CN219758401U - 裸线信号完整性测试治具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种裸线信号完整性测试治具，包括底座、设于底座上的多个支撑块、设于支撑块上端的连接端块、设于连接端块前侧的测试台、设于测试台上侧且与连接端块前侧靠接的压块，连接端块中设有接线机构，测试台上设有放线机构。本方案结构简洁合理、成本低、容易制作，能确保治具端差分阻抗控制在100+/1.5欧姆，连接处差分阻抗控制在100+/‑3欧姆,可提供优秀的SI测试性能指标，且频率能支持0～70GHz测试范围。
Description
技术领域
本实用新型涉及电缆线产品领域，尤其涉及裸线信号完整性测试治具。
背景技术
现有电缆线产品的线缆裸线信号完整性测量治具采用PCB设计方案，此PCB材料治具走线阻抗很难控制到十分精确稳定，当前常见治具的板端差分阻抗控制在100+/－5欧姆，接线处采用PCB Pad与线材压接，连接处差分阻抗一般控制在100+/－10欧姆。差分阻抗无法控制到非常精准稳定水平，从而影响SI(即Signal Integrity缩写，中文是信号完整性)参数测试结果。且由于PCB材料介电常数及复杂加工工艺的局限性，致使PCB材料治具设计方案无法支持高频率SI性能测试，当前常见PCB设计方案仅能支持30GHz或40GHz测试。
为了克服这些问题，本方案提供了一种裸线信号完整性测试治具。
实用新型内容
本实用新型的发明目的在于解决现有的PCB材料治具，存在差分阻抗无法控制到非常精准稳定水平，从而影响信号完整性参数测试结果，PCB材料介电常数及复杂加工工艺的局限性，致使PCB材料治具无法支持高频率SI性能测试的问题。其具体解决方案如下：
一种裸线信号完整性测试治具，包括底座、设于底座上的多个支撑块、设于支撑块上端的连接端块、设于连接端块前侧的测试台、设于测试台上侧且与连接端块前侧靠接的压块，所述连接端块中设有接线机构，所述测试台上设有放线机构。
进一步地，所述底座上设有多个用于固定第一支撑块的第一固定孔，多个用于固定第二支撑块的第二固定孔，第一支撑块与第二支撑块结构相同。
进一步地，所述支撑块的底部设有多个螺钉孔，通过螺钉由下而上穿过所述底座上的螺钉孔与底座上侧固定连接。
进一步地，所述支撑块的上端设有多个螺钉孔，通过螺钉由上而下穿过所述连接端块上的螺钉孔与连接端块下侧固定连接。
进一步地，所述接线机构包括设于连接端块前侧中心的接线窗口、从接线窗口向连接端块内部以V型延伸的V通道、设置于V通道中两个同轴管。
进一步地，两个所述同轴管的前端汇合于所述接线窗口内，同轴管包括金属外壳、设于壳内的介质、设于介质内的导体，所述导体为镀银导体。
进一步地，所述测试台的前后设有贯穿的多个螺钉孔，测试台的后侧还设有多个定位销，所述连接端块前侧设有与测试台匹配的多个螺钉孔，以及与定位销匹配的定位孔，并通过螺钉与测试台紧固。
进一步地，所述放线机构设于所述测试台的上侧中部、为前后向设置的安线槽，安线槽后端连通所述接线窗口，使线缆裸线插入所述同轴管的前端的镀银导体的圆孔中。
进一步地，所述压块的下侧设有与所述测试台匹配的安线槽，安线槽后端连通所述接线窗口。
进一步地，所述压块设有与所述测试台匹配的螺钉孔和定位机构、并通过螺钉与测试台紧固。
综上所述，采用本实用新型的技术方案具有以下有益效果：
