CN219842471U - 测试转接模块及测试系统 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种测试转接模块，其包括用于连接集线器的第一连接器、用于连接被测产品的第二连接器和侦测电路，第一连接器包括第一电源端口和第一数据端口；第二连接器包括第二电源端口、第二数据端口和第一通道配置端口，第二电源端口连接至第一电源端口，第二数据端口连接至第一数据端口；侦测电路包括第一电阻、第二电阻、第一发光二极管和第二发光二极管，第一电阻的一端连接至第二电源端口，第一电阻的另一端经第二发光二极管接地，第二电阻的一端连接至第一通道配置端口，第二电阻的另一端连接至第一电阻与第二发光二极管之间，第一发光二极管连接于第一通道配置端口。本申请的测试转接模块可以完善对被测产品接口的性能测试，且成本低。

Description

测试转接模块及测试系统

技术领域

本申请涉及电子产品测试领域，特别涉及一种测试转接模块和含有该测试转接模块的测试系统。

背景技术

USB(Universal Serial Bus，通用串行总线)接口是目前各类电子产品中常见的一种接口，通过插拔连接可以快速实现数据的传输功能。按照金属触点的差异，USB接口又分为Type-A(也称为USB-A)、Type-B(也称为USB-B)、Type-C(也称为USB-C)三种类型，又根据接口外形可以进一步细分。而其中Type-C接口因为支持正反插和更高的数据传输速率而逐渐被大量应用，目前市场上大量的手机和笔记本电脑、平板电脑等设备都标配了Type-C接口，可以支持10Gbps、20Gbps和40Gbps三种高速传输。Type-C还有一个特点，就是接口体积小，尤其适合用于消费类电子产品。然而Type-A诞生时间较早，是应用时间最长的一个USB类型，也被称之为standard Type-A USB，很多仍然使用寿命期内的电子产品可能仅配置了Type-A接口，大量的新产品为了兼容也会同时配置多个类型接口。

带有Type-C接口的存储产品，比如带有USB-C接口的移动硬盘，其在实际应用中，需要CC Logic(Configuration Channel Logic，配置通道逻辑)和Vconn Switch功能，用于实现设备的主从切换、电源切换和通道切换。然而存储产品在批量生产、测试和检验过程中，所采用的测试系统一般仍然是带有Tpye-A接口的，在存储产品连接到测试系统时，需要采用Type-C接口转Tpye-A接口的方式进行转接，然而Type-A接口没有CC管脚，无法对Type-C接口的存储产品的CC Logic和Vconn Switch功能进行侦测，也就是对存储产品接口的性能测试具有一定缺失，无法保证通过此项测试的存储产品的Type-C接口是正常完整的。使用这种方法测试通过的存储产品，虽然可以保证其连接到设备(比如电脑)的Tpye-A接口时可以正常使用，但其连接到设备的Type-C接口可能就无法正常工作，具有重大的功能性隐患。

对于此问题，一般的解决办法是更换测试系统，使得存储产品可以直接连接测试系统的Type-C接口批量生产、测试和检验，但一方面基于Type-C接口的多线集成(HUB，也叫集线器)技术实施难度太高，而测试系统因为要考虑到批量操作和效率问题又必须要用到集线器，所以对测试系统直接进行Type-C接口的改造一方面难度高，同时又涉及到更换大量的芯片，成本也会提升，对于存储产品生产商而言并不是一个好的解决方案，因此制约了Type-C接口存储产品的大量产业化生产。

有鉴于此，实有必要对现有技术中的Type-C接口存储产品或Type-C接口电子产品的测试进行改进。

发明内容

本申请实施例的目的之一在于提供一种可以降低测试成本又能支持测试功能全面性的测试转接模块，以解决现有技术中低成本测试系统对产品功能测试不全面的技术问题。

一种测试转接模块，其包括第一连接器、第二连接器和侦测电路，所述第一连接器用于连接集线器，所述第一连接器包括第一电源端口和第一数据端口；第二连接器用于连接被测产品，所述第二连接器包括第二电源端口、第二数据端口和第一通道配置端口，所述第二电源端口连接至所述第一电源端口，所述第二数据端口连接至所述第一数据端口；侦测电路包括第一电阻、第二电阻、第一发光二极管和第二发光二极管，所述第一电阻的一端连接至所述第二电源端口，所述第一电阻的另一端经所述第二发光二极管接地，所述第二电阻的一端连接至所述第一通道配置端口，所述第二电阻的另一端连接至所述第一电阻与所述第二发光二极管之间，所述第一发光二极管连接于所述第一通道配置端口。

