CN219802336U - 一种伪随机码发生及误码测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种伪随机码发生及误码测试装置，应用于光模块测试系统；包括：微控制单元、伪随机码发生及误码检测单元、第一晶振、第二晶振、MOS管、第一光模块插座、第二光模块插座和直流稳压电源；微控制单元通过I2C总线与伪随机码发生及误码检测单元连接；微控制单元还与MOS管连接，MOS管分别与第一晶振和第二晶振连接，第一晶振和第二晶振均与伪随机码发生及误码检测单元连接；随机码发生及误码检测单元与第一光模块插座和第二光模块插座连接；第一光模块插座和第二光模块插座之间通过光路连接；直流稳压电源分别与微控制单元和伪随机码发生及误码检测单元连接。本实用新型缓解了现有技术中存在的光模块的生产流程繁琐的技术问题。
Description
技术领域
本实用新型涉及光通信测试技术领域，具体为一种伪随机码发生及误码测试装置。
背景技术
光收发一体模块简称光模块，是光纤通信系统中重要的器件，主要功能是实现光电/电光变换，包括光功率控制、调制发送，信号探测、IV转换以及限幅放大判决再生功能，此外还有防伪信息查询、TX-disable、TX-fault等功能，常见的有：SFP、SFF、SFP+、GBIC、XFP、1x9等封装形式。光模块由光电子器件、驱动芯片和光接口等组成，光电子器件包括发射和接收两部分，发射部分作用是在输入一定码型及速率的电信号经内部的驱动芯片处理后，驱动半导体激光器(LD)发射出相应速率的调制光信号，通常其内部带有光功率自动控制电路，使输出的光信号功率保持稳定。接收部分功能是一定码型及速率的光信号输入模块后由光探测二极管转换为电信号，经前置放大器后输出相应码型及速率的电信号。因此，在光模块生产测试过程中，分别对发射与接收性能测试是十分重要的。传统的光模块生产需要购买误码仪和光示波器对光模块发射眼图、光功率、消光比和接收灵敏度测量，导致光模块的生产流程繁琐。
实用新型内容
本实用新型的目的就在于为了解决上述至少一个技术问题而提供一种伪随机码发生及误码测试装置。
第一方面，本实用新型实施例提供了一种伪随机码发生及误码测试装置，应用于光模块测试系统；包括：微控制单元、伪随机码发生及误码检测单元、第一晶振、第二晶振、MOS管、第一光模块插座、第二光模块插座和直流稳压电源；其中，所述微控制单元通过I2C总线与所述伪随机码发生及误码检测单元连接；所述微控制单元还与所述MOS管连接，所述MOS管分别与所述第一晶振和所述第二晶振连接，所述第一晶振和所述第二晶振均与所述伪随机码发生及误码检测单元连接；所述随机码发生及误码检测单元与所述第一光模块插座和所述第二光模块插座连接；所述第一光模块插座和所述第二光模块插座之间通过光路连接；所述直流稳压电源分别与所述微控制单元和所述伪随机码发生及误码检测单元连接。
进一步地，所述伪随机码发生及误码检测单元、所述第一晶振、所述第二晶振和所述MOS管的数量均为两个。
进一步地，还包括外设控制单元接口，与所述微控制单元连接，用于接入外设控制单元。
进一步地，所述微控制单元的型号包括C8051F410。
进一步地，所述伪随机码发生及误码检测单元的型号包括VSC8228xrc。
进一步地，所述第一晶振包括155MHz有源晶振。
进一步地，所述第二晶振包括125MHz有源晶振。
进一步地，所述MOS管的型号包括FDG6316P。
本实用新型提供了一种伪随机码发生及误码测试装置，能够准确测试光模块发射与接收性能并且结构简单，成本低廉，可以应用于光模块批量化生产中，缓解了现有技术中存在的光模块的生产流程繁琐的技术问题。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型实施例提供的一种伪随机码发生及误码测试装置的示意图；
