方案：

根据本实用新型的第一方面，提供了一种显示接口测试电路，包括：

所述显示接口设置在用电设备的控制主板上，包括：

与所述显示接口相连的显示板，其上设置有发光器件及发光检测电路，所述发光器件用于在所述控制主板的驱动下发光，所述发光检测电路用于检测所述发光器件的发光信息，并将所述发光信息反馈给所述控制主板。

优选地，所述控制主板包括第一控制主板和第二控制主板，所述发光器件包括：

设置在第一发光区内的发光器件，与所述第一控制主板通讯连接；

设置在第二发光区内的发光器件，与所述第二控制主板通讯连接；

所述发光检测电路包括：

主芯片及分别与所述主芯片相连的第一发光检测电路和第二发光检测电路，其中，

所述第一发光检测电路，用于检测所述第一发光区内的发光器件的发光信息，并将所述发光信息反馈给所述第一控制主板；

所述第二发光检测电路，用于检测所述第二发光区内的发光器件的发光信息，并将所述发光信息反馈给所述第二控制主板。

优选地，所述发光器件为发光二极管，所述第一发光区和第二发光区的结构相同，皆包括：

多个发光二极管组成的7段数码管。

优选地，所述第一发光检测电路和第二发光检测电路的结构相同，皆包括：

多个光敏电阻，每个所述发光器件旁设置有一个所述光敏电阻；

多个比较电路，输入端与所述光敏电阻相连，输出端与所述主芯片相连，用于根据所述光敏电阻的电阻变化值，输出不同的电平信号给所述主芯片，以使所述主芯片根据所述电平信号，判断所述发光器件的发光信息，并将所述发光信息传输给所述控制主板。

优选地，所述比较电路为双电压比较电路，其第一输入端与所述第一发光检测电路的一个光敏电阻相连，其第二输入端与所述第二发光检测电路的一个光敏电阻相连，其第一输出端与所述第一控制主板相连，其第二输出端与所述第二控制主板相连。

优选地，所述比较电路包括：

双电压比较器，其第一输入端INA1连接在串联的电阻R11和R14之间，R11为第一发光区内的光敏电阻，R11两端并联有电容C11；其第一参考电压输入端INA连接在串联的电阻R12和R13之间，串联后的电阻R12和R13一端接地，另一端外接3.3V直流电；

其第二输入端INB1连接在串联的电阻R21和R24之间，R21为第二发光区内的光敏电阻，R21两端并联有电容C21；其第二参考电压输入端INB连接在串联的电阻R22和R23之间，串联后的电阻R22和R23一端接地，另一端外接3.3V直流电；

其电源输入端VCC通过电容C31接地；其第一输出端OA与所述主芯片相连，其第二输出端OB与所述主芯片相连。

优选地，所述显示板上还设置有：

通讯接口，用于与所述第一控制主板的显示接口进行插接，和/或，与所述第二控制主板的显示接口进行插接；

所述第一发光区内的发光器件，和/或，所述第二发光区内的发光器件，分别与所述通讯接口相连。

优选地，所述显示接口测试电路，还包括：

盖设在所述显示板上的遮光盖板；

所述遮光盖板上设有多个遮光槽，每个遮光槽对应盖设在一个发光器件及所述发光器件对应的光敏电阻上。

优选地，所述遮光盖板包括：相互独立的第一遮光盖板和第二遮光盖板；

所述第一遮光盖板用于盖设第一发光区；

所述第二遮光盖板用于盖设第二发光区。

根据本实用新型的第二方面，提供了一种显示接口测试设备，包括：

上述的显示接口测试电路。

本实用新型的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：

通过改进现有技术中用于测试显示接口性能的配套测试显示板的电路结构，在其上增设发光检测电路，由于发光检测电路能够检测发光器件的发光信息，并将所述发光信息反馈给所述控制主板，实现了检测信息的自动采集和上报，无需人工干预，测试结果可靠性强、准确率高。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本实用新型。