在一些实施例中，所述第二连接器进一步包括第三电源端口、第三数据端口和第二通道配置端口，所述第三电源端口连接至所述第一电源端口，所述第三数据端口连接至所述第一数据端口，所述侦测电路进一步包括第三电阻、第四电阻、第三发光二极管和第四发光二极管，所述第三电阻的一端连接至所述第三电源端口，所述第三电阻的另一端经所述第三发光二极管接地，所述第四电阻的一端连接至所述第二通道配置端口，所述第四电阻的另一端连接至所述第三电阻与所述第三发光二极管之间，所述第四发光二极管连接于所述第二通道配置端口。

在一些实施例中，所述第一发光二极管、所述第二发光二极管、所述第三发光二极管和所述第四发光二极管的负极均接地。

在一些实施例中，所述侦测电路进一步包括第五电阻和第六电阻，所述第五电阻连接于所述第二发光二极管与接地端之间，所述第六电阻连接于所述第四发光二极管与所述接地端之间。

在一些实施例中，所述第一电阻的阻值大于所述第二电阻的阻值，所述第三电阻的阻值大于所述第四电阻的阻值。

在一些实施例中，所述第一电阻和所述第三电阻的阻值均为2.47千欧姆，所述第二电阻和所述第四电阻的阻值均为1.5千欧姆。

在一些实施例中，所述第一发光二极管和所述第四发光二极管为蓝光二极管，所述第二发光二极管和所述第三发光二极管为绿光二极管。

在一些实施例中，所述第二电源端口与所述第一电源端口之间进一步包括第七电阻。

在一些实施例中，所述第一连接器为USB-A型连接器，所述第二连接器为USB-C型连接器。

本申请实施例的又一目的在于提供一种可以降低测试成本又能满足测试功能全面性的测试系统，以解决现有技术中低成本测试系统对产品功能测试不全面的技术问题。

一种测试系统，包括：测试主机；集线器，其连接至所述测试主机，所述集线器包括多个接口；多个测试转接模块，其分别连接至所述多个接口，所述测试转接模块包括第一连接器、第二连接器和侦测电路，所述第一连接器用于连接至集线器的接口，所述第一连接器包括第一电源端口和第一数据端口；第二连接器用于连接被测产品，所述第二连接器包括第二电源端口、第二数据端口和第一通道配置端口，所述第二电源端口连接至所述第一电源端口，所述第二数据端口连接至所述第一数据端口；侦测电路包括第一电阻、第二电阻、第一发光二极管和第二发光二极管，所述第一电阻的一端连接至所述第二电源端口，所述第一电阻的另一端经所述第二发光二极管接地，所述第二电阻的一端连接至所述第一通道配置端口，所述第二电阻的另一端连接至所述第一电阻与所述第二发光二极管之间，所述第一发光二极管连接于所述第一通道配置端口。

依据本发明实施例的测试转接模块和测试系统，其通过测试转接模块所包含的第一连接器连接到测试系统的集线器，同时通过与第一连接器具有数据连接和电源连接的第二连接器连接到被测产品，一方面可以通过具有与第一连接器匹配的接口和芯片的集线器对测试转接模块所连接的具有与第二连接器匹配的接口的被测产品进行基础的数据传输测试，另一方面又通过侦测电路连接到第二连接器的第一通道配置端口，侦测电路中所包含的第一电阻、第二电阻和第一发光二极管与第二发光二极管可以侦测与第一通道配置端口对应的被测产品的通道配置引脚的开路、短路、接触不良、对地电阻偏大和/或对地电阻偏小等不良状态，从而通过简单的电阻搭配二极管的方式对被测产品的通道配置引脚相关的性能完成测试，从而实现对具有与第二连接器匹配的接口的被测产品的接口性能进行完整的测试，消除产品的功能隐患，并且所使用的测试转接模块不要使用芯片，整体成本较低，同时又能继续沿用既有的测试设备，有利于产品的大批量测试生产。

