CN219179447U - 电子元件测试座 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及电子器件测试领域，特别是涉及一种电子元件测试座。一种电子元件测试座，包括座体，座体内具有测试腔及安装台，安装台位于测试腔的一端，测试腔远离安装台的一端贯穿座体的端面以形成第一开口，电子元件自第一开口进入测试腔并安装至安装台上；电子元件测试座还包括位于测试腔内的锁扣，锁扣与座体转动连接并具有锁定位置及解锁位置，当锁扣处于锁定位置时，锁扣抵接于电子元件以将电子元件锁定于安装台上，锁扣能够旋转至解锁位置以解除对于电子元件的锁定。本实用新型通过设置锁扣以锁定电子元件，以防止电子元件跌落。

Description

电子元件测试座

技术领域

本实用新型涉及电子器件测试领域，特别是涉及一种电子元件测试座。

背景技术

在电子元件的测试设备中，通常设有测试座，电子元件在测试座中进行性能的测试。

现有的电子元件在测试座中测试时，电子元件容易跌落。

实用新型内容

有鉴于此，有必要提供一种能够锁定电子元件，防止电子元件跌落的电子元件测试座。

一种电子元件测试座，包括座体，所述座体内具有测试腔及安装台，所述安装台位于所述测试腔的一端，所述测试腔远离所述安装台的一端贯穿所述座体的端面以形成第一开口，电子元件自所述第一开口进入所述测试腔并安装至所述安装台上；所述电子元件测试座还包括位于所述测试腔内的锁扣，所述锁扣与所述座体转动连接并具有锁定位置及解锁位置，当所述锁扣处于锁定位置时，所述锁扣抵接于所述电子元件以将所述电子元件锁定于所述安装台上，所述锁扣能够旋转至解锁位置以解除对于所述电子元件的锁定。

本实用新型通过设置锁扣以锁定电子元件，以防止电子元件跌落。当需要将电子元件取出或将电子元件安装至安装台上时，旋转锁扣至解锁位置，从而解除锁定，将电子元件第一开口移出或装入。

在其中一个实施方式中，所述测试腔包括相互连通的安装腔及容置腔，所述安装台位于所述容置腔的一端，所述安装腔位于所述容置腔的侧部，所述锁扣设于所述安装腔内。

在容置腔的侧部设置安装腔用于安装锁扣，而无需扩大整个容置腔的腔体，从而保证了与锁扣转动连接的安装腔的腔壁的厚度。

在其中一个实施方式中，所述容置腔的腔壁包括相互连接的第一部及第二部，所述第一部靠近所述第一开口设置，所述第二部连接于所述安装台，所述第一部与所述安装台的夹角为A，所述第二部与所述安装台的夹角为B，其中，A大于或等于90°，B大于或等于90°。

如此设置，能够保证第一部或第二部中至少有一个是倾斜的，对于电子元件的进出起到导向作用，使得电子元件能够精准地安装到位。

在其中一个实施方式中，A小于B，且A等于90°。

可以理解的是，第二部倾斜设置，对于电子元件的进出起到导向作用，使得电子元件能够精准地安装到位，第一部竖直设置，在保证座体一定厚度的前提下，能够加大安装台的面积，从而能够安装面积较大的电子元件，而在安装同样大小的电子元件时，能够减小座体的体积。

在其中一个实施方式中，A大于B，且B等于90°。

可以理解的是，第一部倾斜设置，对于电子元件的进出起到导向作用，将第二部竖直设置，从而在安装同样大小的电子元件时，能够减少座体的体积。

在其中一个实施方式中，A等于B。

如此设置，能够简化结构。

在其中一个实施方式中，所述电子元件测试座还包括解锁件，所述容置腔远离所述第一开口的一端贯穿所述座体的端面以形成第二开口，所述解锁件能够从所述第二开口进入所述安装腔内，并推动所述锁扣旋转以解除对于所述电子元件的抵接，以使所述锁扣处于解锁位置。

