CN219347628U - 一种同心度检测装置 - Google Patents

Abstract

本申请实施例提出一种同心度检测装置，包括检具主体、浮动补偿组件以及检验棒环；其中，所述检具主体具有一腔体，及设置于所述腔体底部的第一中心孔；所述检具主体外围滑动设置有第一滑环；所述浮动补偿组件包括可在所述腔体内水平方向滑动的基体以及滑动设置于所述基体上滑槽内的第二滑环，所述基体上设置与所述第一中心孔可对齐的第二中心孔，且所述基体顶部端面具有与被测零件匹配的基准面。通过本申请的结构可变直径被测要素的同心度传递至固定直径检具孔要素，使得没有实体补偿的零件被测要素同心度检具检测方案得以实现。

Description

一种同心度检测装置

技术领域

本申请涉及同心度检测技术领域，尤其涉及一种同心度检测装置。

背景技术

如图3-4所示，其结构是一种典型的汽车可变正时相位控制器，为确保功能正常，在制造过程中需要监控<被测挡圈边缘X>相对于<基准平面A>和<基准圆柱面B>同心度(不适用形位公差最大实体补偿规则)；

常用的同心度检测方法有：使用使用三坐标测量机检测(方法一)、使用同轴度仪检测(方法二)、气动检测仪检测(方法三)或者使用圆度仪检测(方法四)、常规位置检具(方法五)。

存在的缺点：

由于零件结构的限制，导致常规检测装置无法适用，具体如下：

<方法二>、<方法四>：由于相位器的结构特征，导致无法在装夹后保持无干涉的探测到基准元素和被测元素，无法适用；

<方法三>：由于被测圆柱面较窄、同心度波动较大，导致漏气量稳定性和量程覆盖范围等适用条件无法得到满足，无法适用；

<方法一>：三坐标测量机检测可以适用于此特性，但成本，产能，灵活性等无法满足批量连续的检测需求。

<方法五>：常规检具检测销子，检测环，在标注不适用形位公差的情况下，无法自适应被测要素直径变化带来的对判断的干扰。

因此，提出一种同心度检测装置。

实用新型内容

本申请实施例所要解决的技术问题在于，提供了一种同心度检测装置，解决了现有技术中对于结构特征无法使用同轴度仪或者圆度仪，以及被测区域和基准区域较窄无法使用气动规场合的问题，本申请可快速准确的对上述同心度特性进行批量连续的检测。

为了解决上述技术问题，本申请实施例提出了一种同心度检测装置，包括：

检具主体，所述检具主体具有一腔体，及设置于所述腔体底部的第一中心孔；所述检具主体外围滑动设置有第一滑环；

浮动补偿组件，设置于所述腔体内；所述浮动补偿组件包括可在所述腔体内水平方向滑动的基体以及滑动设置于所述基体上滑槽内的的第二滑环，所述基体上设置与所述第一中心孔可对齐的第二中心孔，且所述基体顶部端面具有与被测零件匹配的基准面；

检验棒，与所述第一中心孔、第二中心孔配合；

其中，被测零件置于所述检具主体上，被测零件的检测点分别与第一滑环、第二滑环贴合，将被测零件的同心度传递为第一中心孔与第二中心孔的同心度，检验棒通过第二中心孔后，是否可顺畅通过第一中心孔作为被测零件是否在公差范围内的判据。