除非另有定义，否则，本文中使用的所有技术和科学术语与本申请所属领域的普通技术人员的通常理解具有相同的含义。

在上述各方面中所提及的关于本申请的各种特征和实施方式，视情况而定，在适当变通的情况下可以应用于其他方面。因此，一个方面中的具体特征可以与其他方面中的具体特征适当地进行组合。

本申请的其它优点、目标和特征将部分通过下面的说明体现，部分还将通过对本申请的研究和实践而为本领域的技术人员所理解。

附图说明

为了更清楚地说明本申请中的方案，下面将对本申请实施例描述中所需要使用的附图作一个简单介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请一种实施方式的测试系统的电路方框示意图；

图2是本申请一实施方式的测试转接模块的电路方框示意图；

图3是本申请一种实施方式的测试转接模块中所包含第一连接器的电路结构示意图；

图4是本申请一种实施方式的测试转接模块中所包含第二连接器的电路结构示意图；

图5是本申请一种实施方式的测试系统所连接的被测产品的简化电路示意图。

具体实施方式

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同；本文中在申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本申请；本申请的说明书和权利要求书及上述附图说明中的术语“包括”和“具有”以及它们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。本申请的说明书和权利要求书或上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序或技术含义。而本申请所说“连接”、“联接”，如无特别说明，均包括直接和间接连接(联接)。

另外，说明书中所描述的特点、操作或者特征可以以任意适当的方式结合形成各种实施方式。同时，方法描述中的各步骤或者动作也可以按照本领域技术人员所能显而易见的方式进行顺序调换或调整。因此，说明书和附图中的各种顺序只是为了清楚描述某一个实施例，并不意味着是必须的顺序，除非另有说明其中某个顺序是必须遵循的。

下面通过具体实施方式结合附图对本发明作进一步详细说明。在以下的实施方式中，很多细节描述是为了使得本申请能被更好的理解。然而，本领域技术人员可以毫不费力的认识到，其中部分特征在不同情况下是可以省略的，或者可以由其他元件、材料、方法所替代。在某些情况下，本申请相关的一些操作并没有在说明书中显示或者描述，这是为了避免本申请的核心部分被过多的描述所淹没，而对于本领域技术人员而言，详细描述这些相关操作并不是必要的，他们根据说明书中的描述以及本领域的一般技术知识即可完整了解相关操作。

请参看图1，是本申请一种实施方式的测试系统的电路方框示意图。一种测试系统，包括测试主机100、集线器(HUB)1和多个测试转接模块2，为简洁起见，图中仅示出了一个测试转接模块2。集线器1连接至测试主机100，测试主机100可以用于测试流程的操控和测试数据的显示，集线器1包括多个接口10以及与接口对应的接口芯片(图未示)，具体的多个接口10可以是USB-A接口。测试转接模块2的一端连接至接口10，另一端则连接被测产品3，其中被测产品3所包含的接口与集线器所包含的接口类型不同，例如，接口10是USB-A接口，被测产品3所包含的接口是USB-C接口，例如被测产品3是USB-C接口存储器。通过测试转接模块2，可以利用具有第一类型接口(比如USB-A接口)对含有第二类型接口(比如USB-C接口)的被测产品进行性能测试。

请一并参看图2，是本申请一实施方式的测试转接模块的电路方框示意图。作为本申请的示例，测试转接模块2包括第一连接器21、第二连接器23和侦测电路25。第一连接器21用于连接集线器1的接口10，第二连接器23其用于连接被测产品3所包含的与第二连接器23匹配的接口，侦测电路25连接至第二连接器23，从而可以连接到与第二连接器23所匹配的被测产品3的接口。一方面通过测试转接模块2将被测产品3连接到具有USB-A接口的集线器，实现被测产品3接口的数据传输功能的测试，另一方面又通过测试转接模块2所包含的侦测电路25对被测产品3进行补充测试，从而实现对被测产品3接口性能的完整测试。

