CN219512273U - 一种带有探针的电子元件测试治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及测试治具技术领域，具体为一种带有探针的电子元件测试治具。包括放置电子元件的第一平台和第二平台，第一平台与第二平台对接形成凹槽结构，第一平台两侧壁设有支架，支架内部为凸型槽状，第二平台两侧壁设有T型架，T型架滑动设置于支架内部，T型架首端与支架出口端内侧壁通过弹簧连接，弹簧限制T型杆在支架内部滑动，第一平台另一侧设有升降机构，升降机构与探针板连接，探针板设置于第一平台与第二平台上方，探针板上设有探针。本实用新型提出一种带有探针的电子元件测试治具，可以让各种类型的电子元件检测工作。

Description

一种带有探针的电子元件测试治具

技术领域

本实用新型涉及测试治具技术领域，具体为一种带有探针的电子元件测试治具。

背景技术

电子元件是组成电子产品的基础，常用的电子元件有：电阻、电容、电感、电位器、变压器等等。在电子元件加工生产完之后，需要将电子元件检测完毕合格之后才能投入使用。电子元件检测工作一般是操作人员直接检测或者将电子元件放入测试治具中来检测，而通过操作人员来测试只适用于检测少数电子元件，当需要对许多个电子元件进行检测时，就通过测试治具来检测，而现有检测电子元件的测试治具大多是一种测试治具对应一种电子元件，这样在需要对多种电子元件进行检测时，需要时刻更换测试治具，因此，需要对现有测试治具结构进行改进。

实用新型内容

本技术方案所要解决的技术问题为：对各种类型的电子元件都能够进行检测。

为实现以上目的，本发明创造采用的技术方案：一种带有探针的电子元件测试治具，包括放置电子元件的第一平台和第二平台，所述第一平台与第二平台对接形成凹槽结构，所述第一平台两侧壁设有支架，所述支架内部为凸型槽状，所述第二平台两侧壁设有T型杆，所述T型杆滑动设置于支架内部，所述T型杆首端与支架出口端内侧壁通过弹簧连接，所述弹簧限制T型杆在支架内部滑动，所述第一平台另一侧设有升降机构，所述升降机构与探针板连接，所述探针板设置于第一平台与第二平台上方，所述探针板上设有探针。

本技术方案的有益效果为：分隔开的第一平台与第二平台能够自由对接，而通过支架与T型杆的配合限制它们的移动范围，通过弹簧能够让各种类型的电子元件放置于第一平台与第二平台上，且由于弹簧的弹性能够将各种类型电子元件夹紧，升降装置能够使探针与电子元件接触从而进行测试。

本技术方案改进所要解决的技术问题为：解决第一平台与第二平台初始位置时T型杆位置的问题。

为实现以上目的，本发明创造改进后采用的技术方案：所述第一平台与第二平台处于接触位置时，T型杆首端与支架出口端的另一端的内壁接触。

本技术方案改进后的有益效果为：当T型杆首端与支架接触时，弹簧处于最长的状态，通过拉动平台使不同类型的电子元件放置于平台上，压缩的弹簧会带动平台将电子元件固定。

本技术方案改进所要解决的技术问题为：解决探针下降至测试位置的问题。

为实现以上目的，本发明创造改进后采用的技术方案：所述升降机构包括伸缩杆和导轨，所述伸缩杆顶端连接有U型架，所述U型架滑动设置于导轨中，所述探针板滑动设置于U型架两侧架中。

本技术方案改进后的有益效果为：U型架能够放置探针板，且探针板能够处于任意位置，通过伸缩杆能够带动探针板升降，导轨能够限制U型架移动路径。

本技术方案改进所要解决的技术问题为：便于更换探针板以及让探针的位置与各种类型的电子元件适配。

为实现以上目的，本发明创造改进后采用的技术方案：所述U型架上的探针板能够滑动取出，所述U型架两侧架上均布有若干第一通孔，所述探针板与U型架两侧架滑动接触位置上设有与第一通孔适配的第二通孔，所述探针板通过插销与U型架固定。

本技术方案改进后的有益效果为：探针板在U型架上能够滑动且能够取出，便于探针板的更换，通过插销与第一通孔和第二通孔的配合能够将探针板固定到合适位置。

本技术方案改进所要解决的技术问题为：避免探针下降位置太多与平台相撞。

为实现以上目的，本发明创造改进后采用的技术方案：所述导轨上设有限位块，所述限位块用于对探针下降至最低位置限位。

本技术方案改进后的有益效果为：探针在下降时不能够与平台底部接触，避免探针头部损坏，通过限位块能够在探针下降到极限位置时进行限位。

本技术方案改进所要解决的技术问题为：解决单一探针的拆装问题。

为实现以上目的，本发明创造改进后采用的技术方案：所述探针顶部与探针板为螺纹连接。

本技术方案改进后的有益效果为：只有当所有探针使用寿命到期时才会对整个探针板进行更换，而平常工作时也存在某一个探针损坏的情况，让探针顶部与探针板螺纹连接能够便于单一损坏探针的更换。

附图说明

图1为本实用新型整体结构示意图；

图2为本实用新型图1侧视方向结构示意图；

图3为本实用新型中探针板结构示意图；

图4为本实用新型图2中标号A处放大结构示意图；

图5为本实用新型图2中标号B处放大结构示意图。

图中标号说明：1、第一平台；2、第二平台；3、升降机构；4、探针板；5、U型架；101、支架；102、弹簧；201、T型杆；301、伸缩杆；302、导轨；303、限位块；401、探针；501、第一通孔；502、第二通孔；503、插销。

