CN219488883U - 芯片测试吸盘 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了芯片测试吸盘，包括吸盘盒，顶部设有开口，一侧开设有出风口，所述出风口内固定连接有出风管，所述出风管内设有过滤组件；盒盖，铰接在吸盘盒顶部，底部设有和吸盘盒开口相匹配的密封圈，一侧开设有拉起盒盖的凹槽；吸盘本体，设置在吸盘盒内部，内部设置为空心状，顶部开设有若干个通孔，底部设有负压管，所述负压管设置为波纹状，且贯穿吸盘盒。本实用新型通过设置清灰组件可以将芯片上的灰尘清扫下来，避免测试过程中芯片上的灰尘对测试造成影响，设置过滤组件可以将清扫下来的灰尘进行吸出并过滤在过滤网上，提高清灰效果，并且不会造成周围环境污染，设置固定块和螺丝可以对过滤网进行定期拆卸清理。

Description

芯片测试吸盘

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体涉及芯片测试吸盘。

背景技术

芯片在封装厂封装完成后，要进行成品的最终测试。目前，常用的测试方法是在自动测试设备上进行测试。在测试过程中，通常是通过转移装置自动获取送料机构上的芯片，然后再将芯片放至测试模块中进行测试。芯片在进行测试前需要通过吸盘将芯片吸附固定后再进行测试工作。

对芯片进行测试时，诸多的测试脚接触芯片的管脚，由于测试极为精细，所以测试精度受环境影响较大，芯片上不能有灰尘。

因此，发明芯片测试吸盘来解决上述问题很有必要。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供芯片测试吸盘，通过设置清灰组件可以将芯片上的灰尘清扫下来，避免测试过程中芯片上的灰尘对测试造成影响，设置过滤组件可以将清扫下来的灰尘进行吸出并过滤在过滤网上，提高清灰效果，并且不会造成周围环境污染，设置固定块和螺丝可以对过滤网进行定期拆卸清理，以解决技术中的上述不足之处。

为了实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：芯片测试吸盘，包括吸盘盒，顶部设有开口，一侧开设有出风口，所述出风口内固定连接有出风管，所述出风管内设有过滤组件；

盒盖，铰接在吸盘盒顶部，底部设有和吸盘盒开口相匹配的密封圈，一侧开设有拉起盒盖的凹槽；

吸盘本体，设置在吸盘盒内部，内部设置为空心状，顶部开设有若干个通孔，底部设有负压管，所述负压管设置为波纹状，且贯穿吸盘盒，所述负压管底部固定连接有连接管，所述连接管远离负压管一端连接有负压机；

清灰组件，位于吸盘盒内部，用于清洁芯片表面灰尘。

作为本实用新型的优选方案，所述过滤组件包括：

丝杆，位于吸盘盒内，且两端与吸盘盒转动连接；

限位杆，位于吸盘盒内且与丝杆对称分布，两端分别与吸盘盒固定连接；

清洁杆，一端螺纹套接在丝杆上，另一端滑动套接在限位杆上，底部设有毛刷；

电机，固定连接在吸盘盒一侧，且输出轴贯穿吸盘盒与丝杆固定连接。

作为本实用新型的优选方案，所述过滤组件包括：

风机，固定连接在出风管内，用于吸取清理下来的灰尘；

过滤网，设置在风机一侧，用于过滤灰尘；

四个固定块，环形分布在出风管内且与出风管固定连接，四个所述固定块上均设有螺丝，所述过滤网和四个固定块通过螺丝可拆卸连接。

作为本实用新型的优选方案，所述吸盘本体底部一端固定连接有电动推杆，另一端固定连接有伸缩杆，所述电动推杆和伸缩杆均与吸盘盒固定连接。

作为本实用新型的优选方案，所述吸盘盒一侧固定连接有把手，所述把手高度与盒盖厚度相匹配。

作为本实用新型的优选方案，所述吸盘盒顶部开设有卡槽，所述盒盖底部固定连接有卡扣，所述卡扣和卡槽卡接。

在上述技术方案中，本实用新型提供的技术效果和优点：

1、通过设置清灰组件可以将芯片上的灰尘清扫下来，避免测试过程中芯片上的灰尘对测试造成影响，设置过滤组件可以将清扫下来的灰尘进行吸出并过滤在过滤网上，提高清灰效果，并且不会造成周围环境污染，设置固定块和螺丝可以对过滤网进行定期拆卸清理；