请进一步参看图3，是本申请一种实施方式的测试转接模块中所包含第一连接器的电路结构示意图。第一连接器21包括第一电源端口F1和第一数据端口F2、F3，其中第一电源端口F1连接到接口10的电源引脚VBUS，第一数据端口F2、F3用于传输一组差分数据信号，如图3所示，集线器1包含的接口10是USB 3.0的TYPE-A接口，那么第一数据端口F2、F3可以分别对应接口10的差分数据信号引脚D-和D+，当然在另外的实施例中，也可以分别对应接口10的高速发送差分引脚SSTX-和SSTX+，或者分别对应接口10的高速接收差分引脚SSRX-和SSRX+。应理解，第一数据端口不限于F2和F3，第一连接器21所包含的数据端口均可以定义为第一数据端口，比如F2、F3、F5、F6、F8和F9。在一个示例中，第一连接器21可以包括11个端口F1～F11，当第一连接器21连接至接口10之时，其分别与接口10的引脚(包含针脚、管脚、金属触片、导线、屏蔽壳等形式)对应连接，其连接关系如表1所示。可以理解，第一连接器21所包含的各个端口也可以是金属触片、导线等形式的导电结构。

表1

请参看图4，是本申请一种实施方式的测试转接模块中所包含第二连接器的电路结构示意图。所述第二连接器23包括第二电源端口A9、第二数据端口A6及A7，和第一通道配置端口CC1，所述第二电源端口A9连接至所述第一电源端口F1，所述第二数据端口A7及A6分别连接至所述第一数据端口F2及F3。第一数据端口和第二数据端口均为差分端口，其中第一数据端口所包含的两个端口F2及F3可以分别定义为第一数据负端口F2和第一数据正端口，第二数据端口所包含的两个端口A7及A6可以分别定义为第二数据负端口A7和第二数据正端口A6。在一个示例中，第二数据负端口A7与第一数据负端口F2连接，且两者之间还包括一第八电阻R26，第二数据正端口A6与第一数据正端口F3连接，且两者之间还包括一第九电阻R27。

在一个示例中，第二连接器23可以包括26个端口，其具体包括第一通道(A面)的12个端口A1～A12，第二通道(B面)的12个端口B1～B12，以及4个金属屏蔽端口13～16。可以将A面的数据端口，包括A2、A3、A6、A7、A10、A11定义为第二数据端口，而本文中所述第二数据端口(第三数据端口)连接至第一数据端口，是指两个端口分别包含的一部分或者全部端口具有直接或者间接的连接关系，当第二连接器23连接至被测产品3之时，其分别与被测产品3所包含的接口(USB-C接口)的引脚(包含针脚、管脚、金属触片、导线、屏蔽壳等形式)对应连接，其对应连接关系如表2所示。可以理解，第二连接器23所包含的各个端口也可以是金属触片、导线等形式的导电结构，具体的，第二连接器23和第一连接器21可以是包含多个金属触片或针脚的连接头或连接座。

表2

侦测电路包括第一电阻R1、第二电阻R2、第一发光二极管D1和第二发光二极管D2，所述第一电阻R1的一端连接至所述第二电源端口A9，所述第一电阻R1的另一端经所述第二发光二极管D2接地，所述第二电阻R2的一端连接至所述第一通道配置端口CC1，所述第二电阻R2的另一端连接至所述第一电阻R1与所述第二发光二极管D2之间，所述第一发光二极管D1连接于所述第一通道配置端口CC1。

请一并参看图5，是本申请一种实施方式的测试系统所连接的被测产品的简化电路示意图。被测产品3所包含USB-C接口中与第一配置端口CC1对应的第一配置管脚CC_1和与第二配置端口CC2对应的第二配置管脚CC_2，分别经第一对地电阻Rcc1、第二对地电阻Rcc2接地。当所述测试转接模块2的所述第一连接器21接入所述接口10，第二连接器23连接到被测产品3的时候，通过测试转接模块2中第一电源端口F1与第二电源端口A9/A4的互连，使得集线器1中接口10的电源引脚与被测产品3接口的电源引脚对应连通，类似的，测试转换模块2中第一数据端口和第二数据端口的互连使得集线器1中的接口10与被测产品3接口产生数据互连通道，从而可以对被测产品的电源和数据传输性能进行测试。同时通过侦测电路25可以对通道配置等功能进行测试。