进一步地，所述第二滑环底部设置有第二弹簧。

进一步地，所述第一滑环底部设置有第一弹簧。

进一步地，所述基体包括滑块以及围绕所述滑块设置的挡圈，所述挡圈与所述滑块之间的间隙形成滑槽。

进一步地，所述滑块的高度大于所述挡圈的高度，且所述第二滑环插入所述滑槽后，所述第二滑环顶部端面在所述滑块顶部端面下方。

进一步地，所述挡圈与所述滑块底部过盈配合。

进一步地，所述挡圈与所述滑块为一体成型结构。

进一步地，所述第一滑环与所述第二滑环上均设置有锥面结构。

进一步地，所述同心度检测装置还包括限位组件，以限制所述第二滑环脱离所述滑槽；

所述限位组件包括限位销，所述限位销一端设置于所述第二滑环上，另一端设置于所述挡圈上的限位孔内。

进一步地，所述第一滑环外围还设置有壳体，所述壳体与检具主体固定于基板上。

本申请实施例通过本申请的结构可变直径被测要素的同心度传递至固定直径检具孔要素，使得没有实体补偿的零件被测要素同心度检具检测方案得以实现；

对于结构特征为非严格回转体无法使用同轴度仪或者圆度仪，以及被测区域和基准区域较窄无法使用气动规的场合，快速准确的对上述同心度特性进行批量连续的检测；

较三坐标测量系统成本低，投资小；

较定制的气动规(微米量级的范围)测量系统建造成本低周期快，可测同心度波动范围覆盖宽(毫米量级)；

辅以气浮和自动化装载配合，可实现自动化检测。

附图说明

图1是本申请实施例的整体截面结构示意图；

图2是本申请实施例的整体外部立体结构示意图；

图3是本申请实施例的被测零件的外部结构示意图；

图4是本申请实施例的被测零件的底部结构示意图。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互结合，下面结合附图和具体实施例对本申请作进一步详细说明。

本申请实施例中若有方向性指示诸如上、下、左、右、前、后……仅用于解释在某一特定姿态如附图所示下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，在本申请中若涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。

请参照图1-4，本申请实施例提供一种同心度检测装置，用于检测相位器的同心度，可快速准确的对相位器进行批量连续的检测，该检测装置包括检具主体2、浮动补偿组件以及检验棒6；

具体地，所述检具主体2具有一腔体201，及设置于所述腔体201底部的第一中心孔202；所述检具主体2外围滑动设置有第一滑环5；

浮动补偿组件设置于腔体201内，所述浮动补偿组件包括可在所述腔体201内滑动的基体3以及滑动设置于所述基体3上滑槽302内的第二滑环4，所述基体3上设置与所述第一中心孔202对齐的第二中心孔301，且所述基体3顶部端面具有与被测零件匹配的基准面；

具体应用中，被测零件置于所述检具主体2上，被测零件的检测点分别与第一滑环5、第二滑环4贴合，将被测零件的同心度传递为第一中心孔202与第二中心孔301的同心度，检验棒6通过第二中心孔301后，是否可顺畅通过第一中心202孔作为被测零件是否在公差范围内的判据。

其中，所述检验棒6与第一中心孔202、第二中心孔301间隙配合或滑动配合。

在一些实施例中，所述第二滑环4底部设置有第二弹簧9，提高第二滑环4的灵活度，检测过程中，被测零件更快到达检测点，适配度更好；

进一步地，所述第一滑块5底部设置有第一弹簧10，提高第一滑环5的灵活度，提高与被测零件的适配度，同时第一弹簧10与第二弹簧9配合可降低被测零件的检测误差(上差、下差)，且有利于第一滑环5与第二滑环4复位。

在一些实施例中，所述第一滑环5与所述第二滑环4上均设置有锥面结构，以对被测零件进行导向，对被测零件进行定心，使得被测零件快与第一滑环5、第二滑环4的检测点贴合，提高检测效率。

在一些实施例中，所述基体3包括滑块31以及围绕所述滑块31设置的挡圈32，所述挡圈32与所述滑块31之间的间隙形成滑槽302。

此实施例中，所述滑块31的高度大于所述挡圈32的高度，且所述第二滑环4插入所述滑槽302后，所述第二滑环4顶部端面在所述滑块31顶部端面下方。这样滑块顶部端面形成与被测零件基础面对应的接触面，便于形成测量基准。

可选地，所述挡圈与所述滑块底部过盈配合或挡圈与所述滑块为一体成型结构。

在一些实施例中，如图1所示，所述同心度检测装置还包括限位组件，以限制所述第二滑环脱离所述滑槽；

所述限位组件包括限位销8，所述限位销8一端设置于所述第二滑环4上，另一端设置于所述挡圈32上的限位孔内。具体的，限位销8可通过螺纹连接方式安装在第二滑环4上，如图1所示，限位孔的直径大于限位销8的直径，限位销8的水平方向移动不受限制限位孔限制。

