CN219915433U - 一种x射线衍射仪用x射线荧光测试附件 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 54
- 238000004876 x-ray fluorescence Methods 0.000 title claims abstract description 48
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims description 4
- 239000000084 colloidal system Substances 0.000 claims description 3
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 3
- 239000000843 powder Substances 0.000 claims description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract description 13
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 abstract description 11
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 abstract description 8
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 abstract description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 4
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 3
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000012863 analytical testing Methods 0.000 description 1
- -1 block Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000002447 crystallographic data Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000002189 fluorescence spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 238000002186 photoelectron spectrum Methods 0.000 description 1
- 230000000750 progressive effect Effects 0.000 description 1
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 1
- 238000004846 x-ray emission Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
本实用新型公开一种X射线衍射仪用X射线荧光测试附件，涉及X射线测试领域，包括转接块、样品台和探测器；其中转接块用于将X射线衍射仪用X射线荧光测试附件固定在X射线衍射仪的测角仪上，样品台可拆卸地设置在所述转接块上，用于盛放待测样品，位于样品台正上方的探测器用于探测待测样品被X射线衍射仪发出的X射线照射后产生的荧光。本实用新型的X射线衍射仪用X射线荧光测试附件结构紧凑简单，利用X射线衍射仪的X射线源完成X射线荧光光谱的测试，实现同一位置同一线源测试物质和X射线衍射与X射线荧光光谱同步测试。
Description
技术领域
本实用新型涉及X射线测试领域，特别是涉及一种X射线衍射仪用X射线荧光测试附件。
背景技术
在科学研究、检验检测以及企业对产品的品质把控等应用中，常利用X射线与物质之间的相互作用解析出物质的种类、晶相和组成。
目前有X射线吸收谱、荧光光谱、光电子能谱、散射和衍射等分析方法，其中X射线衍射是利用X射线照射在具有周期结构的晶体后会发生衍射原理，精确测定物质的晶体结构、织构及应力的方法，X射线荧光光谱是利用不同元素吸收X射线后会发出不同能量荧光的原理，定性或定量测定物质的元素组成的方法。
通常这两种方法都使用独立的仪器进行测试，分别为X射线衍射仪和X射线荧光光谱仪；X射线衍射仪可以解析出物质的种类和晶相，但是往往类似元素组成的同类物质衍射数据十分接近，比较难以区分；X射线荧光光谱仪可以解析出物质的元素组成，但是无法获知元素的化合价即物质的晶相。因此这两种方法通常一起使用，经过彼此验证能够更容易解析出物质的组成，所以很多分析测试部门需要配备两种仪器。
