CN219891093U - 样本分析仪 - Google Patents

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吕治斌
刘京
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Abstract

本实用新型公开一种样本分析仪,样本分析仪包括流动室组件、光学组件及温控组件,流动室组件用于供样本流通,光学组件包括前光组件、散射探测组件及荧光探测组件,前光组件、散射探测组件及荧光探测组件之间形成检测光路,流动室组件位于检测光路。温控组件包括公共温控组件和荧光温控组件,公共温控组件与前光组件、散射探测组件及流动室组件对应设置,用于控制前光组件、散射探测组件及流动室组件的温度,荧光温控组件与荧光探测组件对应设置,用于控制荧光探测组件的温度。本实用新型技术方案有利于维持荧光探测组件温度的稳定,提高荧光探测组件的温控精度和测量精确度。

Description

样本分析仪
技术领域
本实用新型涉及医疗检测技术领域,特别涉及一种样本分析仪。
背景技术
样本分析仪用于分析生物样本中的细胞,通过对细胞进行染色,由光学探测系统探测出荧光信号以便确定细胞核酸量。相比于传统的非荧光光学系统,荧光光学系统增加了对荧光信号的收集,荧光接收器通常采用高放大倍数的SiPMT(SiliconphotoMultiplier Tube,硅光电倍增器)来采集,SiPMT器件本身对温度比较非常敏感,温度的变化将显著影响其放大倍数,影响测量准确性。
现有的样本分析仪通过集成的公共温控装置对荧光探测模块和其他探测模块进行统一温控,而由于荧光探测模块多为板状结构,其与公共温控装置的接触面积较小,热量传递速度较慢、效率较差,容易导致荧光探测模块的温度波动较大,不利于维持荧光探测器的温度稳定,可能会引起额外的测量误差。
实用新型内容
本实用新型的主要目的是提供一种样本分析仪,旨在提高荧光探测组件的温度稳定性和温控精度,提高测量准确度。
为实现上述目的,本实用新型提出的样本分析仪包括:
流动室组件,用于供样本流通;
光学组件,所述光学组件包括前光组件、散射探测组件及荧光探测组件,所述前光组件、所述散射探测组件及所述荧光探测组件之间形成检测光路,所述流动室组件位于所述检测光路;及
温控组件,所述温控组件包括公共温控组件和荧光温控组件,所述公共温控组件与所述前光组件、所述散射探测组件及所述流动室组件对应设置,用于控制所述前光组件、所述散射探测组件及所述流动室组件的温度,所述荧光温控组件与所述荧光探测组件对应设置,用于控制所述荧光探测组件的温度。
在一实施例中,所述样本分析仪还包括:
基座,所述前光组件、所述散射探测组件及所述流动室组件均连接所述基座,所述前光组件和所述散射探测组件设于所述流动室组件相对的两侧,所述公共温控组件设于所述基座;和
荧光连接座,所述荧光连接座连接于所述基座,并与所述基座呈夹角设置,所述荧光连接座设于所述前光组件、所述散射探测组件及所述流动室组件的一侧,所述荧光探测组件和所述荧光温控组件均设于所述荧光连接座。
在一实施例中,所述荧光连接座设有第一加热空间,至少部分所述荧光温控组件设于所述第一加热空间内,所述荧光探测组件设于所述荧光连接座的一表面。
在一实施例中,所述荧光连接座包括:
连接板,所述连接板连接于所述基座;和
固定板,所述固定板设于所述连接板的一侧,并与所述连接板间隔设置以形成所述第一加热空间,至少部分所述荧光温控组件设于第一加热空间内,所述荧光探测组件设于所述固定板远离所述连接板的表面。
在一实施例中,所述荧光温控组件包括:
荧光加热件,所述荧光加热件设于所述第一加热空间内,并抵接所述固定板朝向所述连接板的表面;和
荧光测温件,所述荧光测温件连接于所述固定板,用于检测所述固定板的温度。
在一实施例中,所述公共温控组件包括第一温控组件和第二温控组件,所述基座包括:
座本体,所述座本体设有安装孔,所述前光组件、所述散射探测组件及所述荧光连接座均设于所述座本体,所述第一温控组件设于所述座本体;和
样本连接座,所述样本连接座设于所述基座的一侧,并设有与所述安装孔连通的连接孔,所述流动室组件穿设于所述安装孔和所述连接孔,所述第二温控组件设于所述流动室组件。
在一实施例中,所述座本体包括:
基板;和