如此设置，以实现锁扣的解锁。

在其中一个实施方式中，所述锁扣包括本体及转轴，所述本体上开设有安装孔，所述转轴穿设于所述安装孔内，所述转轴的两端连接于所述座体，所述锁扣通过所述转轴与所述座体转动连接。

在其中一个实施方式中，所述安装腔的腔壁开设有第一凹槽，所述本体上开设有第二凹槽，所述测试座还包括与所述锁扣配合的弹性件，所述弹性件套设于所述转轴外，所述弹性件的一端伸入所述第一凹槽内并抵接于所述第一凹槽的槽壁，另一端伸入所述第二凹槽内并抵接于所述第二凹槽的槽壁。

可以理解的是，第一凹槽对于弹性件的一端起到限位及安装的作用，第二凹槽对于弹性件的另一端起到限位及安装作用。

在其中一个实施方式中，所述安装台呈环形，所述安装台通过所述测试腔一端的内壁朝向所述测试腔的中轴线的方向延伸形成。

将安装台设置成环形，以使电子元件能够从座体远离第一开口的一端露出以进行测试。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或传统技术中的技术方案，下面将对实施例或传统技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例一电子元件测试座去掉解锁件一视角的剖视图；

图2为图1中A处的局部放大图；

图3为实施例一电子元件测试座去掉解锁件另一视角的剖视图；

图4为实施例二电子元件测试座去掉解锁件一视角的剖视图；

图5为实施例二电子元件测试座去掉解锁件另一视角的剖视图；

图6为锁扣及弹性件的结构示意图；

图7为实施例一的电子元件测试座的立体图；

图8为实施例二的电子元件测试座的立体图；

图9为实施例二电子元件测试座解锁过程的示意图。

附图标记：100、电子元件测试座；10、座体；11、测试腔；111、安装腔；112、容置腔；1121、第一部；1122、第二部；113、第一凹槽；12、安装台；13、第一开口；14、第二开口；20、锁扣；21、本体；211、安装孔；212、第二凹槽；22、转轴；30、弹性件；40、解锁件；41、推板；42、推轴；200、电子元件。

具体实施方式

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型。但是本实用新型能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本实用新型内涵的情况下做类似改进，因此本实用新型不受下面公开的具体实施例的限制。

需要说明的是，当组件被称为“固定于”或“设置于”另一个组件，它可以直接在另一个组件上或者也可以存在居中的组件。当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中组件。本实用新型的说明书所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“上”、“下”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”、“下”可以是第一特征直接和第二特征接触，或第一特征和第二特征间接地通过中间媒介接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

除非另有定义，本实用新型的说明书所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本实用新型。本实用新型的说明书所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

请参见图7及图8，本实用新型提供的电子元件测试座100(以下简称测试座100)，安装于电子元件测试设备中，用于放置电子元件200，以使电子元件200在电子元件测试设备中进行性能测试，电子元件200可为半导体器件。

测试座100包括座体10，座体10内具有测试腔11及安装台12，安装台12位于测试腔11的一端，测试腔11远离安装台12的一端贯穿座体10的端面以形成第一开口13，电子元件200从第一开口13进入测试腔11内，移动到测试腔11的底部并安装至安装台12上。测试座100还包括锁扣20，锁扣20位于测试腔11内，锁扣20与座体10转动连接，锁扣20具有锁定位置及解锁位置。当锁扣20位于锁定位置时，锁扣20抵接于电子元件200以将电子元件200锁定于安装台12上，锁扣20能够旋转至解锁位置以解除对于电子元件200的抵接。在测试电子元件200时，通过锁扣20将电子元件200锁定在测试台上，以防止电子元件200跌落，当需要将电子元件200取出时，旋转锁扣20至解锁位置，从而解除锁定，将电子元件200从第一开口13移出。

