CN219641867U - 一种可温度调节的集成电路测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及电路测试技术领域，且公开了一种可温度调节的集成电路测试装置，包括顶板，所述顶板的下端设置有挡板一，所述挡板一的前后侧壁内侧设置有加热块，所述顶板的顶壁开设有固定槽三，所述固定槽三的内部设置有固定板二，所述固定板二的中端设置有固定块二，所述固定块二的上端设置有风扇二，除正面侧壁的所述挡板一的三侧壁开设有固定槽一，所述固定槽一的内部设置有固定板一，所述固定板一的中端设置有固定块一，所述固定块一的外侧固定设置有风扇一。该可温度调节的集成电路测试装置，通过设置了加热块、风扇一和风扇二，通过设置风扇一和风扇二，增加了该装置的散热性能，加热块的设置，则是为该装置提供了加热功能。

Description

一种可温度调节的集成电路测试装置

技术领域

本实用新型涉及集成电路技术领域，具体为一种可温度调节的集成电路测试装置。

背景技术

集成电路是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。

经检索(CN216209664U)公开了一种可温度调节的集成电路测试装置，包括了测试底座1、通槽2、安装柱3、滑板4、侧盖板5、把手6、触点7、集成电路8、接线口9、连接口10、电源接口11、上盖板12；通过设置滑板、侧盖板、触点和集成电路，使本装置在使用时能够方便的抽出滑板，从而将集成电路安装在滑板表面，随后将滑板插入测试底座中，滑板通过触点与测试底座电性连接提供电力，安装和拆卸都十分方便，便于使用，通过设置上盖板、风扇、风管、密封槽和密封板，在使用时能够方便的安装上盖板，随后上盖板下滑，密封板插入密封槽中，封闭集成电路所在的测试环境，风管接通外部的冷凝器等制冷设备，风扇将冷风直接吹向集成电路，将集成电路运行时产生的热量吹散，减小集成电路因温度变高产生的性能变化，测试效果更好。

但该装置只设置了风扇对内部装置进行降温，且设置一个风扇，降温能力有限，且并不存在对内部温度进行升温的装置。

实用新型内容

(一)解决的技术问题

本实用新型的目的在于提供一种可温度调节的集成电路测试装置，以解决上述背景技术中提出该装置只设置了风扇对内部装置进行降温，且设置一个风扇，降温能力有限，且并不存在对内部温度进行升温的装置的问题。

(二)技术方案

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种可温度调节的集成电路测试装置，包括顶板，所述顶板的下端设置有挡板一，且挡板一呈回字形，所述挡板一的前后侧壁内侧设置有加热块，且加热块设置有多块，所述挡板一的左右侧壁内侧设置有温度传感器CWDZ11，所述顶板的顶壁开设有固定槽三，所述固定槽三的内部设置有固定板二，所述固定板二的中端设置有固定块二，所述固定块二的上端设置有风扇二，除固定块二的所述固定板二的内侧设置有滤网一，除正面侧壁的所述挡板一的三侧壁开设有固定槽一，所述固定槽一的内部设置有固定板一，所述固定板一的中端设置有固定块一，所述固定块一的外侧固定设置有风扇一，且挡板一的一侧壁中的固定槽一中设置有两个风扇一，所述固定板一的内侧设置有滤网二，通过设置加热块，可以对内部进行加热，从而达到温度调节作用。

优选的，所述顶板的顶壁开设有固定槽四，所述固定槽四的内部设置有显示屏，所述固定槽四的内部设置有操作按钮，且操作按钮设置有多个，所述固定槽三位于固定槽四右侧，所述固定槽三贯穿于顶板，通过温度传感器CWDZ11对挡板一内部的温度进行测量，通过显示屏显示。

优选的，所述挡板一的下端设置有底板，所述挡板一的正面侧壁开设有固定槽二，所述固定槽二贯穿于挡板一的正面侧壁，所述固定槽二的底壁开设有移动槽，所述底板的内部设置有固定槽五，所述固定槽五的内部设置有电动推杆一，所述电动推杆一的上端设置有挡板二，且电动推杆一的输出端与挡板二的底端为固定连接，所述移动槽的内部设置有挡板二，通过电动推杆一带动挡板二，从而对内部装置起到保护作用。