隔热板,所述隔热板与所述基板之间设有第二加热空间,所述前光组件、所述散射探测组件及所述荧光连接座设于所述基板远离所述隔热板的表面,至少部分所述第一温控组件设于所述第二加热空间内。
在一实施例中,所述第一温控组件包括第一加热件和第一测温件,所述第一加热件设于所述第二加热空间内,并抵接所述基板朝向所述隔热板的表面,所述第一测温件连接于所述基板,用于检测所述基板的温度。
在一实施例中,所述流动室组件包括相连的整流管和流动室,所述整流管靠近所述流动室的一端穿设于所述安装孔,所述流动室穿设于所述连接孔,以至少部分显露于所述前光组件、所述散射探测组件及所述荧光探测组件之间;
所述第二温控组件包括第二加热件、第二测温件及保温套,所述第二加热件设于所述整流管的周侧,所述保温套套设于所述第二加热件,所述第二测温件设于所述整流管和所述第二加热件之间。
在一实施例中,所述样本分析仪还包括壳体,所述壳体内设有样本分析空间,所述光学组件、所述流动室组件及所述温控组件均设于所述样本分析空间内,所述样本分析空间的内壁设有保温层。
本实用新型技术方案通过公共温控组件对流动室组件、前光组件及散射探测组件进行温度控制,并另设荧光温控组件对荧光探测组件单独地进行温控,公共温控组件与荧光温控组件相互独立,从而有利于维持荧光探测组件温度的稳定,提高荧光探测组件的温控精度和测量精确度。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1为本实用新型样本分析仪一实施例的结构示意图;
图2为图1中样本分析仪的爆炸结构图;
图3为本实用新型样本分析仪一实施例的内部结构示意图;
图4为图3中荧光连接座的爆炸结构示意图;
图5为图3中座本体的爆炸结构示意图;
图6为图3中样本连接座和流动室组件的爆炸结构示意图。
附图标号说明:
本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
需要说明,本实用新型实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等,如果该特定姿态发生改变时,则该方向性指示也相应地随之改变。
另外,在本实用新型中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外,各个实施例之间的技术方案可以相互结合,但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础,当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在,也不在本实用新型要求的保护范围之内。
为实现提高荧光探测组件的温度稳定性和温控精度,提高测量准确度的目的,本实用新型提出一种样本分析仪100。
样本分析仪100用于生物样本的分析,其包括壳体90和设于壳体90内的光学组件30、流动室组件10及温控组件。如图1和图2所示,壳体90大致呈方盒状,包括上壳91和下壳93,下壳93包括底板和设于底板至少一侧的侧板,上壳91呈罩壳状,上壳91与下壳93连接以围合形成样本分析空间,光学组件30、流动室组件10及温控组件均设于样本分析空间内。为减少样本空间内的热量散失,保证温度稳定性,样本分析空间的内壁设有保温层95。保温层95分为设于底板的底部保温层和围设在底板四周的侧保温层。可选地,保温层95为贴设于壳体90内壁的保温泡棉。
在一实施例中,样本分析仪100还包括基座50,基座50设于底板上,用于为光学组件30、流动室组件10及温控组件等提供安装基础,其可以呈板状、块状等适应实际测试分析需要的形状。参照图2,本实施例中,光学组件30包括前光组件31、散射探测组件33及荧光探测组件35,前光组件31、散射探测组件33及荧光探测组件35均设于基座50上,前光组件31和散射探测组件33设于流动室组件10相对的两侧,荧光探测组件35设于前光组件31、散射探测组件33及流动室组件10的一侧。其中,前光组件31、散射探测组件33及荧光探测组件35之间形成检测光路,流动室组件10位于检测光路上。可以理解地,流动室组件10内流通有样本液,样本液内有经染色处理后的生物细胞,前光组件311用于提供进入流动室组件10内的光束,样本液中的生物细胞在光束的照射下产生散射光和荧光,并分别被散射探测组件33和荧光探测组件35所探得,通过对探得的信号进行分析,即可获知样本的相关信息。