2、通过设置把手可以方便移动装置，把手高度和盒盖厚度相匹配可以在打开盒盖时利用把手进行定位，使得盒盖保持水平状态，可以放置一些测试用到的配件，设置电动推杆可以带动吸盘本体向上移动，可以将除尘后的芯片移出吸盘盒，方便对芯片进行操作。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型的整体结构第一视角立体图；

图2为本实用新型的整体结构第二视角立体图；

图3为本实用新型的负压管、连接管、伸缩杆和电动推杆结构示意图；

图4为本实用新型的清灰组件结构示意图；

图5为本实用新型的过滤组件结构示意图。

附图标记说明：

1、吸盘盒；2、出风管；3、过滤组件；4、盒盖；5、凹槽；6、吸盘本体；7、通孔；8、负压管；9、连接管；10、清灰组件；11、丝杆；12、限位杆；13、清洁杆；14、毛刷；15、电机；16、风机；17、过滤网；18、固定块；19、螺丝；20、电动推杆；21、伸缩杆；22、把手；23、卡扣；24、卡槽。

具体实施方式

为了使本领域的技术人员更好地理解本实用新型的技术方案，下面将结合附图对本实用新型作进一步的详细介绍。

本实用新型提供了如图1-5所示的芯片测试吸盘，包括吸盘盒1，顶部设有开口，一侧开设有出风口，出风口内固定连接有出风管2，出风管2内设有过滤组件3；

盒盖4，铰接在吸盘盒1顶部，底部设有和吸盘盒1开口相匹配的密封圈，一侧开设有拉起盒盖4的凹槽5；

吸盘本体6，设置在吸盘盒1内部，内部设置为空心状，顶部开设有若干个通孔7，底部设有负压管8，负压管8设置为波纹状，且贯穿吸盘盒1，负压管8底部固定连接有连接管9，连接管9远离负压管8一端连接有负压机；

清灰组件10，位于吸盘盒1内部，用于清洁芯片表面灰尘。

进一步的，在上述技术方案中，过滤组件3包括：

丝杆11，位于吸盘盒1内，且两端与吸盘盒1转动连接；

限位杆12，位于吸盘盒1内且与丝杆11对称分布，两端分别与吸盘盒1固定连接；

清洁杆13，一端螺纹套接在丝杆11上，另一端滑动套接在限位杆12上，底部设有毛刷14；

电机15，固定连接在吸盘盒1一侧，且输出轴贯穿吸盘盒1与丝杆11固定连接；

具体的，丝杆11带动清洁杆13和毛刷14移动，对芯片表面的灰尘进行清理，避免芯片表面有灰尘导致测试结果不准确。

进一步的，在上述技术方案中，过滤组件3包括：

风机16，固定连接在出风管2内，用于吸取清理下来的灰尘；

过滤网17，设置在风机16一侧，用于过滤灰尘；

四个固定块18，环形分布在出风管2内且与出风管2固定连接，四个固定块18上均设有螺丝19，过滤网17和四个固定块18通过螺丝19可拆卸连接；

具体的，风机16将清理下的灰尘通过出风管2排出，经过过滤网17时灰尘吸附在过滤网17上，转动螺丝19将过滤网17和固定块18分离，可以对过滤网17进行清洗和更换。