图2为本实用新型实施例提供的一种伪随机码发生及误码测试装置的电路图。
图中：1、微控制单元，2、伪随机码发生及误码检测单元，3、第一晶振，4、第二晶振，5、MOS管，6、第一光模块插座，7、第二光模块插座，8、直流稳压电源，9、外设控制单元接口。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
图1是根据本实用新型实施例提供的一种伪随机码发生及误码测试装置的示意图，该装置应用于光模块测试系统。如图1所示，该装置包括：微控制单元1、伪随机码发生及误码检测单元2、第一晶振3、第二晶振4、MOS管5、第一光模块插座6、第二光模块插座7和直流稳压电源8。
具体地，如图1所示，微控制单元1通过I2C总线与伪随机码发生及误码检测单元2连接。
微控制单元1还与MOS管5连接，MOS管5分别与第一晶振3和第二晶振4连接，第一晶振3和第二晶振4均与伪随机码发生及误码检测单元2连接。
随机码发生及误码检测单元2与第一光模块插座6和第二光模块插座7连接。
第一光模块插座6和第二光模块插座7之间通过光路连接。
直流稳压电源8分别与微控制单元1和伪随机码发生及误码检测单元2连接，用于为微控制单元1和伪随机码发生及误码检测单元2提供稳定直流电源。
具体地，如图1所示，在本实用新型实施例中，伪随机码发生及误码检测单元2、第一晶振3、第二晶振4和MOS管5的数量均为两个。
可选地，如图1所示，还包括外设控制单元接口9，与微控制单元1连接，用于接入外设控制单元。
在本实用新型实施例中，微控制单元1的型号包括C8051F410，具有接收外设控制单元指令、依据外设控制单元发送指令到伪随机码发生及误码检测单元2、读取伪随机码发生及误码检测单元2内部工作状态、启动伪随机码发生及误码检测单元2、读取伪随机码发生及误码检测单元2寄存器误码率、保存相关参数等功能。
可选地，伪随机码发生及误码检测单元1的型号包括VSC8228xrc，用于接收微控制单元1的指令，发送可选速率和码型的伪随机码及误码检测，本实用新型装置设计有两颗此芯片，可以实现光源模块与待测光模块交互测试。
具体地，VSC8228xrc芯片主要分为四部分：接收信道(RX)、发送信道(TX)、码型发生器、码型检测器、串行接口。当芯片用于光模块收发性能测试时，接收信道能够提供一个从数据中提取的时钟，除了这种情况外，接收信道和发送信道完全相同，每个信道都有一个输入缓冲器和时钟恢复单元，提供反馈和可编程的输出驱动。每个信道可以由各自的内部寄存器和硬件I/O口来独立控制。VSC8228xrc的状态寄存器和控制寄存器的地址从00H～77H共128个寄存器，其中部分寄存器为VITESSE公司保留使用，通过设置相关寄存器可以实现多种测试模式。
可选地，第一晶振3包括155MHz有源晶振，能够为伪随机码发生及误码检测单元2提供155.520MHz时钟信号。
可选地，第二晶振4包括125MHz有源晶振，能够为伪随机码发生及误码检测单元2提供125.00MHz时钟信号。
可选地，MOS管5的型号包括FDG6316P，作为伪随机码发生及误码检测单元2晶振选择开关。
可选地，直流稳压电源8的型号包括LM2596HV-TB，用于为系统提供稳定可靠的直流电源。
可选地，外设控制单元接口9，还用于下载或升级控制芯片软件。
图2是根据本实用新型实施例提供的一种伪随机码发生及误码测试装置的电路图。
本实用新型实施例提供的一种伪随机码发生及误码测试装置的工作原理如下：
首先将标准光源模块和待测光源模块分别插入第一光模块插座6和第二光模块插座7，其中，两个光模块所插入的插座可以互换。然后微控制单元1(MCU)接收外设控制单元指令，通过IIC总线设置伪随机码发生及误码检测单元2内部寄存器，根据待测光模块产品要求设置测试速率，VSC8228xrc可选速率有：125Mbps,155Mbps,622Mbps,1.0625Gbps,1.25Gbps,2.488Gbps,2.5Gbps,4.25Gbps等，确定发送伪随机码码型，码型包含：2^7-1,2^23-1,2^31-1，40或者64比特用户定义码型以及光纤信号CRPAT,CJTPAT,CSPAT码型。