具体的，第一电阻R1可选用2.49K欧姆电阻，第二电阻R2选用1.5K欧姆电阻，电源Vbus为5V，第一配置管脚CC_1的第一对地电阻Rcc1为5.1K欧姆电阻，当第一对地电阻Rcc1开路或第一配置管脚CC_1接触不良开路，则第一电阻R1和第二电阻R2构成限流电阻(R1+R2＝3.99K欧姆)，第一发光二极管D1正向电压为5V，大于第一发光二极管D1的驱动电压，第一发光二极管D1亮灯。其中第一电阻R1为上拉电阻，第二电阻R2和第一发光二极管D1为下拉电阻，第二发光二极管D2的正向电压Vd2+＝R2/(R1+R2)*Vbus＝1.879V，其低于2.5V，而第二发光二极管D2的驱动电压≥2.6V，因此第二发光二极管D2灯不亮。

而当第一配置管脚CC_1对地短路或第一对地电阻Rcc1阻值偏低时，第一发光二极管D1的D+端(正端或阳极)电压被拉低，也就是发光二极管D1的正向电压Vd1+＝0V，则第一发光二极管D1灯不亮。同时第二发光二极管D2的正向电压Vd2+＝R2/(R1+R2)*Vbus＝1.879V，第二发光二极管D2也是灯不亮的状态。

当第一配置管脚CC_1的第一对地电阻Rcc1阻值偏大时，比如第一对地电阻Rcc1阻值为10K欧姆，此时第二发光二极管D2的正向电压Vd2+＝R2/(R1+R2)*Vbus＝1.879V，第二发光二极管D2灯不亮，第一电阻R1和第二电阻R2构成限流电阻(R1+R2＝3.99K欧姆)，第一发光二极管D1正向电压为5V，大于第一发光二极管D1的驱动电压，第一发光二极管D1亮灯。

而当电路处于正常状态下时，第一发光二极管D1和第二发光二极管D2都发光。

在一些实施例中，所述第二连接器23进一步包括第三电源端口B4、第三数据端口B6及B7，和第二通道配置端口CC2，所述第三电源端口B4连接至所述第一电源端口F1，所述第三数据端口B7及B6分别连接至第一数据端口F2和F3，而侦测电路25进一步包括第三电阻R3、第四电阻R4、第三发光二极管D3和第四发光二极管D4，第三电阻R3的一端连接至第三电源端口B4，第三电阻R3的另一端经第三发光二极管D3接地，第四电阻R4的一端连接至第二通道配置端口CC2，第四电阻R4的另一端连接至第三电阻R3与第三发光二极管D3之间，第四发光二极管D4连接于第二通道配置端口CC2。通过对第二连接器23两面均设置电阻与发光二极管组成的侦测电路，可以实现对被测产品3的USB-C正反两面的通道配置和VCCONSwitch功能实现性能测试。第三发光二极管D3和第四发光二极管D4的工作状态可参看前述第一发光二极管D1和第二发光二极管D2的工作状态，为便于直观展示，侦测电路25的亮灯状态可参看表3。应注意，虽然表格中仅显示了CC管脚的测试(CC Logic)，但本领域技术人员可以理解，当USB-C接口插入连接后，其中一面也就是其中一个通道，比如通道1的CC管脚作为通道配置管脚使用，另一个通道上的CC管脚则自动作为VCONN管脚使用，其中VCONN是电缆上EMARKER芯片的供电电源，因此对CC管脚的测试实际上也可以完成对VCONN Switch功能的测试，此处不再展开详细描述。

表3

在前述侦测电路25中，第一发光二极管D1、第二发光二极管D2、第三发光二极管D3和第四发光二极管D4的负极均接地。

在一些实施例中，侦测电路25进一步包括第五电阻R5和第六电阻R6，所述第五电阻R5连接于所述第二发光二极管D2与接地端GND之间，所述第六电阻R6连接于所述第四发光二极管D4与所述接地端GND之间。第五电阻R5和第六电阻R6的取值为4.7K欧姆。

