CN219122349U - 一种芯片功能模拟电路及电子设备 - Google Patents

Abstract

本申请提出了一种芯片功能模拟电路及电子设备，该电路包括依次电连接的采样电压处理模块、采样保持选择模块、采样保持模块、通道选择模块和模数转换器；其中，所述采样电压处理模块的输入端接入采样输入电压，所述采样电压处理模块的输出端与所述采样保持选择模块的输入端连接，所述采样保持选择模块的输出端与所述采样保持模块的输入端连接，所述采样保持模块的输出端与所述通道选择模块的输入端连接，所述通道选择模块的输出端与所述模数转换器的输入端连接。本申请提供的一种芯片功能模拟电路，能够在流片前对芯片的数字和模拟功能进行实际验证，从而降低芯片流片的不确定性，提高芯片验证成功率。

Description

一种芯片功能模拟电路及电子设备

技术领域

本申请涉及集成电路技术领域，具体涉及一种芯片功能模拟电路及电子设备。

背景技术

目前的芯片生产工艺中，在流片前都需要进行仿真测试，但是对于电机MCU(Microcontroller Unit，微控制器芯片)这类专用ASIC芯片而言，由于其特定的应用性，常规的仿真并不能保证电机MCU流片后能完全实现应用所需。现有技术是通过对电机MCU的各个模拟外设均单独进行软件仿真，但在实际的应用过程中，现有技术这种方式需要各个模拟外设在程序控制下配合使用，因此软件仿真无法覆盖实际应用进行测试，从而增加了芯片流片的不确定性和成本。

前面的叙述在于提供一般的背景信息，并不一定构成现有技术。

实用新型内容

针对上述技术问题，本申请提供一种芯片功能模拟电路及电子设备，能够在流片前对芯片的数字和模拟功能进行实际验证，从而降低芯片流片的不确定性，提高芯片验证成功率。

本申请实施例提供了一种芯片功能模拟电路，包括依次电连接的采样电压处理模块、采样保持选择模块、采样保持模块、通道选择模块和模数转换器；其中，所述采样电压处理模块的输入端接入采样输入电压，所述采样电压处理模块的输出端与所述采样保持选择模块的输入端连接，所述采样保持选择模块的输出端与所述采样保持模块的输入端连接，所述采样保持模块的输出端与所述通道选择模块的输入端连接，所述通道选择模块的输出端与所述模数转换器的输入端连接。

可选地，所述芯片功能模拟电路还包括采样电压模块，所述采样电压模块的输入端接入输入电压，所述采样电压模块的输出端与所述采样电压处理模块的输入端连接；其中，所述采样电压模块包括多个电阻。

可选地，所述芯片功能模拟电路还包括逻辑控制模块，所述逻辑控制模块的输入端与所述模数转换器的输出端连接。

可选地，所述芯片功能模拟电路还包括执行模块，所述执行模块的输入端与所述逻辑控制模块的输出端连接；其中，所述执行模块包括电机驱动电路和电机，所述电机驱动电路的输入端与所述逻辑控制模块的输出端连接，所述电机驱动电路的输出端与所述电机的输入端连接。

可选地，所述采样电压处理模块包括多个采样电压处理单元，所述多个采样电压处理单元的输入端分别对应接入采样输出电压，所述多个采样电压处理单元的输出端分别与所述采样保持选择模块的输入端连接。

可选地，所述采样电压处理单元包括依次电连接的滤波子单元、调幅子单元和放大子单元；

所述滤波子单元，用于对所述采样输入电压进行滤波处理；

所述调幅子单元，用于对滤波处理后的采样输入电压进行调幅处理；

所述放大子单元，用于对调幅处理后的采样输入电压进行频率调整，得到对应的采样输出电压。

可选地，所述采样电压处理单元包括第一电阻、第一电容、第二电阻、第三电阻、第四电阻和运算放大器，其中，所述第一电阻的第一端连接采样输入电压，所述第一电阻的第二端分别与所述第一电容的第一端、所述第二电阻的第一端、所述运算放大器的第一端连接；所述第一电容的第二端接地，所述第二电阻的第二端为正电源端；所述第三电阻的第一端分别与所述第四电阻的第一端、所述运算放大器的第二端连接，所述第三电阻的第二端接地，所述第四电阻的第二端与所述运算放大器的第三端连接。

