CN219065322U - 一种微电子组件外观检验设备 - Google Patents

Abstract

本申请涉及微电子组件生产领域，公开了一种微电子组件外观检验设备，包括工作台，工作台上设置有检验机构，工作台上滑动设置有滑板，工作台上设置有驱动机构，滑板上设置有用于放置微电子组件的支撑部，支撑部上滑动设置有用于对微电子组件侧边进行抵接限位的限位组件，支撑部上设置有用于对微电子组件下压固定的压紧组件。本申请具有能够通过限位组件和压紧组件对微电子组件进行限位压紧固定，每次微电子组件移动至检验机构下方处时均位于同一位置处，使得检验机构对微电子组件进行检验时不易出现因微电子组件偏移导致的检验不准确，从而提高了微电子组件的检验效率，达到改善因放置微电子组件易出现偏差导致微电子组件检验效率降低的效果。

Description

一种微电子组件外观检验设备

技术领域

本申请涉及微电子组件生产的领域，尤其是涉及一种微电子组件外观检验设备。

背景技术

PCBA也称为线路板组件或电路板组件，也俗称为微电子组件，近年来，信息技术的不断发展使得微电子组件作为信息技术的重要组成部分得到了迅速发展，当微电子组件上的元件经回流焊工艺焊接在微电子组件上后，需要对微电子组件的外观检验，减少出现元件漏接、错接的情况，从而保证输出的微电子组件为合格品。

目前，在对微电子组件外观进行检测时多使用微电子组件视觉检测装置，微电子组件视觉检测装置包括工作台、工业计算机和多个工业相机，工业计算机和多个工业相机均安装在工作台上，工作人员将微电子组件放置在工作台位于多个工业相机的下方处，多个工业相机对微电子组件的不同区域进行拍摄，再将拍摄的图像传输至工业计算机内，工业计算机将采集的图像与数据库内的标准图像进行比对，从而对微电子组件进行检验。

针对上述中的相关技术，工作人员将微电子组件放置在工作台上时，难以确保每次放置的微电子组件均位于同一置位处，当微电子组件放置在工作台上出现偏差时，工业相机拍摄采集的图像则会出现偏差，从而对检验结果造成影响，降低了检验效率，发明人认为存在有因放置微电子组件易出现偏差导致微电子组件检验效率降低的缺陷。

实用新型内容

为了改善因放置微电子组件易出现偏差导致微电子组件检验效率降低的问题，本申请提供一种微电子组件外观检验设备。

本申请提供的一种微电子组件外观检验设备采用如下的技术方案：

一种微电子组件外观检验设备，包括工作台，工作台上设置有检验机构，所述工作台上位于检验机构下方处滑动设置有滑板，所述工作台上设置有用于驱动滑板朝远离或靠近检验机构进行移动的驱动机构，所述滑板上设置有用于放置微电子组件的支撑部，所述支撑部上滑动设置有多个用于对微电子组件侧边进行抵接限位的限位组件，所述支撑部上设置有用于对微电子组件下压固定的压紧组件。

通过采用上述技术方案，在对微电子组件进行检验时，将微电子组件放置在支撑部上，滑动限位组件对支撑部上的微电子组件进行限位，再使用压紧组件对微电子组件进行下压，从而将微电子组件固定在支撑部上，驱动机构再通过滑板带动支撑部移动至检验机构下方，支撑部带动微电子组件移动至检验机构下方处，检验机构对微电子组件进行拍摄检验。如此设置，使用限位组件和压紧组件对微电子组件进行限位压紧固定，每次微电子组件移动至检验机构下方处时均位于同一位置处，使得检验机构对微电子组件进行检验时不易出现因微电子组件偏移导致的检验不准确，从而提高了微电子组件的检验效率。

优选的，所述支撑部包括第一支撑杆和第一支撑杆，所述第一支撑杆和第一支撑杆均设置在滑板上，所述第一支撑杆和第二支撑杆相互靠近的侧壁上均开设有用于放置微电子组件的安装槽。

通过采用上述技术方案，将微电子组件放置在第一支撑杆和第二支撑杆的安装槽内，安装槽对微电子组件进行限位，使得微电子组件不易发生偏移。

优选的，所述限位组件设置有四个，两个所述限位组件滑动设置在第一支撑杆上，两个所述限位组件滑动设置在第二支撑杆上。

通过采用上述技术方案，微电子组件放置在第一支撑杆和第二支撑杆上后，先滑动第一支撑杆上的两个限位组件，两个限位组件对微电子组件位于第一支撑杆上的一端进行限位，再滑动第二支撑杆上的两个限位组件，两个限位组件对微电子组件位于第二支撑杆上的一端进行限位，从而进一步对微电子组件进行限位。

优选的，所述限位组件包括限位滑块和第一锁紧件，所述限位滑块滑动设置在第一支撑杆或第二支撑杆上，所述第一锁紧件设置在限位滑块上并用于将限位滑块固定在第一支撑杆或第二支撑杆上。

通过采用上述技术方案，在使用限位组件对微电子组件进行限位时，在第一支撑杆或第二支撑杆上移动限位滑块，限位滑块移动并抵接微电子组件后，使用第一锁紧件对限位滑块进行固定，从而完成对微电子组件的限位。

优选的，所述压紧组件设置有两个，一个所述压紧组件设置在第一支撑杆上，另一个所述压紧组件设置在第二支撑杆上。

通过采用上述技术方案，微电子组件完成限位后，两个压紧组件分别对微电子组件的两端进行下压，从而将微电子组件压紧固定在第一支撑杆和第二支撑杆上。

优选的，所述压紧组件包括第一驱动件、转动轴和压块，所述第一驱动件固定设置在第一支撑杆或第二支撑杆上，所述转动轴转动设置在第一支撑杆或第二支撑杆上并与第一驱动件的驱动端固定连接，所述压块设置在转动轴上。

通过采用上述技术方案，驱动件带动转动轴进行转动，转动轴带动压块进行转动，压块转动并抵压在微电子组件上，从而对微电子组件进行下压固定。

优选的，所述压块滑动套设在转动轴上，且所述压块上设置有用于将压块固定在转动轴上的第二锁紧件。

通过采用上述技术方案，在转动轴上滑动压块可对压块位置进行调节，调节后使用第二锁紧件对压块进行固定，通过调节压块在转动轴上的位置，使得压块可对不同尺寸的微电子组件进行压紧，从而提高压紧组件的适用范围。

优选的，所述第二支撑杆沿垂直自身长度方向可调节滑动设置在滑板上。

通过采用上述技术方案，滑动第二支撑杆可调节第二支撑杆与第一支撑杆之间的位置，使得支撑部可对不同尺寸的微电子组件进行支撑放置，从而提高支撑部的使用范围。

优选的，所述驱动机构包括第二驱动件、丝杆和移动套，所述第二驱动件固定设置在工作台上，所述丝杆转动设置在工作台上并与第二驱动件的驱动端固定连接，所述移动套固定设置在滑板上，且所述移动套螺纹套设在丝杆上。

通过采用上述技术方案，当微电子组件限位固定完成后，第二驱动件驱动丝杆进行转动，丝杆转动带动移动套沿丝杆轴线方向进行移动，移动套带动滑板进行移动，从而带动微电子组件移动至检验机构下方处。

优选的，所述限位滑块的侧壁上开设有用于对微电子组件进行卡接限位的卡槽。

通过采用上述技术方案，在对微电子组件进行限位时，限位滑块抵接在微电子组件上，此时微电子组件位于限位滑块的卡槽内，限位滑块的卡槽对微电子组件进行卡接固定并取代压紧组件的下压固定，使得限位滑块对微电子组件进行限位的同时还能够对线路板进行固定，从而更加便于对微电子组件进行限位固定。

综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：

1.通过采用限位组件和压紧组件对微电子组件进行限位压紧固定，每次微电子组件移动至检验机构下方处时均位于同一位置处，使得检验机构对微电子组件进行检验时不易出现因微电子组件偏移导致的检验不准确，从而提高了微电子组件的检验效率；

2.通过采用第二支撑杆可滑动调节安装在滑板上，滑动第二支撑杆可调节第二支撑杆与第一支撑杆之间的位置，使得支撑部可对不同尺寸的微电子组件进行支撑放置，从而提高支撑部的使用范围；

3.通过采用卡槽，限位滑块的卡槽对微电子组件进行卡接固定并取代压紧组件的下压固定，使得限位滑块对微电子组件进行限位的同时还能够对线路板进行固定，从而更加便于对微电子组件进行限位固定。

附图说明

图1是本申请实施例1中微电子组件外观检验设备的整体结构示意图；

图2是本申请实施例1中微电子组件外观检验设备的剖视图；

图3是本申请实施例1中微电子组件外观检验设备的局部结构示意图；

图4是本申请实施例2中微电子组件外观检验设备的整体结构示意图；

图5是本申请实施例2中微电子组件外观检验设备的局部结构示意图。

附图标记说明：1、工作台；2、检验机构；3、滑板；4、驱动机构；41、第二驱动件；42、丝杆；43、移动套；5、支撑部；51、第一支撑杆；52、第二支撑杆；6、限位组件；61、限位滑块；62、第一锁紧件；7、压紧组件；71、第一驱动件；72、转动轴；73、压块；8、安装槽；9、第二锁紧件；10、卡槽；11、滑杆；12、滑动套；13、第三锁紧件；14、固定座；15、滑轨。

具体实施方式

以下结合附图1-5对本申请作进一步详细说明。

本申请实施例公开一种微电子组件外观检验设备。

实施例1：

参照图1和2，一种微电子组件外观检验设备包括工作台1，工作台1上安装有检验机构2，工作台1内安装有两个滑轨15，滑轨15上固定安装有滑板3，滑板3通过滑轨15在工作台1内进行滑动，且工作台1内安装有驱动机构4，驱动机构4驱动滑板3进行往复移动，滑板3先移动至检验机构2正向方处，再移动远离检验机构2。

驱动机构4包括第二驱动件41、丝杆42和移动套43，第二驱动件41固定安装在工作台1内，丝杆42的一端固定安装在第二驱动件41的驱动端，另一端转动安装在工作台1内，且丝杆42沿滑板3滑动方向安装。移动套43固定安装在滑板3靠近丝杆42的侧壁上，且移动套43螺纹套设在丝杆42上。本申请中，第二驱动件41可选用为伺服电机。第二驱动件41驱动丝杆42进行转动，丝杆42通过移动套43带动滑板3进行往复移动。

参照图2和3，滑板3上安装有支撑部5，支撑部5包括安装在滑板3上的第一支撑杆51和第二支撑杆52，第一支撑杆51和第二支撑杆52均沿垂直丝杆42长度方向安装并相互平行。第一支撑杆51和第二支撑杆52顶壁相互靠近的一端均沿自身长度方向开设有安装槽8，微电子组件放置在第一支撑杆51和第二支撑杆52上，且微电子组件长度方向的两端分别位于两个安装槽8内。微电子组件放置在支撑部5上后，两个安装槽8对微电子组件长度方向进行限位。

第一支撑杆51和第二支撑杆52上均滑动安装有两个限位组件6，且每个支撑杆上的两个限位组件6均抵接在微电子组件宽度方向的两端，从而对微电子组件宽度方向进行限位。第一支撑杆51和第二支撑杆52上安装有压紧组件7，压紧组件7对微电子组件长度方向的两端进行下压，从而对微电子组件厚度方向进行限位并将微电子组件压紧固定在第一支撑杆51和第二支撑杆52上。滑板3通过支撑部5带动微电子组件移动至检测机构正下方，检测机构对微电子组件就那些检测。使用限位组件6和压紧组件7对微电子组件进行限位压紧固定，每次微电子组件移动至检验机构2下方处时均位于同一位置处，使得检验机构2对微电子组件进行检验时不易出现因微电子组件偏移导致的检验不准确，从而提高了微电子组件的检验效率。

限位组件6包括限位滑块61和第一锁紧件62，限位滑块61沿第一支撑杆51长度方向相适配滑动安装在第一支撑杆51或第二支撑杆52上，第二锁紧件9螺纹安装在限位滑块61内并抵接在第一支撑杆51或第二支撑杆52上。本申请中，第一锁紧件62可选用为手拧螺栓。在第一支撑杆51或第二支撑杆52上滑动限位滑块61，使限位滑块61抵接在微电子组件宽度方向的侧壁上，再转动第一锁紧件62，第一锁紧件62抵紧在第一支撑杆51或第二支撑杆52上并对限位滑块61进行固定，从而对微电子组件宽度方向进行限位。

压紧组件7包括第一驱动件71、转动轴72和六个压块73，第一驱动件71固定安装在第一支撑杆51或第二支撑杆52的端部，转动轴72转动安装在第一支撑杆51或第二支撑杆52上，转动轴72平行于第一支撑杆51并与第一驱动件71的驱动端固定连接，转动轴72的横截面为矩形且六个压块73沿转动轴72长度方向相适配滑动套12设在转动上。本申请中，第一驱动件71可选用为伺服马达。第一驱动件71驱动转动轴72进行转动，转动轴72带动压块73进行转动，压块73转动并抵压在微电子组件上，从而对微电子组件进行下压固定。

压块73上螺纹安装有第二锁紧件9，第二锁紧件9抵接在转动轴72上，本申请中，第二锁紧件9可选用为手拧螺栓。在转动轴72上滑动压块73可对压块73位置进行调节，调节后转动第二锁紧件9对压块73进行固定，通过调节压块73在转动轴72上的位置，使得压块73可对不同尺寸的微电子组件进行压紧，从而提高压紧组件7的适用范围。

滑板3沿第一支撑杆51长度方向的两侧壁上均固定安装有两个固定座14，滑板3每个侧壁上的两个固定座14分别位于侧壁长度方向的两端，第一支撑杆51的两端分别固定安装在滑板3两侧远离检验机构2的固定座14上。滑板3沿第一支撑杆51长度方向的两端均固定安装有滑杆11，滑杆11沿垂直第一支撑杆51长度方向安装，且滑杆11的两端分别与两个固定座14固定连接。

滑杆11上沿自身长度方向相适配滑动套12设有滑动套12，第二支撑杆52的两端分别与两个滑动套12固定连接，且位于第二支撑杆52上的第一驱动件71和转动轴72安装在滑动套12上。滑动套12上螺纹安装有第三锁紧件13，第三锁紧件13抵接在滑杆11上，本申请中，第三锁紧件13可选用为手拧螺栓。

滑动套12在滑杆11上滑动可带动第二支撑杆52朝靠近或远离第一支撑杆51方向进行移动，转动第三锁紧件13可对滑动套12进行固定，滑动第二支撑杆52可调节第二支撑杆52与第一支撑杆51之间的位置，使得支撑部5可对不同尺寸的微电子组件进行支撑放置，从而提高支撑部5的使用范围。

本申请实施例1的实施原理为：将微电子组件放置在第一支撑杆51和第二支撑杆52上，并使微电子组件长度方向的两端分别位于两个安装槽8内，从而对微电子组件长度方向进行限位；在第一支撑杆51或第二支撑杆52上滑动限位滑块61，使限位滑块61抵接在微电子组件宽度方向的侧壁上，再转动第一锁紧件62，第一锁紧件62抵紧在第一支撑杆51或第二支撑杆52上并对限位滑块61进行固定，从而对微电子组件宽度方向进行限位；第一驱动件71驱动转动轴72进行转动，转动轴72带动压块73进行转动，压块73转动并抵压在微电子组件上，从而将微电子组件下压固定在第一支撑杆51和第二支撑杆52上；第二驱动件41驱动丝杆42进行转动，丝杆42通过移动套43带动滑板3进行移动，滑板3通过支撑部5带动微电子组件移动至检测机构正下方，检测机构对微电子组件就那些检测。使用限位组件6和压紧组件7对微电子组件进行限位压紧固定，每次微电子组件移动至检验机构2下方处时均位于同一位置处，使得检验机构2对微电子组件进行检验时不易出现因微电子组件偏移导致的检验不准确，从而提高了微电子组件的检验效率。

实施例2：

参照图4和5，本申请实施例与实施例1的不同之处在于限位滑块61靠近微电子组件的侧壁上开设有卡槽10，卡槽10的高度与微电子组件的厚度相同，当限位滑块61移动抵接微电子组件时，限位滑块61的卡槽10卡接在微电子组件上，从而对微电子组件厚度方向进行限位固定。如此，在对微电子组件进行限位固定时，无需再使用压紧组件7对微电子组件进行压紧固定，使得限位滑块61对微电子组件进行限位的同时还能够对线路板进行固定，从而更加便于对微电子组件进行限位固定。

本申请实施例1的实施原理为：移动限位滑块61使得限位滑块61抵接在微电子组件上，同时限位滑块61的卡槽10卡接在微电子组件上，在对微电子组件进行限位固定时，无需再使用压紧组件7对微电子组件进行压紧固定，使得限位滑块61对微电子组件进行限位的同时还能够对线路板进行固定，从而更加便于对微电子组件进行限位固定。

以上均为本申请的较佳实施例，并非依此限制本申请的保护范围，故：凡依本申请的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种微电子组件外观检验设备，包括工作台(1)，工作台(1)上设置有检验机构(2)，其特征在于：所述工作台(1)上位于检验机构(2)下方处滑动设置有滑板(3)，所述工作台(1)上设置有用于驱动滑板(3)朝远离或靠近检验机构(2)进行移动的驱动机构(4)，所述滑板(3)上设置有用于放置微电子组件的支撑部(5)，所述支撑部(5)上滑动设置有多个用于对微电子组件侧边进行抵接限位的限位组件(6)，所述支撑部(5)上设置有用于对微电子组件下压固定的压紧组件(7)。

2.根据权利要求1所述的一种微电子组件外观检验设备，其特征在于：所述支撑部(5)包括第一支撑杆(51)和第一支撑杆(51)，所述第一支撑杆(51)和第一支撑杆(51)均设置在滑板(3)上，所述第一支撑杆(51)和第二支撑杆(52)相互靠近的侧壁上均开设有用于放置微电子组件的安装槽(8)。

3.根据权利要求2所述的一种微电子组件外观检验设备，其特征在于：所述限位组件(6)设置有四个，两个所述限位组件(6)滑动设置在第一支撑杆(51)上，两个所述限位组件(6)滑动设置在第二支撑杆(52)上。

4.根据权利要求3所述的一种微电子组件外观检验设备，其特征在于：所述限位组件(6)包括限位滑块(61)和第一锁紧件(62)，所述限位滑块(61)滑动设置在第一支撑杆(51)或第二支撑杆(52)上，所述第一锁紧件(62)设置在限位滑块(61)上并用于将限位滑块(61)固定在第一支撑杆(51)或第二支撑杆(52)上。

5.根据权利要求2所述的一种微电子组件外观检验设备，其特征在于：所述压紧组件(7)设置有两个，一个所述压紧组件(7)设置在第一支撑杆(51)上，另一个所述压紧组件(7)设置在第二支撑杆(52)上。

6.根据权利要求5所述的一种微电子组件外观检验设备，其特征在于：所述压紧组件(7)包括第一驱动件(71)、转动轴(72)和压块(73)，所述第一驱动件(71)固定设置在第一支撑杆(51)或第二支撑杆(52)上，所述转动轴(72)转动设置在第一支撑杆(51)或第二支撑杆(52)上并与第一驱动件(71)的驱动端固定连接，所述压块(73)设置在转动轴(72)上。

7.根据权利要求6所述的一种微电子组件外观检验设备，其特征在于：所述压块(73)滑动套(12)设在转动轴(72)上，且所述压块(73)上设置有用于将压块(73)固定在转动轴(72)上的第二锁紧件(9)。

8.根据权利要求2所述的一种微电子组件外观检验设备，其特征在于：所述第二支撑杆(52)沿垂直自身长度方向可调节滑动设置在滑板(3)上。

9.根据权利要求1所述的一种微电子组件外观检验设备，其特征在于：所述驱动机构(4)包括第二驱动件(41)、丝杆(42)和移动套(43)，所述第二驱动件(41)固定设置在工作台(1)上，所述丝杆(42)转动设置在工作台(1)上并与第二驱动件(41)的驱动端固定连接，所述移动套(43)固定设置在滑板(3)上，且所述移动套(43)螺纹套设在丝杆(42)上。

10.根据权利要求4所述的一种微电子组件外观检验设备，其特征在于：所述限位滑块(61)的侧壁上开设有用于对微电子组件进行卡接限位的卡槽(10)。

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