CN219695175U - 一种CPU芯片在板测试的Socket测试座 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于Socket测试座技术领域，尤其为一种CPU芯片在板测试的Socket测试座，包括底座，所述底座上端中部固定安装有控制组件，所述底座上端前部和上端后部均固定连接有底板，两个所述底板上端左部和上端右部均固定连接有升降组件，所述控制组件上端和四个升降组件上端共同固定连接有固定座，所述固定座上端中部固定安装有测试座本体，所述底座上端右部固定连接有安装座，所述安装座上端中部固定安装有防尘组件，所述底座上端左部固定连接有两个支撑杆，两个所述支撑杆上端均固定连接有限位块。本实用新型通过设置防尘组件实现测试座本体的防尘功能，利用第二电动推杆可以便于带动防尘框向上或向下进行移动，实用有效。

Description

一种CPU芯片在板测试的Socket测试座

技术领域

本实用新型涉及Socket测试座技术领域，特别涉及一种CPU芯片在板测试的Socket测试座。

背景技术

Socket测试座是一种测试夹具，专门用于通讯模块的BT/FT/WBG的测试，具有良好的屏蔽效果和较小的体积，结构精巧。

但现有的CPU芯片在板测试的Socket测试座还存在以下不足：1、现有的CPU芯片在板测试的Socket测试座在使用时不便于根据需要调节其使用高度，从而导致CPU芯片在板测试的Socket测试座的使用受限，从而影响测试效果；2、现有的CPU芯片在板测试的Socket测试座在闲置不使用时，会严重积灰，灰尘粘附到CPU芯片在板测试的Socket测试座上会影响CPU芯片在板测试的Socket测试座的使用寿命。故此，我们提出了一种CPU芯片在板测试的Socket测试座。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种CPU芯片在板测试的Socket测试座，可以有效解决背景技术中的问题。

为实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为：

一种CPU芯片在板测试的Socket测试座，包括底座，所述底座上端中部固定安装有控制组件，所述底座上端前部和上端后部均固定连接有底板，两个所述底板上端左部和上端右部均固定连接有升降组件，所述控制组件上端和四个升降组件上端共同固定连接有固定座，所述固定座上端中部固定安装有测试座本体，所述底座上端右部固定连接有安装座，所述安装座上端中部固定安装有防尘组件，所述底座上端左部固定连接有两个支撑杆，两个所述支撑杆上端均固定连接有限位块。

优选的，所述控制组件包括底块，所述底块上端固定安装有第一电动推杆，所述第一电动推杆的输出端固定安装有顶块，所述顶块上端固定连接有固定块，所述底块的下端与底座的上端固定连接。

优选的，所述升降组件包括底筒，所述底筒下内壁面固定连接有伸缩杆和弹簧，所述伸缩杆上端和弹簧上端共同固定连接有顶筒，所述底筒的下端与对应的底板的上端固定连接。

优选的，所述伸缩杆位于对应的弹簧内且与对应的弹簧的内壁面存在空隙，所述伸缩杆的上端和弹簧的上端均与对应的顶筒的上内壁面固定连接。

优选的，所述防尘组件包括第二电动推杆，所述第二电动推杆的输出端固定安装有固定杆，所述固定杆左端固定连接有防尘框，所述防尘框内壁面上部嵌有防尘网，所述防尘框左端前部和左端后部均固定连接有滑块，所述第二电动推杆的下端与安装座的上端固定连接。

优选的，两个所述滑块的内壁面分别与对应的两个支撑杆的外表面滑动连接，所述防尘框位于测试座本体的正上方。

与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：

1、本实用新型中，通过设置控制组件，利用第一电动推杆可以便于根据需要调节测试座本体的使用高度，从而使得测试座本体的使用不受限制，提高测试座本体的使用效果，当第一电动推杆带动测试座本体调节使用高度时，四个伸缩杆和四个弹簧同时进行伸缩，可以有效的提高测试座本体的使用平衡稳定性，从而提高测试效果。

2、本实用新型中，通过设置防尘组件，利用第二电动推杆可以便于带动防尘框向上或向下进行移动，当测试座本体在闲置不使用时，将防尘框向下移动，直至防尘框罩住整个测试座本体，配合防尘网的作用实现测试座本体的防尘功能，当第二电动推杆带动防尘框移动时，两个滑块分别在对应的两个支撑杆上进行滑动，从而提高防尘框的稳定性，实用有效。

附图说明

图1为本实用新型一种CPU芯片在板测试的Socket测试座的整体结构示意图；

图2为本实用新型一种CPU芯片在板测试的Socket测试座的控制组件的结构示意图；

图3为本实用新型一种CPU芯片在板测试的Socket测试座的升降组件的结构示意图；

图4为本实用新型一种CPU芯片在板测试的Socket测试座的防尘组件的结构示意图。

图中：1、底座；2、控制组件；3、底板；4、升降组件；5、固定座；6、测试座本体；7、安装座；8、防尘组件；9、支撑杆；10、限位块；21、底块；22、第一电动推杆；23、顶块；24、固定块；41、底筒；42、伸缩杆；43、弹簧；44、顶筒；81、第二电动推杆；82、固定杆；83、防尘框；84、防尘网；85、滑块。

具体实施方式

为使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本实用新型。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”“前端”、“后端”、“两端”、“一端”、“另一端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置有”、“连接”等，应做广义理解，例如“连接”，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

