CN218956737U - 一种微型芯片的测试治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及芯片测试技术领域，公开了一种微型芯片的测试治具，包括箱体，所述箱体的内侧顶部左右侧均设置有开口槽，所述箱体的左侧固定连接有马达，所述马达的输出端贯穿左侧开口槽并固定连接有双向螺纹杆，所述双向螺纹杆的右端贯穿右侧开口槽并转动连接在右侧开口槽的内部右侧，所述双向螺纹杆的左右侧均螺纹连接有第一活动块。本实用新型中，通过马达带动双向螺纹杆转动，双向螺纹杆上的活动块会向中间靠拢，不需要更换不同的测试治具，实用性较好，并且通过挤压第一固定板，第一固定板底侧的第一弹簧会带动第一凹槽中的第二活动块向两侧移动，可以减轻探针模组堵对芯片的压力，提高了探针模组的使用寿命。

Description

一种微型芯片的测试治具

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种微型芯片的测试治具。

背景技术

现在电子封装的工艺技术和发展趋势是拥有更高的电性能和热性能，其具有轻、薄、小、批量生产、便于安装与使用的特性需求，器件的小型化高密度封装形式也越来越多，因而需对其进行测试处理，因此需使用到相应的测试治具。

目前市场上现有的微型芯片测试治具在工作前需要将芯片夹持固定，方便后续的工作，但是只能夹持同种类型的芯片，不能夹持不同大小的芯片，需要更换不同的测试治具，增加了成本，实用性较差，并且现有的微型芯片测试治具在测试时，通过探针模组下压检测芯片，由于没有减压装置，会有可能导致芯片和探针模组损坏，降低了探针模组的使用寿命，不能满足使用者的需求。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种微型芯片的测试治具。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：一种微型芯片的测试治具，包括箱体，所述箱体的内侧顶部左右侧均设置有开口槽，所述箱体的左侧固定连接有马达，所述马达的输出端贯穿左侧开口槽并固定连接有双向螺纹杆，所述双向螺纹杆的右端贯穿右侧开口槽并转动连接在右侧开口槽的内部右侧，所述双向螺纹杆的左右侧均螺纹连接有第一活动块，两个所述第一活动块的前后侧均固定连接有第一滑块，两个所述开口槽的内部前后侧均设置有第一滑槽，所述第一滑块分别与对应的第一滑槽滑动连接，所述第一活动块的顶部固定连接有夹板，所述箱体的底部固定连接有第一固定板，所述第一固定板的底部设置有第一凹槽，所述第一凹槽的内部固定连接有第一固定杆，所述第一固定杆的左右侧均转动连接有第二活动块，所述第二活动块的底部固定连接有活动杆，两个所述活动杆通过第一弹簧相连接，两个所述活动杆的底侧设置有第三固定板，所述第三固定板的顶部左右侧均固定连接有第二固定板，两个所述第二固定板通过第二固定杆相连接，所述第二固定杆的左右侧均转动连接有第三滑块，所述第三滑块的相远离一侧均固定连接有第二弹簧，所述第二弹簧的相远离一端分别与对应的第二固定板固定连接，两个所述活动杆分别与对应的第三滑块固定连接。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述箱体的顶部左侧设置有第二凹槽，所述第二凹槽的内部转动连接有转杆，所述转杆的前后侧均设置有扭力弹簧，所述扭力弹簧的一端与箱盖固定连接，所述扭力弹簧的另一端与第二凹槽的内壁固定连接，所述箱盖的底部固定连接有探针模组。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述箱体的前侧固定连接有控制器，所述控制器与马达电性连接。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述箱盖的右侧固定连接有拉手。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述第一凹槽的内部前后侧均设置有第二滑槽，两个所述第二活动块的前后侧均固定连接有第二滑块。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述夹板的相邻一侧均固定连接有橡胶垫。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述箱体和箱盖均采用不锈钢材质。

作为上述技术方案的进一步描述：

两个所述夹板之间设置有芯片。

本实用新型具有如下有益效果：

1、本实用新型中，通过马达带动双向螺纹杆转动，双向螺纹杆上的活动块会向中间靠拢，从而可以夹持固定不同大小的芯片，不需要更换不同的测试治具，减少了成本，实用性较好。

