CN219224997U - 子卡在位检测电路、电子设备和子卡在位检测系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种子卡在位检测电路、电子设备和子卡在位检测系统，涉及电子设备检测技术领域，所述电路包括：子卡连接器和检测模块，其中：子卡连接器上设有N个管脚，N为正整数；检测模块包括N个连接端、输入端和输出端，在子卡连接器上插接子卡的情况下，N个连接端和N个管脚一一连接，且各管脚连接的子卡上的N个子卡管脚相互连接；输入端用于基于N个管脚为N个子卡管脚提供供电电压，输出端用于输出在位检测信号。本实用新型可基于输出端输出的在位检测信号，准确判断子卡是否在位，减小检测误差。

Description

子卡在位检测电路、电子设备和子卡在位检测系统

技术领域

本实用新型涉及电子设备检测技术领域，尤其涉及一种子卡在位检测电路、电子设备和子卡在位检测系统。

背景技术

电子设备及其硬件一般由主板及其多个子卡构成，在对这些子卡进行在位检测时，多数标准子卡未设计在位信号，因此，通常只能通过如I2C总线的总线访问子卡，并由软件判断子卡是否在位，若总线响应，则判断子卡在位，若总线不响应，则判断子卡不在位。

然而，在子卡异常的情况下，总线无法响应，则软件会自动判断子卡不在位，但实际上子卡是在位的，即通过总线访问子卡，并判断子卡是否在位的方式检测误差较大，易出现误判。

实用新型内容

本实用新型提供一种子卡在位检测电路、电子设备和子卡在位检测系统，用以解决现有技术中检测子卡是否在位易误判的缺陷，基于输出端输出的在位检测信号，准确判断子卡是否在位，减小检测误差。

本实用新型提供一种子卡在位检测电路，包括：子卡连接器和检测模块，其中：

所述子卡连接器上设有N个管脚，N为正整数；

所述检测模块包括N个连接端、输入端和输出端，在所述子卡连接器上插接子卡的情况下，N个所述连接端和N个所述管脚一一连接，且各所述管脚连接的所述子卡上的N个子卡管脚相互连接；所述输入端用于基于N个所述管脚为N个所述子卡管脚提供供电电压，所述输出端用于输出在位检测信号。

根据本实用新型提供的子卡在位检测电路，所述管脚包括电源管脚或接地管脚；

在所述管脚包括电源管脚的情况下，所述输入端连接电源电压端；

所述检测模块包括第一开关单元和第二开关单元，其中：

所述第一开关单元第一端连接所述第二开关单元的第二端和所述输出端，所述第一开关单元第二端连接所述第二开关单元第三端和第N个所述连接端；

所述第二开关单元第一端连接所述输入端和第1个所述连接端至第N-1个所述连接端。

根据本实用新型提供的子卡在位检测电路，所述输入端还连接有电阻R2，且通过电阻R2连接所述输出端。

根据本实用新型提供的子卡在位检测电路，所述第一开关单元包括MOS管Q1和电阻R1，其中：

所述MOS管Q1的漏极连接所述第一开关单元的第一端，所述MOS管Q1的源极连接接地端，所述MOS管Q1的栅极连接电阻R1的第一端，所述电阻R1的第二端连接所述第一开关单元的第二端。

根据本实用新型提供的子卡在位检测电路，所述第二开关单元包括至少一个输入引脚、MOS管Q2和至少一个输出引脚，其中：

各所述输入引脚的一端均连接所述第二开关单元的第一端，且各所述输入引脚的一端均连接所述MOS管Q2的源极；

各所述输出引脚的一端均连接所述MOS管Q2的漏极，且各所述输出引脚的另一端均连接所述第二开关单元的第三端；

所述MOS管Q2的栅极连接所述第二开关单元的第二端。

根据本实用新型提供的子卡在位检测电路，所述MOS管Q1为NMOS管，所述MOS管Q2为PMOS管。

根据本实用新型提供的子卡在位检测电路，在所述管脚包括接地管脚的情况下，所述输入端的一端连接接地端，且所述输入端的另一端分别连接第1个所述连接端至第N-1个所述连接端。

