CN219799275U - X射线检测系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种X射线检测系统，包括：检测台架、气缸组合机构、滑槽升降机构和X射线检测机构。气缸组合机构设于检测台架上，并适于在输送方向推送被测物体，以将被测物体推送至第一定位面和第二定位面；滑槽升降机构包括定位部，定位部可沿检测台架的输送方向移动，以限定出第一定位面和第二定位面，被测物体在第一定位面、第二定位面与定位部止抵；X射线检测机构适于在被测物体位于第一定位面、第二定位面时对被测物体进行检测。由此，通过滑槽升降机构与气缸组合机构的配合，可对被测物体的待测处进行精准定位，从而提高X射线检测系统的检测效果。

Description

X射线检测系统

技术领域

本实用新型涉及检测领域，具体涉及一种X射线检测系统。

背景技术

目前在检测领域，在很多场景无需对整个被测物体进行检测，只需检测被测物体的某一特征即可。在某些检测场景中，需要对被测物体左右两侧的某一特征进行无损检测，该特征厚度较小，并且在被测物体生产时，其左右两侧存在±1mm的误差，因此在检测时面临如下问题：需要在对被测物体进行检测时精准定位被测物体的特征位置。

实用新型内容

本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本实用新型提出一种X射线检测系统，所述X射线检测系统可在对被测物体进行检测时精准定位被测物体的特征位置，提高检测效果。

根据本实用新型实施例的X射线检测系统，包括：检测台架、气缸组合机构、滑槽升降机构和X射线检测机构。所述气缸组合机构设于所述检测台架上，并适于在输送方向推送所述被测物体，以将所述被测物体推送至第一定位面和第二定位面；所述滑槽升降机构包括定位部，所述定位部可沿输送方向移动，以限定出所述第一定位面和所述第二定位面，所述被测物体在所述第一定位面、所述第二定位面与所述定位部止抵；所述X射线检测机构适于在所述被测物体位于第一定位面、所述第二定位面时对所述被测物体进行检测。

根据本实用新型实施例的X射线检测系统，在X射线检测系统对被测物体进行检测时，首先将被测物体置于检测台架上，并放置在气缸组合机构与滑槽升降机构之间，气缸组合机构对被测物体进行推动，与此同时，滑槽升降机构的定位部在第一定位面固定，气缸组合机构将被测物体沿输送方向向靠近定位部处推动，直至被测物体与定位部止抵，此时的被测物体前端端面位于第一定位面，被测物体前端待检测处正对X射线检测机构，X射线检测机构对被测物体进行检测。而后滑槽升降机构向远离推动机构方向移动，使定位部移动至第二定位面，并在此固定，气缸组合机构推抵被测物体继续沿输送方向向靠近定位部处移动，直至被测物体再次与定位部止抵，此时的被测物体前端端面位于第二定位面，被测物体后端待检测处正对X射线检测机构，X射线检测机构对被测物体进行检测，以完成检测工序。由此，通过滑槽升降机构与气缸组合机构的配合，可对被测物体的待测处进行精准定位，从而提高X射线检测系统的检测效果。

在一些实施例中，所述气缸组合机构包括：第一驱动装置和推动装置，所述第一驱动装置适于驱动所述推动装置沿输送方向运动，以使所述推动装置将所述被测物体推送至所述第一定位面和所述第二定位面。

进一步地，所述气缸组合机构还包括：第一传感器，所述第一传感器安装于所述第一驱动装置上，适于测量与所述被测物体的距离。

更进一步地，所述滑槽升降机构还包括：第二驱动装置和第二传感器，所述第二驱动装置可驱动所述定位部在所述第一定位面与所述第二定位面之间切换；当所述第二传感器检测到所述被测物体与所述定位部未止抵，所述气缸组合机构控制所述推动装置推送所述被测物体，以使所述被测物体与所述定位部止抵；当所述第二传感器检测到所述被测物体与所述定位部止抵并位于所述第一定位面或所述第二定位面时，所述X射线检测机构对所述被测物体进行检测。

