CN219590706U - 一种数控单元测试工作台 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种数控单元测试工作台,涉及数控单元测试设备技术领域,包括架体单元、工台单元、封顶架,以及测试单元,还包括送料单元及升降单元;送料单元包括安装在工台单元内部的滑撑测试板,以及嵌设在工台单元内壁面的用于数控单元测试送料的电动伸缩杆,升降单元包括安装在架体单元内壁内的步进电机,以及活动设置在架体单元内壁之间的用于支撑工台单元升降的支撑板。本实用新型为一种数控单元测试工作台,保证产品数控单元能够稳定送出料,提高了送出料的快速稳定性,保证了测试的精度和效率,具备收纳的功能,提高了测试台的防护性能,避免了测试台落灰或碰撞损坏,提高了测试台的使用寿命。
Description
技术领域
本实用新型涉及数控单元测试设备技术领域,特别涉及一种数控单元测试工作台。
背景技术
数控单元被称作NCU(Numerical Control unit)单元,是SINUMERIK的中央处理器,它用于处理所有CNC、PLC通讯任务。数控单元主要包括相应的数控软件和PLC控制软件,并且带有MPI或Profibus接口,RS232接口,手轮及测量接口,PCMCIA卡插槽等,从而在数控单元出厂前需要对其进行参数测试,所以需要用到测试工作台。
公开(公告)号:CN216901431U,公开了一种数控单元测试台架,数控单元测试支撑箱体,所述数控单元测试支撑箱体上侧设有测试进出料装置,所述测试进出料装置一侧的数控单元测试支撑箱体上设有接口测试装置,所述测试进出料装置上侧设有光学测试装置,所述光学测试装置安装在摄像头安装座上,所述摄像头安装座通过固定螺栓安装在测试支撑架上,所述测试支撑架下端通过固定螺栓安装在数控单元测试支撑箱体上,所述数控单元测试支撑箱体下端通过固定螺栓安装在设备支撑架上,可以快速实现数控单元的多项参数测试,而且能够实现快速的进出料,保障测试精度和测试效率。
上述方案虽然能够对数控单元进行多项数据测试,但是在数控单元测试的进出料过程中,由于缺乏稳定和限位结构,导致进出料时稳定性不高,影响数控单元测试数据的准确性,以及测试台不具备收纳效果,在不使用时不能进行收纳,从而导致测试机构落灰或碰撞损坏,因此,有必要提供一种数控单元测试工作台。
实用新型内容
本实用新型的主要目的在于提供一种数控单元测试工作台,以有效解决背景技术中进出料时由于缺乏稳定和限位结构,导致进出料时稳定性不高,影响数控单元测试数据的准确性,以及测试台不具备收纳效果,在不使用时不能进行收纳,从而导致测试机构落灰或碰撞损坏的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:
一种数控单元测试工作台,包括架体单元、安装在架体单元内部的工台单元、固定连接在工台单元顶部的封顶架,以及安装在所述工台单元与封顶架之间的测试单元,还包括设置在工台单元顶部的送料单元及设置在架体单元内部的升降单元;
所述送料单元包括安装在工台单元内部的滑撑测试板,以及嵌设在所述工台单元内壁面的用于数控单元测试送料的电动伸缩杆;
所述升降单元包括安装在架体单元内壁内的步进电机,以及活动设置在所述架体单元内壁之间的用于支撑工台单元升降的支撑板。
优选地,所述架体单元包括收纳机架、开设在收纳机架相对内壁面的滑槽a,以及开设在所述收纳机架另相对内壁面的滑槽b。
优选地,所述工台单元包括安装在收纳机架内部的测试台、开设在测试台顶部的矩形凹槽,以及设置在所述测试台前端倾斜面的控制按钮。
优选地,所述测试单元包括安装在封顶架顶部的光学测试机构、安装在送料单元后端的驱动机构、设置在驱动机构前端面的测试升降板,以及安装在所述测试升降板底部的若干接口测试探头。
优选地,所述送料单元还包括开设在滑撑测试板顶部的测试槽、固定连接在滑撑测试板底部的辅滑块、开设在滑撑测试板两端的两个滑凹槽、固定连接在矩形凹槽相对内壁面的滑轨、固定连接在矩形凹槽另相对内壁面的两个滑固杆,以及开设在所述辅滑块前端底部的两个滑通孔。
优选地,所述升降单元还包括固定连接在步进电机驱动端的双向丝杆、螺纹连接在双向丝杆外表面的两个移动块、固定连接在移动块顶部的横旋转座a、活动设置在滑槽b内部的滑动块、固定连接在滑动块一侧下方的竖旋转座a、固定连接在滑动块一侧上方的竖旋转座b,以及固定连接在所述支撑板底部的两个横旋转座b。
优选地,所述光学测试机构与滑撑测试板处于同一竖直面上,若干个所述接口测试探头位于测试槽的正上方。
优选地,所述封顶架俯视截面尺寸与收纳机架的内部尺寸相适配。
优选地,所述滑撑测试板两端的两个滑凹槽的高度与滑轨的上下端厚度相适配,所述辅滑块套设在滑固杆的外表面,所述滑通孔的内径尺寸与滑固杆的外径尺寸相适配,所述驱动机构固定连接在滑撑测试板的后端面,所述电动伸缩杆的驱动端与辅滑块的一侧固定连接。
优选地,所述升降单元还包括转动连接在横旋转座a与竖旋转座a之间的连撑杆a,以及转动连接在所述竖旋转座b与横旋转座b之间的连撑杆b,所述支撑板固定连接在测试台的底部,所述支撑板的两端活动设置在滑槽a的内部。
与现有技术相比,本实用新型具有如下有益效果:
一、本实用新型中,通过控制按钮启动电动伸缩杆推动辅滑块在滑固杆的顶部移动,带动滑撑测试板在两个滑轨之间向测试台前端移动,然后将待测试的产品数控单元放置在测试槽的内部,再启动电动伸缩杆收缩,使辅滑块带动滑撑测试板在两个滑固杆和两个滑轨的作用下向后侧移动,达到位置后,通过驱动机构带动测试升降板下降,通过若干个接口测试探头进行接口的测试,光学测试机构位于产品数控单元上方,同时进行光学测试,通过滑凹槽与滑轨的配合,使滑撑测试板能够稳定移动,同时两个滑固杆和辅滑块的配合,具备对滑撑测试板的限位作用,进一步提高滑撑测试板的稳定性,使滑撑测试板能够带动待测试的产品数控单元能够稳定送出料,提高了送出料的快速稳定性,保证了测试的精度和效率。
二、本实用新型中,通过控制按钮启动步进电机带动双向丝杆转动,双向丝杆的转动带动两个移动块在其外表面移动且相互靠拢,两个移动块的相互靠拢通过横旋转座a、连撑杆a和竖旋转座a的配合作用下,拉动滑动块在滑槽b的内部滑动下降,滑动块的滑动下降通过设置的竖旋转座b、连撑杆b和横旋转座b的配合作用下,带动支撑板在滑槽a的内部滑动下降,从而带动测试台下降进入收纳机架的内部,以此带动封顶架跟随下降,直至封顶架的顶部与收纳机架的顶部齐平,从而使测试台能够在不使用时进行收纳,且封顶架能够形成完全封闭的效果,使其具备避免灰尘落入,从而提高了测试台的防护性能,避免了测试台落灰或碰撞损坏,提高了测试台的使用寿命。
附图说明
图1为本实用新型的立体结构示意图;
图2为本实用新型的正视内剖结构示意图;
图3为本实用新型的局部侧视内剖结构示意图;
图4为本实用新型的测试台俯视内剖结构示意图;
图5为本实用新型的送料单元立体结构示意图;
图6为本实用新型图3中A处放大结构示意图。
图中:
100、架体单元;101、收纳机架;102、滑槽a;103、滑槽b;
200、工台单元;201、测试台;202、矩形凹槽;203、控制按钮;
300、封顶架;
400、测试单元;401、光学测试机构;402、驱动机构;403、测试升降板;404、接口测试探头;
500、送料单元;501、滑撑测试板;502、测试槽;503、辅滑块;504、滑凹槽;505、滑轨;506、电动伸缩杆;507、滑固杆;508、滑通孔;
600、升降单元;601、步进电机;602、支撑板;603、双向丝杆;604、移动块;605、横旋转座a;606、连撑杆a;607、滑动块;608、竖旋转座a;609、竖旋转座b;610、连撑杆b;611、横旋转座b 。
具体实施方式
为使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解,下面结合具体实施方式,进一步阐述本实用新型。
实施例1:如图1、图2、图3、图4、图5以及图6所示,一种数控单元测试工作台,包括架体单元100、安装在架体单元100内部的工台单元200、固定连接在工台单元200顶部的封顶架300,以及安装在工台单元200与封顶架300之间的测试单元400,还包括设置在工台单元200顶部的送料单元500及设置在架体单元100内部的升降单元600。
如图1、图2、图3及图6所示,架体单元100包括收纳机架101、开设在收纳机架101相对内壁面的滑槽a102,以及开设在收纳机架101另相对内壁面的滑槽b103,收纳机架101用于测试台201的收纳,能够使测试台201在不使用时进行收纳,从而提高了测试设备的保护效果。
如图1、图2及图4所示,工台单元200包括安装在收纳机架101内部的测试台201、开设在测试台201顶部的矩形凹槽202,以及设置在测试台201前端倾斜面的控制按钮203,测试台201上设置的控制按钮203用于控制测试单元400对数控单元进行测试操作,同时具备对电动伸缩杆506和步进电机601的启闭进行控制。
如图2及图4所示,测试单元400包括安装在封顶架300顶部的光学测试机构401、安装在送料单元500后端的驱动机构402、设置在驱动机构402前端面的测试升降板403,以及安装在测试升降板403底部的若干接口测试探头404,光学测试机构401与滑撑测试板501处于同一竖直面上,若干个接口测试探头404位于测试槽502的正上方,驱动机构402驱动测试升降板403的升降,带动接口测试探头404对数控单元进行接口测试,且接口测试探头404优选采用带有数字接口的多参数探头,可以共用一个传感器同时测量多个参数,接口测试探头404根据数控单元上的各处接口进行探测,接口测试探头404与数控单元上的多处接口依次进行人工对接,探测出接口处的各项数据,从而使接口测试探头404对数控单元上的多处接口进行测试,从而能够测试出接口的稳定和正确性,以及光学测试机构401能够同时进行光学测试,光学测试机构401优选采用型号为OPS-1000-100的光学测试仪,具备高清全自动变倍镜头,实现自动对焦、校正和测量的功能,从而对数控单元快速成像,数控单元光学测试为了在运行时具有良好的可操作性和友好的界面效果, 最大程度的满足用户的使用要求,从而使数控单元具备多项数据同时测试,保障测试精度。
如图1、图2及图4所示,封顶架300俯视截面尺寸与收纳机架101的内部尺寸相适配,封顶架300的设置能够在不测试时进行封闭收纳机架101的顶部,起到防尘防碰撞损坏的效果,从而提高测试设备的使用寿命。
如图1、图4及图5所示,送料单元500包括安装在工台单元200内部的滑撑测试板501,以及嵌设在工台单元200内壁面的用于数控单元测试送料的电动伸缩杆506;送料单元500还包括开设在滑撑测试板501顶部的测试槽502、固定连接在滑撑测试板501底部的辅滑块503、开设在滑撑测试板501两端的两个滑凹槽504、固定连接在矩形凹槽202相对内壁面的滑轨505、固定连接在矩形凹槽202另相对内壁面的两个滑固杆507,以及开设在辅滑块503前端底部的两个滑通孔508,滑撑测试板501两端的两个滑凹槽504的高度与滑轨505的上下端厚度相适配,辅滑块503套设在滑固杆507的外表面,滑通孔508的内径尺寸与滑固杆507的外径尺寸相适配,驱动机构402固定连接在滑撑测试板501的后端面,电动伸缩杆506的驱动端与辅滑块503的一侧固定连接。
工作原理:首先通过控制按钮203启动电动伸缩杆506,电动伸缩杆506推动辅滑块503在滑固杆507的顶部移动,带动滑撑测试板501在两个滑轨505之间向测试台201前端移动,然后将待测试的产品数控单元放置在测试槽502的内部,再启动电动伸缩杆506收缩,使辅滑块503带动滑撑测试板501在两个滑固杆507和两个滑轨505的作用下向后侧移动,达到位置后,通过驱动机构402带动测试升降板403下降,通过若干个接口测试探头404进行接口的测试,光学测试机构401位于产品数控单元上方,同时进行光学测试,通过滑凹槽504与滑轨505的配合,使滑撑测试板501能够稳定移动,同时两个滑固杆507和辅滑块503的配合,具备对滑撑测试板501的限位作用,进一步提高滑撑测试板501的稳定性,使滑撑测试板501能够带动待测试的产品数控单元能够稳定送出料,提高了送出料的快速稳定性,保证了测试的精度和效率。
实施例2:如图1、图2、图3、图4以及图5所示,一种数控单元测试工作台,包括架体单元100、安装在架体单元100内部的工台单元200、固定连接在工台单元200顶部的封顶架300,以及安装在工台单元200与封顶架300之间的测试单元400,其特征在于,还包括设置在工台单元200顶部的送料单元500及设置在架体单元100内部的升降单元600。
如图1、图2、图3及图6所示,架体单元100包括收纳机架101、开设在收纳机架101相对内壁面的滑槽a102,以及开设在收纳机架101另相对内壁面的滑槽b103,收纳机架101用于测试台201的收纳,能够使测试台201在不使用时进行收纳,从而提高了测试设备的保护效果。
如图1、图2及图4所示,工台单元200包括安装在收纳机架101内部的测试台201、开设在测试台201顶部的矩形凹槽202,以及设置在测试台201前端倾斜面的控制按钮203,测试台201上设置的控制按钮203用于控制测试单元400对数控单元进行测试操作,同时具备对电动伸缩杆506和步进电机601的启闭进行控制。
如图2及图4所示,测试单元400包括安装在封顶架300顶部的光学测试机构401、安装在送料单元500后端的驱动机构402、设置在驱动机构402前端面的测试升降板403,以及安装在测试升降板403底部的若干接口测试探头404,光学测试机构401与滑撑测试板501处于同一竖直面上,若干个接口测试探头404位于测试槽502的正上方,驱动机构402驱动测试升降板403的升降,带动接口测试探头404对数控单元进行接口测试,且接口测试探头404优选采用带有数字接口的多参数探头,可以共用一个传感器同时测量多个参数,接口测试探头404根据数控单元上的各处接口进行探测,接口测试探头404与数控单元上的多处接口依次进行人工对接,探测出接口处的各项数据,从而使接口测试探头404对数控单元上的多处接口进行测试,从而能够测试出接口的稳定和正确性,以及光学测试机构401能够同时进行光学测试,光学测试机构401优选采用型号为OPS-1000-100的光学测试仪,具备高清全自动变倍镜头,实现自动对焦、校正和测量的功能,从而对数控单元快速成像,数控单元光学测试为了在运行时具有良好的可操作性和友好的界面效果, 最大程度的满足用户的使用要求,从而使数控单元具备多项数据同时测试,保障测试精度。
如图1、图2及图4所示,封顶架300俯视截面尺寸与收纳机架101的内部尺寸相适配,封顶架300的设置能够在不测试时进行封闭收纳机架101的顶部,起到防尘防碰撞损坏的效果,从而提高测试设备的使用寿命。
如图2、图3及图6所示,升降单元600包括安装在架体单元100内壁内的步进电机601,以及活动设置在架体单元100内壁之间的用于支撑工台单元200升降的支撑板602,升降单元600还包括固定连接在步进电机601驱动端的双向丝杆603、螺纹连接在双向丝杆603外表面的两个移动块604、固定连接在移动块604顶部的横旋转座a605、活动设置在滑槽b103内部的滑动块607、固定连接在滑动块607一侧下方的竖旋转座a608、固定连接在滑动块607一侧上方的竖旋转座b609、以及固定连接在支撑板602底部的两个横旋转座b611,升降单元600还包括转动连接在横旋转座a605与竖旋转座a608之间的连撑杆a606,以及转动连接在竖旋转座b609与横旋转座b611之间的连撑杆b610,支撑板602固定连接在测试台201的底部,支撑板602的两端活动设置在滑槽a102的内部。
工作原理:当测试台201不需要测试时,通过控制按钮203启动步进电机601,步进电机601带动双向丝杆603转动,双向丝杆603的转动带动两个移动块604在其外表面移动且相互靠拢,两个移动块604的相互靠拢通过横旋转座a605、连撑杆a606和竖旋转座a608的配合作用下,拉动滑动块607在滑槽b103的内部滑动下降,滑动块607的滑动下降通过设置的竖旋转座b609、连撑杆b610和横旋转座b611的配合作用下,带动支撑板602在滑槽a102的内部滑动下降,从而带动测试台201下降进入收纳机架101的内部,以此带动封顶架300跟随下降,直至封顶架300的顶部与收纳机架101的顶部齐平,从而使测试台201能够在不使用时进行收纳,且封顶架300能够形成完全封闭的效果,使其具备避免灰尘落入,从而提高了测试台201的防护性能,避免了测试台201落灰或碰撞损坏,提高了测试台201的使用寿命。
Claims (10)
1.一种数控单元测试工作台,包括架体单元(100)、安装在架体单元(100)内部的工台单元(200)、固定连接在工台单元(200)顶部的封顶架(300),以及安装在所述工台单元(200)与封顶架(300)之间的测试单元(400),其特征在于,还包括设置在工台单元(200)顶部的送料单元(500)及设置在架体单元(100)内部的升降单元(600);
所述送料单元(500)包括安装在工台单元(200)内部的滑撑测试板(501),以及嵌设在所述工台单元(200)内壁面的用于数控单元测试送料的电动伸缩杆(506);
所述升降单元(600)包括安装在架体单元(100)内壁内的步进电机(601),以及活动设置在所述架体单元(100)内壁之间的用于支撑工台单元(200)升降的支撑板(602)。
2.根据权利要求1所述的一种数控单元测试工作台,其特征在于:所述架体单元(100)包括收纳机架(101)、开设在收纳机架(101)相对内壁面的滑槽a(102),以及开设在所述收纳机架(101)另相对内壁面的滑槽b(103)。
3.根据权利要求2所述的一种数控单元测试工作台,其特征在于:所述工台单元(200)包括安装在收纳机架(101)内部的测试台(201)、开设在测试台(201)顶部的矩形凹槽(202),以及设置在所述测试台(201)前端倾斜面的控制按钮(203)。
4.根据权利要求3所述的一种数控单元测试工作台,其特征在于:所述测试单元(400)包括安装在封顶架(300)顶部的光学测试机构(401)、安装在送料单元(500)后端的驱动机构(402)、设置在驱动机构(402)前端面的测试升降板(403),以及安装在所述测试升降板(403)底部的若干接口测试探头(404)。
5.根据权利要求4所述的一种数控单元测试工作台,其特征在于:所述送料单元(500)还包括开设在滑撑测试板(501)顶部的测试槽(502)、固定连接在滑撑测试板(501)底部的辅滑块(503)、开设在滑撑测试板(501)两端的两个滑凹槽(504)、固定连接在矩形凹槽(202)相对内壁面的滑轨(505)、固定连接在矩形凹槽(202)另相对内壁面的两个滑固杆(507),以及开设在所述辅滑块(503)前端底部的两个滑通孔(508)。
6.根据权利要求5所述的一种数控单元测试工作台,其特征在于:所述升降单元(600)还包括固定连接在步进电机(601)驱动端的双向丝杆(603)、螺纹连接在双向丝杆(603)外表面的两个移动块(604)、固定连接在移动块(604)顶部的横旋转座a(605)、活动设置在滑槽b(103)内部的滑动块(607)、固定连接在滑动块(607)一侧下方的竖旋转座a(608)、固定连接在滑动块(607)一侧上方的竖旋转座b(609),以及固定连接在所述支撑板(602)底部的两个横旋转座b(611)。
7.根据权利要求5所述的一种数控单元测试工作台,其特征在于:所述光学测试机构(401)与滑撑测试板(501)处于同一竖直面上,若干个所述接口测试探头(404)位于测试槽(502)的正上方。
8.根据权利要求2所述的一种数控单元测试工作台,其特征在于:所述封顶架(300)俯视截面尺寸与收纳机架(101)的内部尺寸相适配。
9.根据权利要求5所述的一种数控单元测试工作台,其特征在于:所述滑撑测试板(501)两端的两个滑凹槽(504)的高度与滑轨(505)的上下端厚度相适配,所述辅滑块(503)套设在滑固杆(507)的外表面,所述滑通孔(508)的内径尺寸与滑固杆(507)的外径尺寸相适配,所述驱动机构(402)固定连接在滑撑测试板(501)的后端面,所述电动伸缩杆(506)的驱动端与辅滑块(503)的一侧固定连接。
10.根据权利要求6所述的一种数控单元测试工作台,其特征在于:所述升降单元(600)还包括转动连接在横旋转座a(605)与竖旋转座a(608)之间的连撑杆a(606),以及转动连接在所述竖旋转座b(609)与横旋转座b(611)之间的连撑杆b(610),所述支撑板(602)固定连接在测试台(201)的底部,所述支撑板(602)的两端活动设置在滑槽a(102)的内部。
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Date | Code | Title | Description |
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GR01 | Patent grant | ||
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