可选地，所述采样保持选择模块包括多个多路复用器，所述多路复用器的输入端分别与所述采样电压处理模块的输出端连接，所述多路复用器的输出端分别与所述采样保持模块的输入端连接。

可选地，所述逻辑控制模块包括FPGA器件、DSP芯片、微控制器芯片和51单片机。

本申请实施例还提供了一种电子设备，包括如上所述的芯片功能模拟电路。

实施本申请实施例，具有如下有益效果：

如上所述，本申请提供的一种芯片功能模拟电路及电子设备，该电路包括依次电连接的采样电压处理模块、采样保持选择模块、采样保持模块、通道选择模块和模数转换器；其中，所述采样电压处理模块的输入端接入采样输入电压，所述采样电压处理模块的输出端与所述采样保持选择模块的输入端连接，所述采样保持选择模块的输出端与所述采样保持模块的输入端连接，所述采样保持模块的输出端与所述通道选择模块的输入端连接，所述通道选择模块的输出端与所述模数转换器的输入端连接。本申请通过提供一种模拟芯片内部的模拟功能的电路，通过采样电压处理模块模拟运放的功能，通过采样保持选择模块实现采样信号的选择，通过采样保持模块实现采样保持的功能，通过通道选择模块实现ADC通道和采样保持通道的选择，结合模数转换器即可模拟芯片的内部模拟功能，从而能够在流片前对芯片的数字和模拟功能进行实际验证，降低芯片流片的不确定性，提高芯片验证成功率。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理。为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请实施例提供的芯片功能模拟电路的第一种实施方式的结构示意图；

图2是本申请实施例提供的芯片功能模拟电路的第二种实施方式的结构示意图；

图3是本申请实施例提供的采样电压处理单元的电路示意图；

图4是本申请实施例提供的采样电压处理模块的电路示意图；

图5是本申请实施例提供的芯片功能模拟电路的第二种实施方式的结构示意图。

本申请目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。通过上述附图，已示出本申请明确的实施例，后文中将有更详细的描述。这些附图和文字描述并不是为了通过任何方式限制本申请构思的范围，而是通过参考特定实施例为本领域技术人员说明本申请的概念。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本申请的一些方面相一致的装置和方法的例子。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素，此外，本申请不同实施例中具有同样命名的部件、特征、要素可能具有相同含义，也可能具有不同含义，其具体含义需以其在该具体实施例中的解释或者进一步结合该具体实施例中上下文进行确定。

应当理解，尽管在本文可能采用术语第一、第二、第三等来描述各种信息，但这些信息不应限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开。例如，在不脱离本文范围的情况下，第一信息也可以被称为第二信息，类似地，第二信息也可以被称为第一信息。取决于语境，如在此所使用的词语“如果”可以被解释成为“在……时”或“当……时”或“响应于确定”。再者，如同在本文中所使用的，单数形式“一”、“一个”和“该”旨在也包括复数形式，除非上下文中有相反的指示。应当进一步理解，术语“包含”、“包括”表明存在所述的特征、步骤、操作、元件、组件、项目、种类、和/或组，但不排除一个或多个其他特征、步骤、操作、元件、组件、项目、种类、和/或组的存在、出现或添加。本申请使用的术语“或”、“和/或”、“包括以下至少一个”等可被解释为包括性的，或意味着任一个或任何组合。例如，“包括以下至少一个：A、B、C”意味着“以下任一个：A；B；C；A和B；A和C；B和C；A和B和C”，再如，“A、B或C”或者“A、B和/或C”意味着“以下任一个：A；B；C；A和B；A和C；B和C；A和B和C”。仅当元件、功能、步骤或操作的组合在某些方式下内在地互相排斥时，才会出现该定义的例外。

取决于语境，如在此所使用的词语“如果”、“若”可以被解释成为“在……时”或“当……时”或“响应于确定”或“响应于检测”。类似地，取决于语境，短语“如果确定”或“如果检测(陈述的条件或事件)”可以被解释成为“当确定时”或“响应于确定”或“当检测(陈述的条件或事件)时”或“响应于检测(陈述的条件或事件)”。

应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

在后续的描述中，使用用于表示元件的诸如“模块”、“部件”或者“单元”的后缀仅为了有利于本申请的说明，其本身没有特定的意义。因此，“模块”、“部件”或者“单元”可以混合地使用。