附图说明

图1是根据一示例性实施例示出的一种显示接口测试电路的示意框图；

图2是根据另一示例性实施例示出的一种显示接口测试电路的示意框图；

图3是根据一示例性实施例示出的发光检测电路的示意框图；

图4A和图4B是根据一示例性实施例示出的第一发光区和第二发光区的结构示意图；

图5是根据一示例性实施例示出的发光检测电路的局部结构示意图；

图6是根据一示例性实施例示出的比较电路的电路原理图；

图7是根据一示例性实施例示出的一种显示接口测试电路的结构图；

图8是根据一示例性实施例示出的遮光盖板的结构图。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

如前面背景技术所述，相关技术中存在人工检测显示接口的性能导致的可靠性差和误判率高的技术问题。

为了有效解决相关技术中的问题，本实用新型提供了一种显示接口测试电路及设备，下面进行具体阐述。

实施例一

图1是根据一示例性实施例示出的一种显示接口测试电路的示意框图，所述显示接口设置在用电设备的控制主板200上，如图1所示，该显示接口测试电路，包括：

与所述显示接口相连的显示板100，其上设置有发光器件101及发光检测电路102，所述发光器件101用于在所述控制主板200的驱动下发光，所述发光检测电路102用于检测所述发光器件101的发光信息，并将所述发光信息反馈给所述控制主板200。

在具体实践中，所述用电设备包括但不限于：冰箱、洗衣机、空调、烹饪设备、清洁设备等任一带有显示板的用电设备。

可以理解的是，本实施例提供的技术方案，通过改进现有技术中用于测试显示接口性能的配套测试显示板的电路结构，在其上增设发光检测电路，由于发光检测电路能够检测发光器件的发光信息，并将所述发光信息反馈给所述控制主板，实现了检测信息的自动采集和上报，无需人工干预，测试结果可靠性强、准确率高。

在具体实践中，若所述控制主板200包括第一控制主板201和第二控制主板202，参见图2，所述发光器件101可以包括：

设置在第一发光区103内的发光器件，与所述第一控制主板201通讯连接；

设置在第二发光区104内的发光器件，与所述第二控制主板202通讯连接；

参见图3，所述发光检测电路102包括：

主芯片1021及分别与所述主芯片1021相连的第一发光检测电路1022和第二发光检测电路1023，其中，

所述第一发光检测电路1022，用于检测所述第一发光区103内的发光器件的发光信息，并将所述发光信息反馈给所述第一控制主板201；

所述第二发光检测电路1023，用于检测所述第二发光区104内的发光器件的发光信息，并将所述发光信息反馈给所述第二控制主板202。

可以理解的是，有些用电设备，例如空调，包括室内机控制主板和室外机控制主板，每个控制主板都带有显示接口，本实施例提供的技术方案，由于包括两个发光区，每个发光区对应一个发光检测电路，使得可以同时对两个控制主板的显示接口进行测试，提高了测试效率，能够满足不同的显示接口测试需求，应用场景广。

优选地，所述发光器件101为发光二极管，所述第一发光区103和第二发光区104的结构相同，皆包括：

多个发光二极管101组成的7段数码管。

如图4A和图4B所示，第一发光区103利用21个发光二极管代替现有技术的双八数码管，其中7个发光二极管代替高8位数码管的显示，7个发光二极管代替低8位数码管的显示，7个发光二极管代替显示板模式LED的显示，兼容主流的IO驱动及SPI通讯方式(SerialPeripheral interface，SPI，是一种同步串行传输规范)。

可理解的是，由于现有技术中的数码管是整体封装的，即7段显示单元是整体封装在一起的，所以，任一段显示单元损毁不发光或者错误发光后，都是无法设计检测电路单独检测出来的，只能通过人体肉眼识别，效率低下。而本实施例提供的技术方案，通过将7段数码管的每个发光单元改为发光二极管，通过对每个发光二极管的发光信息进行检测，从而可以有效快捷的定位出到底是7段数码管的哪一段显示单元出现发光故障。

在具体实践中，参见图5，所述第一发光检测电路1022和第二发光检测电路1023的结构相同，皆包括：

多个光敏电阻R，每个所述发光器件101旁设置有一个所述光敏电阻R；

多个比较电路，输入端与所述光敏电阻R相连，输出端与所述主芯片1021相连，用于根据所述光敏电阻R的电阻变化值，输出不同的电平信号给所述主芯片1021，以使所述主芯片1021根据所述电平信号，判断所述发光器件101的发光信息，并将所述发光信息传输给所述控制主板200。