根据本实用新型提供的子卡在位检测电路，所述检测模块包括电阻R3，其中：

所述电阻R3的一端分别连接所述输出端和第N个所述连接端，且所述电阻R3的另一端连接VDD端。

本实用新型还提供一种电子设备，包括：如上述任一项所述的子卡在位检测电路和主板，所述主板分别连接所述子卡在位检测电路的所述输入端和所述输出端。

本实用新型还提供一种子卡在位检测系统，包括上述所述的电子设备和子卡。

本实用新型提供的子卡在位检测电路、电子设备和子卡在位检测系统，检测模块的输入端通过子卡连接器的N个管脚为子卡上的N个子卡管脚提供供电电压，并基于N个子卡管脚相互连接的特性，N-1个子卡管脚为第N个子卡管脚提供子供电电压，并基于子供电电压和供电电压，以使检测模块生成在位检测信号，通过识别在位检测信号，准确判断子卡是否在位，避免利用总线访问子卡造成的检测误差。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型提供的子卡在位检测电路的连接示意图；

图2是本实用新型提供的子卡在位检测电路的电路示意图之一；

图3是本实用新型提供的子卡在位检测电路的电路示意图之二。

附图标记：

100：子卡在位检测电路；110：子卡连接器；120：检测模块；121：第一开关单元；122：第二开关单元；200：电子设备；210：主板。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型中的附图，对本实用新型中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

针对现有方案中通过总线访问子卡时检测误差较大的问题，本实用新型提供一种子卡在位检测电路，图1是本实用新型提供的子卡在位检测电路的连接示意图，如图1所示，该子卡在位检测电路100包括：子卡连接器110和检测模块120，其中：

所述子卡连接器110上设有N个管脚，N为正整数；

所述检测模块120包括N个连接端、输入端和输出端，在所述子卡连接器110上插接子卡的情况下，N个所述连接端和N个所述管脚一一连接，且各所述管脚连接的所述子卡上的N个子卡管脚相互连接；所述输入端用于为N个所述管脚提供供电电压，所述输出端用于输出在位检测信号。

具体地，如图1所示，子卡连接器110上设有凹槽，且凹槽内设有N个管脚，在子卡连接器110上插接子卡时，检测模块120的N个连接端与子卡连接器110上的N个管脚一一连接，即沿从上到下的顺序，第一个连接端与第一个管脚连接，第二个连接端与第二个管脚连接，第N个连接端与第N个管脚连接，且各管脚连接的所述子卡上N个子卡管脚相互连接，即，在子卡插接于子卡连接器上时，N个子卡管脚与N个管脚一一连接，且N个子卡管脚相互连接，即N个管脚对应的N个电源网络在子卡上是连通的。同时，通过第N个管脚生成在位检测信号，通过判断在位检测信号的高低，可确定子卡是否在位。

可选地，图2是本实用新型提供的子卡在位检测电路的电路示意图之一，如图2所示，所述管脚包括电源管脚或接地管脚；

在所述管脚包括电源管脚的情况下，所述输入端连接电源电压端；

所述检测模块120包括第一开关单元121和第二开关单元122，其中：

所述第一开关单元121第一端连接所述第二开关单元122的第二端和所述输出端，所述第一开关单元121第二端连接所述第二开关单元122第三端和第N个所述连接端；

所述第二开关单元122第一端连接所述输入端和第1个所述连接端至第N-1个所述连接端。

具体地，子卡连接器110的N个管脚可以为电源管脚或接地管脚，即N个管脚均为电源管脚，或，N个管脚均为接地管脚。如图2所示，在管脚为电源管脚时，检测模块120的输入端连接电源电压端，电源电压端可以通过N个管脚为子卡进行供电，且电源电压端提供的电压直通子卡连接器110上的N个电源管脚，并直通连接的子卡上的第1个子卡电源管脚至第N-1个子卡电源管脚，同时，电源电压端通过第二开关单元122和第N个电源管脚为第N个子卡电源管脚独立供电。在子卡在位时，由于N个子卡电源管脚连通，则第1个子卡电源管脚至第N-1个子卡电源管脚的电流可流入第N个子卡电源管脚，导致第N个子卡电源管脚、第N个连接端和第一开关单元121的第一端均处于高电平，进而开启第一开关单元121，同时，在开启第一开关单元121后，第一开关单元121的第一端和第二开关单元122的第二端均处于低电平，进而开启第二开关单元122，以使输入端和第N个连接端连通，即电源电压端可通过第二开关单元122为第N个子卡电源管脚独立供电，同时生成在位检测信号，且子卡在位时，在位检测信号为低电平，主板210可通过识别在位检测信号为低电平，进一步判断子卡在位。

可选地，在第二开关单元122与第i个管脚连接的情况下，可基于第i个管脚生成在位检测信号，i为大于或等于1，小于或等于N的正整数。

可选地，如图2所示，所述输入端还连接有电阻R2，且通过电阻R2连接所述输出端。

可选地，如图2所示，所述第一开关单元121包括MOS管Q1和电阻R1，其中：

所述MOS管Q1的漏极连接所述第一开关单元121的第一端，所述MOS管Q1的源极连接接地端，所述MOS管Q1的栅极连接电阻R1的第一端，所述电阻R1的第二端连接所述第一开关单元121的第二端。