测试速率与码型设置成功后，微控制单元1根据选定速率选择对应晶振，有两款晶振源可选，分别是：第一晶振3(即155M晶振)和第二晶振4(即125M晶振)，使用MOS管5做电源开关，启动对应频率晶振。等待外设控制单元发送起始指令，伪随机码发生及误码检测单元2收到起始指令后码型发生器开始发送伪随机码信号，伪随机码信号经差分线进入标准光源模块，转换为光信号，经光路传输到待测光模块接收端，转换为电信号，再经差分线进入伪随机码发生及误码检测单元2。微控制单元1会连续读取误码发生寄存器判断是否有误码产生，通过衰减光路中的光功率以便完成待测模块接收灵敏度测试。
在不需要互换光模块情况下，微控制单元1按照相同设置启动另一个伪随机码发生及误码检测单元2发送伪随机码信号到待测光模块，经光路反向进入标准光源模块接收端，转换为电信号后再进入另一个伪随机码发生及误码检测单元2，微控制单元1再连续读取误码发生寄存器，判断是否有误码产生，可实现待测光模块发射性能评估。为了简化操作，避免人工干预造成批量生产测试出现误差，本实用新型装置设计有2个SFP通用光模块插座，标准光源模块与待测光模块可以任意调换使用。
由以上描述可知，本实用新型实施例提供的一种伪随机码发生及误码测试装置，具有多种可选速率、可选码型、比特误码率、可读误码数等诸多优点，光模块在不需人工干预能同时测试发射与接收性能，结构简单，成本低廉，不仅集成了误码仪及部分光示波器功能，而且改进了测试工艺，极大地简化了光模块生产流程，缓解了现有技术中存在的光模块的生产流程繁琐的技术问题。
对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。
Claims (8)
1.一种伪随机码发生及误码测试装置，应用于光模块测试系统；其特征在于，包括：微控制单元、伪随机码发生及误码检测单元、第一晶振、第二晶振、MOS管、第一光模块插座、第二光模块插座和直流稳压电源；其中，
所述微控制单元通过I2C总线与所述伪随机码发生及误码检测单元连接；
所述微控制单元还与所述MOS管连接，所述MOS管分别与所述第一晶振和所述第二晶振连接，所述第一晶振和所述第二晶振均与所述伪随机码发生及误码检测单元连接；
所述随机码发生及误码检测单元与所述第一光模块插座和所述第二光模块插座连接；
所述第一光模块插座和所述第二光模块插座之间通过光路连接；
所述直流稳压电源分别与所述微控制单元和所述伪随机码发生及误码检测单元连接。
2.根据权利要求1所述的伪随机码发生及误码测试装置，其特征在于：所述伪随机码发生及误码检测单元、所述第一晶振、所述第二晶振和所述MOS管的数量均为两个。
3.根据权利要求1所述的伪随机码发生及误码测试装置，其特征在于：还包括外设控制单元接口，与所述微控制单元连接，用于接入外设控制单元。
4.根据权利要求1所述的伪随机码发生及误码测试装置，其特征在于：所述微控制单元的型号包括C8051F410。
5.根据权利要求1所述的伪随机码发生及误码测试装置，其特征在于：所述伪随机码发生及误码检测单元的型号包括VSC8228xrc。
6.根据权利要求1所述的伪随机码发生及误码测试装置，其特征在于：所述第一晶振包括155MHz有源晶振。
7.根据权利要求1所述的伪随机码发生及误码测试装置，其特征在于：所述第二晶振包括125MHz有源晶振。
8.根据权利要求1所述的伪随机码发生及误码测试装置，其特征在于：所述MOS管的型号包括FDG6316P。
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