本实用新型解决了现有的PCB材料治具，存在差分阻抗无法控制到非常精准稳定水平，从而影响信号完整性参数测试结果，PCB材料介电常数及复杂加工工艺的局限性，致使PCB材料治具无法支持高频率SI性能测试的问题本方案结构简洁合理、成本低、容易制作，能确保治具端差分阻抗控制在100+/1.5欧姆，连接处差分阻抗控制在100+/-3欧姆,可提供优秀的SI测试性能指标，且频率能支持0～70GHz测试范围。本方案使线缆裸线直接插入同轴管的前端的镀银导体的圆孔中，通过压块以及安线槽、螺钉紧固件的配合，并且将线缆两端同时插入同一个测试治具的双位安线槽及双位连接端块的双套同轴管内进行测试，保证了测试快捷、精确，而且该治具的通用性、实用性好。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对本实用新型实施例的描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一部分实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还能够根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型裸线信号完整性测试治具的结构图；
图2为本实用新型裸线信号完整性测试治具的爆炸图；
图3为本实用新型的测试台的后侧结构图；
图4为本实用新型的连接端块的结构图；
图5为本实用新型的连接端块的内部结构示意图；
图6为本实用新型的连接端块的接线窗口的示意图；
图7为本实用新型的装入线缆的示意图；
图8为本实用新型的测试线缆的示意图。
附图标记说明：
10-底座，11-第一固定孔，12-第二固定孔，13-螺钉，20-支撑块，21-螺钉孔，30-连接端块，31-下沉式螺孔，32-接线窗口，33-V通道，34-第一定位孔，35-螺丝，40-测试台，41-横向螺孔，42-定位销，43-螺杆，44-安线槽，45-第二定位孔，50-压块，60-同轴管，61-外壳62-介质，63-导体，64-圆孔，70-线缆，71-裸线。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
如图1至8所示，一种裸线信号完整性测试治具，包括底座10、设于底座10上的多个支撑块20、设于支撑块20上端的连接端块30、设于连接端块30前侧的测试台40、设于测试台40上侧且与连接端块30前侧靠接的压块50，连接端块30中设有接线机构，测试台40上设有放线机构。本实施例中设置了两个支撑块20、两个连接端块30、两个测试台40、两个压块50。
具体地，底座10上设有多个用于固定第一支撑块20的第一固定孔11，多个用于固定第二支撑块20的第二固定孔12，第一支撑块20与第二支撑块20结构相同。
具体地，支撑块20的底部设有多个螺钉孔(图中未画出)，通过螺钉13由下而上穿过底座10上的螺钉孔(也就是指第一固定孔11、第二固定孔12)与底座10上侧固定连接。
具体地，支撑块20的上端设有多个螺钉孔21，通过螺钉13由上而下穿过连接端块30上的螺钉孔(为下沉式螺孔31)与连接端块30下侧固定连接。
具体地，接线机构包括设于连接端块30前侧中心的接线窗口32、从接线窗口32向连接端块30内部以V型延伸的V通道33、设置于V通道33中两个同轴管60。同轴管60是通过短螺丝35锁定于V通道33中。
具体地，两个同轴管60的前端汇合于接线窗口32内，同轴管60包括金属外壳61、设于壳内的介质62、设于介质62内的导体63(比如为铜)，导体63为镀银导体。
具体地，测试台40的前后设有贯穿的多个螺钉孔(即横向螺孔41)，测试台40的后侧还设有多个定位销42，连接端块30前侧设有与测试台40匹配的多个螺钉孔(即横向螺孔41，注意连接端块30上的横向螺孔41为盲孔，没有贯穿)，以及与定位销42匹配的第一定位孔34，并通过螺钉(即螺杆43)与测试台40紧固。
具体地，放线机构设于测试台40的上侧中部、为前后向设置的安线槽44，安线槽44后端连通接线窗口32，使线缆70裸线71插入同轴管60的前端的镀银导体63的圆孔64中。
具体地，压块50的下侧设有与测试台40匹配的安线槽44，安线槽44后端连通接线窗口32。
具体地，压块50设有与测试台40匹配的(纵向的)螺钉孔21和定位机构(即压块50下侧设有定位销，图中未画出)、并通过螺钉13与测试台40紧固。测试台40上设有第二定位孔45。
本治具的测试过程简述如下：