实施例

请参阅图1-4，本实用新型提供一种技术方案：

一种CPU芯片在板测试的Socket测试座，包括底座1，底座1上端中部固定安装有控制组件2，底座1上端前部和上端后部均固定连接有底板3，两个底板3上端左部和上端右部均固定连接有升降组件4，控制组件2上端和四个升降组件4上端共同固定连接有固定座5，固定座5上端中部固定安装有测试座本体6，底座1上端右部固定连接有安装座7，安装座7上端中部固定安装有防尘组件8，底座1上端左部固定连接有两个支撑杆9，两个支撑杆9上端均固定连接有限位块10。

本实施例中，控制组件2包括底块21，底块21上端固定安装有第一电动推杆22，第一电动推杆22的输出端固定安装有顶块23，顶块23上端固定连接有固定块24，底块21的下端与底座1的上端固定连接；升降组件4包括底筒41，底筒41下内壁面固定连接有伸缩杆42和弹簧43，当第一电动推杆22带动测试座本体6调节使用高度时，四个伸缩杆42和四个弹簧43同时进行伸缩，可以有效的提高测试座本体6的使用平衡稳定性，从而提高测试效果，伸缩杆42上端和弹簧43上端共同固定连接有顶筒44，底筒41的下端与对应的底板3的上端固定连接；伸缩杆42位于对应的弹簧43内且与对应的弹簧43的内壁面存在空隙，避免接触产生摩擦影响两者之间的使用效果，伸缩杆42的上端和弹簧43的上端均与对应的顶筒44的上内壁面固定连接；防尘组件8包括第二电动推杆81，第二电动推杆81的输出端固定安装有固定杆82，固定杆82左端固定连接有防尘框83，防尘框83内壁面上部嵌有防尘网84，利用防尘框83配合防尘网84的作用实现测试座本体6的防尘功能，防尘框83左端前部和左端后部均固定连接有滑块85，第二电动推杆81的下端与安装座7的上端固定连接；两个滑块85的内壁面分别与对应的两个支撑杆9的外表面滑动连接，防尘框83位于测试座本体6的正上方。

需要说明的是，本实用新型为一种CPU芯片在板测试的Socket测试座，在具体使用过程中，利用设置的第一电动推杆22可以便于根据需要调节测试座本体6的使用高度，从而使得测试座本体6的使用不受限制，提高测试座本体6的使用效果，当第一电动推杆22带动测试座本体6调节使用高度时，四个伸缩杆42和四个弹簧43同时进行伸缩，可以有效的提高测试座本体6的使用平衡稳定性，从而提高测试效果，本实用新型中的测试座本体6为现有技术中的传统结构的CPU芯片在板测试的Socket测试座，不作为本实用新型的创新点，利用设置的第二电动推杆81可以便于带动防尘框83向上或向下进行移动，当测试座本体6在闲置不使用时，将防尘框83向下移动，直至防尘框83罩住整个测试座本体6，配合防尘网84的作用实现测试座本体6的防尘功能，当第二电动推杆81带动防尘框83移动时，两个滑块85分别在对应的两个支撑杆9上进行滑动，从而提高防尘框83的稳定性，实用有效。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (5)

1.一种CPU芯片在板测试的Socket测试座，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)上端中部固定安装有控制组件(2)，所述底座(1)上端前部和上端后部均固定连接有底板(3)，两个所述底板(3)上端左部和上端右部均固定连接有升降组件(4)，所述控制组件(2)上端和四个升降组件(4)上端共同固定连接有固定座(5)，所述固定座(5)上端中部固定安装有测试座本体(6)，所述底座(1)上端右部固定连接有安装座(7)，所述安装座(7)上端中部固定安装有防尘组件(8)，所述底座(1)上端左部固定连接有两个支撑杆(9)，两个所述支撑杆(9)上端均固定连接有限位块(10)；

所述防尘组件(8)包括第二电动推杆(81)，所述第二电动推杆(81)的输出端固定安装有固定杆(82)，所述固定杆(82)左端固定连接有防尘框(83)，所述防尘框(83)内壁面上部嵌有防尘网(84)，所述防尘框(83)左端前部和左端后部均固定连接有滑块(85)，所述第二电动推杆(81)的下端与安装座(7)的上端固定连接。

2.根据权利要求1所述的一种CPU芯片在板测试的Socket测试座，其特征在于：所述控制组件(2)包括底块(21)，所述底块(21)上端固定安装有第一电动推杆(22)，所述第一电动推杆(22)的输出端固定安装有顶块(23)，所述顶块(23)上端固定连接有固定块(24)，所述底块(21)的下端与底座(1)的上端固定连接。

3.根据权利要求1所述的一种CPU芯片在板测试的Socket测试座，其特征在于：所述升降组件(4)包括底筒(41)，所述底筒(41)下内壁面固定连接有伸缩杆(42)和弹簧(43)，所述伸缩杆(42)上端和弹簧(43)上端共同固定连接有顶筒(44)，所述底筒(41)的下端与对应的底板(3)的上端固定连接。

4.根据权利要求3所述的一种CPU芯片在板测试的Socket测试座，其特征在于：所述伸缩杆(42)位于对应的弹簧(43)内且与对应的弹簧(43)的内壁面存在空隙，所述伸缩杆(42)的上端和弹簧(43)的上端均与对应的顶筒(44)的上内壁面固定连接。

5.根据权利要求1所述的一种CPU芯片在板测试的Socket测试座，其特征在于：两个所述滑块(85)的内壁面分别与对应的两个支撑杆(9)的外表面滑动连接，所述防尘框(83)位于测试座本体(6)的正上方。