为了更好地理解本申请实施例，以下将对相关专业术语进行解释。

MPW：Multi Project Wafer，多项目晶圆，将多个使用相同工艺的集成电路设计放在同一晶圆片上流片，制造完成后，每个设计可以得到数十片芯片样品，这一数量对于原型(Prototype)设计阶段的实验、测试已经足够。

MCU：Microcontroller Unit，微控制单元，是把中央处理器(Central ProcessUnit，CPU)的频率与规格做适当缩减，并将内存(memory)、计数器(Timer)、USB、A/D转换、UART、PLC、DMA等周边接口，甚至LCD驱动电路都整合在单一芯片上，形成芯片级的计算机，为不同的应用场合做不同组合控制。

MUX：multiplexer，多路复用器，是在多路数据传送过程中，根据需要将其中任意一路选出来的电路，主要用于信号的选择切换。

ADC：Analog-to-Digital Converter，模数转换器，是指将连续变量的模拟信号转换为离散的数字信号的器件。

AMP：amplifier，运算放大器。

采样保持：采样保持是指跟踪或者保持输入模拟信号的电平值。在理想状况下，当处于采样状态时，采样保持电路的输出信号跟随输入信号变化而变化；当处于保持状态时，采样保持电路的输出信号保持为接到保持命令的瞬间的输入信号电平值。

请参阅图1，图1是本申请实施例提供的芯片功能模拟电路的第一种实施方式的结构示意图。该芯片功能模拟电路包括依次电连接的采样电压处理模块10、采样保持选择模块20、采样保持模块30、通道选择模块40和模数转换器50；其中，采样电压处理模块10的输入端接入采样输入电压，采样电压处理模块10的输出端与采样保持选择模块20的输入端连接，采样保持选择模块20的输出端与采样保持模块30的输入端连接，采样保持模块30的输出端与通道选择模块40的输入端连接，通道选择模块40的输出端与模数转换器50的输入端连接。

具体的，对于采样电压处理模块10，用于对接收的多个采样输入电压进行预设信号处理，输出多个预设信号处理后的采样输出电压至采样保持选择模块20。采样电压处理模块10在接收到电机反电动势通过多个电阻得到的多个采样输入电压后，对多个采样输入电压进行预设的信号处理，例如经过运算放大器和电容电阻进行调幅、放大和滤波处理后，输出多个处理后的对应的采样输出电压至采样保持选择模块20。

具体的，对于采样保持选择模块20，用于接收多个采样输出电压，每次输出预设个数采样输出电压至采样保持模块30。采样保持选择模块20通过多个多路复用器接收采样电压处理模模块10输出的多个采样输出电压，从这多个采样输出电压中，选择预设个数的采样输出电压输出至采样保持模块30，例如可以选择任意两个或者单个采样输出电压输出至采样保持模块30。

具体的，对于采样保持模块30，用于接收采样输出电压，并将任一采样输出电压输出至通道选择模块进行模数转换，同时保持其余采样输出电压不变。采样保持模块30在接收采样保持选择模块20输出的采样输出电压后，由于模数转换器不带采样保持功能，且每个时刻只能转换一个电压信号，因此当转换任意一个通道的电压信号时，需要通过采样保持模块30保持其余通道的采样输出电压不变，等待转换完上一个通道的采样输出电压后再转换当前通道的采样输出电压。

具体的，对于通道选择模块40，用于切换采样保持选择模块与模数转换器之间的传输通道。由于单个模数转换器每个时刻只能转换一个电压信号，因此当有两个或以上的电压输入时，需要通过通道选择模块40实现采样保持选择模块30和模数转换器50之间的信号传输通道，实现通道切换，从而控制模数转换器50当前所转换的采样输出电压。

具体的，对于模数转换器50，用于接收采样输出电压后进行模数转换，得到对应的数字信号，以使芯片功能模拟电路根据数字信号实现芯片的功能测试。模数转换器50在接收到采样输出电压，即当前时刻所需转换的目标电压后，对采样输出电压进行模数转换，转换后得到对应的数字信号，以使芯片功能模拟电路后续根据数字信号实现芯片功能的实际测试。

可选地，在一些实施例中，芯片功能模拟电路具体还可以包括采样电压模块，采样电压模块的输入端接入输入电压，采样电压模块的输出端与采样电压处理模块10的输入端连接；其中，采样电压模块包括多个电阻。

