CN219039230U - 一种温度可调的电子产品老化测试设备 - Google Patents

Abstract

本申请涉及电子产品测试技术领域，且公开了一种温度可调的电子产品老化测试设备，包括测试箱，所述测试箱的上下相对一侧内壁通过轴承转动连接有同一根转轴，所述测试箱的下端固定连接有用于驱动转轴转动的旋转机构，所述转轴的轴壁均匀固定套接有多个上下等距设置的固定座，所述固定座的外侧均匀固定卡接有多个托接板，所述托接板的上侧均匀开设有多个托接槽，所述测试箱的内壁固定连接多个位于托接板上侧的升温灯。本申请能够对测试箱内的温度进行快速精确调控，便于不同电子产品老化环境的测试使用，能够实现对电子产品均匀的老化测试，保证了测试质量。

Description

一种温度可调的电子产品老化测试设备

技术领域

本申请属于电子产品测试技术领域，尤其涉及一种温度可调的电子产品老化测试设备。

背景技术

老化测试项目是指模拟产品在现实使用条件中涉及到的各种因素对产品产生老化的情况进行相应条件加强实验的过程，该实验主要针对塑胶材料，常见的老化主要有光照老化，湿热老化，热风老化。

目前电子产品老化测试时，大多直接将电子产品放置在测试箱内，电子产品的放置位置固定，老化均匀度差，影响实际检测质量。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决上述的问题，而提出的一种温度可调的电子产品老化测试设备。

为了实现上述目的，本申请采用了如下技术方案：

一种温度可调的电子产品老化测试设备，包括测试箱，所述测试箱的上下相对一侧内壁通过轴承转动连接有同一根转轴，所述测试箱的下端固定连接有用于驱动转轴转动的旋转机构，所述转轴的轴壁均匀固定套接有多个上下等距设置的固定座，所述固定座的外侧均匀固定卡接有多个托接板，所述托接板的上侧均匀开设有多个托接槽，所述测试箱的内壁固定连接多个位于托接板上侧的升温灯，所述测试箱的外侧固定连接有绝缘壳，所述绝缘壳的内侧固定连接有电阻条，所述绝缘壳远离测试箱的一侧开设有条形开口，且对应条形开口内固定连接有导向滑杆，所述导向滑杆外滑动套接有调节块，所述调节块的侧壁固定连接有与电阻条电性接触的导电片。

优选的，所述旋转机构包括固定连接在测试箱下端的旋转电机，所述旋转电机的输出端固定连接有主动锥齿轮，所述转轴的下端贯穿测试箱的下端，且固定连接有与主动锥齿轮啮合的从动锥齿轮。

优选的，所述调节块位于绝缘壳外的一端外侧固定套接有防滑胶垫。

优选的，所述固定座的外壁固定连接有两个关于托接板上下对称设置的卡接板，所述托接板的上侧两侧均固定连接有限位块，所述卡接板的侧壁开设有与限位块匹配插接的限位槽，位于上侧所述卡接板和托接板之间通过卡紧机构固定卡接。

优选的，所述卡紧机构包括多根活动插设在卡接板表面的卡紧杆，所述托接板的上侧开设有多个与卡紧杆匹配插接的卡紧槽，多根所述卡紧杆的上端固定连接有同一个卡紧拉板，所述卡紧拉板的下端和卡接板的上端之间固定连接有多个分别套设在多根卡紧杆外的卡紧弹簧。

优选的，所述测试箱的下端固定连接有罩套在旋转机构外的防护壳。

与现有技术相比，本申请提供了一种温度可调的电子产品老化测试设备，具备以下有益效果：

1、该温度可调的电子产品老化测试设备，通过设有的测试箱，将待测试的电子产品放置在托接板上侧的托接槽内，并将托接板卡接在固定座的外侧，升温灯对测试箱内的温度进行控制，通过调节块在导向滑杆上的滑动带动导电片在电阻条上移动，进而改变接入对升温灯电量的大小，进而改变升温灯的加热温度大小，能够对测试箱内的温度进行快速精确调控，便于不同电子产品老化环境的测试使用，且在测试的时候启动旋转电机，旋转电机带动主动锥齿轮转动，通过主动锥齿轮和从动锥齿轮的啮合作用带动转轴转动，进而驱动多个托接板带动电子产品转动，能够实现对电子产品均匀的老化测试，保证了测试质量。