在一些实施例中，所述气缸组合机构还包括：引导装置，所述引导装置在与所述推动装置接触后，可引导所述推动装置在第一状态和第二状态之间切换，所述推动装置在所述第一状态时，可对所述被测物体进行推送，所述推动装置在所述第二状态时，可对所述被测物体进行避让。

进一步地，所述引导装置包括导槽，所述推动装置上设置有导杆，所述导杆可在所述导槽的引导下，带动所述推动装置运动。

在一些实施例中，所述滑槽升降机构还包括：升降装置，所述升降装置设于所述定位部与所述第二驱动装置之间，适于驱动所述定位部在第三状态和第四状态之间切换，所述定位部在所述第三状态时，可对所述被测物体进行止挡，所述定位部在所述第四状态时，可对所述被测物体进行避让。

在一些实施例中，所述X射线检测系统还包括：第三传感器，所述第三传感器设于所述检测台架，适于判断所述被测物体在所述检测台架上的位置。

在一些实施例中，所述被测物体包括：主体部、待测部和端部，所述端部为两个，分别位于所述主体部在输送方向的前后两端，所述待测部为两个，分别位于两个所述端部与所述主体部之间，所述X射线检测机构适于对所述待测部进行检测。

进一步地，所述气缸组合机构在初始位置与所述第一定位面的距离为c，所述被测物体的所述待测部尺寸为e，所述端部尺寸为f，所述第一传感器与所述被测物体在所述第一定位面时的距离为t，所述被测物体的宽度为b，所述被测物体的所述宽度尺寸满足b＝c-t；所述第一定位面与所述第二定位面的所述距离x满足：x＝b-(e/2+f)。

本实用新型的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本实用新型的实践了解到。

附图说明

本实用新型的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是本实用新型实施例的X射线检测系统的俯视图。

图2是本实用新型实施例的X射线检测系统的气缸组合机构的立体示意图。

图3是本实用新型实施例的X射线检测系统的滑槽升降机构的立体示意图。

图4是被测物体的结构示意图。

图5是本实用新型实施例的X射线检测系统的检测台架对被测物体进行传送的示意图。

图6是本实用新型实施例的X射线检测系统在第一定位面对被测物体进行检测的示意图。

图7是本实用新型实施例的X射线检测系统在第二定位面对被测物体进行检测的示意图。

附图标记：

X射线检测系统100、

检测台架10、

气缸组合机构20、第一驱动装置21、推动装置22、导杆221、第一传感器23、引导装置24、导槽241、

滑槽升降机构30、定位部31、第二驱动装置32、第二传感器33、升降装置35、

X射线检测机构40

第三传感器50、

第一定位面M1、第二定位面M2、

被测物体200、

主体部210、待测部220、端部230。

具体实施方式

下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

下面参考图1-图7描述根据本实用新型实施例的X射线检测系统100。

如图1所示，根据本实用新型实施例的X射线检测系统100，包括：检测台架10、气缸组合机构20、滑槽升降机构30和X射线检测机构40。

其中，气缸组合机构20设于检测台架10上，并适于在输送方向推送被测物体200，以将被测物体200推送至第一定位面M1和第二定位面M2。滑槽升降机构30包括定位部31，定位部31可沿输送方向移动，以限定出第一定位面M1和第二定位面M2，被测物体200在第一定位面M1、第二定位面M2与定位部31止抵。X射线检测机构40适于在被测物体200位于第一定位面M1、第二定位面M2时对被测物体200进行检测。

具体而言，在X射线检测系统100对被测物体200进行检测时，首先将被测物体200置于检测台架上，并放置在气缸组合机构20与滑槽升降机构30之间，气缸组合机构20对被测物体200进行推动，与此同时，滑槽升降机构30的定位部31在第一定位面M1固定，气缸组合机构20将被测物体200沿输送方向向靠近定位部31处推动，直至被测物体200与定位部31止抵，此时的被测物体200前端端面位于第一定位面M1，被测物体200前端待检测处正对X射线检测机构40，X射线检测机构40对被测物体200进行检测。而后滑槽升降机构30向远离推动机构方向移动，使定位部31移动至第二定位面M2，并在此固定，气缸组合机构20推抵被测物体200继续沿输送方向向靠近定位部31处移动，直至被测物体200再次与定位部31止抵，此时的被测物体200前端端面位于第二定位面M2，被测物体200后端待检测处正对X射线检测机构40，X射线检测机构40对被测物体200进行检测，以完成检测工序。