首先将治具上的同轴管60与测试仪器(图中未画出)电连接，将线缆70的两端的线头小心剥好露出裸线71，将一端的线缆70插入(左边的)第一测试台40的安线槽44内，并将裸线71插入第一连接端块30的接线窗口32中的两个同轴管60的镀银导体63的圆孔64中，用第一压块50通过螺钉13将该端线缆70压紧，再将另一端的线缆70插入(右边的)第二测试台40的安线槽44内，并将裸线71插入第二连接端块30的接线窗口32中的两个同轴管60的镀银导体63的圆孔64中，用第二压块50通过螺钉13将此端线缆70压紧，从测试仪器中分别读出线缆70的SI参数性能测试结果。
综上所述，采用本实用新型的技术方案具有以下有益效果：
本实用新型解决了现有的PCB材料治具，存在差分阻抗无法控制到非常精准稳定水平，从而影响信号完整性参数测试结果，PCB材料介电常数及复杂加工工艺的局限性，致使PCB材料治具无法支持高频率SI性能测试的问题本方案结构简洁合理、成本低、容易制作，能确保治具端差分阻抗控制在100+/1.5欧姆，连接处差分阻抗控制在100+/-3欧姆,可提供优秀的SI测试性能指标，且频率能支持0～70GHz测试范围。本方案使线缆裸线直接插入同轴管的前端的镀银导体的圆孔中，通过压块以及安线槽、螺钉紧固件的配合，并且将线缆两端同时插入同一个测试治具的双位安线槽及双位连接端块的双套同轴管内进行测试工，保证了测试快捷、精确，而且该治具的通用性、实用性好。
以上所述的实施方式，并不构成对该技术方案保护范围的限定。任何在上述实施方式的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在该技术方案的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种裸线信号完整性测试治具，其特征在于：包括底座、设于底座上的多个支撑块、设于支撑块上端的连接端块、设于连接端块前侧的测试台、设于测试台上侧且与连接端块前侧靠接的压块，所述连接端块中设有接线机构，所述测试台上设有放线机构。
2.根据权利要求1所述裸线信号完整性测试治具，其特征在于：所述底座上设有多个用于固定第一支撑块的第一固定孔，多个用于固定第二支撑块的第二固定孔，第一支撑块与第二支撑块结构相同。
3.根据权利要求1所述裸线信号完整性测试治具，其特征在于：所述支撑块的底部设有多个螺钉孔，通过螺钉由下而上穿过所述底座上的螺钉孔与底座上侧固定连接。
4.根据权利要求1所述裸线信号完整性测试治具，其特征在于：所述支撑块的上端设有多个螺钉孔，通过螺钉由上而下穿过所述连接端块上的螺钉孔与连接端块下侧固定连接。
5.根据权利要求1所述裸线信号完整性测试治具，其特征在于：所述接线机构包括设于连接端块前侧中心的接线窗口、从接线窗口向连接端块内部以V型延伸的V通道、设置于V通道中两个同轴管。
6.根据权利要求5所述裸线信号完整性测试治具，其特征在于：两个所述同轴管的前端汇合于所述接线窗口内，同轴管包括金属外壳、设于壳内的介质、设于介质内的导体，所述导体为镀银导体。
7.根据权利要求6所述裸线信号完整性测试治具，其特征在于：所述测试台的前后设有贯穿的多个螺钉孔，测试台的后侧还设有多个定位销，所述连接端块前侧设有与测试台匹配的多个螺钉孔，以及与定位销匹配的定位孔，并通过螺钉与测试台紧固。
8.根据权利要求7所述裸线信号完整性测试治具，其特征在于：所述放线机构设于所述测试台的上侧中部、为前后向设置的安线槽，安线槽后端连通所述接线窗口，使线缆裸线插入所述同轴管的前端的镀银导体的圆孔中。
9.根据权利要求8所述裸线信号完整性测试治具，其特征在于：所述压块的下侧设有与所述测试台匹配的安线槽，安线槽后端连通所述接线窗口。
10.根据权利要求1所述裸线信号完整性测试治具，其特征在于：所述压块设有与所述测试台匹配的螺钉孔和定位机构、并通过螺钉与测试台紧固。
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