在一实施例中，由于一般电子元件200呈方形，将锁扣20设置为两个，两个锁扣20分别相对地设于电子元件200的两侧，从而稳定地锁定电子元件200。在其他实施例中，锁扣20还可为四个，四个锁扣20位于电子元件200的四个侧部，锁扣20还可为两个，两个锁扣20相互错位设置。

安装台12呈环形，以使电子元件200能够从座体10远离第一开口13的一端露出以进行测试。为适应方形的电子元件200，安装台12为方环形，当然，在其他实施例中，若电子元件200为圆形，侧安装台12为圆环形。

安装台12通过测试腔11远离第一开口13的一端的内壁朝向靠近测试腔11的中轴线的方向延伸形成，结构简单，无需额外设置安装台12。这里的测试腔11的中轴线指的是经过测试腔11的长度方向和宽度方向的交接点，并垂直于安装台12的直线。

请参见图6，锁扣20包括本体21及转轴22，本体21上开设有安装孔211，转轴22穿设于安装孔211内，转轴22的两端连接于座体10，锁扣20通过转轴22与座体10转动连接。

测试腔11包括相互连通的安装腔111及容置腔112，安装台12位于容置腔112远离第一开口13的一端，安装腔111位于容置腔112的侧部，锁扣20位于安装腔111内，锁扣20和安装腔111的腔壁转动连接。在容置腔112的侧部设置安装腔111用于安装锁扣20，而无需扩大整个容置腔112的腔体，从而保证了与锁扣20转动连接的安装腔111腔壁的厚度。

安装腔111的腔壁开设有第一凹槽113，本体21上开设有第二凹槽212，测试座100还包括弹性件30，弹性件30套设于转轴22外，弹性件30的一端伸入第一凹槽113内并抵接于第一凹槽113的槽壁，另一端伸入第二凹槽212内并抵接于第二凹槽212的槽壁。第一凹槽113对于弹性件30的一端起到限位及安装的作用，第二凹槽212对于弹性件30的另一端起到限位及安装作用。

在一实施例中，弹性件30为扭簧，能够承受扭转变形，扭簧套设于转轴22外。在其他实施例中，弹性件30还可为压缩弹簧、碟形弹簧等。

弹性件30与锁扣20的个数一一对应。

第一凹槽113朝向远离安装台12的方向延伸，并贯穿座体10的端面，即，第一凹槽113与第一开口13连通，在安装的过程中，弹性件30能够从第一开口13处进入第一凹槽113，方便安装。

第二凹槽212开设于本体21远离安装台12的侧面，且两端开口设置，使得扭簧的一端能够从第二凹槽212的槽口进入，从而抵接于本体21，而且能够伸出第二凹槽212外。

在一实施例中，容置腔112的腔壁所围设的空间的横截面呈方形。在其他实施例中，当电子元件200为圆形时，容置腔112的腔壁所围设的空间的横截面也呈圆形。

请参见图1、图3及、图4及图5，容置腔112的腔壁包括相互连接的第一部1121及第二部1122，第一部1121靠近第一开口13设置，第二部1122连接于安装台12，当电子元件200安装于安装台12上时，第二部1122围设于电子元件200的周侧，第一部1121与安装台12之间的夹角为A，第二部1122与安装台12之间的夹角为B，A和B均大于或等于90°。如此设置，使得至少其中一部分腔壁相对于安装台12倾斜设置，对电子元件200的进出起到导向作用。需要解释的是，以容置腔112所围设的空间的横截面呈方形为例，第一部1121及第二部1122均由四个面组成，第一部1121与安装台12的夹角A为任意一个面与安装台12的夹角，第二部1122与安装台12的夹角B为任意一个面与安装台12的夹角；容置腔112的腔壁不一定是平整的，每一个面均可能由多个曲面组成，若每个面均由多个曲面组成，第一部1121与安装台12的夹角指的是第一部1121上的四个面中任意一个面远离安装台12一端的中点到靠近安装台12一端的中点之间的连线与安装台12的夹角，第二部1122与安装台12的夹角指的是第二部1122上的四个面中的任意一个面远离安装台12一端的中点到靠近安装台12一端的中点之间的连线与安装台12的夹角，安装台12的表面也可由多个曲面组成，即安装台12的表面不平整，第一部1121与安装台12的夹角指的是第一部1121上四个面中任意一个面与跟该面连接的安装台12的上表面的外侧的中点到内侧的中点之间的连线的交角。