2、该温度可调的电子产品老化测试设备，通过设有的托接板和固定座，托接板的一端通过限位块和限位槽的匹配卡接实现与固定座之间的稳定连接，且在卡入的时候上拉卡紧拉板，卡紧拉板带动卡紧杆上移，避免卡紧杆阻挡托接板的卡入，且在托接板完全卡入后，松开卡紧拉板，卡紧弹簧下拉卡紧拉板，卡紧拉板将卡紧杆推进卡紧槽内即可实现卡接板和托接板的稳固卡接固定，且能够实现对托接板的快速拆装，便于使用。

而且该装置中未涉及部分均与现有技术相同或可采用现有技术加以实现，本申请能够对测试箱内的温度进行快速精确调控，便于不同电子产品老化环境的测试使用，能够实现对电子产品均匀的老化测试，保证了测试质量。

附图说明

图1为本申请提出的一种温度可调的电子产品老化测试设备的结构示意图；

图2为图1中A部分的放大图。

图中：1、测试箱；2、转轴；3、固定座；4、托接板；5、托接槽；6、升温灯；7、绝缘壳；8、电阻条；9、条形开口；10、导向滑杆；11、调节块；12、导电片；13、旋转电机；14、主动锥齿轮；15、从动锥齿轮；16、卡接板；17、限位块；18、限位槽；19、卡紧杆；20、卡紧槽；21、卡紧拉板；22、卡紧弹簧。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。

参照图1-2，一种温度可调的电子产品老化测试设备，包括测试箱1，测试箱1的上下相对一侧内壁通过轴承转动连接有同一根转轴2，测试箱1的下端固定连接有用于驱动转轴2转动的旋转机构，转轴2的轴壁均匀固定套接有多个上下等距设置的固定座3，固定座3的外侧均匀固定卡接有多个托接板4，托接板4的上侧均匀开设有多个托接槽5，测试箱1的内壁固定连接多个位于托接板4上侧的升温灯6，测试箱1的外侧固定连接有绝缘壳7，绝缘壳7的内侧固定连接有电阻条8，绝缘壳7远离测试箱1的一侧开设有条形开口9，且对应条形开口9内固定连接有导向滑杆10，导向滑杆10外滑动套接有调节块11，调节块11的侧壁固定连接有与电阻条8电性接触的导电片12。

旋转机构包括固定连接在测试箱1下端的旋转电机13，旋转电机13的输出端固定连接有主动锥齿轮14，转轴2的下端贯穿测试箱1的下端，且固定连接有与主动锥齿轮14啮合的从动锥齿轮15。

调节块11位于绝缘壳7外的一端外侧固定套接有防滑胶垫。

固定座3的外壁固定连接有两个关于托接板4上下对称设置的卡接板16，托接板4的上侧两侧均固定连接有限位块17，卡接板16的侧壁开设有与限位块17匹配插接的限位槽18，位于上侧卡接板16和托接板4之间通过卡紧机构固定卡接。

卡紧机构包括多根活动插设在卡接板16表面的卡紧杆19，托接板4的上侧开设有多个与卡紧杆19匹配插接的卡紧槽20，多根卡紧杆19的上端固定连接有同一个卡紧拉板21，卡紧拉板21的下端和卡接板16的上端之间固定连接有多个分别套设在多根卡紧杆19外的卡紧弹簧22。