相关技术中,前光组件31、散射探测组件33、荧光探测组件35及流动室组件10都由公共温控装置统一地进行温度调控,其中荧光探测组件35与公共温控装置的接触面积较小,从公共的加热源至荧光探测组件35的温度传递效率不够理想,难以将荧光探测组件35的温度维持到较为稳定的水平,荧光探测组件35容易出现较大的温度波动,影响测量的准确度。
鉴于此,本申请提出的样本分析仪100的温控组件包括公共温控组件和荧光温控组件80。
具体参照图3,样本分析仪100还包括荧光连接座40,荧光连接座40大致呈板块状,荧光连接座40的一侧边设有连接耳,连接耳通过螺栓与基座50连接,荧光探测组件35设于荧光连接座40的一表面。可选地,荧光连接座40与基座50呈90度夹角设置,以使得荧光探测组件35能够较好的探测荧光信号。公共温控组件设于基座50,用于控制前光组件31、散射探测组件33及流动室组件10的温度;荧光温控组件80设于荧光连接座40,用于针对性地控制荧光探测组件35的温度。公共温控组件和荧光温控组件80分别设有用于调节温度的加热件或制冷件,通过分别独立地控制两部分加热件、制冷件来进行两部分独立的温度调节,从而能够针对性地对荧光探测组件35进行温度调控,有利于维持荧光探测组件35温度的稳定,提高荧光探测组件35的温控精度和测量精确度。
参照图4,在一可选的实施结构中,荧光连接座40包括连接板41和固定板43,连接板41的侧边与基座50连接,连接板41与基座50呈90度夹角设置,以使连接座的其中一表面朝向流动室组件10。固定板43设于连接板41的一侧,固定板43与连接板41的表面通过四角的螺栓固定连接,二者中部间隔设置以形成第一加热空间40a,荧光探测组件35包括荧光探测器和安装板,安装板设于固定板43远离连接板41的表面,荧光探测器通过安装板与固定板43的表面连接。
荧光温控组件包括荧光加热件81和荧光测温件83,荧光加热件81设于第一加热空间40a内,并抵接固定板43朝向连接板41的表面。荧光加热件81能够在通电状态下将电能转换为热能,而固定板43和安装板均为导热件,以使热能传导至荧光探测组件35。可选地,荧光加热件81为加热膜。加热膜不仅有较好的延展范围,且加热更为均匀,效果更好。当然,荧光加热件81还可以是铺设于第一加热空间40a的加热棒或加热块等结构,在此不作限定。本实施例中的固定板43和连接板41夹设于荧光加热件81的两侧,与荧光加热件81具有较好的贴合度,传热效率较高。荧光测温件83则部分伸入固定板43内,通过对固定板43的温度进行检测,实时地反映荧光探测组件35的温度情况。
可以理解地,荧光温控组件80还包括荧光温度控制器,荧光温度控制器与荧光加热件81和荧光测温件83均电性连接。荧光测温件83将测得的信号反馈至荧光温度控制器,当未达目标温度时,荧光温度控制器控制荧光加热件81工作以提高温度,当达到目标温度时,荧光温度控制器控制荧光加热件81停止工作或以较小的功率维持温度。
在一些实施例中,公共温控组件设有公共的加热件和测温件,可选地,加热件和测温件均设于基座50上,前光组件31、散射探测组件33及流动室组件10均通过该加热件和测温件的配合进行温度调控,荧光温控组件80独立于公共温控组件之外,并针对性地对荧光探测组件35进行温度调控。
结合参照图5和图6,基座50包括座本体51和样本连接座53,座本体51呈板状设置,前光组件31、散射探测组件33及荧光连接座40均设于座本体51。其中,座本体51设有安装孔51b,样本连接座53设于安装孔51b的一侧,并设有与安装孔51b连通的连接孔53a,壳体90的底板则设有避让孔,安装孔51b与避让孔的形状相同,流动室组件10穿设于避让孔、安装孔51b及连接孔53a。其中,安装孔51b和连接孔53a的形状本申请不作限定。
在另一些可选的实施例中,为进一步提高样本分析仪100的温控精度和测量准确度,公共温控组件包括第一温控组件60和第二温控组件70。