可选地，如图2所示，所述第二开关单元122包括至少一个输入引脚、MOS管Q2和至少一个输出引脚，其中：

各所述输入引脚的一端均连接所述第二开关单元122的第一端，且各所述输入引脚的一端均连接所述MOS管Q2的源极；

各所述输出引脚的一端均连接所述MOS管Q2的漏极，且各所述输出引脚的另一端均连接所述第二开关单元122的第三端；

所述MOS管Q2的栅极连接所述第二开关单元122的第二端。

可选地，如图2所示，输入引脚的数量为3个，且分别为输入引脚S1、输入引脚S2和输入引脚S3，且输入引脚S1、输入引脚S2和输入引脚S3相互连接。同时，输出引脚的数量可以为4个，且分别为输出引脚D1、输出引脚D2、输出引脚D3和输出引脚D4，且输出引脚D1、输出引脚D2、输出引脚D3和输出引脚D4相互连接。

可选地，所述MOS管Q1为NMOS管，所述MOS管Q2为PMOS管。

示例地，如图2所示，以N个管脚均为电源管脚，且电源电压端的供电电压为12V为例，则子卡插接于子卡连接器110后，电源电压端提供的12V电压可通过子卡连接器110的第1至N-1个管脚直通子卡上的子卡电源管脚1至子卡电源管脚N-1，由于第二开关单元122与第N个连接端连接，且第二开关单元122初始状态为关断状态，则子卡电源管脚N在初始时未供电，然而，由于子卡电源管脚1至子卡电源管脚N相互连接，则子卡电源管脚1至子卡电源管脚N-1的电流流入子卡电源管脚N，使得子卡电源管脚N生成处于高点平的12V_B网络，同时，通过电阻R1后，MOS管Q1的栅极处于高点平，使得MOS管Q1导通，由于MOS管Q1的源极连接接地端，则MOS管Q1的的漏极电压和MOS管Q2的栅极电压被拉低，使得MOS管Q2被导通，使得输入端12V和12V_B网络连通，同时，生成的在位检测信号处于低电平。

示例地，子卡未插接于子卡连接器110时，电源管脚1至电源管脚N与第1个连接端至第N个连接端未连接，处于断开状态，电源管脚N上的电压为0V，则MOS管Q1和MOS管Q2均未导通，则电源电压端提供的12V电压通过电阻R1流通至输出端，使得生成的在位检测信号处于高点平。

可选地，图3是本实用新型提供的子卡在位检测电路的电路示意图之二，如图3所示，在所述管脚包括接地管脚的情况下，所述输入端的一端连接接地端，且所述输入端的另一端分别连接第1个所述连接端至第N-1个所述连接端。

具体地，若N个管脚均为接地管脚，则输入端连接接地端，且N个接地管脚对应的子卡上的N个子卡接地管脚互相连接。在子卡在位时，第1个连接端至第N个连接端分别与接地管脚1至接地管脚N一一连接，且输入端的另一端分别连接接地管脚1至接地管脚N-1，而输出端连接接地管脚N。若子卡在位，则子卡接地管脚1至子卡接地管脚N的电位均被拉低，使得输出端输出的在位检测信号为低电平。

可选地，在输出端连接第i个连接端的情况下，可通过第i个接地管脚生成在位检测信号，i为大于或等于1，且小于或等于N的正整数。

可选地，所述检测模块120包括电阻R3，其中：

所述电阻R3的一端分别连接所述输出端和第N个所述连接端，且所述电阻R3的另一端连接VDD端。

示例地，如图3所示，以N个管脚均为接地管脚为例，在子卡插接在子卡连接器110上时，由于检测模块120的输入端连接接地端，则子卡上的子卡接地管脚1至子卡接地管脚N-1的电位均被拉低，同时，由于子卡接地管脚1至子卡接地管脚N相互连通，则子卡接地管脚N的电位被拉低，进而与第N个连接端连接的输出端的电位被拉低，使得输出端输出的在位检测信号为低电平。

示例地，在子卡未插接在子卡连接器110上时，第1个连接端至第N个连接端均未与接地管脚1至接地管脚N连接，则输出端的电位由于VDD端提供电压而被拉高，使得输出端输出的在位检测信号为高点平。