具体的，对于采样电压模块，用于接收输入电压，并分别通过多个电阻对输入电压进行采样，得到多个采样输入电压后发送至采样电压处理模块10。采样电压模块的输入端接入输入电压，输入电压经过采样电压模块的多个电阻后分别得到多个采样输入电压，采样电压模块的输出端与采样电压处理模块10的输入端连接，得到多个采样输入电压后发送至采样电压处理模块10。在具体的实施例中，当芯片功能模拟电路的功能模拟对象为电机芯片时，电机反电动势通过多个电阻后得到对应的采样输入电压。

可选地，在一些实施例中，所述芯片功能模拟电路具体还可以包括逻辑控制模块60，逻辑控制模块60的输入端与模数转换器50的输出端连接。

具体的，对于逻辑控制模块60，用于接收数字信号，根据数字信号进行算法处理，得到对应的控制信号后进行芯片的功能测试。在模数转换器50完成模数转换后，将转换得到的数字信号输出至逻辑控制模块60，以使逻辑控制模块60根据数字信号进行相关的算法处理，从而得到对应的控制信号后进行芯片的实际功能测试，实现电机算法处理和控制。

可选地，在一些实施例中，逻辑控制模块60具体可以包括FPGA器件、DSP芯片、微控制器芯片和51单片机。

具体的，本实施例中的逻辑控制模块60可以是FPGA器件、DSP芯片、MCU和51单片机等，在此不进行具体限制，具体可视具体需求进行设定。本实施例通过加入一颗通用控制器，如FPGA/CPLD/DSP/51单片机等，即可实现电机MCU专用功能，应用在电机控制电路中，使得一些老芯片或者功能不多、性能不足的控制芯片也能实现电机应用，节约了定制专用ASIC芯片的费用，也节省了应用开发时间。

可选地，在一些实施例中，芯片功能模拟电路具体还可以包括执行模块70，执行模块70的输入端与逻辑控制模块60的输出端连接；其中，执行模块70包括电机驱动电路和电机，电机驱动电路的输入端与逻辑控制模块60的输出端连接，电机驱动电路的输出端与电机的输入端连接。

具体的，对于执行模块70，用于接收控制信号，根据控制信号执行对应的动作，以完成芯片的功能测试。本实施例中的执行模块70包括电机驱动电路和电机，电机驱动电路的输入端连接逻辑控制模块60的输出端，电机驱动电路的输出端连接电机的输入端，电机驱动电路及电机由逻辑控制模块60实现控制，电机驱动电路根据逻辑控制模块60发送的控制信号控制电机执行对应的动作，从而进行芯片功能的实际测试。

可选地，在一些实施例中，采样电压处理模块10具体可以包括多个采样电压处理单元，多个采样电压处理单元的输入端分别对应接入采样输出电压，多个采样电压处理单元的输出端分别与采样保持选择模块20的输入端连接。

可选地，在一些实施例中，采样电压处理单元具体可以包括依次电连接的滤波子单元、调幅子单元和放大子单元；

滤波子单元，用于对采样输入电压进行滤波处理；

调幅子单元，用于对滤波处理后的采样输入电压进行调幅处理；

放大子单元，用于对调幅处理后的采样输入电压进行频率调整，得到对应的采样输出电压。

具体的，在本实施例中，采样电压处理模块10具体可以包括多个独立的采样电压处理单元，其中各个采样电压处理单元的输入端分别与采样电压模块的输出端连接，各个采样电压处理单元的输出端分别与采样保持选择模块20的输入端连接，各个采样电压处理单元都包括依次电连接的滤波子单元、调幅子单元和放大子单元。

其中，滤波子单元包括一个电容电阻电路，用于对接收的采样输入电压进行滤波处理；调幅子单元包括两个共同作用的电阻，用于对接收的采样输入电压进行调幅处理；放大子单元，包括两个电阻和运算放大器，用于对接收的采样输入电压进行频率调整，得到对应的采样输出电压。

可选地，在一些实施例中，所述采样电压处理单元具体可以包括第一电阻、第一电容、第二电阻、第三电阻、第四电阻和运算放大器，其中，第一电阻的第一端连接采样输入电压，第一电阻的第二端分别与第一电容的第一端、第二电阻的第一端、运算放大器的第一端连接；第一电容的第二端接地，第二电阻的第二端为正电源端；第三电阻的第一端分别与第四电阻的第一端、运算放大器的第二端连接，第三电阻的第二端接地，第四电阻的第二端与运算放大器的第三端连接。