当然，在其他实施例中，容置腔112的腔壁还可包括第三部、第四部等，并不仅仅限于只包括上述的第一部1121及第二部1122；同样，第一部1121不限于只包括一个面，可以由多个面光滑连接组成，第二部1122同理。

实施例一

请参见图1、图2及图7，A小于B，A等于90°，即将第一部1121设置为竖直的平面或近似竖直的平面，即，第一部1121与安装台12垂直，第二部1122倾斜设置，对于电子元件200的进出起到导向作用，使得电子元件200能够精准地安装到位，第一部1121竖直设置，在保证座体10一定厚度的前提下，能够加大安装台12的面积，从而能够安装面积较大的电子元件200，而在安装同样大小的电子元件200时，能够减小座体10的体积。

也就是说，在本实施例中，当电子元件200为方形时，第一部1121围设的空间呈方体状，第二部1122围设的空间呈横截面为四方形的锥台状。

第一部1121的高度h₁大于第二部1122的高度h₂，在保证第二部1122相同坡度的情况下，能够保证座体10的厚度。在其他实施例中，第一部1121的高度h₁还可小于或等于第二部1122的高度h₂，在此不作限制。

实施例二

请参见图5及图8，实施例二和实施例一的结构基本相同，相同之处不再赘述，不同之处在于容置腔112腔壁的结构：

A大于B，且B等于90°，即第二部1122为竖直的平面为近似竖直的平面，由于电子元件200的周侧面为近似竖直的平面，在安装同样大小的电子元件时，能够减少座体10的体积，第一部1121倾斜设置，对于电子元件200的进出起到导向作用。

也在就是说，在实施例二中，当电子元件200为方形时，第一部1121围设的空间呈横截面为四方形的锥台状，第二部1122围设的空间为方体状。

第一部1121的高度h₁大于第二部1122的高度h₂，将第二部1122的高度h₂设置得较小，能够方便电子元件200从第二部1122进出，若第二部1122太高，在将电子元件200放置于安装台12的过程中，电子元件200可能会直接从第二部1122的底部跌落至安装台12上。在其他实施例中，第一部1121的高度h₁还可小于或等于第二部1122的高度h₂，在此不作限制。

实施例三

本实施例与实施例一及所述例二基本相同，相同之处不再赘述，不同之处在于容置腔112腔壁的结构：

A等于B，即，第一部1121与第二部1122的坡度相等，第一部1121一贯到底，能够简化加工。

请参见图9，测试座100还包括解锁件40，安装腔111远离第一开口13的一端贯穿座体10的端面以形成第二开口14，解锁件40能够从第二开口14进入安装腔111内，并推动锁扣20旋转以解除对于电子元件200的抵接，以使锁扣20处于解除位置。

解锁件40包括推板41及推轴42，推轴42设于推板41上，并朝向远离推板41的方向延伸。

推轴42与锁扣20的个数一一对应，从而能够同时推动多个锁扣20一起解锁。

在工作过程中，将解锁件40的推轴42从第二开口14伸入安装腔111内，从而推开锁扣20，此时弹性件30处于压缩状态，将待测的电子元件200从第一开口13经斜面的导向放入安装台12上，再将解锁件40退出安装腔111，锁扣20在弹性件30弹力的作用下旋转至锁定位置，抵接在电子元件200远离安装台12的侧面，从而锁定电子元件200；当需要解锁时，再将解锁件40的推轴42从第二开口14伸入安装腔111内，推开锁扣20，锁扣20旋转从而解除对于电子元件200的锁定，此时，锁扣20处于解锁位置，电子元件200能够移动。