根据本实用新型实施例的X射线检测系统100，通过滑槽升降机构30与气缸组合机构20的配合，可对被测物体200的待测处进行精准定位，从而提高X射线检测系统100的检测效果。

需要说明的是，X射线检测机构40在检测台架10上固定设置，这里对X射线检测机构40的固定方式不做具体限制，X射线检测机构40可固定设置在检测台架10上，也可在垂直于输送方向上进行移动，还可在垂直于输送方向上绕检测台架10进行环形运动，只要保证X射线检测机构40与检测台架10在输送方向上相对固定即可。

当X射线检测机构40可在垂直于输送方向上进行移动时，被测物体200首先被气缸组合机构20推送至第一定位面M1或第二定位面M2，X射线检测机构40可进行垂直移动，以对被测物体200的侧面进行检测，X射线检测机构40垂直移动可增加检测面积，进而提高X射线检测系统100的检测效果。

当X射线检测机构40可在垂直于输送方向上绕检测台架10环形运动时，被测物体200首先被气缸组合机构20推送至第一定位面M1或第二定位面M2。X射线检测机构40绕被测物体200一周，可对被测物体200进行全方位检测，进而增加检测面积，提高X射线检测系统100的检测效果。

如图2所示，在一些实施例中，气缸组合机构20包括：第一驱动装置21和推动装置22，第一驱动装置21适于驱动推动装置22沿输送方向运动，以使推动装置22将被测物体200推送至第一定位面M1和第二定位面M2。

具体而言，第一驱动装置21可为推动装置22提供动力。当被测物体200被放置在气缸组合机构20与滑槽升降机构30之间时，推动装置22在第一驱动装置21的驱动下可将被测物体200向第一定位面M1处推动，滑槽升降机构30的定位部31位于第一定位面M1，当推动装置22将被测物体200推送至滑槽升降机构30处时，被测物体200的前端端面位于与第一定位面M1重合，并与定位部31止抵，X射线检测机构40可对被测物体200进行检测。而后滑槽升降机构30运动至第二定位面M2，第一驱动装置21驱动推动装置22将被测物体200继续推动至第二定位面M2，X射线检测机构40对被测物体200再次进行检测，以完成X射线检测系统100对被测物体200的检测工作，在检测完成后，第一驱动装置21可驱动推动装置22退回初始位置，对另外的被测物体200进行推送。

由此，通过第一驱动装置21可使推动装置22在初始位置、第一定位面M1和第二定位面M2之间进行切换，可使被测物体200稳定运动至第一定位面M1和第二定位面M2，进而提高X射线检测系统100的检测效果。

如图1-图2所示，进一步地，气缸组合机构20还包括：第一传感器23，第一传感器23安装于第一驱动装置21上，适于测量与被测物体200的距离。

具体而言，第一传感器23可对气缸组合机构20与被测物体200之间的距离进行测量，由于被测物体200在制造时存在误差，每个被测物体200的误差尺寸可能不同，因此在检测时需要将误差尺寸排除，又因被测特征的厚度较小并且位于被测物体200的两端，因此为保证检测精度，气缸组合机构20首先将被测物体200推送至第一定位面M1，对前端的被测特征进行检测后，需要通过第一传感器23测量的数据，对第二定位面M2与第一定位面M1的距离进行计算，以确定第二定位面M2的具体位置。而后气缸组合机构20再将被测物体200推送至第二定位面M2进行检测。

由此，通过第一传感器23测量的数据，可确定第二定位面M2的位置，从而使X射线检测系统100对被测物体200的检测更精准。

需要说明的是，这里度第一传感器23的种类不做具体限制，第一传感器23可以包括：红外线测距传感器、激光测距传感器、超声波测距传感器或毫米波雷达传感器，只要保证可精准测量与被测物体200之间的距离即可，可根据实际需要进行选择。

