CN219625536U - 电子产品测试装置 - Google Patents

Abstract

一种电子产品测试装置包含一测试台与一对位机构。测试台包含一支撑架与一连接器。连接器位于支撑架的顶部。对位机构包含一框架、一探针卡及一持板治具。框架安装于支撑架的顶部。持板治具活动地位于框架上用以将探针卡夹合其中，且外露探针卡的探针。升降装置安装于框架上，固定地连接持板治具，用以升降持板治具。故，当升降装置垂直降下持板治具，探针卡的探针能够分别垂直插入且电连接连接器的这些探针孔。通过以上架构，探针卡能够被垂直升降，从而让所有探针能够顺利地垂直插入且电性连接探针孔，从而能够执行测试机台后续的测试程序，降低让探针受损的风险。

Description

电子产品测试装置

技术领域

本实用新型有关于一种测试装置，尤指一种能够垂直升降探针卡的测试装置。

背景技术

一般来说，现有的大型测试机台包含测试台以及位于测试台上方的大型探针卡。测试台内安装多个电子产品。故，通过大型探针卡的探针朝下分别插入测试台内的所有针孔，以确保大型探针卡能够对测试台内的所有电子产品进行电性检测。反之，所述大型探针卡必须从测试台垂直上升，使得这些探针能够分别同时脱离所述针孔，以便移除大型探针卡。

然而，由于所述大型探针卡的所有探针相当精密，且所述大型探针卡具有特定重量，光凭操作人员于测试台上方徒手插拔大型探针卡将存在探针受损的风险。

由此可见，上述技术显然仍存在不便与缺陷，而有待加以进一步改良。因此，如何能有效地解决上述不便与缺陷，实属当前重要研发课题之一，亦成为当前相关领域亟需改进的目标。

实用新型内容

本实用新型的一目的在于提供一种电子产品测试装置，用以解决以上先前技术所提到的困难。

依据本实用新型一实施例中，本实用新型提供一种电子产品测试装置。测试装置包含一测试台与一对位机构。测试台包含一支撑架、至少一测试槽及至少一第一连接器。测试槽固定于支撑架上，用以收纳至少一待测装置。第一连接器位于支撑架的顶部，包含多个探针孔，这些探针孔分别电连接待测装置。对位机构包含一框架、一探针卡、一持板治具及一升降装置。框架可移除地安装于支撑架的顶部。探针卡具有至少一第二连接器，第二连接器包含多个探针。持板治具可升降地位于框架上，包含一上夹板与一下夹板。下夹板具有至少一开口，上夹板与下夹板将探针卡夹合其中，且由这些探针从开口所外露。升降装置安装于框架上，固定地连接持板治具，用以升降持板治具。故，升降装置垂直降下持板治具，使得这些探针能够分别垂直插入且电连接这些探针孔。

依据本实用新型一或多个实施例，在上述的电子产品测试装置中，上夹板具有多个缺口，这些缺口分别位于上夹板的多个侧缘。持板治具还包含多个快拆式锁扣件，这些快拆式锁扣件分别枢接于下夹板的多个侧缘。当这些快拆式锁扣件分别从下夹板转入这些缺口，且分别对持板治具进行锁扣时，这些快拆式锁扣件共同使下夹板与上夹板彼此紧密闭合。

依据本实用新型一或多个实施例，在上述的电子产品测试装置中，测试台还包含多个限位部，所述多个限位部至少相对地位于该支撑架上。对位机构还包含多个定位模块，所述多个定位模块至少相对地位于该框架上，所述多个定位模块中每一者包含一延伸单元与一卡扣单元，该延伸单元的一端部固接于该框架，该卡扣单元位于该延伸单元的另一端部，用以勾扣至所述多个限位部其中之一。