由于本实施例中的各个采样电压处理单元的电路结构是相同，仅仅是各个组成器件的具体参数不一样，因此在此只需举例说明其中一个采样电压处理单元的电路结构即可，其它以此类推，只需修改具体的电阻、电容和运算放大器的参数。

具体的，如图3所示，本实施例的其中任一采样电压处理单元，包括第一电阻R1、第一电容C1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4和运算放大器AMP，其中，第一电阻R1的第一端连接采样输入电压，第一电阻R1的第二端分别与第一电容C1的第一端、第二电阻R2的第一端、运算放大器AMP的第一端连接；第一电容C1的第二端接地，第二电阻R2的第二端为正电源端；第三电阻R3的第一端分别与第四电阻R4的第一端、运算放大器AMP的第二端连接，第三电阻R3的第二端接地，第四电阻R4的第二端与运算放大器AMP的第三端连接。通过第一电阻R1和第一电容C1对采样输入电压进行滤波处理，通过第一电阻R1和第二电阻R2对采样输入电压进行调幅，通过第三电阻R3、第四电阻R4和运算放大器AMP对采样输入电压进行频率的调整，最终输出采样输出电压，以便后续模数转换器采样。

具体的，如图4所示，本实施例中的采样电压处理模块10具体可以包括3个独立的采样电压处理单元，在实际的运用场景中，可以根据实际需求设置采样电压处理单元的数量。

可选地，在一些实施例中，采样保持选择模块20具体可以包括多个多路复用器，每个多路复用器的输入端分别与各个采样电压处理模块的输出端连接，每个多路复用器的输出端分别与采样保持模块的输入端连接。通过多路复用器选择任意两个或者单个采样输出电压，输出至采样保持模块30。其中，多路复用器的个数与采样电压处理单元的个数成正比例关系。

如图5所示，本实施例提供了一种芯片功能模拟电路的第三种实施方式，包括：

采样电压处理模块301，U_IN，V_IN，W_IN是电机反电动势通过三个电阻得到的采样输入电压，经过运算放大器和电容电阻调幅、放大、滤波处理后，输出U_OUT，V_OUT，W_OUT，以便后续ADC采样。

采样保持选择模块302，通过两个多路复用器，可以从U_OUT，V_OUT，W_OUT三个采样电压中，选择任意两个或者单个采样电压，输出到采样保持模块。

采样保持模块303，由于ADC不带采样保持功能，且每个时刻只能转换一个电压。因此当转换某个通道电压时，另一个通道电压应该被保持，等待转换完上个通道电压来转换本通道。

ADC通道选择模块304，由于单个ADC每个时刻只能转换一个电压，因此当有两个或以上电压输入时，应该加上通道选择模块，实现通道切换。

ADC(模数转换器)305，实现模拟到数字转换。

逻辑控制模块306，可以是FPGA、DSP、MCU和51单片机等。读取ADC转换的数字电压，同时实现电机算法及控制。

电机驱动及电机模块307，由逻辑控制模块实现控制。

综上所述，本实施例中的芯片功能模拟电路，该电路包括依次电连接的采样电压处理模块10、采样保持选择模块20、采样保持模块30、通道选择模块40和模数转换器50；其中，采样电压处理模块10的输入端接入采样输入电压，采样电压处理模块10的输出端与采样保持选择模块20的输入端连接，采样保持选择模块20的输出端与采样保持模块30的输入端连接，采样保持模块30的输出端与通道选择模块40的输入端连接，通道选择模块40的输出端与模数转换器50的输入端连接。本实施例通过提供一种模拟芯片内部的模拟功能的电路，通过采样电压处理模块10模拟运放的功能，通过采样保持选择模块20实现采样信号的选择，通过采样保持模块30实现采样保持的功能，通过通道选择模块40实现ADC通道和采样保持通道的选择，结合模数转换器50即可模拟芯片的内部模拟功能，能够在流片前对芯片的数字和模拟功能进行实际验证，从而降低芯片流片的不确定性，提高芯片验证成功率。

本申请实施例还提供了一种电子设备，包括如上所述的芯片功能模拟电路。

以上所述仅为本申请的实施例，并非因此限制本申请的专利范围，凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，例如各实施例之间技术特征的相互结合，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本申请的专利保护范围内。

另外，对于特性相同或相似的结构元件，本申请可采用相同或者不相同的标号进行标识。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本申请中，“例如”一词是用来表示“用作例子、例证或说明”。本申请中被描述为“例如”的任何一个实施例不一定被解释为比其它实施例更加优选或更加具优势。为了使本领域任何技术人员能够实现和使用本申请，本申请给出了以上描述。在以上描述中，为了解释的目的而列出了各个细节。

应当明白的是，本领域普通技术人员可以认识到，在不使用这些特定细节的情况下也可以实现本申请。在其它实施例中，不会对公知的结构和过程进行详细阐述，以避免不必要的细节使本申请的描述变得晦涩。因此，本申请并非旨在限于所示的实施例，而是与符合本申请所公开的原理和特征的最广范围相一致。

Claims (10)

1.一种芯片功能模拟电路，其特征在于，包括依次电连接的采样电压处理模块、采样保持选择模块、采样保持模块、通道选择模块和模数转换器；其中，所述采样电压处理模块的输入端接入采样输入电压，所述采样电压处理模块的输出端与所述采样保持选择模块的输入端连接，所述采样保持选择模块的输出端与所述采样保持模块的输入端连接，所述采样保持模块的输出端与所述通道选择模块的输入端连接，所述通道选择模块的输出端与所述模数转换器的输入端连接。

2.根据权利要求1所述的芯片功能模拟电路，其特征在于，还包括采样电压模块，所述采样电压模块的输入端接入输入电压，所述采样电压模块的输出端与所述采样电压处理模块的输入端连接；其中，所述采样电压模块包括多个电阻。

3.根据权利要求1所述的芯片功能模拟电路，其特征在于，还包括逻辑控制模块，所述逻辑控制模块的输入端与所述模数转换器的输出端连接。

4.根据权利要求3所述的芯片功能模拟电路，其特征在于，还包括执行模块，所述执行模块的输入端与所述逻辑控制模块的输出端连接；其中，所述执行模块包括电机驱动电路和电机，所述电机驱动电路的输入端与所述逻辑控制模块的输出端连接，所述电机驱动电路的输出端与所述电机的输入端连接。

5.根据权利要求1所述的芯片功能模拟电路，其特征在于，所述采样电压处理模块包括多个采样电压处理单元，所述多个采样电压处理单元的输入端分别对应接入采样输出电压，所述多个采样电压处理单元的输出端分别与所述采样保持选择模块的输入端连接。

6.根据权利要求5所述的芯片功能模拟电路，其特征在于，所述采样电压处理单元包括依次电连接的滤波子单元、调幅子单元和放大子单元；

所述滤波子单元，用于对所述采样输入电压进行滤波处理；

所述调幅子单元，用于对滤波处理后的采样输入电压进行调幅处理；

所述放大子单元，用于对调幅处理后的采样输入电压进行频率调整，得到对应的采样输出电压。

7.根据权利要求5所述的芯片功能模拟电路，其特征在于，所述采样电压处理单元包括第一电阻、第一电容、第二电阻、第三电阻、第四电阻和运算放大器，其中，所述第一电阻的第一端连接采样输入电压，所述第一电阻的第二端分别与所述第一电容的第一端、所述第二电阻的第一端、所述运算放大器的第一端连接；所述第一电容的第二端接地，所述第二电阻的第二端为正电源端；所述第三电阻的第一端分别与所述第四电阻的第一端、所述运算放大器的第二端连接，所述第三电阻的第二端接地，所述第四电阻的第二端与所述运算放大器的第三端连接。

8.根据权利要求1所述的芯片功能模拟电路，其特征在于，所述采样保持选择模块包括多个多路复用器，所述多路复用器的输入端分别与所述采样电压处理模块的输出端连接，所述多路复用器的输出端分别与所述采样保持模块的输入端连接。

9.根据权利要求3所述的芯片功能模拟电路，其特征在于，所述逻辑控制模块包括FPGA器件、DSP芯片、微控制器芯片和51单片机。

10.一种电子设备，其特征在于，包括如权利要求1-9任一项所述的芯片功能模拟电路。

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