CN219607912U - 光学零件矢高测量装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及光学零件测量技术领域，提供光学零件矢高测量装置，包括：支撑座；卡盘，卡盘上设置有用于夹持光学零件的多个活动卡爪，多个活动卡爪能够沿卡盘径向同步移动；千分表，千分表用于测量光学零件的矢高；中心找准构件，中心找准构件一端与卡盘的中心孔连接，另一端与支撑座连接；中心找准构件上设置有贯通孔，贯通孔与活动卡爪的夹持中心同轴；千分表设置在贯通孔中，千分表的测量端沿贯通孔方向穿出卡盘的中心孔。本实用新型的光学零件矢高测量装置能够实现光学零件矢高的快速测量，不用频繁更换不同内径测量环，提高了检测效率，降低了检测成本。

Description

光学零件矢高测量装置

技术领域

本实用新型涉及光学零件测量技术领域，尤其涉及光学零件矢高测量装置。

背景技术

在光学零件加工后的测量环节，对于凹面类光学零件需要测量矢高。测量时，不同直径的光学零件需要更换不同内径测量环，导致测量成本高。在需要紧急测量时如果没有合适的测量环需要加急制作匹配的测量环，影响测量效率和生产进程。

实用新型内容

本实用新型提供光学零件矢高测量装置，用以解决不同直径光学零件矢高测量时需更换不同内径测量环而导致测量效率低、测量成本高的问题。

本实用新型提供的光学零件矢高测量装置，包括：

支撑座；

卡盘，所述卡盘上设置有用于夹持光学零件的多个活动卡爪，多个所述活动卡爪沿所述卡盘径向同步移动；

千分表，所述千分表用于测量光学零件的矢高；

中心找准构件，所述中心找准构件一端与所述卡盘的中心孔连接，另一端与所述支撑座连接；所述中心找准构件上设置有贯通孔，所述贯通孔与所述活动卡爪的夹持中心同轴；

所述千分表设置在所述贯通孔中，所述千分表的测量端穿出所述卡盘的中心孔。

根据本实用新型提供的光学零件矢高测量装置，所述中心找准构件包括定位件和紧固件，所述定位件上设置有第一通孔、第一通孔调节口和第一定位台阶面，所述第一通孔调节口自所述第一通孔贯通至所述定位件的外壁面上；所述第一通孔形成所述中心找准构件上的所述贯通孔；

所述定位件一端与所述卡盘的中心孔连接，另一端连接在所述支撑座上；所述卡盘的中心孔孔壁上设置有与所述第一定位台阶面匹配的第二定位台阶面；

所述紧固件上设置有第二通孔，所述紧固件通过所述第二通孔连接在所述定位件设置有所述第一通孔调节口的位置处。

根据本实用新型提供的光学零件矢高测量装置，所述定位件与所述卡盘的中心孔通过螺纹连接，所述定位件与所述紧固件的第二通孔通过螺纹连接。

根据本实用新型提供的光学零件矢高测量装置，所述定位件为中空圆柱体结构，所述中空圆柱体两端均设置有外螺纹，其中一端的外螺纹处设置有所述第一通孔调节口；所述中空圆柱体中部设置所述第一定位台阶面。

根据本实用新型提供的光学零件矢高测量装置，所述支撑座包括立柱和悬臂，所述悬臂一端连接在所述立柱上，另一端与所述中心找准构件连接。

根据本实用新型提供的光学零件矢高测量装置，所述悬臂能够沿所述立柱高度方向调节。

根据本实用新型提供的光学零件矢高测量装置，所述悬臂端部设置有中心找准构件连接孔、连接孔调节口和螺栓连接孔，所述连接孔调节口自中心找准构件连接孔处贯通至悬臂侧面边缘，所述螺栓连接孔沿垂直于所述连接孔调节口所在面的方向贯通；所述中心找准构件设置在所述中心找准构件连接孔中，所述螺栓连接孔中设置有螺栓。

根据本实用新型提供的光学零件矢高测量装置，所述卡盘包括活动卡爪、转盘和中心轴，所述转盘套设在所述中心轴上，且所述转盘能够绕所述中心轴旋转，所述中心轴上设置中心孔，所述转盘上设置有螺旋槽，所述活动卡爪底部与所述螺旋槽齿合。