测试箱1的下端固定连接有罩套在旋转机构外的防护壳。

现对本实用新型的操作原理做如下描述：

本申请使用时，通过设有的测试箱1，将待测试的电子产品放置在托接板4上侧的托接槽5内，并将托接板4卡接在固定座3的外侧，升温灯6对测试箱1内的温度进行控制，通过调节块11在导向滑杆10上的滑动带动导电片12在电阻条8上移动，进而改变接入对升温灯6电量的大小，进而改变升温灯6的加热温度大小，能够对测试箱1内的温度进行快速精确调控，便于不同电子产品老化环境的测试使用，且在测试的时候启动旋转电机13，旋转电机13带动主动锥齿轮14转动，通过主动锥齿轮14和从动锥齿轮15的啮合作用带动转轴2转动，进而驱动多个托接板4带动电子产品转动，能够实现对电子产品均匀的老化测试，保证了测试质量，通过设有的托接板4和固定座3，托接板4的一端通过限位块17和限位槽18的匹配卡接实现与固定座3之间的稳定连接，且在卡入的时候上拉卡紧拉板21，卡紧拉板21带动卡紧杆19上移，避免卡紧杆19阻挡托接板4的卡入，且在托接板4完全卡入后，松开卡紧拉板21，卡紧弹簧22下拉卡紧拉板21，卡紧拉板21将卡紧杆19推进卡紧槽20内即可实现卡接板16和托接板4的稳固卡接固定，且能够实现对托接板4的快速拆装，便于使用。

以上所述，仅为本申请较佳的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，根据本申请的技术方案及其申请构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本申请的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种温度可调的电子产品老化测试设备，包括测试箱(1)，其特征在于，所述测试箱(1)的上下相对一侧内壁通过轴承转动连接有同一根转轴(2)，所述测试箱(1)的下端固定连接有用于驱动转轴(2)转动的旋转机构，所述转轴(2)的轴壁均匀固定套接有多个上下等距设置的固定座(3)，所述固定座(3)的外侧均匀固定卡接有多个托接板(4)，所述托接板(4)的上侧均匀开设有多个托接槽(5)，所述测试箱(1)的内壁固定连接多个位于托接板(4)上侧的升温灯(6)，所述测试箱(1)的外侧固定连接有绝缘壳(7)，所述绝缘壳(7)的内侧固定连接有电阻条(8)，所述绝缘壳(7)远离测试箱(1)的一侧开设有条形开口(9)，且对应条形开口(9)内固定连接有导向滑杆(10)，所述导向滑杆(10)外滑动套接有调节块(11)，所述调节块(11)的侧壁固定连接有与电阻条(8)电性接触的导电片(12)。

2.根据权利要求1所述的一种温度可调的电子产品老化测试设备，其特征在于，所述旋转机构包括固定连接在测试箱(1)下端的旋转电机(13)，所述旋转电机(13)的输出端固定连接有主动锥齿轮(14)，所述转轴(2)的下端贯穿测试箱(1)的下端，且固定连接有与主动锥齿轮(14)啮合的从动锥齿轮(15)。

3.根据权利要求1所述的一种温度可调的电子产品老化测试设备，其特征在于，所述调节块(11)位于绝缘壳(7)外的一端外侧固定套接有防滑胶垫。

4.根据权利要求1所述的一种温度可调的电子产品老化测试设备，其特征在于，所述固定座(3)的外壁固定连接有两个关于托接板(4)上下对称设置的卡接板(16)，所述托接板(4)的上侧两侧均固定连接有限位块(17)，所述卡接板(16)的侧壁开设有与限位块(17)匹配插接的限位槽(18)，位于上侧所述卡接板(16)和托接板(4)之间通过卡紧机构固定卡接。

5.根据权利要求4所述的一种温度可调的电子产品老化测试设备，其特征在于，所述卡紧机构包括多根活动插设在卡接板(16)表面的卡紧杆(19)，所述托接板(4)的上侧开设有多个与卡紧杆(19)匹配插接的卡紧槽(20)，多根所述卡紧杆(19)的上端固定连接有同一个卡紧拉板(21)，所述卡紧拉板(21)的下端和卡接板(16)的上端之间固定连接有多个分别套设在多根卡紧杆(19)外的卡紧弹簧(22)。

6.根据权利要求1所述的一种温度可调的电子产品老化测试设备，其特征在于，所述测试箱(1)的下端固定连接有罩套在旋转机构外的防护壳。

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