依据本实用新型一或多个实施例，在上述的电子产品测试装置中，每个限位部包含一外接件及一滚轮。外接件固定于支撑架的一外侧。滚轮可枢转地设于外接件相对支撑架的一面。延伸单元包含一横向支臂及一纵向支臂。横向支臂的一端固定于框架的外侧。纵向支臂枢接至横向支臂的另端，且伸向支撑架，其中卡扣单元包含一开孔，开孔形成于纵向支臂上，且用以容纳滚轮。

依据本实用新型一或多个实施例，在上述的电子产品测试装置中，纵向支臂包含一第一片体、一第二片体及一铰链单元。第一片体与横向支臂彼此正交。开孔位于第二片体上。铰链单元枢接第一片体与第二片体。

依据本实用新型一或多个实施例，在上述的电子产品测试装置中，外接件还具有一定位凸部，定位凸部与开孔处于同一高度水平。延伸单元还包含一定位环，定位环可移动地位于第二片体上，且围绕第二片体。其中当定位环沿着第二片体而套接至定位凸部时，定位环更于第二片体上闭合开孔，使得纵向支臂被限位于支撑架上。

依据本实用新型一或多个实施例，在上述的电子产品测试装置中，延伸单元还包含一快拆扣件，快拆扣件穿过横向支臂而枢接至纵向支臂的一端面。当快拆扣件对延伸单元进行锁扣而拉起纵向支臂时，开孔的内壁面同步顶靠滚轮。

依据本实用新型一或多个实施例，在上述的电子产品测试装置中，支撑架还包含多个引导槽。这些引导槽形成于支撑架的顶部。框架包含一平台、多个支脚一升降空间及多个引导销。这些支脚间隔分布于平台的底面，且共同伸向支撑架的顶部，使得平台与支撑架之间定义出一升降空间。这些支脚分别穿过持板治具，使得持板治具能够于升降空间内往返移动。这些引导销自下夹板背对上夹板的一面朝外伸出，用以可移除地伸入这些引导槽内。

依据本实用新型一或多个实施例，在上述的电子产品测试装置中，升降装置包含一连接盖、一轴承单元、一管体、一螺柱及一固定部。连接盖固定地覆盖于上夹板上。轴承单元位于连接盖内。管体垂直地穿过平台，具有一内螺纹部。螺柱穿过管体且伸入连接盖内，具有一螺合内螺纹部的外螺纹部，其中螺柱的一端在连接盖内可枢转地伸入轴承单元。固定部将轴承单元固定于连接盖及螺柱上。其中当螺柱于管体内转动时，螺柱通过连接盖连动上夹板升降。

依据本实用新型一或多个实施例，在上述的电子产品测试装置中，升降装置包含一旋转操作部，旋转操作部还包含一旋转盘及一操作手柄。旋转盘固接至螺柱的另端，与螺柱共有一轴心，且旋转盘相对持板治具的一面具有一容置槽。操作手柄的一端枢接于容置槽内，用以转进及转出容置槽。当操作手柄转出容置槽且偏离螺柱的轴心时，操作手柄能够带动旋转盘旋转。

依据本实用新型一或多个实施例，在上述的电子产品测试装置中，框架还包含一第一导孔、一第一导杆、一第二导孔及一第二导杆。第一导孔开设于平台上。第一导杆锁固于持板治具上，活动地位于第一导孔内。第二导孔开设于持板治具上。第二导杆锁固于平台上，活动地位于第二导孔内，其中螺柱位于第一导杆与第二导杆之间。

如此，通过以上各实施例的所述架构，探针卡能够被垂直升降，从而让所有探针能够顺利地垂直插入且电性连接探针孔，从而能够执行测试机台后续的测试程序，降低让探针受损的风险。