如图3所示，更进一步地，滑槽升降机构30还包括：第二驱动装置32和第二传感器33，第二驱动装置32可驱动定位部31在第一定位面M1与第二定位面M2之间切换。当第二传感器33检测到被测物体200与定位部31未止抵，气缸组合机构20控制推动装置22推送被测物体200，以使被测物体200与定位部31止抵。当第二传感器33检测到被测物体200与定位部31止抵并位于第一定位面M1或第二定位面M2时，X射线检测机构40对被测物体200进行检测。

具体而言，第二驱动装置32可为定位部31提供动力，当被测物体200在第一定位面M1检测完成后，第二驱动装置32驱动定位部31向第二定位面M2移动，并在第二定位面M2对被测物体200进行止抵。第二传感器33可检测被测物体200与定位部31是否接触，用以判断被测物体200与定位部31是否进行止抵。

其中，以被测物体200在第一定位面M1进行检测为例，当气缸组合机构20对被测物体200进行推送，将被测物体200推送至第一定位面M1时，滑槽升降机构30的定位部31位于第一定位面M1，第二传感器33进行检测，若检测到被测物体200与定位部31未止抵，X射线检测系统100则控制第一驱动器继续驱动推动装置22，进而使被测物体200继续向第一定位面M1处移动。当第二传感器33检测到被测物体200与定位部31止抵后，X射线检测机构40对被测物体200进行检测。被测物体200在第二定位部31进行检测同理。

由此，通过第二传感器33可对被测物体200的位置进行确定，进而可提高X射线检测系统100的检测精度。

需要说明的是，这里对第二传感器33的种类不做具体限制，第二传感器33可包括：接触开关或压电开关，可根据实际需要进行选择。

如图2所示，在一些实施例中，气缸组合机构20还包括：引导装置24，引导装置24在与推动装置22接触后，可引导推动装置22在第一状态和第二状态之间切换，推动装置22在第一状态时，可对被测物体200进行推送，推动装置22在第二状态时，可对被测物体200进行避让。

具体而言，检测台架10上设置有两条导轨，被测物体可在导轨上进行移动，气缸组合机构20被设置在两条导轨之间的空隙处，第一驱动装置21相对检测台架10固定，且驱动推动装置22进行位置变换。当通过X射线检测系统100对被测物体200进行检测时，推动装置22在第一状态时的最高点高于导轨的上表面，此时的推动装置22可对被测物体200进行推送，以使被测物体200在第一定位面M1或第二定位面M2完成检测。当被测物体200检测失败，需要进行退回操作时，引导装置24可引导推动装置22由第一状态切换至第二状态，推动装置22在第二状态时的最高点低于导轨上表面，此时的推动装置22可对被测物体200进行避让，从而使被测物体200顺利完成退回操作。

由此，通过引导装置24对推动装置22的引导，可提高X射线检测系统100的检测效率。

可选地，引导装置24包括导槽241，推动装置22上设置有导杆221，导杆221可在导槽241引导下，带动推动装置22运动。

具体而言，当推动装置22在引导装置24的引导下进行状态切换时，导杆221首先与导槽241接触，而后在导槽241的引导下，导杆221可根据导槽241的形状进行运动，最终使推动装置22由第一状态切换至第二状态或由第二状态切换至第一状态。推动装置22在状态切换时，导杆221与导槽241始终保持接触，导槽241可对导杆221的运动轨迹进行约束。

由此，通过导杆221与导槽241的配合，可使推动装置22在第一状态和第二状态之间的切换更稳定，进而提高气缸组合机构20可靠性。

如图3所示，在一些实施例中，滑槽升降机构30还包括：升降装置35，升降装置35设于定位部31与第二驱动装置32之间，适于驱动定位部31在第三状态和第四状态之间切换，定位部31在第三状态时，可对被测物体200进行止挡，定位部31在第四状态时，可对被测物体200进行避让。

具体而言，检测台架10上设置有两条导轨，导轨可对被测物体200进行传输，滑槽升降机构30设置在两条导轨之间的空隙处，第二驱动装置32相对检测台架10固定，且驱动定位部31在第一定位面M1和第二定位面M2之间运动。升降装置35可控制定位部31进行升降，以使定位部31在第三状态和第四状态之间切换，定位部31在第三状态时最高点的高度高于导轨的上表面，定位部31在第四状态时最高点的高度低于导轨的上表面。