实施本申请的检测装置时，壳体7、检具主体2通过螺栓11固定于基板1上；第一滑环5与检具主体2外圆柱面滑动配合，第一滑环5底部由第一弹簧10支撑；

第二滑环4内圆柱面与基体3外圆柱面滑动配合，第二滑环4底部由第二弹簧9支撑；

挡圈32与滑块31通过过盈配合连接，此时滑块31、第二滑环4、第二弹簧9以及挡圈32构成浮动补偿组件，浮动补偿组件底面与腔体201底面接触，且浮动补偿组件可在腔体201内的水平方向上自由滑动；

基体3上的第二中心孔301与检具主体2上的第一中心202孔对齐，检验棒6与第二中心孔301、第一中心孔202间隙配合或者滑动配合。

检测时：

被测零件12的基准面A与基体3的上端面(基准面A)接触贴合对应，限制被测零件主基准面在坐标空间内的摆正自由度；

被测零件的被测挡圈边缘X与第一滑环5的第一锥面501处接触贴合对应，使得被测零件的被测挡圈边缘X与第一滑环5的第一锥面501同心；

被测零件的基准圆柱面B与第二滑环4的第二锥面401处接触贴合对应，使得被测零件的基准圆柱面B与第二滑环4的第二锥面401同心，推动浮动补偿组件在预留的浮动范围内平移，此时被测零件的同心度已传递为第二中心孔301与第一中心孔202的同心度，且第一中心孔202与第二中心孔301的直径为固定值D1；

检验棒6的直径D2＝D1-同心度公差；

检验棒6通过第二中心孔后，是否可顺畅通过检具第一中心孔作为零件是否在公差范围内的判据。

尽管已经示出和描述了本申请的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本申请的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本申请的范围由所附权利要求及其等同范围限定。

Claims (10)

1.一种同心度检测装置，其特征在于，包括：

检具主体，所述检具主体具有一腔体，及设置于所述腔体底部的第一中心孔；所述检具主体外围滑动设置有第一滑环；

浮动补偿组件，设置于所述腔体内；所述浮动补偿组件包括可在所述腔体内水平方向滑动的基体以及滑动设置于所述基体上滑槽内的第二滑环，所述基体上设置与所述第一中心孔可对齐的第二中心孔，且所述基体顶部端面具有与被测零件匹配的基准面；

检验棒，与所述第一中心孔、第二中心孔配合；

其中，被测零件置于所述检具主体上，被测零件的检测点分别与第一滑环、第二滑环贴合，将被测零件的同心度传递为第一中心孔与第二中心孔的同心度，检验棒通过第二中心孔后，是否可顺畅通过第一中心孔作为被测零件是否在公差范围内的判据。

2.如权利要求1所述的同心度检测装置，其特征在于，所述第二滑环底部设置有第二弹簧。

3.如权利要求1或2所述的同心度检测装置，其特征在于，所述第一滑环底部设置有第一弹簧。

4.如权利要求1所述的同心度检测装置，其特征在于，所述基体包括滑块以及围绕所述滑块设置的挡圈，所述挡圈与所述滑块之间的间隙形成滑槽。

5.如权利要求4所述的同心度检测装置，其特征在于，所述滑块的高度大于所述挡圈的高度，且所述第二滑环插入所述滑槽后，所述第二滑环顶部端面在所述滑块顶部端面下方。

6.如权利要求4所述的同心度检测装置，其特征在于，所述挡圈与所述滑块底部过盈配合。

7.如权利要求4所述的同心度检测装置，其特征在于，所述挡圈与所述滑块为一体成型结构。

8.如权利要求1所述的同心度检测装置，其特征在于，所述第一滑环与所述第二滑环上均设置有锥面结构。

9.如权利要求4所述的同心度检测装置，其特征在于，所述同心度检测装置还包括限位组件，以限制所述第二滑环脱离所述滑槽；

所述限位组件包括限位销，所述限位销一端设置于所述第二滑环上，另一端设置于所述挡圈上的限位孔内。

10.如权利要求9所述的同心度检测装置，其特征在于，所述第一滑环外围还设置有壳体，所述壳体与检具主体固定于基板上。

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