CN219758381U - 一种粉体材料电阻测试装置 - Google Patents

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余海君
李慧萍
杨光天
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Abstract

本实用新型公开了一种粉体材料电阻测试装置,包括加压装置和固定底座,所述固定底座上方固定设置有放置盘,所述放置盘上方固定设置有检测下部,所述放置盘上固定设置有将检测下部包裹起来的包裹单元;所述加压装置下方固定连接有检测上部,所述检测下部、检测上部和包裹组件形成一个用于放置粉末材料的检测空间;检测上部下压,对放置在所述检测下部上的粉末材料进行挤压测试。本实用新型在使用的过程中,通过包裹单元将检测下部包裹住,然后将需要检测的粉末放置于检测下部上,此时在内围体的作用下,将粉末包裹住,防止粉末散落开,通过将粉末材料进行挤压测试,结果更加精准,同时保证了检测时的绝缘性,减少了外部导体因素检测结果的影响。

Description

一种粉体材料电阻测试装置
技术领域
本实用新型涉及粉体电阻测试技术领域,具体为一种粉体材料电阻测试装置。
背景技术
随着如今电动汽车的兴起,对于锂电池的研究和需求也有大幅的提升,电池的生产的过程中,其正极多为粉末材料制成,为了保证生产出的锂电池的质量,在电池生产之前,往往需要对于电极的粉末材料进行电阻测试,以保证后续生产的成品率,同时对于粉末材料进行测试,也能够保证后续生产出的锂电池的安全性。
现有技术中,公开号为“CN101324538B”的一种粉体材料电导率测量方法,a.使被测粉体保持柱状并施加一定的压力P,至该柱状粉体保持形状稳定;b.测量柱状粉体的长度L、横截面积S、电阻值R;c.通过公式σ=L/(R×S)计算粉体电导率。其还提供一种电导率测量装置,包括粉体容器、两个导电活塞、加压装置和电阻测量仪器。采用本发明测量方法和测量装置,可以对受压状态下的被测粉体料粒进行电导率测量计算,从而可定量提供被测粉体在工作压力状态下的电导率数据;通过改变被测粉体所受压力值、测量被测粉体的电导率,得到被测粉体电导率随压力P变化的关系。本发明有助于电极材料选材、电极材料配方的优化和电池体系的整体设计。
但现有技术仍存在较大不足,如:
粉体材料由于颗粒度小,颗粒间存在空隙,无法精确测量电池粉体材料本身的电阻等电化学参数,想要精确的测量,操作起来十分的麻烦,并且在测试的过程中,粉末材料容易出现散落的情况,如果通过简单的挤压测试的话,在挤压的过程中,粉末的散落程度更大,不仅在一定程度上会影响装置的使用,同时也会影响检测的最终数据。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种粉体材料电阻测试装置,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:
一种粉体材料电阻测试装置,包括加压装置和固定底座,所述固定底座上方固定设置有放置盘,所述放置盘上方固定设置有检测下部,所述放置盘上固定设置有将检测下部包裹起来的包裹单元;
所述加压装置下方固定连接有检测上部,所述检测下部、检测上部和包裹组件形成一个用于放置粉末材料的检测空间;
所述检测上部活动伸入检测空间内部,所述检测上部下压的过程中,对放置在所述检测下部上的粉末材料进行挤压测试。
优选的,所述包裹单元包括固定设置在放置盘上的外围体,所述外围体内部开设有放置通槽,所述放置通槽内部活动放置有用于将检测下部包裹住的内围体。
优选的,所述外围体和内围体均为绝缘材料制成。
优选的,所述外围体和内围体之间设置有绝缘层。
优选的,所述外围体上固定设置有供检测上部活动穿过的导向环,所述导向环为绝缘材料制成。
优选的,所述检测下部和检测上部均为导体材料制成。
优选的,所述加压装置和放置盘以及固定底座内部均开设有导线孔,所述检测上部和检测下部通过导线孔内部的导线和外部的检测装置电性连接。
优选的,所述检测上部的底面面积小于所述检测下部的顶面面积。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:
1.通过检测下部和检测上部,对检测空间内部的粉末材料,先进行挤压,使得粉末颗粒之间的空隙减小,然后再对其检测电阻,更加的精确;
2.通过内围体和外围体的设置,使得在挤压的过程中,粉末不会出现散落的情况,同时内围体和外围体以及二者之间的绝缘层,保证了检测空间的绝缘程度,防止外部因素对检测造成影响;
3.内围体活动的设置,方便操作人员后续对于内围体的内壁以及检测空间进行清理;
4.本装置均为模块化设计,在生产和实用的过程中十分的方便,相较于现有技术中的一体话设计更加的便捷。
本实用新型在使用的过程中,通过包裹单元将检测下部包裹住,然后将需要检测的粉末放置于检测下部上,此时在内围体的作用下,将粉末包裹住,防止粉末散落开,此时操作人员开启加压装置,此时加压装置驱动检测上部下移,伸入到内围体内部,在检测下部的作用下,将粉末材料进行挤压,挤压时,在内围体的作用下进一步防止挤压时材料的散落,内围体和外围体为绝缘材料制成,同时在绝缘层的作用下,保证了检测空间在检测时的绝缘性,减少了外部导体因素检测结果的影响。
附图说明
图1为本实用新型整体结构立体示意图;
图2为本实用新型整体结构爆炸示意图;
图3为本实用新型加测上部活动穿过导线环立体结构示意图;
图4为本实用新型检测下部和检测上部形成检测空间立体结构示意图;
图5为本实用新型检测下部立体结构示意图;
图6为本实用新型内围体套设在外围体内部立体结构示意图;
图7为本实用新型加测上部和加压装置连接立体结构示意图;
图8为本实用新型内围体和外围体俯视图。
图中:1、加压装置;2、固定底座;3、放置盘;4、检测下部;5、检测上部;6、检测空间;7、外围体;701、放置通槽;8、内围体;9、绝缘层;10、导向环;11、导线孔。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-8,本实用新型提供一种技术方案:
实施例一:
本实施例中未在检测下部4的外围设置包裹单元,本实施例在使用的过程中,操作人员只需将粉末材料放置于检测下部4上,然后通过驱动加压装置1,使得加压装置1带动检测上部5下移,对检测下部4上的粉末材料进行挤压,挤压的过程中,通过检测上部5和检测下部4之间形成电流回路,对粉末材料的电阻进行测试:
一种粉体材料电阻测试装置,包括加压装置1和固定底座2,固定底座2上方固定设置有放置盘3,放置盘3上方固定设置有检测下部4,本实施例中的检测下部4的上表面用于放置粉末材料,本实施例中的检测下部4是固定不动的,固定设置在放置盘3的上方,本实施例中的固定底座2和放置盘3为硬材料制成,具有一定的硬度,能够承受装置在使用的过程中产生的压力,且放置盘3和检测下部4之间需设置有绝缘层,并且本实施例中的加压装置1和检测上部5之间也设置有绝缘层,
加压装置1下方固定连接有检测上部5,本实施例中的加压装置1可以为液压机等装置,该装置为本领域技术人员公知装置,本处不做赘述,检测下部4、检测上部5形成一个用于放置粉末材料的检测空间6,本实施例中的检测空间6仅由检测上部5和检测下部4形成,在使用的过程中,粉末材料放置于检测下部4上,然后通过检测上部5对检测下部4上的粉末材料进行挤压测试即可;
检测上部5活动伸入检测空间6内部,检测上部5下压的过程中,对放置在检测下部4上的粉末材料进行挤压测试,检测上部5的底面面积小于检测下部4的顶面面积,本实施例中的检测上部5和检测下部4均为圆柱形,检测下部4的端面积仅大于检测上部5的端面积的五分之一。
加压装置1和放置盘3以及固定底座2内部均开设有导线孔11,检测上部5和检测下部4通过导线孔11内部的导线和外部的检测装置电性连接,本实施例中在使用的过程中,在加压装置1和放置盘3以及固定底座2内部均开设有导线孔11,这样的设置能够使得导线通过导线孔11和检测上部5以及检测下部4进行连接,将导线设置在内部,避免在挤压的过程中,对导线形成挤压,避免了装置因导线的损坏而产生的故障率,本实施例中的检测装置为本领域技术人员公知的装置,本处不做赘述;
检测下部4和检测上部5均为导体材料制成,且检测下部4和检测上部5的电阻率小于9×106Ω·cm,本实施例中的检测下部4和检测上部5均为电阻率较小的导体材料制成,本实施例中也可将检测下部4和检测上部5设置成绝缘材料,但是需要在检测下部4的上表面和检测上部5的下表面,设置导体检测片,导体检测片通过导线和外部的检测装置电性连接,通过两个导体检测片和粉末材料形成电流回路,从而对粉末材料的电阻进行检测,导体检测片的体积相较于检测下部4和检测上部5均较小,这样能够进一步避免因体积造成的电阻的影响,通过导体检测片的设置能够使得检测数据更加精确,但是从操作便捷性的角度考虑的话,在实际的生产和操作的过程中,更加倾向于将检测下部4和检测上部5设置为导体材料,虽然检测数据并不如导体检测片检测出的数据精确,但是二者之间的差距已经到了可以忽略不计的程度,无需为了不必要的数据影响整个装置操作和生产的便捷性。
实施例二:
在实施例一的基础上,本实施例中和实施例一不同的是,本实施例中的检测空间6由检测下部4、检测上部5和包裹组件共同形成,本实施例中的检测下部4被包裹组件包裹在内部,这样的设置使得在检测下部4上放置粉末材料时,粉末材料不会散落,同时在检测上部5对粉末材料进行挤压时,在包裹组件的作用下,能够保证在挤压时,粉末材料不会出现散落;
放置盘3上固定设置有将检测下部4包裹起来的包裹单元,包裹单元包括固定设置在放置盘3上的外围体7,外围体7内部开设有放置通槽701,放置通槽701内部活动放置有用于将检测下部4包裹住的内围体8,外围体7和内围体8均为绝缘材料制成,外围体7和内围体8的电阻率在109至1022 Ω·m之间,外围体7和内围体8之间设置有绝缘层9,绝缘层9的电阻率大于1022Ω·m,本实施例中的包裹单元分为外围体7和内围体8,且检测下部4是包裹在内围体8的内部的,内围体8能够实现将检测下部4进行紧密的包裹,粉末材料放置于检测下部4的上表面上,此时在内围体8的作用下,使得粉末材料不会散落,同时当检测上部5伸入到内围体8内部,对检测下部4上的粉末进行挤压时,此时在内围体8的作用下,也会使得粉末材料在挤压的过程中不会散落,本实施例中的内围体8是活动套设在检测下部4上的,同时内围体8也是活动放置在放置通槽701内部的,在使用的过程中,操作人员可以将内围体8取下进行清理擦拭,本实施例中的内围体8和外围体7均为绝缘材料制成,并且二者之间还设置有绝缘层9,能够进一步的保证检测时的绝缘性,本实施例中的内围体8的电阻率大于外围体7,在生产的过程中,对于内围体8电阻率的要求较高,而对于外围体7的要求较低,通过内围体8和绝缘层9就能够实现检测时的绝缘性,因为为了节省生产成本,在产生的过程中,对于外围体7的导电率要求并不高。
外围体7上固定设置有供检测上部5活动穿过的导向环10,导向环10为绝缘材料制成,本实施例中的导向环10的设置增加了检测上部5在下压过程中的稳定性。
工作原理:本装置在使用的过程中,操作人员先将干净的内围体8套设在检测下部4的外部,然后件需要测试的粉末材料放置于检测下部4的上表面上,在内围体8的作用下,粉末材料呈堆积状,不会散落;
此时操作人员开启加压装置1,在加压装置1的作用下,带动检测上部5穿过导向环10伸入到检测空间6内部,对检测下部4上的粉末材料进行挤压,使得粉末材料颗粒之间的间隙减小,保证检测数据的精度,下压的过程中检测上部5和检测下部4之间形成电流回路,在检测装置的作用下对挤压后的粉末材料的电阻进行检测;
在对粉末材料进行挤压的过程中,在内围体8的作用下,使得挤压时粉末材料不会出现大面积的散落;
同时内围体8和外围体7均是由绝缘材料制成,保证了检测空间6的绝缘性,在内围体8和外围体7之间设置绝缘层9,进一步的增加了包裹单元的绝缘性。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (8)