以发光器件为发光二极管LED为例，可以理解的是，每一个LED灯附近有一个光敏电阻模拟人眼查看，LED亮时，布设在附近的光敏电阻阻值会减小到20K以下，比较电路会输出低电平信号给主芯片，反之输出高电平信号个主芯片，由主芯片对接收到的电平信息进行解析，得出当前所有发光器件的显示信息。

具体地，在具体实践中，用户可以提前对第一发光区103和第二发光区104内的发光器件进行编号，并将编号后的矩阵信息预存在主芯片1021中，每次主芯片1021对当前采集的矩阵信息(即每个发光器件的发光信息)，进行组合编制，形成有效的信息，从而进一步判断当前所有发光器件的显示信息(显示信息包括：哪几个编号的发光器件亮了，这些发光器件亮了后，显示的图像或者数字是多少)。

可以理解的是，本实施例提供的技术方案，第一发光检测电路和第二发光检测电路通过发光器件、光敏电阻和比较电路的配套设置实现了发光器件的发光信息检测，结构简单，成本低，部署实施容易。

进一步地，所述比较电路可以为双电压比较电路，其第一输入端与所述第一发光检测电路1022的一个光敏电阻相连，其第二输入端与所述第二发光检测电路1023的一个光敏电阻相连，其第一输出端与所述第一控制主板201相连，其第二输出端与所述第二控制主板202相连。

可以理解的是，比较电路设置为双电压比较电路，可以实现两块控制主板上的显示接口的同时测试，能够提高测试效率。

参见图6，所述比较电路包括：

双电压比较器(图6中给出了双电压比较器其中一个示例性型号，为IC_LM293)，其第一输入端INA1连接在串联的电阻R11和R14之间，R11为第一发光区内的光敏电阻，R11两端并联有电容C11；其第一参考电压输入端INA连接在串联的电阻R12和R13之间，串联后的电阻R12和R13一端接地，另一端外接3.3V直流电；

其第二输入端INB1连接在串联的电阻R21和R24之间，R21为第二发光区内的光敏电阻，R21两端并联有电容C21；其第二参考电压输入端INB连接在串联的电阻R22和R23之间，串联后的电阻R22和R23一端接地，另一端外接3.3V直流电；

其电源输入端VCC通过电容C31接地；其第一输出端OA与所述主芯片相连，其第二输出端OB与所述主芯片相连。

为了便于理解，现对本实施例提供的这种比较电路的工作原理解释说明如下：

1、第一输入端INA1连接在串联的电阻R11和R14之间，第一输入端INA1的输入电压为R11/(R11+R14)；第一参考电压输入端INA连接在串联的电阻R12和R13之间，第一参考电压输入端的输入电压为R12/(R12+R13)；

当光敏电阻R14配套的发光器件不发光时，R11/(R11+R14)＞R12/(R12+R13)，第一输出端OA输出高电平信号；当光敏电阻R14配套的发光器件发光时，R11/(R11+R14)＜R12/(R12+R13)，第一输出端OA输出低电平信号。

2、第二输入端INB1连接在串联的电阻R21和R24之间，第二输入端的输入电压为R21/(R21+R24)；第二参考电压输入端INB连接在串联的电阻R22和R23之间，第二参考电压输入端的输入电压为R22/(R22+R23)；

当光敏电阻R24配套的发光器件不发光时，R21/(R21+R24)＞R22/(R22+R23)，第二输出端OB输出高电平信号；当光敏电阻R24配套的发光器件发光时，R21/(R21+R24)＜R22/(R22+R23)，第二输出端OB输出低电平信号。

参见图7，所述显示板上还设置有：

通讯接口105，用于与所述第一控制主板201的显示接口进行插接，和/或，与所述第二控制主板202的显示接口进行插接；

所述第一发光区103内的发光器件，和/或，所述第二发光区104内的发光器件，分别与所述通讯接口105相连。

在具体实践中，所述通讯接口为64芯针座，可以兼容6加7芯、8芯、11芯和12芯显示接口，所述通讯接口使用RS485/RS232/CAN等通讯方式将检测信息上传给用电设备的控制主板，可通过一帧数据判断两块控制主板的显示接口的性能的好坏，极大增加了工装的应用场景和范围。