以上所述实施方式的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施方式中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

本技术领域的普通技术人员应当认识到，以上的实施方式仅是用来说明本实用新型，而并非用作为对本实用新型的限定，只要在本实用新型的实质精神范围内，对以上实施方式所作的适当改变和变化都落在本实用新型要求保护的范围内。

Claims (10)

1.一种电子元件测试座，包括座体(10)，所述座体(10)内具有测试腔(11)及安装台(12)，所述安装台(12)位于所述测试腔(11)的一端，所述测试腔(11)远离所述安装台(12)的一端贯穿所述座体(10)的端面以形成第一开口(13)，电子元件(200)自所述第一开口(13)进入所述测试腔(11)并安装至所述安装台(12)上；

其特征在于，所述电子元件测试座还包括位于所述测试腔(11)内的锁扣(20)，所述锁扣(20)与所述座体(10)转动连接并具有锁定位置及解锁位置，当所述锁扣(20)处于锁定位置时，所述锁扣(20)抵接于所述电子元件(200)，以将所述电子元件(200)锁定于所述安装台(12)上，所述锁扣(20)能够旋转至解锁位置以解除对于所述电子元件(200)的锁定。

2.根据权利要求1所述的电子元件测试座，其特征在于，所述测试腔(11)包括相互连通的安装腔(111)及容置腔(112)，所述安装台(12)位于所述容置腔(112)的一端，所述安装腔(111)位于所述容置腔(112)的侧部，所述锁扣(20)设于所述安装腔(111)内。

3.根据权利要求2所述的电子元件测试座，其特征在于，所述容置腔(112)的腔壁包括相互连接的第一部(1121)及第二部(1122)，所述第一部(1121)靠近所述第一开口(13)设置，所述第二部(1122)连接于所述安装台(12)，所述第一部(1121)与所述安装台(12)的夹角为A，所述第二部(1122)与所述安装台(12)的夹角为B，其中，A大于或等于90°，B大于或等于90°。

4.根据权利要求3所述的电子元件测试座，其特征在于，A小于B，且A等于90°。

5.根据权利要求3所述的电子元件测试座，其特征在于，A大于B，且B等于90度。

6.根据权利要求3所述的电子元件测试座，其特征在于，A等于B。

7.根据权利要求2所述的电子元件测试座，其特征在于，所述电子元件测试座还包括解锁件(40)，所述安装腔(111)远离所述第一开口(13)的一端贯穿所述座体(10)的端面以形成第二开口(14)，所述解锁件(40)能够从所述第二开口(14)进入所述安装腔(111)内，并推动所述锁扣(20)旋转以解除对于所述电子元件(200)的抵接，以使所述锁扣(20)处于解锁位置。

8.根据权利要求2所述的电子元件测试座，其特征在于，所述锁扣(20)包括本体(21)及转轴(22)，所述本体(21)上开设有安装孔(211)，所述转轴(22)穿设于所述安装孔(211)内，所述转轴(22)的两端连接于所述座体(10)，所述锁扣(20)通过所述转轴(22)与所述座体(10)转动连接。

9.根据权利要求8所述的电子元件测试座，其特征在于，所述安装腔(111)的腔壁开设有第一凹槽(113)，所述本体(21)上开设有第二凹槽(212)，所述测试座还包括与所述锁扣(20)配合的弹性件(30)，所述弹性件(30)套设于所述转轴(22)外，所述弹性件(30)的一端伸入所述第一凹槽(113)内并抵接于所述第一凹槽(113)的槽壁，另一端伸入所述第二凹槽(212)内并抵接于所述第二凹槽(212)的槽壁。

10.根据权利要求1所述的电子元件测试座，其特征在于，所述安装台(12)呈环形，所述安装台(12)通过所述测试腔(11)一端的内壁朝向靠近所述测试腔(11)的中轴线的方向延伸形成。

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