以上所述仅是用以阐述本实用新型所欲解决的问题、解决问题的技术手段、及其产生的功效等等，本实用新型的具体细节将在下文的实施方式及相关附图中详细介绍。

附图说明

为让本实用新型的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，所附附图的说明如下：

图1为本实用新型一实施例的对位机构的分解图；

图2为图1的探针卡的下视图；

图3A为对图1的持板治具进行解锁扣的操作图；

图3B为对图1的持板治具进行锁扣的操作图；

图4A为本实用新型一实施例的测试台的上视图；

图4B与图4C为将对位机构安装至测试台的连续操作图；

图5A～图5D为将图4C的对位机构定位至测试台上的连续操作图；

图6A～图6B为将图4C的对位机构于测试台上降下持板治具的连续操作图；

图7为图6B沿线段AA所制成的局部剖视图；

图8为图6A的旋转操作部的操作示意图；

图9为本实用新型一实施例的测试装置的局部剖视图。

【符号说明】

1、2:测试装置

10:对位机构

20:测试台

100:框架

110:平台

111:底面

120:支脚

130:引导销

140:第一导孔

150:第一导杆

160:第二导杆

200:探针卡

210:电路板

211:底面

220:公连接器

221:探针

300:持板治具

310:上夹板

311:凸耳

312:缺口

320:下夹板

321:开口

322:凹槽

323:底部

324:顶面

330:轴接部

340:第二导孔

350:升降空间

400:快拆式锁扣件

410:T型枢轴

420:第一快拆扣件

421:手把

422:座体

423:连杆

500:升降装置

510:连接盖

511:盖体

512:通孔

513:内部空间

520:轴承单元

530:管体

531:内螺纹部

540:螺柱

541:外螺纹部

542:第一端

543:凸柱

544:第二端

550:固定部

551:夹片

552:锁固栓

560:旋转操作部

561:旋转盘

562:容置槽

563:操作手柄

600:定位模块

610:延伸单元

611:横向支臂

612:纵向支臂

613:第一片体

614:第二片体

615:铰链单元

616:第一定位孔

617:第二定位孔

620:定位环

621:插销

622:容置空间

630:第二快拆扣件

640:卡扣单元

641:开孔

700:支撑架

710:底座

720:立柱模块

730:引导槽

740:限位部

741:外接件

742:定位凸部

743:滚轮

743A:轴心

744:外侧面

800:测试区块

810:测试槽

811:待测装置

820:侧板模块

830:母连接器

831:探针孔

840:口字型中空区

AA:线段

X、Y、Z:轴向

具体实施方式

以下将以附图揭露本实用新型的多个实施例，为明确说明起见，许多实务上的细节将在以下叙述中一并说明。然而，应了解到，这些实务上的细节不应用以限制本实用新型。也就是说，在本实用新型各实施例中，这些实务上的细节是非必要的。此外，为简化附图起见，一些习知惯用的结构与元件在附图中将以简单示意方式绘示。

图1为本实用新型一实施例的对位机构10的分解图。图2为图1的探针卡200的下视图。图3A为对图1的持板治具300进行解锁扣的操作图。如图1与图2所示，一种电子产品测试装置包含一对位机构10。对位机构10包含一框架100、一探针卡200、一持板治具300及一升降装置500。探针卡200包含一电路板210与多个(如4个)公连接器220。这些公连接器220间隔地配置于电路板210的底面211。每个公连接器220包含多个(如数十个或数百个)探针221。持板治具300可升降地位于框架100上，并且持板治具300包含一上夹板310与一下夹板320。下夹板320具有多个(如4个)开口321。上夹板310与下夹板320将探针卡200夹合其中(图3A)，且这些公连接器220从这些开口321所分别外露，而且每个公连接器220的这些探针221从对应的开口321所伸出。升降装置500安装于框架100上，固定地连接持板治具300，用以沿一垂直方向(如轴向Z)升降持板治具300。

如图1与图3A所示，更具体地，下夹板320面向上夹板310的顶面324还具有一凹槽322，且上述这些开口321贯设于凹槽322的底部323。凹槽322的面积与电路板210的面积大致相同，且凹槽322的深度与电路板210的厚度大致相同。故，当探针卡200的电路板210恰好完全放入凹槽322内，并在上夹板310与下夹板320彼此夹合之后(图3A)，上夹板310与下夹板320彼此能够直接接触，使得探针卡200的电路板210不致轻易脱离持板治具300，也不致增加持板治具300的原有厚度。