当通过X射线检测系统100对被测物体200进行检测时，定位部31可在第一定位面M1和第二定位面M2对被测物体200进行止挡，此时定位部31处于第三状态。当被测物体200在第二定位面M2检测完成后，升降装置35可控制定位部31由第三状态切换至第四状态，此时定位部31可对被测物体200进行避让，检测台架10可对被测物体200进行传输，以进入下一工序。

由此，通过升降装置35对定位部31的控制，可提高X射线检测系统100的检测效率。

需要说明的是，这里对升降装置35控制定位部31进行状态切换时的运动轨迹不做具体限制，升降装置35可采用升降的方式控制定位部31在第三状态和第四状态之间切换，升降装置35还可采用转动的方式控制定位部31在第三状态和第四状态之间切换。

如图1所示，在一些实施例中，X射线检测系统100还包括：第三传感器50，第三传感器50设于检测台架10，适于判断被测物体200在检测台架10上的位置。

具体而言，第三传感器50可检测被测物体200在检测台架10上的位置，检测台架10将被测物体200进行传送，当第三传感器50检测到被测物体200运动至气缸组合机构20与滑槽升降机构30之间时，检测台架10停止输送，继而由气缸组合机构20对被测物体200进行推送，当被测物体200被推送至第一定位面M1时，第一传感器23测量与被测物体200之间的距离，进而计算出第二定位面M2的位置，使X射线检测系统100的检测更精准。

由此，检测台架10对被测物体200的传输效率较高，但是精度较差，通过第三传感器50对被测物体200的位置进行判断，可在保证X射线检测系统100检测精度的同时提高检测效率。

需要说明的是，这里对第三传感器50的种类不做具体限制，第三传感器50的种类可以包括：接近开关、光电传感器或超声波传感器，可根据实际需要进行选择。

在一些实施例中，被测物体200包括：主体部210、待测部220和端部230，端部230为两个，分别位于主体部210在输送方向的前后两端，待测部220为两个，分别位于两个端部230与主体部210之间，X射线检测机构40适于对待测部220进行检测。

进一步地，气缸组合机构20在初始位置与第一定位面M1的距离为c，被测物体200的待测部220尺寸为e，端部230尺寸为f，第一传感器23与被测物体200在第一定位面M1时的距离为t，被测物体200的宽度为b，被测物体200的宽度尺寸满足b＝c-t；第一定位面M1与第二定位面M2的距离x满足：x＝b-(e/2+f)。

在一些具体实施例中，本申请X射线检测系统还包括配套的检测方法，检测方法适用于上述实施例的X射线检测系统100实现，检测方法包括以下步骤：

检测台架10将被测物体200传送至气缸组合机构20和滑槽升降机构30之间；

滑槽升降机构30的定位部31位于第一定位面M1，气缸组合机构20推送被测物体200至与定位部31止抵；

检测装置对被测物体200进行第一检测；

滑槽升降机构30驱动定位部31由第一定位面M1移动至第二定位面M2，气缸组合机构20推送被测物体200至与定位部31止抵；

检测装置对被测物体200进行第二检测。

下面根据图1-图7的X射线检测系统100为例，具体说明本实用新型X射线检测系统100的结构以及检测方法：

如图1-图3所示，该X射线检测系统100包括：检测台架10、气缸组合机构20、滑槽升降机构30、X射线检测机构40和第三传感器50。

检测台架10用于传送被测物体200。气缸组合机构20设置在检测台架10上，气缸组合机构20包括：第一驱动装置21、推动装置22、第一传感器23和引导装置24，第一驱动装置21用于驱动推动装置22沿传送装置的输送方向运动，以使推动装置22将被测物体200推送至第一定位面M1或第二定位面M2，第一传感器23安装在第一驱动装置21上，并用于测量其与被测物体200的具体，从而根据被测物体200的尺寸计算出第二定位面M2的具体位置，引导装置24可对推动装置22进行引导，以使推动装置22在第一状态和第二状态之间切换，在第一状态时，推动装置22可对被测物体200进行推送，在第二状态时，推动装置22可对被测物体200进行避让。