参见图7和图8，所述显示接口测试电路，还包括：

盖设在所述显示板上的遮光盖板106；

所述遮光盖板106上设有多个遮光槽107，每个遮光槽107对应盖设在一个发光器件101及所述发光器件101对应的光敏电阻R上。

可以理解的是，遮光盖板的设置，用于隔离发光二极管和光敏电阻，使发光二极管和光敏电阻一一对应，防止发光二极管发射的光影响到附近的其他光敏电阻的阻值，导致比较电路判断错误。

优选地，所述遮光盖板106包括：相互独立的第一遮光盖板1061和第二遮光盖板1062；

所述第一遮光盖板1061用于盖设第一发光区103；

所述第二遮光盖板1062用于盖设第二发光区104。

可以理解的是，不同的发光区域分别盖设不同的遮光盖板，可以简化单个遮光盖板的结构，便于批量生产，扩大遮光盖板的适用场景。

综上，本实施例提供的技术方案，通过改进现有技术中用于测试显示接口性能的配套测试显示板的电路结构，在其上增设发光检测电路，由于发光检测电路能够检测发光器件的发光信息，并将所述发光信息反馈给所述控制主板，实现了检测信息的自动采集和上报，无需人工干预，测试结果可靠性强、准确率高。

实施例二

图2是根据另一示例性实施例示出的一种显示接口测试电路的示意框图，所述显示接口包括设置在用电设备第一控制主板201上的显示接口和设置在用电设备第二控制主板202上的显示接口，如图2～图5所示，该显示接口测试电路，包括：

设置在第一发光区103内的发光器件，与第一控制主板201通讯连接；

设置在第二发光区104内的发光器件，与第二控制主板202通讯连接；

主芯片1021及分别与所述主芯片1021相连的第一发光检测电路1022和第二发光检测电路1023，其中，

所述第一发光检测电路1022，用于检测所述第一发光区103内的发光器件的发光信息，并将所述发光信息反馈给所述第一控制主板201；

所述第二发光检测电路1023，用于检测所述第二发光区104内的发光器件的发光信息，并将所述发光信息反馈给所述第二控制主板202。

所述第一发光检测电路1022和第二发光检测电路1023的结构相同，皆包括：

多个光敏电阻R，每个所述发光器件101旁设置有一个所述光敏电阻R；

多个比较电路，输入端与所述光敏电阻R相连，输出端与所述主芯片1021相连，用于根据所述光敏电阻R的电阻变化值，输出不同的电平信号给所述主芯片1021，以使所述主芯片1021根据所述电平信号，判断所述发光器件101的发光信息，并将所述发光信息传输给所述控制主板200。

所述发光器件为发光二极管。

可以理解的是，本实施例提供的技术方案，相比实施例一，采用发光二极管代替现有技术中显示板上的双八数码管和LED灯，工装实现一拖二检测，可同时检测两种不同芯数相同逻辑的控制主板；利用光敏电阻随亮度变化产生阻值变化的特性来设计比较电路，将发光二极管亮灭状态反馈给主芯片，由主芯片解析判断并上报给控制主板，实现了检测信息的自动采集和上报，无需人工干预，测试结果可靠性强、准确率高。

实施例三

根据一示例性实施例示出的一种显示接口测试设备，包括：

上述的显示接口测试电路。

需要说明的是，在具体实践中，本实施例提供的这种显示接口测试设备用于对用电设备的显示接口进行测试。在具体实践中，所述用电设备包括但不限于：冰箱、洗衣机、空调、烹饪设备、清洁设备等任一带有显示板的用电设备。

可以理解的是，本实施例提供的技术方案，由于包括上述的显示接口测试电路，而上述的显示接口测试电路通过改进现有技术中用于测试显示接口性能的配套测试显示板的电路结构，在其上增设发光检测电路，由于发光检测电路能够检测发光器件的发光信息，并将所述发光信息反馈给所述控制主板，实现了检测信息的自动采集和上报，无需人工干预，测试结果可靠性强、准确率高。

当然，本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关硬件(如处理器，控制器等)来完成，所述的程序可存储于一计算机可读取的存储介质中，该程序在执行时可包括如上述各方法实施例的流程。其中所述的存储介质可为存储器、磁碟、光盘等。