图3B为对图1的持板治具300进行锁扣的操作图。如图1与图3A所示，上夹板310具有多个(如4个)缺口312，这些缺口312分别位于上夹板310的多个侧缘。持板治具300还包含多个(如4个)快拆式锁扣件400，快拆式锁扣件400分别枢接于下夹板320的多个侧缘。故，如图3B所示，当快拆式锁扣件400分别转入对应的缺口312，且分别对持板治具300进行锁扣时，这些快拆式锁扣件400共同将下夹板320与上夹板310彼此紧密闭合。

举例来说，在本实施例中，如图1与图3A所示，上夹板310具有多个(如4个)凸耳311，这些凸耳311分别凸设于上夹板310的所有侧缘，每个凸耳311上皆开设有所述缺口312，缺口312从凸耳311的最外侧朝内延伸。下夹板320具有多个(如4个)轴接部330，这些轴接部330分别凸设于下夹板320的所有侧缘，且分别对位所述凸耳311。每个快拆式锁扣件400包含一T型枢轴410及一第一快拆扣件420。T型枢轴410的一端枢接于轴接部330上，T型枢轴410的另端固接所述的第一快拆扣件420。每个第一快拆扣件420包含一手把421、一座体422与一连杆423。手把421位于座体422上，且连杆423的一端枢接手把421，连杆423的另端穿过座体422而连接T型枢轴410的另端。

如此，如图3B所示，当第一快拆扣件420对持板治具300进行锁扣时，第一快拆扣件420的手把421被扳动为垂直状(如轴向Z)，使得第一快拆扣件420的手把421通过座体422朝下压迫上夹板310，以及通过T型枢轴410上拉下夹板320，故，下夹板320与上夹板310彼此紧密闭合。反之，如图3A所示，当第一快拆扣件420对持板治具300进行解锁扣时，第一快拆扣件420的手把421被扳动为水平状(如轴向X或Y)，使得第一快拆扣件420停止对上夹板310与下夹板320施力。

图4A为本实用新型一实施例的测试台20的上视图。图4B与图4C为将对位机构10安装至测试台20的连续操作图。如图4A至图4C所示，在本实施例中，测试装置1还包含一测试台20。测试台20位于对位机构10正下方。测试台20包含一支撑架700、至少一测试槽810及至少一母连接器830。测试槽810固定于支撑架700上，用以收纳至少一待测装置811。母连接器830位于支撑架700的顶部，包含分别电连接待测装置811的探针孔831。

在本实施例中，测试台20还包含多个(如4个)测试区块800。这些测试区块800间隔地固定于支撑架700的多个侧缘。支撑架700包含一底座710与多个(如4个)立柱模块720。这些立柱模块720分别竖立于底座710上，每个测试区块800固定地覆盖于其中二立柱模块720之间，使得这些立柱模块720及这些测试区块800围成一口字型中空区840。

每个测试区块800包含所述测试槽810、一侧板模块820与所述母连接器830。侧板模块820竖立于支撑架700的其中一侧缘。测试槽810固设于侧板模块820背对口字型中空区840的一面，用以收纳一或多个待测装置811，其中待测装置811可为电子产品，例如影像撷取卡(Image Capture Card)，但并不以此为限。每个母连接器830位于侧板模块820的上侧缘，且位于支撑架700的顶部。每个母连接器830包含多个(如数十个或数百个)所述探针孔831。在同一个测试区块800内，这些探针孔831分别电连接对应的测试槽810内的待测装置811。更具体地，每个侧板模块820包含电连接母连接器830及测试槽810的电路侧板，每个探针孔831内具有接点与线路(图中未示)。故，探针孔831内的接点能够通过线路及电路侧板电连接至对应测试槽810内的待测装置811。