2、本实用新型中，通过挤压第一固定板，第一固定板底侧的第一弹簧会带动第一凹槽中的第二活动块向两侧移动，第二固定杆上的第三滑块也会向两侧移动，可以减轻探针模组堵对芯片的压力，提高了探针模组的使用寿命，能够满足使用者的需求。

附图说明

图1为本实用新型提出的一种微型芯片的测试治具的正视图；

图2为本实用新型提出的一种微型芯片的测试治具的结构拆分图；

图3为本实用新型提出的一种微型芯片的测试治具的局部结构拆分图。

图例说明：

1、箱体；2、马达；3、双向螺纹杆；4、第一活动块；5、开口槽；6、第一滑块；7、第一滑槽；8、夹板；9、第一固定板；10、第一凹槽；11、第二滑槽；12、第一固定杆；13、第二活动块；14、第二滑块；15、活动杆；16、第一弹簧；17、第二固定板；18、第二固定杆；19、第二弹簧；20、第三滑块；21、第三固定板；22、第二凹槽；23、转杆；24、扭力弹簧；25、箱盖；26、探针模组；27、芯片；28、橡胶垫；29、控制器；30、拉手。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

参照图1-3，本实用新型提供的一种实施例：一种微型芯片的测试治具，包括箱体(1)，所述箱体(1)的内侧顶部左右侧均设置有开口槽(5)，所述箱体(1)的左侧固定连接有马达(2)，所述马达(2)的输出端贯穿左侧开口槽(5)并固定连接有双向螺纹杆(3)，所述双向螺纹杆(3)的右端贯穿右侧开口槽(5)并转动连接在右侧开口槽(5)的内部右侧，所述双向螺纹杆(3)的左右侧均螺纹连接有第一活动块(4)，两个所述第一活动块(4)的前后侧均固定连接有第一滑块(6)，两个所述开口槽(5)的内部前后侧均设置有第一滑槽(7)，所述第一滑块(6)分别与对应的第一滑槽(7)滑动连接，所述第一活动块(4)的顶部固定连接有夹板(8)，从而可以夹持固定不同大小的芯片27，不需要更换不同的测试治具，减少了成本，实用性较好，所述箱体(1)的底部固定连接有第一固定板(9)，所述第一固定板(9)的底部设置有第一凹槽(10)，所述第一凹槽(10)的内部固定连接有第一固定杆(12)，所述第一固定杆(12)的左右侧均转动连接有第二活动块(13)，所述第二活动块(13)的底部固定连接有活动杆(15)，两个所述活动杆(15)通过第一弹簧(16)相连接，两个所述活动杆(15)的底侧设置有第三固定板(21)，所述第三固定板(21)的顶部左右侧均固定连接有第二固定板(17)，两个所述第二固定板(17)通过第二固定杆(18)相连接，所述第二固定杆(18)的左右侧均转动连接有第三滑块(20)，所述第三滑块(20)的相远离一侧均固定连接有第二弹簧(19)，所述第二弹簧(19)的相远离一端分别与对应的第二固定板(17)固定连接，两个所述活动杆(15)分别与对应的第三滑块(20)固定连接，提高了探针模组26的使用寿命，能够满足使用者的需求。

所述箱体(1)的顶部左侧设置有第二凹槽(22)，所述第二凹槽(22)的内部转动连接有转杆(23)，所述转杆(23)的前后侧均设置有扭力弹簧(24)，所述扭力弹簧(24)的一端与箱盖(25)固定连接，所述扭力弹簧(24)的另一端与第二凹槽(22)的内壁固定连接，所述箱盖(25)的底部固定连接有探针模组(26)，所述箱体(1)的前侧固定连接有控制器(29)，所述控制器(29)与马达(2)电性连接，用于对马达(2)的工作进行控制，所述箱盖(25)的右侧固定连接有拉手(30)，方便打开箱盖25，所述第一凹槽(10)的内部前后侧均设置有第二滑槽(11)，两个所述第二活动块(13)的前后侧均固定连接有第二滑块(14)，所述夹板(8)的相邻一侧均固定连接有橡胶垫(28)，用于增加夹板8与芯片27之间的摩擦，还可以防止夹板8过度挤压芯片27，导致芯片27损坏，所述箱体(1)和箱盖(25)均采用不锈钢材质，能够承受日常活动的磨损，两个所述夹板(8)之间设置有芯片(27)。