参照图5,座本体51包括基板511和隔热板513,基板511与隔热板513的形状大致相同,基板511和隔热板513至少部分间隔设置以形成第二加热空间51a。基板511为导热件,其可以是由铝合金制成,导热效果较好。前光组件31包括前光连接座和发光器,散射探测组件33包括散射连接座和散射探测器,前光连接座和散射连接座抵接基板511的表面,并具有充足的接触面积,以减少空气热阻,提高传热效率。隔热板513用于减少第二加热空间51a的热量散失,节约能源,有利于保持第二加热空间51a温度的稳定可控,从而也就有利于维持前光组件31、散射探测组件33的温度稳定性。
可以理解地,基板511设有第一通孔,隔热板513设有第二通孔,第一通孔与第二通孔对应设置以形成安装孔51b,基板511与隔热板513之间设置隔热材料,并以该隔热材料形成安装孔51b的周壁,以减少第二加热空间51a内的热量散失,减少第一温控组件60对流动室组件10的影响。其中,隔热材料可以与基板511为一体结构,或与隔热板513为一体结构,由基板511或隔热板513弯折延伸形成。
第一温控组件60包括第一加热件61和第一测温件63,第一加热件61设于第二加热空间51a内,并抵接基板511朝向隔热板513的表面。可选地,第一加热件61为加热膜,加热膜不仅有较好的延展范围,且加热更为均匀,效果更好。当然,第一加热件61还可以是铺设于第二加热空间51a内的加热棒或加热块等结构,在此不作限定。第一测温件63连接于基板511,其可选为温度计,其设有用于感应温度的端部,该端部伸入基板511内,以实时感应并反馈基板511的温度,并以此对前光组件31和散射探测组件33等进行温度的调控。
进一步地,第一温控组件60还包括保护开关65,保护开关65与第一加热件61电性连接。基板511设有开关槽,第一测温件63嵌设于开关槽的底壁,保护开关65设于开关槽内,保护开关65和第一测温件63的引线自基板511的侧向引出。可以理解地,保护开关65电连接第一加热件61,当基板511的温度过高时,保护开关65将会使第一加热件61的工作电路断开,避免温度过高而引发安全事故。
参照图6,为便于拆装,样本连接座53可拆卸地连接于座本体51。比如,样本连接座53与座本体51可通过螺栓、卡扣等方式连接。样本连接座53用于为流动室组件10提供与座本体51连接的基础,流动室组件10穿设于安装孔51b和连接孔53a。
流动室组件10包括相连的整流管11和流动室13,当样本分析仪100器水平放置时,流动室13和整流管11沿竖直方向依次排布。在一实施例中,整流管11大致呈圆柱状,流动室13同样呈外径阶梯式减小的圆柱形结构,连接孔53a大致呈圆形,整流管11靠近流动室13的一端穿过安装孔51b,以使流动室13穿设于连接孔53a,并部分显露于样本连接座53的一侧,且位于前光组件31、散射探测组件33及荧光探测组件35所形成的检测光路上。整流管11远离流动室13的一端设有鞘液接嘴(未图示)和样本液接嘴(未图示),鞘液接嘴设于整流管11的侧面,样本液接嘴设于整流管11的底部,样本液自底部进入整流管11,同时鞘液自一侧进入整流管11,鞘液形成龙卷状的液体柱,裹挟样本液进入流动室13。
第二温控组件70包括第二加热件71、第二测温件73及保温套75,设于整流管11的第二加热件71能够直接地对鞘液和样本液进行加热,热量传递效率更高、速度更快。其中,为保证鞘液和样本液的温度均匀,第二加热件71沿整流管11的周侧设置,并尽量覆盖整流管11的长度范围。可选地,第二加热件71为加热膜,第二加热件71绕设于整流管11的侧表面,采用加热膜一方面能够较为节省空间,另一方面也能够进一步保证温度的均匀性。第二测温件73可以为温度计,设于整流管11和第二加热件71之间能够更为直观地反映整流管11内液体的温度,提高温控精度。进一步地,第二温控组件70还包括保温套75,保温套75套设于第二加热件71,通过设置保温套75能够减少热量散失,能够节约能源,并有利于维持温度的稳定。其中,保温套75可以是由保温泡棉制成,其一侧开设有缝隙,并可通过缝隙将保温套75安装在第二加热件71上,再将缝隙连接。
由此,上述实施例中,第一温控组件60和第二温控组件70分别设有用于调节温度的加热件或制冷件,通过分别独立地控制两部分加热件、制冷件来进行两部分独立的温度调节,具有更好的温控精度。
再一次参照图3,在一实施例中,下壳93的侧板上设有指示灯,指示灯包括信号指示灯和温度指示灯,信号指示等分别对应地与前光组件31、散射探测组件33、荧光探测组件35及流动室组件10等连接,以反映组件运行状况;温度指示灯可与公共温控组件和荧光温控组件80连接,以反映温控状况。