根据本实用新型提供的光学零件矢高测量装置，所述活动卡爪上设置有夹持件，所述夹持件的位置沿所述卡盘径向可调。

根据本实用新型提供的光学零件矢高测量装置，所述夹持件为圆柱体结构，所述夹持件上沿其圆周方向设置有台阶面。

本实用新型的上述技术方案，技术效果至少表现在：

本实用新型的光学零件矢高测量装置能够实现光学零件矢高的快速测量，不用频繁更换不同内径测量环，提高了检测效率，降低了检测成本。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型实施例记载的光学零件矢高测量装置整体结构轴测图；

图2是本实用新型实施例记载的光学零件矢高测量装置整体结构正面剖视图；

图3是本实用新型实施例记载的光学零件矢高测量装置局部放大图；

图4是本实用新型实施例记载的光学零件矢高测量装置局部放大的剖面示意图；

图5是本实用新型实施例记载的光学零件矢高测量装置中心找准构件结构示意图。

附图标记：

1：支撑座；2：卡盘；3：千分表；4：中心找准构件；5：螺栓；6-光学零件；

11：立柱；12：悬臂；13：底座；

121：立柱连接孔；122：立柱连接孔调节口；123：中心找准构件连接孔；124：连接孔调节口；

21：活动卡爪；22：转盘；23：中心轴；24：中心孔；25：齿；26：限位盘；27：夹持件；28：螺纹孔；

41：定位件；42：紧固件；

411：第一通孔；412：第一通孔调节口；413：第一定位台阶面；414：凸缘。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型中的附图，对本实用新型中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

需要说明的是，本实用新型中的术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。术语“中心”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接、可拆卸连接或一体连接，也可以是过中间媒介间接相连。

下面结合图1至图5对本实用新型的升降装置进行详细描述。

在本实用新型的一种实施例公开了一种光学零件矢高测量装置，包括支撑座1、卡盘2、千分表3、中心找准构件4。

支撑座1用于支撑卡盘2、千分表3、中心找准构件4。

卡盘2上设置有多个活动卡爪21，卡盘2中心设置有中心孔24，多个活动卡爪21能够沿卡盘2径向同步移动，通过活动卡爪21来用于夹持光学零件。本实施例采用卡盘结构来夹持光学零件，能够自动定心，使得活动卡爪的夹持中心与千分表测量头中心同轴心；而且活动卡爪21夹持范围大，用于夹持不同直径的光学零件，解决不同直径光学零件矢高测量时需更换不同内径测量环的问题。

千分表3用于测量光学零件的矢高，千分表3上设置有刻度盘和测量头，其原理是将直线位移转换成指针的旋转运动，然后在刻度盘上进行读数。

中心找准构件4用于限制千分表3的测量端轴线与活动卡爪21的夹持中心同轴，中心找准构件4一端与卡盘2的中心孔24连接，另一端与支撑座1连接；中心找准构件4上设置有贯通孔，贯通孔与活动卡爪21的夹持中心同轴；千分表设置在中心找准构件4的贯通孔中，千分表3的测量端沿贯通孔方向穿出卡盘2的中心孔，保证千分表3的测量端位于活动卡爪21夹持中心，使得千分表3的测量端位于光学零件的中心。

本实施例的光学零件矢高测量装置能够实现光学零件矢高的快速测量，不用频繁更换不同内径测量环，提高了检测效率，降低了检测成本。

具体的，本实施例的支撑座1包括立柱11和悬臂12，悬臂12一端连接在立柱11上，另一端与中心找准构件4连接。

为了调整悬臂12的高度，采用可拆装式结构连接悬臂12和立柱11。具体的：悬臂12上设置有立柱连接孔121、立柱连接孔调节口122和螺栓连接孔，立柱连接孔121的直径与立柱11直径匹配，立柱连接孔调节口122自立柱连接孔121贯通至悬臂12侧面边缘，螺栓连接孔沿垂直于立柱连接孔调节口122所在面的方向贯通。立柱连接孔调节口122提升了悬臂12与立柱11的连接稳固性，避免悬臂12在立柱11上移动，悬臂12通过立柱连接孔121安装在立柱11上后通过螺栓5拧紧即可将悬臂12稳固的固定在立柱11上。