优选的，所述底板的上端设置有测试板，所述测试板位于挡板一的内侧，所述测试板的最高端低于固定槽二的最低端，所述测试板位于加热块和温度传感器CWDZ11的下端，测试板采用的是能够读取集成电路信息的常见测试设备制作。

优选的，所述挡板一的后壁内侧设置有电动推杆二，所述电动推杆二的外侧设置有缓冲板，且电动推杆二的输出端与缓冲板后壁固定连接，所述固定槽三的内部设置有盖板一，所述固定槽四的内部设置有盖板二，所述底板的左侧壁外侧固定设置有把手，通过设置盖板一对风扇二进行保护，通过设置盖板二对显示屏操作按钮进行保护。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

该可温度调节的集成电路测试装置，通过设置了加热块、风扇一和风扇二，通过设置风扇一和风扇二，增加了该装置的散热性能，加热块的设置，则是为该装置提供了加热功能。

附图说明

图1为本实用新型立体结构示意图；

图2为本实用新型无顶板立体结构示意图；

图3为本实用新型底板剖面结构示意图；

图4为本实用新型固定板二立体结构示意图；

图5为本实用新型固定板一立体结构示意图；

图6为本实用新型挡板一正面剖面结构示意图。

图中：1、顶板；2、底板；3、挡板一；4、固定槽一；5、风扇一；6、固定槽二；7、移动槽；8、固定槽三；9、固定槽四；10、显示屏；11、把手；12、操作按钮；13、风扇二；14、滤网一；15、测试板；16、加热块；17、温度传感器CWDZ11；18、固定槽五；19、电动推杆一；20、挡板二；21、盖板一；22、盖板二；23、固定板一；24、固定块一；25、固定块二；26、固定板二；27、滤网二；28、电动推杆二；29、缓冲板。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-6，本实用新型提供一种技术方案：一种可温度调节的集成电路测试装置，包括顶板1，顶板1的下端设置有挡板一3，且挡板一3呈回字形，挡板一3的前后侧壁内侧设置有加热块16，且加热块16设置有多块，挡板一3的左右侧壁内侧设置有温度传感器CWDZ1117，顶板1的顶壁开设有固定槽三8，固定槽三8的内部设置有固定板二26，固定板二26的中端设置有固定块二25，固定块二25的上端设置有风扇二13，除固定块二25的固定板二26的内侧设置有滤网一14，除正面侧壁的挡板一3的三侧壁开设有固定槽一4，固定槽一4的内部设置有固定板一23，固定板一23的中端设置有固定块一24，固定块一24的外侧固定设置有风扇一5，且挡板一3的一侧壁中的固定槽一4中设置有两个风扇一5，所述固定板一23的内侧设置有滤网二27，通过温度传感器CWDZ1117将内部温度传导至显示屏10中，从而使使用者可以通过加热块16、风扇一5和风扇二13对内部进行温度调节。

顶板1的顶壁开设有固定槽四9，固定槽四9的内部设置有显示屏10，固定槽四9的内部设置有操作按钮12，且操作按钮12设置有多个，固定槽三8位于固定槽四9右侧，固定槽三8贯穿于顶板1，挡板一3的下端设置有底板2，挡板一3的正面侧壁开设有固定槽二6，固定槽二6贯穿于挡板一3的正面侧壁，固定槽二6的底壁开设有移动槽7，底板2的内部设置有固定槽五18，固定槽五18的内部设置有电动推杆一19，电动推杆一19的上端设置有挡板二20，且电动推杆一19的输出端与挡板二20的底端为固定连接，移动槽7的内部设置有挡板二20，通过电动推杆一19带动挡板二20，从而达到对内部装置起到了保护作用；

底板2的上端设置有测试板15，测试板15位于挡板一3的内侧，测试板15的最高端低于固定槽二6的最低端，测试板15位于加热块16和温度传感器CWDZ1117的下端，挡板一3的后壁内侧设置有电动推杆二28，电动推杆二28的外侧设置有缓冲板29，且电动推杆二28的输出端与缓冲板29后壁固定连接，固定槽三8的内部设置有盖板一21，固定槽四9的内部设置有盖板二22，底板2的左侧壁外侧固定设置有把手11，盖板一21的顶壁开设有四个螺孔，盖板二22的顶壁设置有两个螺孔，顶板1的顶壁开设有与盖板一21与盖板二22相对应的螺孔，便于使用者在不使用时将盖板一21和盖板二22固定在顶板一1上。