具体实施方式

为了使本领域技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图对本发明进行详细描述，本部分的描述仅是示范性和解释性，不应对本发明的保护范围有任何的限制作用。

实施例1

一种带有探针的电子元件测试治具，包括放置电子元件的第一平台1和第二平台2，所述第一平台1与第二平台2对接形成凹槽结构，所述第一平台1两侧壁设有支架101，所述支架101内部为凸型槽状，所述第二平台2两侧壁设有T型杆201，所述T型杆201滑动设置于支架101内部，所述T型杆201首端与支架101出口端内侧壁通过弹簧102连接，所述弹簧102限制T型杆201在支架101内部滑动，所述第一平台1另一侧设有升降机构3，所述升降机构3与探针板4连接，所述探针板4设置于第一平台1与第二平台2上方，所述探针板4上设有探针401；所述第一平台1与第二平台2处于接触位置时，T型杆201首端与支架101出口端的另一端的内壁接触。

具体使用时，当需要对电子元件进行检测时，将第一平台和第二平台挤开放入电子元件，在弹簧的作用下，第一平台和第二平台向内挤压固定住电子元件，升降机构启动将探针板下移使探针与电子元件接触，对电子元件进行测试，当测试完毕之后，升降机构将探针板上移，再将电子元件取出，在弹簧的作用下，第一平台和第二平台恢复到接触状态，再将下一电子元件放入平台中，重复上述步骤。

实施例2

作为上述实施例的进一步优化方案：所述升降机构3包括伸缩杆301和导轨302，所述伸缩杆301顶端连接有U型架5，所述U型架5滑动设置于导轨302中，所述U型架5两侧架中设有滑轨，所述探针板4滑动设置于U型架5两侧架中的滑轨中；所述U型架5上的探针板4能够滑动取出，所述U型架5两侧架上均布有若干第一通孔501，所述探针板4与U型架5两侧架滑动接触位置上设有与第一通孔501适配的第二通孔502，所述探针板4通过插销503与U型架5固定。

具体使用时，在进行电子元件测试时需要对探针板进行安装，将探针板滑动安装至U型架两侧架中，将电子元件放入第一平台与第二平台中，根据电子元件的类型调节探针板的位置，将探针板上第二通孔与U型架上的第一通孔对齐，使用插销将探针板与U型架固定住，启动伸缩杆将U型架上的探针板下降至检测位置时停止，检测完毕之后上移，在需要进行另一电子元件检测时再重新调节探针板的位置从而进行后续操作。

实施例3

作为上述实施例的进一步优化方案：所述导轨302上设有限位块303，所述限位块303用于对探针401下降至最低位置限位；所述探针401顶部与探针板4为螺纹连接。

具体使用时，在伸缩杆驱动探针板下降时，限位块能够防止探针针头与第一平台和第二平台上与电子元件接触位置底部相撞，在探针过了使用寿命或需要使用不同尺寸探针板时，将探针板取出更换新的探针板，在探针板上的某一探针损坏时，将探针板取出，将损坏的探针拧出，更换新的探针上去，再对电子元件进行检测。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。 本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想。以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，由于文字表达的有限性，客观上存在无限的具体结构，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进、润饰或变化，也可以将上述技术特征以适当的方式进行组合；这些改进润饰、变化或组合，或未经改进将发明的构思和技术方案直接应用于其它场合的，均应视为本发明的保护范围。

Claims (6)

1.一种带有探针的电子元件测试治具，其特征在于：包括放置电子元件的第一平台（1）和第二平台（2），所述第一平台（1）与第二平台（2）对接形成凹槽结构，所述第一平台（1）两侧壁设有支架（101），所述支架（101）内部为凸型槽状，所述第二平台（2）两侧壁设有T型杆（201），所述T型杆（201）滑动设置于支架（101）内部，所述T型杆（201）首端与支架（101）出口端内侧壁通过弹簧（102）连接，所述弹簧（102）限制T型杆（201）在支架（101）内部滑动，所述第一平台（1）另一侧设有升降机构（3），所述升降机构（3）与探针板（4）连接，所述探针板（4）设置于第一平台（1）与第二平台（2）上方，所述探针板（4）上设有探针（401）。

2.根据权利要求1所述的一种带有探针的电子元件测试治具，其特征在于：所述第一平台（1）与第二平台（2）处于接触位置时，T型杆（201）首端与支架（101）出口端的另一端的内壁接触。

3.根据权利要求1所述的一种带有探针的电子元件测试治具，其特征在于：所述升降机构（3）包括伸缩杆（301）和导轨（302），所述伸缩杆（301）顶端连接有U型架（5），所述U型架（5）滑动设置于导轨（302）中，所述探针板（4）滑动设置于U型架（5）两侧架中。

4.根据权利要求3所述的一种带有探针的电子元件测试治具，其特征在于：所述U型架（5）上的探针板（4）能够滑动取出，所述U型架（5）两侧架上均布有若干第一通孔（501），所述探针板（4）与U型架（5）两侧架滑动接触位置上设有与第一通孔（501）适配的第二通孔（502），所述探针板（4）通过插销（503）与U型架（5）固定。

5.根据权利要求3所述的一种带有探针的电子元件测试治具，其特征在于：所述导轨（302）上设有限位块（303），所述限位块（303）用于对探针（401）下降至最低位置限位。

6.根据权利要求1所述的一种带有探针的电子元件测试治具，其特征在于：所述探针（401）顶部与探针板（4）为螺纹连接。