为了实现中心找准构件4与悬臂12的可拆卸式连接，在悬臂12端部设置有中心找准构件连接孔123、连接孔调节口124和螺栓连接孔，连接孔调节口124自中心找准构件连接孔123处贯通至悬臂12侧面边缘，螺栓连接孔沿垂直于连接孔调节口所在面的方向贯通。中心找准构件4设置在中心找准构件连接孔中，螺栓连接孔中设置有螺栓5。连接孔调节口124提升了中心找准构件4与悬臂12的连接稳固性，避免中心找准构件4的移动。

本实施例的卡盘2可采用目前市面上常见的卡盘结构，具体包括活动卡爪21、转盘22和中心轴23，转盘22套设在中心轴23上，中心轴23上设置中心孔24，转盘22上表面设置有围绕中心孔的螺旋槽，活动卡爪21底部与螺旋槽齿合，通过波动转盘22旋转，实现活动卡爪21沿径向移动。

本实施例的活动卡爪21可以设置两个或三个，从夹持稳定性来看，一般设置有三个。

作为本实用新型的进一步实施例，在转盘22外圆周面上设置有齿25，方便人转动转盘22。

作为本实用新型的进一步实施例，在两个活动卡爪21之间设置有限位盘26，限位盘26与活动卡爪21的侧部接触面通过滑块滑槽结构嵌套在一起，限位盘26能够支撑活动卡爪21，在活动卡爪21径向移动过程中，限位盘26不动，限位盘26能够保持活动卡爪21移动过程中的稳固性。

本实施例的中心找准构件4包括定位件41和紧固件42，定位件41上设置有第一通孔411、第一通孔调节口412和第一定位台阶面413，第一通孔调节口412自第一通孔411贯通至定位件41外壁面上；第一通孔411的直径尽量与千分表3柱体直径匹配，第一通孔411形成前文所述的中心找准构件4上的贯通孔。卡盘2的中心孔24孔壁上设置有与第一定位台阶面413匹配的第二定位台阶面，定位件41与卡盘2的中心孔24连接时，通过第一定位台阶面413和第二定位台阶面来定位贯通孔轴线位置，保证贯通孔与活动卡爪21的夹持中心同轴。紧固件42上设置有第二通孔，紧固件42通过第二通孔连接在定位件41设置有第一通孔调节口412的位置处。第二通孔的直径略小于第一通孔调节口412所在位置处的定位件外径，当紧固件42套设在定位件41上时，可将千分表3稳定的夹持在定位件41上。

定位件41另一端连接在支撑座1上。本实施例中，定位件41另一端连接在悬臂12的中心找准构件连接孔123上，并通过螺栓5固定。

本实施例的定位件41为中空圆柱体结构，中空圆柱体两端均设置有外螺纹，使得定位件41与卡盘2的中心孔24通过螺纹连接，与紧固件42的第二通孔通过螺纹连接，连接方便。第一通孔调节口412设置在其中一端的外螺纹处，第一定位台阶面413设置在中空圆柱体中部位置。

另外，在中空圆柱体中部位置还设置凸缘414，凸缘414外径大于悬臂12上的中心找准构件连接孔123直径，使得凸缘414与中心找准构件连接孔123的边缘形成定位面。凸缘414位于第一定位台阶面413的下方位置。

定位件41可采用内部中空的螺杆，在螺杆大端加工第一定位台阶面413，第一通孔调节口412设置在螺杆杆体末端，紧固件42为螺母。

作为本实用新型的进一步实施例，立柱11的底部还可设置底座13，立柱11连接在底座13的边缘处，且底座13与悬臂12位于同一侧，增加装置整体底部稳定。

作为本实用新型的进一步实施例，活动卡爪21上设置有夹持件27，夹持件27的位置沿卡盘2径向可调。除了通过活动卡爪21的同进同出实现对不同尺寸光学零件6的夹持之外，还可以通过调整夹持件27在卡盘2径向的不同位置，实现不同尺寸光学零件6的夹持。另外，为了减少装置的制造成本，卡盘2可以是目前市面上常见的卡盘结构，如三爪卡盘，但由于市面上存在的卡盘的活动卡爪21是金属材质，夹持光学零件6时容易使光学零件6崩边，因此通过额外设置一个其他材质的夹持件27来夹持光学零件6，本实施例的夹持件可以是硬质塑料，如PVC材质。

为了实现夹持件27沿卡盘2径向可调，活动卡爪21上沿其长度上设置有多个螺纹孔28，夹持件27通过螺纹连接在螺纹孔28中，通过调整夹持件27在不同螺纹孔28中的位置调节活动卡爪21的夹持范围。