在一些实施例中，所述第一电阻R1的阻值大于所述第二电阻R2的阻值，所述第三电阻的阻值R3大于所述第四电阻R4的阻值。具体的，第二电阻R2的阻值与第一电阻R1和第二电阻R2之后的比值要小于第二发光二极管D2驱动电压与电源电压的比值。

在一些实施例中，第一发光二极管D1和第四发光二极管D4为蓝光二极管，第二发光二极管D2和第三发光二极管D3为绿光二极管。利用颜色的差异可以方便测试操作人员快速判断被测存储产品接口不良的具体情况。

在一些实施例中，所述第三数据端口B7及B6分别经第八电阻R26、第九电阻R27连接至第一数据端口F2、F3。

在一些实施例中，第一数据端口还包括第一高速数据发送负端口F5、第一高速数据发送正端口F6，第一高速数据接收负端口F8和第一高速数据接收正端口F9。对应的，第二数据端口还包括第二高速数据接收正端口A2和第二高速数据接收负端口A3，第三数据端口还包括第二高速数据发送负端口B10和第二高速数据发送正端口B11，其中第一高速数据发送负端口F5经第一电容BC5连接至第二高速数据发送负端口B10，第一高速数据发送正端口F6经第二电容BC6连接至第二高速数据发送正端口B11，第一高速数据接收负端口F8连接至第二高速数据接收负端口A3，第一高速数据接收正端口F9连接至第二高速数据接收正端口A2。

第二连接器23还包括第四电源端口A4和第五电源端口B9，第四电源端口A4和第五电源端口B9分别位于第二连接器23上午A面和B面，其中第四电源端口A4连接至第一电源端口F1，第五电源端口B9经第七电阻R25连接至第一电源端口F1。

前述实施方式中，第一连接器21为USB-A型连接器，第二连接器23为USB-C型连接器。应理解，测试转接模块2中所包含的第一连接器21和第二连接器23仅包含导电端口而不包括芯片。测试转接模块2可以在一块电路板上集成第一连接器21、第二连接器23和侦测电路25和外围电路(比如第七电阻R25、第八电阻R26等)，而这块电路板上不需要芯片一类价格较为高的电子部件。

依据本发明实施例的测试转接模块2和测试系统，其通过测试转接模块2所包含的第一连接器21连接到测试系统的集线器1，同时通过与第一连接器21具有数据连接和电源连接的第二连接器23连接到被测产品3，一方面可以通过具有与第一连接器21匹配的接口(及芯片)的集线器1对测试转接模块2所连接的具有与第二连接器23匹配的接口的被测产品3进行基础的数据传输测试，另一方面又通过侦测电路25连接到第二连接器25的第一通道配置端口CC1，侦测电路25中所包含的第一电阻R1、第二电阻R2和第一发光二极管D1与第二发光二极管D2可以侦测与第一通道配置端口CC1对应的被测产品的通道配置管脚的开路、短路、接触不良、对地电阻偏大和/或对地电阻偏小等不良状态，从而通过简单的电阻搭配二极管的方式对被测产品3的通道配置引脚相关的CC Logic和Vconn Swith性能完成测试，从而实现对具有与第二连接器23匹配的接口的被测产品3的接口性能进行完整的测试，消除产品的功能隐患，并且所使用的测试转接模块2不要使用芯片，同时又能继续沿用既有的测试设备(可继续沿用具有USB-A接口的集线器1及相关测试主机)，不需要因为淘汰具有上一代接口的测试设备而导致测试成本大幅上升，有利于产品的大批量测试生产。本文参照了各种示范实施例进行说明。然而，本领域的技术人员将认识到，在不脱离本文范围的情况下，可以对示范性实施例做出改变和修正。例如，各种操作步骤以及用于执行操作步骤的组件，可以根据特定的应用或考虑与系统的操作相关联的任何数量的成本函数以不同的方式实现(例如一个或多个步骤可以被删除、修改或结合到其他步骤中)。

虽然在各种实施例中已经示出了本文的原理，但是许多特别适用于特定环境和操作要求的结构、布置、比例、元件、材料和部件的修改可以在不脱离本披露的原则和范围内使用。以上修改和其他改变或修正将被包含在本文的范围之内。