此外，如图1与图4A所示，支撑架700还包含多个(如4个)引导槽730，这些引导槽730形成于支撑架700的顶部(例如立柱模块720的内侧壁)。引导槽730的长轴方向(如轴向Z)彼此平行，且每个引导槽730的长轴方向(如轴向Z)平行上述的垂直方向(如轴向Z)。框架100包含一平台110、多个(如4个)支脚120与多个(如2个)引导销130。这些引导销130间隔地配置于下夹板320上，且每个引导销130自下夹板320背对上夹板310的一面朝外伸出，用以可移除地伸入引导槽730内。这些支脚120间隔分布于平台110的底面111，且共同伸向支撑架700的顶部(例如立柱模块720的顶部)，使得平台110与支撑架700之间定义出一升降空间350，这些支脚120分别穿过持板治具300，使得持板治具300能够于升降空间350内往返移动。

如此，当对位机构10放置于支撑架700的顶部时，对位机构10的这些支脚120分别立设于支撑架700的顶部，且对位机构10的这些引导销130分别伸入引导槽730内(图4B及图4C)，使得对位机构10位于支撑架700的顶部。

图5A～图5D为将图4C的对位机构10定位至测试台20上的连续操作图。如图4C与图5A所示，测试台20还包含多个(如4个)限位部740。这些限位部740间隔地配置于支撑架700的多个侧缘(例如立柱模块720的外侧壁)，或者，至少相对地位于支撑架700上。如图1与图5A所示，对位机构10还包含多个(如4个)定位模块600，这些定位模块600间隔地配置于框架100的多个(如4个)侧缘，或者，至少相对地位于框架100上。每个定位模块600包含一延伸单元610与一卡扣单元640。延伸单元610的一端部固接于框架100上，卡扣单元640位于延伸单元610的另一端部，且勾扣至其中一限位部740上。

更具体地，每个限位部740包含一外接件741及一滚轮743。外接件741固定于支撑架700的外侧。滚轮743可枢转地设于外接件741相对支撑架700的一面(如其中一外侧面744)。举例来说，滚轮743通过转轴(图中未示)安装于外接件741的所述外侧面744，意即，滚轮743的轴心743A(图4A)垂直外接件741的所述外侧面744。

延伸单元610包含一横向支臂611及一纵向支臂612。横向支臂611的一端固定于框架100的外侧，纵向支臂612枢接至横向支臂611的另端，且伸向支撑架700。所述垂直方向(如轴向Z)与横向支臂611的长轴方向(如轴向X)大致正交，且与纵向支臂612的长轴方向(如轴向Z)大致平行(图5D)。卡扣单元640包含一开孔641，开孔641形成于纵向支臂612上，且用以容纳滚轮743。开孔641为狭长状，其长轴方向(如轴向Z)大致平行纵向支臂612的长轴方向(如轴向Z)。

更进一步地，纵向支臂612包含一第一片体613、一第二片体614及一铰链单元615。第一片体613枢接至横向支臂611的另端，且与横向支臂611彼此正交。铰链单元615枢接第一片体613与第二片体614，使得第一片体613与第二片体614能够展开而沿所述垂直方向(如轴向Z)延伸(图5D)，或者第二片体614能够通过铰链单元615相对第一片体613翻转(图5A)以接近滚轮743。

如图4B与图5B所示，外接件741还具有一朝上突出的定位凸部742，定位凸部742与开孔641处于同一高度水平。延伸单元610还包含一定位环620，定位环620可移动地位于第二片体614上，且围绕第二片体614。定位环620内的总空间扣除了第二片体614后成为一容置空间622(图5A)，容置空间622的形状与定位凸部742的形状(如类似梯形)相同，使得定位凸部742能够匹配地进入容置空间622内，降低定位模块600脱离测试台20的风险。每个延伸单元610还包含一第二快拆扣件630。第二快拆扣件630穿过横向支臂611而枢接至纵向支臂612远离开孔641的一端面。须了解到，此处所述的第二快拆扣件630的结构与上述快拆式锁扣件400的第一快拆扣件420的结构大致相同，在此不再加以赘述。