本实施例的夹持件27为圆柱体结构，圆柱体上沿其圆周方向设置有一圈台阶面，该台阶面用于对光学零件6定位。圆柱体结构的夹持件能够保证夹持件侧面距离卡盘中心距离一致，保证零件中心处于中心找准构件贯通孔的中心。

以上述实施例为例，对本实用新型提供的光学零件矢高测量装置的测量过程进行详细说明。

在测量前首先对装置进行校正归零，具体过程为：先夹持一个平面构件，平面构件相对千分表3测量头的一面为平面，调整千分表3测量头与该平面接触，通过螺栓5固定千分表3在悬臂12上的位置，完成千分表3的校正归零，拆除平面构件；此处的平面构件可为一平板；

开始矢高测量时，将光学零件6安装在卡盘2上，旋转转盘22使活动卡爪21夹持住光学零件6，调整千分表3测量头与光学零件6的凹面底部接触，获得光学零件6矢高数据。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.光学零件矢高测量装置，其特征在于，包括：

支撑座；

卡盘，所述卡盘上设置有用于夹持光学零件的多个活动卡爪，多个所述活动卡爪沿所述卡盘径向同步移动；

千分表，所述千分表用于测量光学零件的矢高；

中心找准构件，所述中心找准构件一端与所述卡盘的中心孔连接，另一端与所述支撑座连接；所述中心找准构件上设置有贯通孔，所述贯通孔与所述活动卡爪的夹持中心同轴；

所述千分表设置在所述贯通孔中，所述千分表的测量端穿出所述卡盘的中心孔。

2.根据权利要求1所述的光学零件矢高测量装置，其特征在于，所述中心找准构件包括定位件和紧固件，所述定位件上设置有第一通孔、第一通孔调节口和第一定位台阶面，所述第一通孔调节口自所述第一通孔贯通至所述定位件的外壁面上；所述第一通孔形成所述中心找准构件上的所述贯通孔；

所述定位件一端与所述卡盘的中心孔连接，另一端连接在所述支撑座上；所述卡盘的中心孔孔壁上设置有与所述第一定位台阶面匹配的第二定位台阶面；

所述紧固件上设置有第二通孔，所述紧固件通过所述第二通孔连接在所述定位件设置有所述第一通孔调节口的位置处。

3.根据权利要求2所述的光学零件矢高测量装置，其特征在于，所述定位件与所述卡盘的中心孔通过螺纹连接，所述定位件与所述紧固件的第二通孔通过螺纹连接。

4.根据权利要求2或3所述的光学零件矢高测量装置，其特征在于，所述定位件为中空圆柱体结构，所述中空圆柱体两端均设置有外螺纹，其中一端的外螺纹处设置有所述第一通孔调节口；所述中空圆柱体中部设置所述第一定位台阶面。

5.根据权利要求1所述的光学零件矢高测量装置，其特征在于，所述支撑座包括立柱和悬臂，所述悬臂一端连接在所述立柱上，另一端与所述中心找准构件连接。

6.根据权利要求5所述的光学零件矢高测量装置，其特征在于，所述悬臂能够沿所述立柱高度方向调节。

7.根据权利要求5所述的光学零件矢高测量装置，其特征在于，所述悬臂端部设置有中心找准构件连接孔、连接孔调节口和螺栓连接孔，所述连接孔调节口自中心找准构件连接孔处贯通至悬臂侧面边缘，所述螺栓连接孔沿垂直于所述连接孔调节口所在面的方向贯通；所述中心找准构件设置在所述中心找准构件连接孔中，所述螺栓连接孔中设置有螺栓。

8.根据权利要求1所述的光学零件矢高测量装置，其特征在于，所述卡盘包括活动卡爪、转盘和中心轴，所述转盘套设在所述中心轴上，且所述转盘能够绕所述中心轴旋转，所述中心轴上设置中心孔，所述转盘上设置有螺旋槽，所述活动卡爪底部与所述螺旋槽齿合。

9.根据权利要求1或8所述的光学零件矢高测量装置，其特征在于，所述活动卡爪上设置有夹持件，所述夹持件的位置沿所述卡盘径向可调。

10.根据权利要求9所述的光学零件矢高测量装置，其特征在于，所述夹持件为圆柱体结构，所述夹持件上沿其圆周方向设置有台阶面。