前述具体说明已参照各种实施例进行了描述。然而，本领域技术人员将认识到，可以在不脱离本披露的范围的情况下进行各种修正和改变。因此，对于本披露的考虑将是说明性的而非限制性的意义上的，并且所有这些修改都将被包含在其范围内。同样，有关于各种实施例的优点、其他优点和问题的解决方案已如上所述。然而，益处、优点、问题的解决方案以及任何能产生这些的要素，或使其变得更明确的解决方案都不应被解释为关键的、必需的或必要的。本文中所用的术语“包括”和其任何其他变体，皆属于非排他性包含，这样包括要素列表的过程、方法或设备不仅包括这些要素，还包括未明确列出的或不属于该过程、方法、系统或设备的其他要素。此外，本文中所使用的术语“耦合”和其任何其他变体都是指物理连接、电连接、磁连接、光连接、通信连接、功能连接和/或任何其他连接。

具有本领域技术的人将认识到，在不脱离本发明的基本原理的情况下，可以对上述实施例的细节进行许多改变。因此，本发明的范围应根据以下权利要求确定。

Claims (10)

1.一种测试转接模块，其特征在于，包括：

第一连接器，其用于连接集线器，所述第一连接器包括第一电源端口和第一数据端口；

第二连接器，其用于连接被测产品，所述第二连接器包括第二电源端口、第二数据端口和第一通道配置端口，所述第二电源端口连接至所述第一电源端口，所述第二数据端口连接至所述第一数据端口；

侦测电路，所述侦测电路包括：第一电阻、第二电阻、第一发光二极管和第二发光二极管，所述第一电阻的一端连接至所述第二电源端口，所述第一电阻的另一端经所述第二发光二极管接地，所述第二电阻的一端连接至所述第一通道配置端口，所述第二电阻的另一端连接至所述第一电阻与所述第二发光二极管之间，所述第一发光二极管连接于所述第一通道配置端口。

2.根据权利要求1所述的测试转接模块，其特征在于，所述第二连接器进一步包括第三电源端口、第三数据端口和第二通道配置端口，所述第三电源端口连接至所述第一电源端口，所述第三数据端口连接至所述第一数据端口，所述侦测电路进一步包括第三电阻、第四电阻、第三发光二极管和第四发光二极管，所述第三电阻的一端连接至所述第三电源端口，所述第三电阻的另一端经所述第三发光二极管接地，所述第四电阻的一端连接至所述第二通道配置端口，所述第四电阻的另一端连接至所述第三电阻与所述第三发光二极管之间，所述第四发光二极管连接于所述第二通道配置端口。

3.根据权利要求2所述的测试转接模块，其特征在于，所述第一发光二极管、所述第二发光二极管、所述第三发光二极管和所述第四发光二极管的负极均接地。

4.根据权利要求2所述的测试转接模块，其特征在于，所述侦测电路进一步包括第五电阻和第六电阻，所述第五电阻连接于所述第二发光二极管与接地端之间，所述第六电阻连接于所述第四发光二极管与所述接地端之间。

5.根据权利要求2所述的测试转接模块，其特征在于，所述第一电阻的阻值大于所述第二电阻的阻值，所述第三电阻的阻值大于所述第四电阻的阻值。

6.根据权利要求5所述的测试转接模块，其特征在于，所述第一电阻和所述第三电阻的阻值均为2.47千欧姆，所述第二电阻和所述第四电阻的阻值均为1.5千欧姆。

7.根据权利要求2所述的测试转接模块，其特征在于，所述第一发光二极管和所述第四发光二极管为蓝光二极管，所述第二发光二极管和所述第三发光二极管为绿光二极管。

8.根据权利要求2所述的测试转接模块，其特征在于，所述第二电源端口与所述第一电源端口之间进一步包括第七电阻。

9.根据权利要求1所述的测试转接模块，其特征在于，所述第一连接器为USB-A型连接器，所述第二连接器为USB-C型连接器。

10.一种测试系统，其特征在于，包括：

测试主机；

集线器，其连接至所述测试主机，所述集线器包括多个接口；

多个测试转接模块，其分别连接至所述多个接口，所述测试转接模块为权利要求1-9任意一项所述的测试转接模块，其中所述测试转接模块的所述第一连接器接入所述接口。