如此，如图5A至图5B所示，当操作人员将对位机构10放置于支撑架700的顶部时，操作人员将第二片体614相对第一片体613转动而让滚轮743伸入开孔641；接着，如图5B至图5C所示，操作人员将定位环620沿着第二片体614下移至定位凸部742。当定位环620沿着第二片体614下移且套接定位凸部742时，定位环620更于第二片体614上同时闭合开孔641，使得滚轮743无法离开开孔641，从而让纵向支臂612被限位于支撑架700上；接着，如图5C至图5D所示，操作人员通过第二快拆扣件630对延伸单元610进行锁扣而拉起纵向支臂612时，开孔641的内壁面同步顶靠滚轮743，使得对位机构10能够更稳固地结合于测试台20上。须了解到，如图5D所示，由于滚轮743能够于开孔641的内壁面平衡转动，延伸单元610对滚轮743的上提力不致对滚轮743产生立即的磨损。

此外，如第5A图与图5C所示，第二片体614的侧面具有第一定位孔616与第二定位孔617。第一定位孔616较第二定位孔617接近铰链单元615。定位环620上具有一插销621。插销621经由定位环620伸入第一定位孔616或第二定位孔617内。

如此，如图5A所示，当定位环620尚未覆盖开孔641时，操作人员通过插销621插入第一定位孔616，以避免定位环620于纵向支臂612上任意晃动，或者从第二片体614脱离纵向支臂612。如图5D所示，当定位环620覆盖开孔641时，操作人员通过插销621插入第二定位孔617(图5A)，以避免定位环620于纵向支臂612上任意晃动，从而让滚轮743非预期地离开开孔641。

图6A～图6B为将图4C的对位机构10于测试台20上降下持板治具300的连续操作图。图7为图6B沿线段AA所制成的局部剖视图。如图6A与图7所示，升降装置500包含一连接盖510、一轴承单元520、一管体530、一螺柱540与一固定部550。连接盖510固定地覆盖于上夹板310上。在本实施例中，连接盖510包含一盖体511及一通孔512。盖体511锁固于上夹板310面向平台110的一面，并与上夹板310共同形成一内部空间513。通孔512形成于盖体511相对上夹板310的一面，且接通内部空间513。轴承单元520位于内部空间513内，且轴承单元520大于通孔512，使得轴承单元520无法从通孔512移出连接盖510。轴承单元520内的多个滚珠(图中未示)围出一中空区域，例如轴承单元520为止推轴承或其于类似元件。管体530垂直地穿过平台110，管体530内具有一内螺纹部531。螺柱540位于管体530内，且螺柱540具有一外螺纹部541。外螺纹部541螺合内螺纹部531。通过螺柱540于管体530内的转动，螺柱540能够沿着垂直方向(如轴向Z)产生位移。螺柱540包含彼此相对的第一端542与第二端544。螺柱540的第一端542经由通孔512伸入连接盖510内，且在连接盖510内可枢转地伸入轴承单元520的中空区域。固定部550将轴承单元520固定于连接盖510及螺柱540上。在本实施例中，举例来说，固定部550包含一夹片551与一锁固栓552。螺柱540的第一端542包含一凸柱543，且螺柱540的凸柱543伸入内部空间513及轴承单元520内。夹片551朝上同时压迫轴承单元520及凸柱543的端面。锁固栓552穿过夹片551及凸柱543的端面而伸入螺柱540内，从而将轴承单元520固定于螺柱540的凸柱543，以及将轴承单元520夹合于盖体511与夹片551之间。

故，当螺柱540于管体530内转动时，通过外螺纹部541沿着内螺纹部531旋转，螺柱540能够通过连接盖510带动上夹板310进行升降，从而带动持板治具300内的探针卡200升降。如此，当升降装置500垂直降下持板治具300，使得探针卡200的所有探针221(图2)能够分别垂直插入且电连接对应母连接器830的探针孔831内，从而电连接此测试区块800的这些待测装置811。