1.一种粉体材料电阻测试装置,包括加压装置(1)和固定底座(2),其特征在于:所述固定底座(2)上方固定设置有放置盘(3),所述放置盘(3)上方固定设置有检测下部(4),所述放置盘(3)上固定设置有将检测下部(4)包裹起来的包裹单元;
所述加压装置(1)下方固定连接有检测上部(5),所述检测下部(4)、检测上部(5)和包裹组件形成一个用于放置粉末材料的检测空间(6);
所述检测上部(5)活动伸入检测空间(6)内部,所述检测上部(5)下压的过程中,对放置在所述检测下部(4)上的粉末材料进行挤压测试。
2.根据权利要求1所述的一种粉体材料电阻测试装置,其特征在于:所述包裹单元包括固定设置在放置盘(3)上的外围体(7),所述外围体(7)内部开设有放置通槽(701),所述放置通槽(701)内部活动放置有用于将检测下部(4)包裹住的内围体(8)。
3.根据权利要求2所述的一种粉体材料电阻测试装置,其特征在于:所述外围体(7)和内围体(8)均为绝缘材料制成。
4.根据权利要求3所述的一种粉体材料电阻测试装置,其特征在于:所述外围体(7)和内围体(8)之间设置有绝缘层(9)。
5.根据权利要求2所述的一种粉体材料电阻测试装置,其特征在于:所述外围体(7)上固定设置有供检测上部(5)活动穿过的导向环(10),所述导向环(10)为绝缘材料制成。
6.根据权利要求1所述的一种粉体材料电阻测试装置,其特征在于:所述检测下部(4)和检测上部(5)均为导体材料制成。
7.根据权利要求1所述的一种粉体材料电阻测试装置,其特征在于:所述加压装置(1)和放置盘(3)以及固定底座(2)内部均开设有导线孔(11),所述检测上部(5)和检测下部(4)通过导线孔(11)内部的导线和外部的检测装置电性连接。
8.根据权利要求1所述的一种粉体材料电阻测试装置,其特征在于:所述检测上部(5)的底面面积小于所述检测下部(4)的顶面面积。
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