以上仅为本实用新型的优选实施例,并非因此限制本实用新型的专利范围,凡是在本实用新型的发明构思下,利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换,或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种样本分析仪,其特征在于,所述样本分析仪包括:
流动室组件,用于供样本流通;
光学组件,所述光学组件包括前光组件、散射探测组件及荧光探测组件,所述前光组件、所述散射探测组件及所述荧光探测组件之间形成检测光路,所述流动室组件位于所述检测光路;及
温控组件,所述温控组件包括公共温控组件和荧光温控组件,所述公共温控组件与所述前光组件、所述散射探测组件及所述流动室组件对应设置,用于控制所述前光组件、所述散射探测组件及所述流动室组件的温度,所述荧光温控组件与所述荧光探测组件对应设置,用于控制所述荧光探测组件的温度。
2.如权利要求1所述的样本分析仪,其特征在于,所述样本分析仪还包括:
基座,所述前光组件、所述散射探测组件及所述流动室组件均连接所述基座,所述前光组件和所述散射探测组件设于所述流动室组件相对的两侧,所述公共温控组件设于所述基座;和
荧光连接座,所述荧光连接座连接于所述基座,并与所述基座呈夹角设置,所述荧光连接座设于所述前光组件、所述散射探测组件及所述流动室组件的一侧,所述荧光探测组件和所述荧光温控组件均设于所述荧光连接座。
3.如权利要求2所述的样本分析仪,其特征在于,所述荧光连接座设有第一加热空间,至少部分所述荧光温控组件设于所述第一加热空间内,所述荧光探测组件设于所述荧光连接座的一表面。
4.如权利要求3所述的样本分析仪,其特征在于,所述荧光连接座包括:
连接板,所述连接板连接于所述基座;和
固定板,所述固定板设于所述连接板的一侧,并与所述连接板间隔设置以形成所述第一加热空间,至少部分所述荧光温控组件设于第一加热空间内,所述荧光探测组件设于所述固定板远离所述连接板的表面。
5.如权利要求4所述的样本分析仪,其特征在于,所述荧光温控组件包括:
荧光加热件,所述荧光加热件设于所述第一加热空间内,并抵接所述固定板朝向所述连接板的表面;和
荧光测温件,所述荧光测温件连接于所述固定板,用于检测所述固定板的温度。
6.如权利要求2所述的样本分析仪,其特征在于,所述公共温控组件包括第一温控组件和第二温控组件,所述基座包括:
座本体,所述座本体设有安装孔,所述前光组件、所述散射探测组件及所述荧光连接座均设于所述座本体,所述第一温控组件设于所述座本体;和
样本连接座,所述样本连接座设于所述基座的一侧,并设有与所述安装孔连通的连接孔,所述流动室组件穿设于所述安装孔和所述连接孔,所述第二温控组件设于所述流动室组件。
7.如权利要求6所述的样本分析仪,其特征在于,所述座本体包括:
基板;和
隔热板,所述隔热板与所述基板之间设有第二加热空间,所述前光组件、所述散射探测组件及所述荧光连接座设于所述基板远离所述隔热板的表面,至少部分所述第一温控组件设于所述第二加热空间内。
8.如权利要求7所述的样本分析仪,其特征在于,所述第一温控组件包括第一加热件和第一测温件,所述第一加热件设于所述第二加热空间内,并抵接所述基板朝向所述隔热板的表面,所述第一测温件连接于所述基板,用于检测所述基板的温度。
9.如权利要求6所述的样本分析仪,其特征在于,所述流动室组件包括相连的整流管和流动室,所述整流管靠近所述流动室的一端穿设于所述安装孔,所述流动室穿设于所述连接孔,以至少部分显露于所述前光组件、所述散射探测组件及所述荧光探测组件之间;
所述第二温控组件包括第二加热件、第二测温件及保温套,所述第二加热件设于所述整流管的周侧,所述保温套套设于所述第二加热件,所述第二测温件设于所述整流管和所述第二加热件之间。
10.如权利要求1至9中任意一项所述的样本分析仪,其特征在于,所述样本分析仪还包括壳体,所述壳体内设有样本分析空间,所述光学组件、所述流动室组件及所述温控组件均设于所述样本分析空间内,所述样本分析空间的内壁设有保温层。
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