两种仪器的构造比较接近：X射线衍射仪主要包括X射线源、测角仪、样品台、探测器和安全壳体；X射线荧光光谱仪分为波长色散型和能量色散型两种，前者主要包括X射线源、样品台、分析晶体及其转动装置、X射线探测器，后者主要包括X射线源、样品台、具有能量分辨功能的探测器。因此这两种仪器可以整合到一起。在现有整合仪器中，奥林巴斯公司的BTX Profiler仪器将一套二维X射线衍射测试系统和一套能量色散X射线荧光光谱测试系统集成到一起，测试时样品会切换到不同的位置来实现两种方法测试；Thermos公司的ARL9900仪器利用一套光源和两套探测器实现两种方法测试。
但是目前已经有很多单位都购置了X射线衍射仪，如果再购置X射线荧光光谱仪会花费多余的经费。因此基于两种仪器的接近构造来开发一套X射线衍射仪用的X射线荧光光谱测试附件非常有必要。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种X射线衍射仪用X射线荧光测试附件，利用X射线衍射仪的X射线源完成X射线荧光光谱的测试，实现同一位置同一线源测试物质和X射线衍射与X射线荧光光谱同步测试。
为实现上述目的，本实用新型提供了如下方案：
一种X射线衍射仪用X射线荧光测试附件，包括：
转接块，用于将X射线衍射仪用X射线荧光测试附件固定在X射线衍射仪的测角仪上；
样品台，可拆卸地设置在所述转接块上，用于盛放待测样品；
探测器，位于所述样品台的正上方，用于探测所述待测样品被所述X射线衍射仪发出的X射线照射后产生的荧光。
可选地，所述转接块包括：圆环结构、圆柱结构、半圆柱结构和异型结构；所述异型结构由第一长方体结构和第二长方体结构组成；所述第一长方体结构的高度小于所述第二长方体结构的高度；
所述圆柱结构的一侧与所述圆环结构的圆环处连接，所述圆柱结构的另一侧分别与所述半圆柱结构的一侧、所述第一长方体结构的一侧和所述第二长方体结构的一侧连接；所述第一长方体结构的底面设置在所述半圆柱结构的切面的上方。
可选地，所述X射线衍射仪用X射线荧光测试附件还包括：
探测器支架，固定在所述第二长方体结构的顶面的上方，用于固定所述探测器。
可选地，所述圆环结构和所述异型结构均设置有螺丝孔；所述圆环结构通过螺丝孔和对应的螺丝与所述X射线衍射仪的测角仪固定；所述异型结构通过螺丝孔和对应的螺丝与所述探测器支架固定。
可选地，所述X射线衍射仪用X射线荧光测试附件还包括：
弹簧片，位于所述异型结构的夹角处，所述弹簧片和所述异型结构之间的空隙可拆卸地设置所述样品台。
可选地，所述弹簧片为金属片。
可选地，所述待测样品为粉末、块体、液体或胶体。
可选地，所述探测器为X射线探测器。
可选地，所述X射线探测器为Si-PIN探测器或SDD探测器。
根据本实用新型提供的具体实施例，本实用新型公开了以下技术效果：
本实用新型提供的X射线衍射仪用X射线荧光测试附件结构紧凑简单，且通过固定在X射线衍射仪的测角仪上，利用X射线衍射仪的X射线源完成X射线荧光光谱的测试，实现同一位置同一线源测试物质和X射线衍射与X射线荧光光谱同步测试。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型X射线衍射仪用X射线荧光测试附件的正视图；
图2为本实用新型X射线衍射仪用X射线荧光测试附件的左视图；
图3为本实用新型X射线衍射仪用X射线荧光测试附件的结构立体图。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
本实用新型的目的是提供一种X射线衍射仪用X射线荧光测试附件，通过利用X射线衍射仪的X射线源完成X射线荧光光谱的测试，实现同一位置同一线源测试物质和X射线衍射与X射线荧光光谱同步测试。
为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。
如图1至图3所示，本实用新型提供的X射线衍射仪用X射线荧光测试附件包括：转接块1、样品台2和探测器3。
转接块1用于将X射线衍射仪用X射线荧光测试附件固定在X射线衍射仪的测角仪上。
如图2所示，转接块1具体包括：圆环结构11、圆柱结构12、半圆柱结构13和异型结构14；异型结构14由第一长方体结构和第二长方体结构组成；第一长方体结构的高度小于第二长方体结构的高度。圆柱结构12的一侧与圆环结构11的圆环处连接，圆柱结构12的另一侧分别与半圆柱结构13的一侧、第一长方体结构的一侧和第二长方体结构的一侧连接；第一长方体结构的底面设置在半圆柱结构13的切面的上方。
样品台2可拆卸地设置在转接块1上，用于盛放待测样品；待测样品为粉末、块体、液体或胶体。为了便于样品台2的拆卸，本实用新型还包括弹簧片4，弹簧片4位于异型结构14的夹角处，弹簧片4和异型结构14之间的空隙可拆卸地设置样品台2。弹簧片4为金属片。
探测器3位于样品台2的正上方，用于探测待测样品被X射线衍射仪发出的X射线照射后产生的荧光。为了便于安装探测器3，本实用新型还包括探测器支架5，探测器支架5固定在第二长方体结构的顶面的上方，用于固定探测器3。在本实施例中探测器3为X射线探测器；X射线探测器为Si-PIN探测器或SDD探测器。
进一步地，圆环结构11和异型结构14均设置有螺丝孔；圆环结构11通过螺丝孔和对应的螺丝与X射线衍射仪的测角仪固定；异型结构14通过螺丝孔和对应的螺丝与探测器支架5固定。