以上所述本实用新型的具体实施方式，并不构成对本实用新型保护范围的限定。任何根据本实用新型的技术构思所做出的各种其他相应的改变与变形，均应包含在本实用新型权利要求的保护范围内。

Claims (10)

1.一种显示接口测试电路，所述显示接口设置在用电设备的控制主板上，其特征在于，包括：

与所述显示接口相连的显示板，其上设置有发光器件及发光检测电路，所述发光器件用于在所述控制主板的驱动下发光，所述发光检测电路用于检测所述发光器件的发光信息，并将所述发光信息反馈给所述控制主板。

2.根据权利要求1所述的显示接口测试电路，其特征在于，所述控制主板包括第一控制主板和第二控制主板，所述发光器件包括：

设置在第一发光区内的发光器件，与所述第一控制主板通讯连接；

设置在第二发光区内的发光器件，与所述第二控制主板通讯连接；

所述发光检测电路包括：

主芯片及分别与所述主芯片相连的第一发光检测电路和第二发光检测电路，其中，

所述第一发光检测电路，用于检测所述第一发光区内的发光器件的发光信息，并将所述发光信息反馈给所述第一控制主板；

所述第二发光检测电路，用于检测所述第二发光区内的发光器件的发光信息，并将所述发光信息反馈给所述第二控制主板。

3.根据权利要求2所述的显示接口测试电路，其特征在于，所述发光器件为发光二极管，所述第一发光区和第二发光区的结构相同，皆包括：

多个发光二极管组成的7段数码管。

4.根据权利要求2所述的显示接口测试电路，其特征在于，所述第一发光检测电路和第二发光检测电路的结构相同，皆包括：

多个光敏电阻，每个所述发光器件旁设置有一个所述光敏电阻；

多个比较电路，输入端与所述光敏电阻相连，输出端与所述主芯片相连，用于根据所述光敏电阻的电阻变化值，输出不同的电平信号给所述主芯片，以使所述主芯片根据所述电平信号，判断所述发光器件的发光信息，并将所述发光信息传输给所述控制主板。

5.根据权利要求4所述的显示接口测试电路，其特征在于，

所述比较电路为双电压比较电路，其第一输入端与所述第一发光检测电路的一个光敏电阻相连，其第二输入端与所述第二发光检测电路的一个光敏电阻相连，其第一输出端与所述第一控制主板相连，其第二输出端与所述第二控制主板相连。

6.根据权利要求5所述的显示接口测试电路，其特征在于，所述比较电路包括：

双电压比较器，其第一输入端INA1连接在串联的电阻R11和R14之间，R11为第一发光区内的光敏电阻，R11两端并联有电容C11；其第一参考电压输入端INA连接在串联的电阻R12和R13之间，串联后的电阻R12和R13一端接地，另一端外接3.3V直流电；

其第二输入端INB1连接在串联的电阻R21和R24之间，R21为第二发光区内的光敏电阻，R21两端并联有电容C21；其第二参考电压输入端INB连接在串联的电阻R22和R23之间，串联后的电阻R22和R23一端接地，另一端外接3.3V直流电；

其电源输入端VCC通过电容C31接地；其第一输出端OA与所述主芯片相连，其第二输出端OB与所述主芯片相连。

7.根据权利要求2～6任一项所述的显示接口测试电路，其特征在于，所述显示板上还设置有：

通讯接口，用于与所述第一控制主板的显示接口进行插接，和/或，与所述第二控制主板的显示接口进行插接；

所述第一发光区内的发光器件，和/或，所述第二发光区内的发光器件，分别与所述通讯接口相连。

8.根据权利要求7所述的显示接口测试电路，其特征在于，还包括：

盖设在所述显示板上的遮光盖板；

所述遮光盖板上设有多个遮光槽，每个遮光槽对应盖设在一个发光器件及所述发光器件对应的光敏电阻上。

9.根据权利要求8所述的显示接口测试电路，其特征在于，所述遮光盖板包括：相互独立的第一遮光盖板和第二遮光盖板；

所述第一遮光盖板用于盖设第一发光区；

所述第二遮光盖板用于盖设第二发光区。

10.一种显示接口测试设备，其特征在于，包括：

权利要求1～9任一项所述的显示接口测试电路。