需了解到，当螺柱540的外螺纹部541沿着管体530内的内螺纹部531转动时，螺柱540亦于轴承单元520内空转，故，盖体511与上夹板310不致随其转动。

图8为图6A的旋转操作部560的操作示意图。如图7与图8所示，升降装置500还包含一旋转操作部560。旋转操作部560套接至螺柱540的第二端544，用以带动螺柱540旋转。更具体地，在本实施例中，旋转操作部560还包含一旋转盘561及一操作手柄563。旋转盘561固接至螺柱540的第二端544，与螺柱540共有轴心。旋转盘561相对持板治具300的一面具有一容置槽562。操作手柄563的一端枢接于容置槽562内，用以转进及转出容置槽562。如此，当操作手柄563转出容置槽562，且操作手柄563偏离螺柱540的轴心时，操作人员能够通过操作手柄563转动旋转盘561，从而带动螺柱540旋转。

图9为本实用新型一实施例的测试装置2的局部剖视图。如图9所示，本实施例与上述测试装置1大致相同，其差异在于，框架100还包含一第一导孔140、一第二导孔340、一第一导杆150及一第二导杆160。第一导孔140开设于平台110上。第二导孔340开设于持板治具300上。第一导杆150锁固于持板治具300上，且活动地位于第一导孔140内。第二导杆160锁固于平台110上，且活动地位于第二导孔340内，螺柱540位于第一导杆150与第二导杆160之间。

如此，当升降装置500垂直上升持板治具300时，相较于图6A的第一导杆150及第二导杆160都能从上方的第一导孔140伸出，图9的第一导杆150朝上伸入第一导孔140，且第二导杆160朝下伸入第二导孔340内，从而使升持板治具300的升降更为顺畅，以及避免持板治具300被螺柱540连动旋转。

如此，通过以上各实施例的所述架构，探针卡能够被垂直升降，从而让所有探针能够顺利地垂直插入且电性连接探针孔，从而能够执行测试机台后续的测试程序，降低让探针受损的风险。

最后，上述所揭露的各实施例中，并非用以限定本实用新型，任何熟习此技艺者，在不脱离本实用新型的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰，皆可被保护于本实用新型中。因此本实用新型的保护范围当视所附的权利要求所界定者为准。

Claims (11)

1.一种电子产品测试装置，其特征在于，包含：

一测试台，包含：

一支撑架；

至少一测试槽，固定于该支撑架上，用以收纳至少一待测装置；以及

至少一第一连接器，位于该支撑架的顶部，包含多个探针孔，所述多个探针孔分别电连接该待测装置；以及

一对位机构，包含：

一框架，可移除地安装于该支撑架的该顶部；

一探针卡，具有至少一第二连接器，该第二连接器包含多个探针；

一持板治具，可升降地位于该框架上，包含一上夹板与一下夹板，该下夹板具有至少一开口，该上夹板与该下夹板将该探针卡夹合其中，且由所述多个探针从该开口所伸出；以及

一升降装置，安装于该框架上，固定地连接该持板治具，用以升降该持板治具，其中该升降装置垂直降下该持板治具，使得所述多个探针能够分别垂直插入且电连接所述多个探针孔。

2.如权利要求1所述的电子产品测试装置，其特征在于，该上夹板具有多个缺口，所述多个缺口分别位于该上夹板的多个侧缘；以及

该持板治具还包含多个快拆式锁扣件，所述多个快拆式锁扣件分别枢接于该下夹板的多个侧缘，

其中当所述多个快拆式锁扣件分别从该下夹板转入所述多个缺口，且分别对该持板治具进行锁扣时，所述多个快拆式锁扣件共同使该下夹板与该上夹板彼此紧密闭合。

3.如权利要求1所述的电子产品测试装置，其特征在于，该测试台还包含多个限位部，所述多个限位部至少相对地位于该支撑架上；以及

该对位机构还包含多个定位模块，所述多个定位模块至少相对地位于该框架上，所述多个定位模块中每一者包含一延伸单元与一卡扣单元，该延伸单元的一端部固接于该框架，该卡扣单元位于该延伸单元的另一端部，用以勾扣至所述多个限位部其中之一。