滑槽升降机构30也设置在检测台架10上，滑槽升降机构30包括：定位部31、第二驱动器、第二传感器33和升降装置35。被测物体200在第一定位面M1或第二定位面M2时，定位部31可对被测物体200进行止挡，第二驱动装置32可驱动定位部31在第一定位面M1和第二定位面M2之间切换，第二传感器33可判断被测物体200是否与定位部31止抵，升降装置35设置在定位部31与第二驱动装置32之间，用于驱动定位部31在第三状态和第二状态之间切换，在第三状态时，定位部31可对被测物体200进行止挡，在第四状态时，定位部31可对被测物体200进行避让。

如图4所示，被测物体200包括：主体部210、待测部220和端部230，端部230为两个，分别位于主体部210在输送方向的前后两端，待测部220为两个，分别位于两个端部230与主体部210之间，检测装置用于检测待测部220是否满足要求。

如图6所示，为方便说明，X射线检测系统100对被测物体200进行检测时具有如下尺寸参数：推动装置22在初始位置与第一定位面M1的距离为c，被测物体200的待测部220尺寸为e，端部230尺寸为f，第一传感器23与被测物体200在第一定位面M1时的距离为t，被测物体200的宽度为b、第一定位面M1与第二定位面M2的距离为x。

在X射线检测系统100对被测物体200进行检测时，包括如下方法：

如图5所示，检测台架10对被测物体200进行传送，第三传感器50判断被测物体200是否到达第一位置，第一位置位于气缸组合机构20与滑槽升降机构30之间，当被测物体200到达第一位置时，检测台架10停止传送；

如图6所示，滑槽升降机构30的定位部31位于第一定位面M1，气缸组合机构20的第一驱动装置21驱动推动装置22将被测物体200推送至第一定位面M1，将被测物体200的前端端部与定位部31止抵；

第二传感器33判断被测物体200是否与定位部31止抵，若被测物体200与定位部31未止抵，第一驱动装置21继续驱动推动装置22向定位部31移动；

检测装置对被测物体200进行第一检测；

第一传感器23检测与被测物体200之间的距离t，被测物体200的宽度尺寸b＝c-t，第一定位面M1与第二定位面M2的距离x＝b-(e/2+f)；

如图7所示，滑槽升降机构30的第二驱动装置32驱动定位部31由第一定位面M1运动至第二定位面M2，推动机构的第一驱动装置21驱动推动装置22将被测物体200推送至第二定位面M2，将被测物体200的前端端部与定位部31止抵；

第二传感器33判断被测物体200是否与定位部31止抵，若被测物体200与定位部31未止抵，第一驱动装置21继续驱动推动装置22向定位部31移动；

检测装置对被测物体200进行第二检测；

检测结束。

在检测完成后，可根据实际生产需要将被测物体200运送至不同位置，还包括如下方法。

进一步地，在检测装置对被测物体200进行第二检测之后，升降装置35由第三状态切换至第四状态；检测台架10将被测物体200继续向前传送，以进行后续工作。

进一步地可选地，在检测装置对被测物体200进行第二检测之后，第一驱动装置21驱动推动装置22移动，使驱动装置由第一状态切换至第二状态；检测台架10将被测物体200向后传送，以进行后续工作。

根据本实用新型实施例的X射线检测系统100的其他构成例如控制系统以及操作对于本领域普通技术人员而言都是已知的，这里不再详细描述。

在本说明书的描述中，参考术语“实施例”、“示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，本领域的普通技术人员可以理解：在不脱离本实用新型的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由权利要求及其等同物限定。

Claims (10)

1.一种X射线检测系统，其特征在于，包括：

检测台架(10)；

气缸组合机构(20)，所述气缸组合机构(20)设于所述检测台架(10)上，并适于在输送方向推送被测物体(200)，以将所述被测物体(200)推送至第一定位面(M1)和第二定位面(M2)；