进一步的，在上述技术方案中，吸盘本体6底部一端固定连接有电动推杆20，另一端固定连接有伸缩杆21，电动推杆20和伸缩杆21均与吸盘盒1固定连接；

具体的，需要移动芯片高度时，启动电动推杆20带动吸盘本体6移动，即可将芯片高度调整到适合测试的高度。

进一步的，在上述技术方案中，吸盘盒1一侧固定连接有把手22，把手22高度与盒盖4厚度相匹配；

具体的，利用把手22方便移动装置，当打开盒盖4时，把手22可以对盒盖4进行限位，让盒盖4保持水平角度，可以放置一些用于测试的小物件。

进一步的，在上述技术方案中，吸盘盒1顶部开设有卡槽24，盒盖4底部固定连接有卡扣23，卡扣23和卡槽24卡接；

具体的，当盒盖4关闭时，卡扣23和卡槽24卡接可以固定住盒盖4。

本实用新型提供的芯片测试吸盘在使用时，其工作过程为：

将芯片放在吸盘本体6上，启动负压机抽取吸盘本体6内的空气，将芯片固定在吸盘本体6上，盖上盒盖4，启动电机15和风机16，电机15带动丝杆11转动，丝杆11带动清洁杆13和毛刷14移动，对芯片表面的灰尘进行清理，风机16将清理下的灰尘通过出风管2排出，经过过滤网17时灰尘吸附在过滤网17上，去除过灰尘后打开箱盖可以对芯片进行检测，当需要移动芯片高度时，启动电动推杆20带动吸盘本体6移动，即可将芯片高度调整到适合测试的高度，转动螺丝19将过滤网17和固定块18分离，可以对过滤网17进行清洗和更换。

以上只通过说明的方式描述了本实用新型的某些示范性实施例，毋庸置疑，对于本领域的普通技术人员，在不偏离本实用新型的精神和范围的情况下，可以用各种不同的方式对所描述的实施例进行修正。因此，上述附图和描述在本质上是说明性的，不应理解为对本实用新型权利要求保护范围的限制。

Claims (6)

1.芯片测试吸盘，其特征在于，包括：

吸盘盒（1），顶部设有开口，一侧开设有出风口，所述出风口内固定连接有出风管（2），所述出风管（2）内设有过滤组件（3）；

盒盖（4），铰接在吸盘盒（1）顶部，底部设有和吸盘盒（1）开口相匹配的密封圈，一侧开设有拉起盒盖（4）的凹槽（5）；

吸盘本体（6），设置在吸盘盒（1）内部，内部设置为空心状，顶部开设有若干个通孔（7），底部设有负压管（8），所述负压管（8）设置为波纹状，且贯穿吸盘盒（1），所述负压管（8）底部固定连接有连接管（9），所述连接管（9）远离负压管（8）一端连接有负压机；

清灰组件（10），位于吸盘盒（1）内部，用于清洁芯片表面灰尘。

2.根据权利要求1所述的芯片测试吸盘，其特征在于，所述清灰组件（10）包括：

丝杆（11），位于吸盘盒（1）内，且两端与吸盘盒（1）转动连接；

限位杆（12），位于吸盘盒（1）内且与丝杆（11）对称分布，两端分别与吸盘盒（1）固定连接；

清洁杆（13），一端螺纹套接在丝杆（11）上，另一端滑动套接在限位杆（12）上，底部设有毛刷（14）；

电机（15），固定连接在吸盘盒（1）一侧，且输出轴贯穿吸盘盒（1）与丝杆（11）固定连接。

3.根据权利要求2所述的芯片测试吸盘，其特征在于，所述过滤组件（3）还包括：

风机（16），固定连接在出风管（2）内，用于吸取清理下来的灰尘；

过滤网（17），设置在风机（16）一侧，用于过滤灰尘；

四个固定块（18），环形分布在出风管（2）内且与出风管（2）固定连接，四个所述固定块（18）上均设有螺丝（19），所述过滤网（17）和四个固定块（18）通过螺丝（19）可拆卸连接。

4.根据权利要求1所述的芯片测试吸盘，其特征在于：所述吸盘本体（6）底部一端固定连接有电动推杆（20），另一端固定连接有伸缩杆（21），所述电动推杆（20）和伸缩杆（21）均与吸盘盒（1）固定连接。

5.根据权利要求1所述的芯片测试吸盘，其特征在于：所述吸盘盒（1）一侧固定连接有把手（22），所述把手（22）高度与盒盖（4）厚度相匹配。

6.根据权利要求1所述的芯片测试吸盘，其特征在于：所述吸盘盒（1）顶部开设有卡槽（24），所述盒盖（4）底部固定连接有卡扣（23），所述卡扣（23）和卡槽（24）卡接。