在本实施例中，X射线衍射仪为丹东浩元DX2700BH型X射线衍射仪，转接块1和样品台2均由3D打印而成，探测器3采用兀象科技的Si-PIN探测器。
本实用新型提供的X射线衍射仪用X射线荧光测试附件不遮挡X射线衍射测试光路，因此不影响X射线衍射测试。需要进行X射线荧光光谱测试时，可以通过软件控制打开快门，让X射线照射到所述待测样品上，之后由探测器收集待测样品产生的X射线荧光信号，并传输到计算机中。
本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。
本文中应用了具体个例对本实用新型的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本实用新型的装置及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本实用新型的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处。综上所述，本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制。
Claims (9)
1.一种X射线衍射仪用X射线荧光测试附件，其特征在于，包括：
转接块，用于将X射线衍射仪用X射线荧光测试附件固定在X射线衍射仪的测角仪上；
样品台，可拆卸地设置在所述转接块上，用于盛放待测样品；
探测器，位于所述样品台的正上方，用于探测所述待测样品被所述X射线衍射仪发出的X射线照射后产生的荧光。
2.根据权利要求1所述的X射线衍射仪用X射线荧光测试附件，其特征在于，所述转接块包括：圆环结构、圆柱结构、半圆柱结构和异型结构；所述异型结构由第一长方体结构和第二长方体结构组成；所述第一长方体结构的高度小于所述第二长方体结构的高度；
所述圆柱结构的一侧与所述圆环结构的圆环处连接，所述圆柱结构的另一侧分别与所述半圆柱结构的一侧、所述第一长方体结构的一侧和所述第二长方体结构的一侧连接；所述第一长方体结构的底面设置在所述半圆柱结构的切面的上方。
3.根据权利要求2所述的X射线衍射仪用X射线荧光测试附件，其特征在于，所述X射线衍射仪用X射线荧光测试附件还包括：
探测器支架，固定在所述第二长方体结构的顶面的上方，用于固定所述探测器。
4.根据权利要求3所述的X射线衍射仪用X射线荧光测试附件，其特征在于，所述圆环结构和所述异型结构均设置有螺丝孔；所述圆环结构通过螺丝孔和对应的螺丝与所述X射线衍射仪的测角仪固定；所述异型结构通过螺丝孔和对应的螺丝与所述探测器支架固定。
5.根据权利要求2所述的X射线衍射仪用X射线荧光测试附件，其特征在于，所述X射线衍射仪用X射线荧光测试附件还包括：
弹簧片，位于所述异型结构的夹角处，所述弹簧片和所述异型结构之间的空隙可拆卸地设置所述样品台。
6.根据权利要求5所述的X射线衍射仪用X射线荧光测试附件，其特征在于，所述弹簧片为金属片。
7.根据权利要求1所述的X射线衍射仪用X射线荧光测试附件，其特征在于，所述待测样品为粉末、块体、液体或胶体。
8.根据权利要求1所述的X射线衍射仪用X射线荧光测试附件，其特征在于，所述探测器为X射线探测器。
9.根据权利要求8所述的X射线衍射仪用X射线荧光测试附件，其特征在于，所述X射线探测器为Si-PIN探测器或SDD探测器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202321315591.2U CN219915433U (zh) | 2023-05-29 | 2023-05-29 | 一种x射线衍射仪用x射线荧光测试附件 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202321315591.2U CN219915433U (zh) | 2023-05-29 | 2023-05-29 | 一种x射线衍射仪用x射线荧光测试附件 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN219915433U true CN219915433U (zh) | 2023-10-27 |
Family
ID=88430767
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202321315591.2U Active CN219915433U (zh) | 2023-05-29 | 2023-05-29 | 一种x射线衍射仪用x射线荧光测试附件 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN219915433U (zh) |
-
2023
- 2023-05-29 CN CN202321315591.2U patent/CN219915433U/zh active Active
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| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |