CN219589577U - 一种测量单晶棒方棒弧长投影的辅助工具 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于单晶制造辅助设备技术领域，涉及一种测量单晶棒方棒弧长投影的辅助工具，包括主尺、游标尺以及测量组件，所述测量组件包括第一定位件和第二定位件，所述主尺通过所述第一定位件与第一平面连接，所述游标尺通过所述第二定位件与第二平面连接，所述第一平面和所述第二平面之间通过弧面连接，所述游标尺可带动所述第二定位件在所述第二平面上位移，进而测量所述弧面的投影长度。本实用新型的有益效果是，通过拇指拨轮带动游标尺和第二定位件在第二平面移动，可快速将第二定位件的侧面与弧面和第二平面的连接处对齐，进而实现弧长投影的精准测量，最大限度减少或避免因倒角处的磨削作业而导致的质量问题。

Description

一种测量单晶棒方棒弧长投影的辅助工具

技术领域

本实用新型属于单晶制造辅助设备技术领域，涉及一种测量单晶棒方棒弧长投影的辅助工具。

背景技术

随着光伏市场对太阳能电池发电效率需求的提升，电池端对硅片的尺寸要求逐步严格。单晶方棒的四个直角处应力较集中，若不除去倒角，在线切割过程中容易从直角处产生裂纹，导致晶片发生碎片，严重的甚至将影响晶片的成品率，因此在单晶方棒加工过程中，为了提高硅片强度，通常会对晶棒四条垂直的棱边进行磨削作业，将其打磨成弧面。为了保障产品质量，通常需要对弧面处的投影长度进行检测，如果其误差偏大，将会导致电池片加工中产生不良，进而影响电池质量。

目前用于检测单晶方棒弧面处弧长投影的工具一般为长短脚卡尺，如图3所示，该工具在测试时需要将长脚靠紧方棒平面，短脚的卡尺尺尖与棱对齐，因短脚尺尖测量时与棱接触面小，测试时需仔细观察，尺尖与产品棱线需重合后才可读数，在测试时会因卡尺晃动或卡尺与单晶轴线不垂直，导致测试结果差异大。因此，需要一种新的测量单晶棒方棒弧长投影的辅助工具来解决上述问题。

实用新型内容

为解决上述存在的技术问题，本实用新型提供了一种测量单晶棒方棒弧长投影的辅助工具，能够快速与单晶方棒平面稳定贴合并进行测量，解决了现有测试中对齐耗时长的问题，同时可以提高测试效率和准确度，最大程度减少了因倒角处的磨削作业而导致的品质缺陷。

本实用新型采用的技术方案是：一种测量单晶棒方棒弧长投影的辅助工具，包括主尺、游标尺以及设在所述主尺和所述游标尺上的测量组件，所述主尺与所述游标尺滑动连接，所述游标尺上设有显示屏，其特征在于：所述测量组件包括第一定位件和第二定位件，所述主尺通过所述第一定位件与第一平面连接，所述游标尺通过所述第二定位件与第二平面连接，所述第一平面和所述第二平面之间通过弧面连接，所述游标尺可带动所述第二定位件在所述第二平面上位移，进而测量所述弧面在所述第二平面上的投影长度，并显示在所述显示屏上。

进一步的，所述第一定位件与所述主尺和/或所述游标尺与所述第二定位件转动连接。

进一步的，所述第一定位件和所述主尺之间的夹角与所述第二定位件和所述游标尺之间的夹角一致。

进一步的，所述第一定位件与所述第二定位件平行设置。

进一步的，所述第一定位件与所述第一平面贴合，所述第二定位件与所述第二平面贴合。

进一步的，所述第二定位件靠近所述第一定位件的侧面与所述弧面和所述第二平面的连接处对齐。

进一步的，所述游标尺上设有用于固定所述主尺和所述游标尺相对位置的紧固螺栓。

进一步的，所述主尺上设有滑槽，所述紧固螺栓贯穿所述游标尺后插入所述滑槽内。

进一步的，所述游标尺上还设有拇指拨轮，所述拇指拨轮可沿所述滑槽位移，进而带动所述游标尺沿所述主尺的长度方向位移。

进一步的，所述拇指拨轮的数量至少为两个，其均匀分布在所述游标尺的同侧。

本实用新型设计的一种测量单晶棒方棒弧长投影的辅助工具，在单晶方棒弧面的两侧分别放置第一定位件和第二定位件，并与其所在的平面贴合，只需移动游标尺和第二定位件即可快速对齐棱边，能够快速测量同一个弧面在两个平面的投影长度，同时还可以沿弧面的长度方向移动，对多个位置进行测量，解决了现有测试中对齐耗时长的问题，由原来的点对齐改为面对齐，提高了测试效率和准确度，最大程度减少了因倒角处的磨削作业而导致的品质缺陷。此外，第一定位件与主尺、第二定位件与游标尺均转动连接，使用者可根据实际应用场景灵活调节其角度，便于现场的观察和记录。该结构设计合理、简单，易于加工且便于操作，提高了测试效率和准确率，提高了产品品质。

通过拇指拨轮带动游标尺和第二定位件在第二平面移动，可快速将第二定位件的侧面与弧面和第二平面的连接处对齐，进而实现弧长投影的精准测量，最大限度减少或避免因倒角处的磨削作业而导致的质量问题，缩短测试时间，减少人员负重，提高生产效率，降低生产成本。

附图说明

图1是本实用新型提供的实施例在使用时的结构示意图；

图2是本实用新型提供的实施例的结构示意图；

图3是现有技术的结构示意图。

图中：

1、主尺；2、游标尺；3、显示屏；4、第一定位件；5、第二定位件；6、第一平面；7、第二平面；8、弧面；9、控制按钮；10、紧固螺栓；11、拇指拨轮。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本实用新型做进一步的说明。

参照图1所示，一种测量单晶棒方棒弧长投影的辅助工具，包括主尺1、游标尺2以及设在主尺1和游标尺2上的测量组件，主尺1与游标尺2滑动连接，游标尺2上设有显示屏3，其特征在于：测量组件包括第一定位件4和第二定位件5，主尺1通过第一定位件4与第一平面6连接，游标尺2通第二定位件5与第二平面7连接，第一平面6和第二平面7之间通过弧面8连接，游标尺2可带动第二定位件5在第二平面7上位移，进而测量弧面8在第二平面7上的投影长度，并显示在显示屏3上。设置与第一平面6连接的第一定位件4，与第二平面7连接的第二定位件5，通过游标尺2带动第二定位件在第二平面7位移，并将弧面8在第二平面7上的投影长度记录下来，当然，也可以以同样的方式，改变装置的测量方向，使第一定位件4连接第二平面7，第二定位件5连接第一平面6，以测量弧面8在第一平面6上的投影长度，可快速测得弧面8分别在第一平面6和第二平面7上的投影长度，操作简单且效率高，此外，装置与方棒及其弧面8稳定贴合，测量的过程中可将装置沿弧面8的长度方向移动并在多个位置进行测量，提高了测试的准确率，解决了现有测试中对齐耗时长的问题，同时提高了测试效率和准确度。

优选的，第一定位件4与主尺1和/或游标尺2与第二定位件5转动连接。在本实施例中，第一定位件4和第二定位件5分别为横截面为长方形的滑块，第一定位件4与主尺1之间通过一组调节螺栓连接，以使得两者之间的夹角可调节，同样的，标尺2与第二定位件5之间通过另一组调节螺栓连接，以使得两者之间的夹角可调节，便于使用者根据实际应用场景灵活调节，更加直观看到检测到的数据信息。

优选的，第一定位件4和主尺1之间的夹角与第二定位件5和游标尺2之间的夹角一致。当然，上述夹角可以为零，此时装置平行放置在方棒的上方，使用者可先对齐第二定位件5的左侧与弧面8和第二平面7的连接处，再沿弧面8的长度方向移动，对多个位置进行测量，此处不做具体限定，只要能实现相同功能即可。

优选的，第一定位件4与第二定位件5平行设置。

优选的，第一定位件4与第一平面6贴合，第二定位件5与第二平面7贴合。

优选的，第二定位件5靠近第一定位件4的侧面与弧面8和第二平面7的连接处对齐。在本实施例中，弧面8和第二平面7的颜色不一样，使用者可快速将第二定位件5的侧面与连接处对齐，测试效率高且准确度更有保障。

优选的，主尺1的尺身两侧均设有刻度，便于随时进行观察。

优选的，游标尺2上设有控制按钮9，以控制显示屏3的打开和关闭。在本实施例中，使用者可通过拖动游标尺2进而带动第二定位件5位移，当第二定位件5靠近第一定位件4的侧面与弧面8和第二平面7的连接处对齐时，此时拧紧紧固螺栓10，使游标尺2和主尺1固定住，与此同时，摁压控制按钮9，以记录弧面8在第二平面7上的投影长度，当然可以通过相同的方法，测量弧面8在第一平面6上的投影长度，测试结果准确度高且缩短了测试时间，提高了测试效率。

在本实施例中，控制按钮9包括启动/关闭按钮、复位按钮、记录按钮，复位按钮可删除记录的数据并归零，记录按钮可记录当下测的数据，使用者可根据自己的使用灵活调节，在此不做具体限定。需要注意的是，控制按钮9与显示屏3的连接和控制方式属于现有技术，本技术方案不做更多阐述。

优选的，游标尺2上设有用于固定主尺1和游标尺2相对位置的紧固螺栓10。

优选的，主尺1上设有滑槽，紧固螺栓10贯穿游标尺2后插入滑槽内。在本实施例中，紧固螺栓10与滑槽转动连接，通过拧紧或者拧松可使得主尺1与游标尺2相对固定或者相对滑动。

优选的，如2所示，游标尺2上还设有拇指拨轮11，拇指拨轮11可沿滑槽位移，进而带动游标尺2沿主尺1的长度方向位移。

优选的，拇指拨轮11的数量至少为两个，其均匀分布在游标尺2的同侧。在本实施例中，游标尺2的顶部设有两个拇指拨轮11，保证了游标尺移动平稳，且其同侧设有紧固螺栓10，拇指拨轮11可沿滑槽移动，进而带动第二定位件5沿第二平面7位移。

使用时，先将第一定位件4与第一平面6贴合，第二定位件5与第二平面7贴合，拨动拇指拨轮11带动第二定位件5在第二平面7移动，使第二定位件5的左侧与弧面8和第二平面7的连接处快速对齐，然后移动装置对弧面8的多个位置进行测量，大大缩短了测试时间，拧紧紧固螺栓10将主尺与游标尺2固定，摁压控制按钮9记录数据。然后在调整至弧面的另一个方向，即可知道两侧的投影长度是否一致。

实施例一：

一种测量单晶棒方棒弧长投影的辅助工具，包括主尺、游标尺以及设在所述主尺和所述游标尺上的测量组件，所述主尺与所述游标尺滑动连接，所述游标尺上设有显示屏，其特征在于：所述测量组件包括第一定位件和第二定位件，所述主尺通过所述第一定位件与第一平面连接，所述游标尺通过所述第二定位件与第二平面连接，所述第一平面和所述第二平面之间通过弧面连接，所述游标尺可带动所述第二定位件在所述第二平面上位移，进而测量所述弧面在所述第二平面上的投影长度，并显示在所述显示屏上。

所述第一定位件与所述主尺和/或所述游标尺与所述第二定位件转动连接。

所述第一定位件和所述主尺之间的夹角与所述第二定位件和所述游标尺之间的夹角一致。

所述第一定位件与所述第二定位件平行设置。

所述第一定位件与所述第一平面贴合，所述第二定位件与所述第二平面贴合。

所述第二定位件靠近所述第一定位件的侧面与所述弧面和所述第二平面的连接处对齐。

所述游标尺上设有用于固定所述主尺和所述游标尺相对位置的紧固螺栓。

所述主尺上设有滑槽，所述紧固螺栓贯穿所述游标尺后插入所述滑槽内。

所述游标尺上还设有拇指拨轮，所述拇指拨轮可沿所述滑槽位移，进而带动所述游标尺沿所述主尺的长度方向位移。

所述拇指拨轮的数量至少为两个，其均匀分布在所述游标尺的同侧。

本实用新型设计的一种测量单晶棒方棒弧长投影的辅助工具，在单晶方棒弧面的两侧分别放置第一定位件和第二定位件，并与其所在的平面贴合，只需移动游标尺和第二定位件即可快速对齐棱边，能够快速测量同一个弧面在两个平面的投影长度，同时还可以沿弧面的长度方向移动，对多个位置进行测量，解决了现有测试中对齐耗时长的问题，由原来的点对齐改为面对齐，提高了测试效率和准确度，最大程度减少了因倒角处的磨削作业而导致的品质缺陷。此外，第一定位件与主尺、第二定位件与游标尺均转动连接，使用者可根据实际应用场景灵活调节其角度，便于现场的观察和记录。该结构设计合理、简单，易于加工且便于操作，提高了测试效率和准确率，提高了产品品质。

通过拇指拨轮带动游标尺和第二定位件在第二平面移动，可快速将第二定位件的侧面与弧面和第二平面的连接处对齐，进而实现弧长投影的精准测量，最大限度减少或避免因倒角处的磨削作业而导致的质量问题，缩短测试时间，减少人员负重，提高生产效率，降低生产成本。

以上对本实用新型的实施例进行了详细说明，但所述内容仅为本实用新型的较佳实施例，不能被认为用于限定本实用新型的实施范围。凡依本实用新型申请范围所作的均等变化与改进等，均应仍归属于本实用新型的专利涵盖范围之内。

Claims (10)

1.一种测量单晶棒方棒弧长投影的辅助工具，包括主尺、游标尺以及设在所述主尺和所述游标尺上的测量组件，所述主尺与所述游标尺滑动连接，所述游标尺上设有显示屏，其特征在于：所述测量组件包括第一定位件和第二定位件，所述主尺通过所述第一定位件与第一平面连接，所述游标尺通过所述第二定位件与第二平面连接，所述第一平面和所述第二平面之间通过弧面连接，所述游标尺可带动所述第二定位件在所述第二平面上位移，进而测量所述弧面在所述第二平面上的投影长度，并显示在所述显示屏上。

2.根据权利要求1所述的测量单晶棒方棒弧长投影的辅助工具，其特征在于：所述第一定位件与所述主尺和/或所述游标尺与所述第二定位件转动连接。

3.根据权利要求2所述的测量单晶棒方棒弧长投影的辅助工具，其特征在于：所述第一定位件和所述主尺之间的夹角与所述第二定位件和所述游标尺之间的夹角一致。

4.根据权利要求3所述的测量单晶棒方棒弧长投影的辅助工具，其特征在于：所述第一定位件与所述第二定位件平行设置。

5.根据权利要求4所述的测量单晶棒方棒弧长投影的辅助工具，其特征在于：所述第一定位件与所述第一平面贴合，所述第二定位件与所述第二平面贴合。

6.根据权利要求5所述的测量单晶棒方棒弧长投影的辅助工具，其特征在于：所述第二定位件靠近所述第一定位件的侧面与所述弧面和所述第二平面的连接处对齐。

7.根据权利要求1至6中任一所述的测量单晶棒方棒弧长投影的辅助工具，其特征在于：所述游标尺上设有用于固定所述主尺和所述游标尺相对位置的紧固螺栓。

8.根据权利要求7所述的测量单晶棒方棒弧长投影的辅助工具，其特征在于：所述主尺上设有滑槽，所述紧固螺栓贯穿所述游标尺后插入所述滑槽内。

9.根据权利要求8所述的测量单晶棒方棒弧长投影的辅助工具，其特征在于：所述游标尺上还设有拇指拨轮，所述拇指拨轮可沿所述滑槽位移，进而带动所述游标尺沿所述主尺的长度方向位移。

10.根据权利要求9所述的测量单晶棒方棒弧长投影的辅助工具，其特征在于：所述拇指拨轮的数量至少为两个，其均匀分布在所述游标尺的同侧。