工作原理：首先，通过锁紧螺钉将盖板一21与盖板二22拿出，通过电动推杆一19将挡板二20下移，将需要测试的集成电路从固定槽二6中放入挡板一3内部，在通过移动电动推杆二28带动缓冲板29促使需要测试的集成电路进入挡板一3的内部，通过测试板15对需要测试的集成电路进行测试，在根据温度传感器CWDZ1117传出至显示屏10上的数据，从而可以使使用者通过加热块16、风扇一5和风扇二13对内部温度进行调节，测试完成后，在通过电动推杆二28带动缓冲板29将集成电路推出，如果还需测试则按照上述方法继续测试；如果无需测试，则通过电动推杆一19将挡板二20上移，从而起到保护作用，在通过锁紧螺钉将盖板一21与盖板二22固定在顶板1上。

最后应当说明的是，以上内容仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对本实用新型保护范围的限制，本领域的普通技术人员对本实用新型的技术方案进行的简单修改或者等同替换，均不脱离本实用新型技术方案的实质和范围。

Claims (5)

1.一种可温度调节的集成电路测试装置，包括顶板(1)，其特征在于：所述顶板(1)的下端设置有挡板一(3)，且挡板一(3)呈回字形，所述挡板一(3)的前后侧壁内侧设置有加热块(16)，且加热块(16)设置有多块，所述挡板一(3)的左右侧壁内侧设置有温度传感器CWDZ11(17)，所述顶板(1)的顶壁开设有固定槽三(8)，所述固定槽三(8)的内部设置有固定板二(26)，所述固定板二(26)的中端设置有固定块二(25)，所述固定块二(25)的上端设置有风扇二(13)，除固定块二(25)的所述固定板二(26)的内侧设置有滤网一(14)，除正面侧壁的所述挡板一(3)的三侧壁开设有固定槽一(4)，所述固定槽一(4)的内部设置有固定板一(23)，所述固定板一(23)的中端设置有固定块一(24)，所述固定块一(24)的外侧固定设置有风扇一(5)，且挡板一(3)的一侧壁中的固定槽一(4)中设置有两个风扇一(5)，所述固定板一(23)的内侧设置有滤网二(27)。

2.根据权利要求1所述的一种可温度调节的集成电路测试装置，其特征在于：所述顶板(1)的顶壁开设有固定槽四(9)，所述固定槽四(9)的内部设置有显示屏(10)，所述固定槽四(9)的内部设置有操作按钮(12)，且操作按钮(12)设置有多个，所述固定槽三(8)位于固定槽四(9)右侧，所述固定槽三(8)贯穿于顶板(1)。

3.根据权利要求2所述的一种可温度调节的集成电路测试装置，其特征在于：所述挡板一(3)的下端设置有底板(2)，所述挡板一(3)的正面侧壁开设有固定槽二(6)，所述固定槽二(6)贯穿于挡板一(3)的正面侧壁，所述固定槽二(6)的底壁开设有移动槽(7)，所述底板(2)的内部设置有固定槽五(18)，所述固定槽五(18)的内部设置有电动推杆一(19)，所述电动推杆一(19)的上端设置有挡板二(20)，且电动推杆一(19)的输出端与挡板二(20)的底端为固定连接，所述移动槽(7)的内部设置有挡板二(20)。

4.根据权利要求3所述的一种可温度调节的集成电路测试装置，其特征在于：所述底板(2)的上端设置有测试板(15)，所述测试板(15)位于挡板一(3)的内侧，所述测试板(15)的最高端低于固定槽二(6)的最低端，所述测试板(15)位于加热块(16)和温度传感器CWDZ11(17)的下端。

5.根据权利要求4所述的一种可温度调节的集成电路测试装置，其特征在于：所述挡板一(3)的后壁内侧设置有电动推杆二(28)，所述电动推杆二(28)的外侧设置有缓冲板(29)，且电动推杆二(28)的输出端与缓冲板(29)后壁固定连接，所述固定槽三(8)的内部设置有盖板一(21)，所述固定槽四(9)的内部设置有盖板二(22)，所述底板(2)的左侧壁外侧固定设置有把手(11)。