本实用新型提供的子卡在位检测电路，检测模块的输入端通过子卡连接器110的N个管脚为子卡上的N个子卡管脚提供供电电压，并基于N个子卡管脚相互连接的特性，N-1个子卡管脚为第N个子卡管脚提供子供电电压，并基于子供电电压和供电电压，以使检测模块120生成在位检测信号，通过识别在位检测信号，准确判断子卡是否在位，避免利用总线访问子卡造成的检测误差。

如图1所示，基于上述子卡在位检测电路，本实用新型还一种电子设备，该电子设备200包括：如上述任一项所述的子卡在位检测电路和主板210，所述主板210分别连接所述子卡在位检测电路的所述输入端和所述输出端。

具体地，主板210分别连接子卡在位检测电路的输入端和输出端，同时接收并识别在位检测信号，若在位检测信号为低电平，则判断出子卡在位，若在位检测信号为高电平，则判断出子卡不在位。

本实用新型提供的电子设备，可通过识别在位检测信号，准确判断子卡是否在位，避免利用总线访问子卡时，因子卡异常造成总线未响应时导致的误判，提高子卡在位检测的准确度。

基于上述电子设备，本实用新型还提供一种子卡在位检测系统，包括上述所述的电子设备200和子卡。

具体地，只要子卡插接在电子设备200上，无论子卡正常或异常，均会产生低电平的在位检测信号，可通过识别在位检测信号的高低，进而判断子卡是否在位，避免利用总线访问子卡时，因子卡异常造成总线未响应时导致的误判，提高子卡在位检测的准确度。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种子卡在位检测电路，其特征在于，包括：子卡连接器和检测模块，其中：

所述子卡连接器上设有N个管脚，N为正整数；

所述检测模块包括N个连接端、输入端和输出端，在所述子卡连接器上插接子卡的情况下，N个所述连接端和N个所述管脚一一连接，且各所述管脚连接的所述子卡上的N个子卡管脚相互连接；所述输入端用于基于N个所述管脚为N个所述子卡管脚提供供电电压，所述输出端用于输出在位检测信号。

2.根据权利要求1所述的子卡在位检测电路，其特征在于，所述管脚包括电源管脚或接地管脚；

在所述管脚包括电源管脚的情况下，所述输入端连接电源电压端；

所述检测模块包括第一开关单元和第二开关单元，其中：

所述第一开关单元第一端连接所述第二开关单元的第二端和所述输出端，所述第一开关单元第二端连接所述第二开关单元第三端和第N个所述连接端；

所述第二开关单元第一端连接所述输入端和第1个所述连接端至第N-1个所述连接端。

3.根据权利要求2所述的子卡在位检测电路，其特征在于，所述输入端还连接有电阻R2，且通过电阻R2连接所述输出端。

4.根据权利要求2或3所述的子卡在位检测电路，其特征在于，所述第一开关单元包括MOS管Q1和电阻R1，其中：

所述MOS管Q1的漏极连接所述第一开关单元的第一端，所述MOS管Q1的源极连接接地端，所述MOS管Q1的栅极连接电阻R1的第一端，所述电阻R1的第二端连接所述第一开关单元的第二端。

5.根据权利要求4所述的子卡在位检测电路，其特征在于，所述第二开关单元包括至少一个输入引脚、MOS管Q2和至少一个输出引脚，其中：

各所述输入引脚的一端均连接所述第二开关单元的第一端，且各所述输入引脚的一端均连接所述MOS管Q2的源极；

各所述输出引脚的一端均连接所述MOS管Q2的漏极，且各所述输出引脚的另一端均连接所述第二开关单元的第三端；

所述MOS管Q2的栅极连接所述第二开关单元的第二端。

6.根据权利要求5所述的子卡在位检测电路，其特征在于，所述MOS管Q1为NMOS管，所述MOS管Q2为PMOS管。

7.根据权利要求2所述的子卡在位检测电路，其特征在于，在所述管脚包括接地管脚的情况下，所述输入端的一端连接接地端，且所述输入端的另一端分别连接第1个所述连接端至第N-1个所述连接端。

8.根据权利要求7所述的子卡在位检测电路，其特征在于，所述检测模块包括电阻R3，其中：

所述电阻R3的一端分别连接所述输出端和第N个所述连接端，且所述电阻R3的另一端连接VDD端。

9.一种电子设备，其特征在于，包括：如权利要求1至8任一项所述的子卡在位检测电路和主板，所述主板分别连接所述子卡在位检测电路的所述输入端和所述输出端。

10.一种子卡在位检测系统，其特征在于，包括权利要求9所述的电子设备和子卡。

Images