4.如权利要求3所述的电子产品测试装置，其特征在于，所述多个限位部中每一者包含：

一外接件，固定于该支撑架的一外侧；以及

一滚轮，可枢转地设于该外接件相对该支撑架的一面；以及

该延伸单元包含：

一横向支臂，该横向支臂的一端固定于该框架的外侧；以及

一纵向支臂，枢接至该横向支臂的另端，且伸向该支撑架，其中该卡扣单元包含一开孔，该开孔形成于该纵向支臂上，且用以容纳该滚轮。

5.如权利要求4所述的电子产品测试装置，其特征在于，该纵向支臂包含：

一第一片体，与该横向支臂彼此正交；

一第二片体，其中该开孔位于该第二片体上；以及

一铰链单元，枢接该第一片体与该第二片体。

6.如权利要求5所述的电子产品测试装置，其特征在于，该外接件还具有一定位凸部，该定位凸部与该开孔处于同一高度水平；以及

该延伸单元还包含一定位环，该定位环可移动地位于该第二片体上，且围绕该第二片体，

其中当该定位环沿着该第二片体而套接至该定位凸部时，该定位环更于该第二片体上闭合该开孔，使得该纵向支臂被限位于该支撑架上。

7.如权利要求4所述的电子产品测试装置，其特征在于，该延伸单元还包含一快拆扣件，该快拆扣件穿过该横向支臂而枢接至该纵向支臂的一端面，

其中当该快拆扣件对该延伸单元进行锁扣而拉起该纵向支臂时，该开孔的内壁面同步顶靠该滚轮。

8.如权利要求1所述的电子产品测试装置，其特征在于，该支撑架还包含多个引导槽，所述多个引导槽形成于该支撑架的该顶部；以及

该框架包含：

一平台；

多个支脚，间隔分布于该平台的底面，且共同伸向该支撑架的该顶部，使得该平台与该支撑架之间定义出一升降空间，其中所述多个支脚分别穿过该持板治具，使得该持板治具能够于该升降空间内往返移动；以及

多个引导销，自该下夹板背对该上夹板的一面朝外伸出，用以可移除地伸入所述多个引导槽内。

9.如权利要求8所述的电子产品测试装置，其特征在于，该升降装置包含：

一连接盖，固定地覆盖于该上夹板上；

一轴承单元，位于该连接盖内；

一管体，垂直地穿过该平台，具有一内螺纹部；

一螺柱，穿过该管体且伸入该连接盖内，具有一螺合该内螺纹部的外螺纹部，其中该螺柱的一端在该连接盖内可枢转地伸入该轴承单元；以及

一固定部，将该轴承单元固定于该连接盖及该螺柱上，

其中当该螺柱于该管体内转动时，该螺柱通过该连接盖连动该上夹板升降。

10.如权利要求9所述的电子产品测试装置，其特征在于，该升降装置包含一旋转操作部，该旋转操作部还包含：

一旋转盘，固接至该螺柱的另端，与该螺柱共有一轴心，且该旋转盘相对该持板治具的一面具有一容置槽；以及

一操作手柄，该操作手柄的一端枢接于该容置槽内，用以转进及转出该容置槽，

其中当该操作手柄转出该容置槽且偏离该螺柱的该轴心时，该操作手柄能够带动该旋转盘旋转。

11.如权利要求9所述的电子产品测试装置，其特征在于，该框架还包含：

一第一导孔，开设于该平台上；

一第一导杆，锁固于该持板治具上，活动地位于该第一导孔内；

一第二导孔，开设于该持板治具上；以及

一第二导杆，锁固于该平台上，活动地位于该第二导孔内，其中该螺柱位于该第一导杆与该第二导杆之间。