滑槽升降机构(30)，所述滑槽升降机构(30)包括定位部(31)，所述定位部(31)可沿所述输送方向移动，以限定出所述第一定位面(M1)和所述第二定位面(M2)，所述被测物体(200)在所述第一定位面(M1)、所述第二定位面(M2)与所述定位部(31)止抵；

X射线检测机构(40)，所述X射线检测机构(40)适于在所述被测物体(200)位于第一定位面(M1)、所述第二定位面(M2)时对所述被测物体(200)进行检测。

2.根据权利要求1所述的X射线检测系统，其特征在于，所述气缸组合机构(20)包括：第一驱动装置(21)和推动装置(22)，所述第一驱动装置(21)适于驱动所述推动装置(22)沿输送方向运动，以使所述推动装置(22)将所述被测物体(200)推送至所述第一定位面(M1)和所述第二定位面(M2)。

3.根据权利要求2所述的X射线检测系统，其特征在于，所述气缸组合机构(20)还包括：第一传感器(23)，所述第一传感器(23)安装于所述第一驱动装置(21)上，适于测量与所述被测物体(200)的距离。

4.根据权利要求3所述的X射线检测系统，其特征在于，所述滑槽升降机构(30)还包括：第二驱动装置(32)和第二传感器(33)，所述第二驱动装置(32)可驱动所述定位部(31)在所述第一定位面(M1)与所述第二定位面(M2)之间切换；

当所述第二传感器(33)检测到所述被测物体(200)与所述定位部(31)未止抵，所述气缸组合机构(20)控制所述推动装置(22)推送所述被测物体(200)，以使所述被测物体(200)与所述定位部(31)止抵；

当所述第二传感器(33)检测到所述被测物体(200)与所述定位部(31)止抵并位于所述第一定位面(M1)或所述第二定位面(M2)时，所述X射线检测机构(40)对所述被测物体(200)进行检测。

5.根据权利要求2所述的X射线检测系统，其特征在于，所述气缸组合机构(20)还包括：引导装置(24)，所述引导装置(24)在与所述推动装置(22)接触后，可引导所述推动装置(22)在第一状态和第二状态之间切换，所述推动装置(22)在所述第一状态时，可对所述被测物体(200)进行推送，所述推动装置(22)在所述第二状态时，可对所述被测物体(200)进行避让。

6.根据权利要求5所述的X射线检测系统，其特征在于，所述引导装置(24)包括导槽(241)，所述推动装置(22)上设置有导杆(221)，所述导杆(221)可在所述导槽(241)引导下，带动所述推动装置(22)运动。

7.根据权利要求4所述的X射线检测系统，其特征在于，所述滑槽升降机构(30)还包括：升降装置(35)，所述升降装置(35)设于所述定位部(31)与所述第二驱动装置(32)之间，适于驱动所述定位部(31)在第三状态和第四状态之间切换，所述定位部(31)在所述第三状态时，可对所述被测物体(200)进行止挡，所述定位部(31)在所述第四状态时，可对所述被测物体(200)进行避让。

8.根据权利要求1所述的X射线检测系统，其特征在于，还包括：第三传感器(50)，所述第三传感器(50)设于所述检测台架(10)，适于判断所述被测物体(200)在所述检测台架(10)上的位置。

9.根据权利要求3所述的X射线检测系统，其特征在于，所述被测物体(200)包括：主体部(210)、待测部(220)和端部(230)，所述端部(230)为两个，分别位于所述主体部(210)在输送方向的前后两端，所述待测部(220)为两个，分别位于两个所述端部(230)与所述主体部(210)之间，所述X射线检测机构(40)适于对所述待测部(220)进行检测。

10.根据权利要求9所述的X射线检测系统，其特征在于，所述气缸组合机构(20)在初始位置与所述第一定位面(M1)的距离为c，所述被测物体(200)的所述待测部(220)尺寸为e，所述端部(230)尺寸为f，所述第一传感器(23)与所述被测物体(200)在所述第一定位面(M1)时的距离为t，所述被测物体(200)的宽度为b，所述被测物体(200)的所述宽度尺寸满足b＝c-t；

所述第一定位面(M1)与所述第二定位面(M2)的所述距离x满足：x＝b-(e/2+f)。