工作原理：在使用该装置时，先将芯片27放进两个夹板8之间，启动马达2带动双向螺纹杆3转动，双向螺纹杆3上的第一活动块4会向中间靠拢，第一活动块4上的夹板8也会随之靠拢，从而可以夹持固定不同大小的芯片27，不需要更换不同的测试治具，减少了成本，实用性较好，并且当对芯片27进行挤压测试时，第一固定板9会被下压，第一固定板9底部第一凹槽10中的第二活动块13会通过第一固定杆12向两侧移动，第二固定杆18上的第三滑块20也会向两侧移动，可以减轻探针模组26对芯片27的压力，当检测结束后，活动杆15会通过第一弹簧16和第二弹簧19回弹从而向中间靠拢，提高了探针模组26的使用寿命，能够满足使用者的需求。

最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种微型芯片的测试治具，包括箱体(1)，其特征在于：所述箱体(1)的内侧顶部左右侧均设置有开口槽(5)，所述箱体(1)的左侧固定连接有马达(2)，所述马达(2)的输出端贯穿左侧开口槽(5)并固定连接有双向螺纹杆(3)，所述双向螺纹杆(3)的右端贯穿右侧开口槽(5)并转动连接在右侧开口槽(5)的内部右侧，所述双向螺纹杆(3)的左右侧均螺纹连接有第一活动块(4)，两个所述第一活动块(4)的前后侧均固定连接有第一滑块(6)，两个所述开口槽(5)的内部前后侧均设置有第一滑槽(7)，所述第一滑块(6)分别与对应的第一滑槽(7)滑动连接，所述第一活动块(4)的顶部固定连接有夹板(8)，所述箱体(1)的底部固定连接有第一固定板(9)，所述第一固定板(9)的底部设置有第一凹槽(10)，所述第一凹槽(10)的内部固定连接有第一固定杆(12)，所述第一固定杆(12)的左右侧均转动连接有第二活动块(13)，所述第二活动块(13)的底部固定连接有活动杆(15)，两个所述活动杆(15)通过第一弹簧(16)相连接，两个所述活动杆(15)的底侧设置有第三固定板(21)，所述第三固定板(21)的顶部左右侧均固定连接有第二固定板(17)，两个所述第二固定板(17)通过第二固定杆(18)相连接，所述第二固定杆(18)的左右侧均转动连接有第三滑块(20)，所述第三滑块(20)的相远离一侧均固定连接有第二弹簧(19)，所述第二弹簧(19)的相远离一端分别与对应的第二固定板(17)固定连接，两个所述活动杆(15)分别与对应的第三滑块(20)固定连接。

2.根据权利要求1所述的一种微型芯片的测试治具，其特征在于：所述箱体(1)的顶部左侧设置有第二凹槽(22)，所述第二凹槽(22)的内部转动连接有转杆(23)，所述转杆(23)的前后侧均设置有扭力弹簧(24)，所述扭力弹簧(24)的一端与箱盖(25)固定连接，所述扭力弹簧(24)的另一端与第二凹槽(22)的内壁固定连接，所述箱盖(25)的底部固定连接有探针模组(26)。

3.根据权利要求1所述的一种微型芯片的测试治具，其特征在于：所述箱体(1)的前侧固定连接有控制器(29)，所述控制器(29)与马达(2)电性连接。

4.根据权利要求2所述的一种微型芯片的测试治具，其特征在于：所述箱盖(25)的右侧固定连接有拉手(30)。

5.根据权利要求1所述的一种微型芯片的测试治具，其特征在于：所述第一凹槽(10)的内部前后侧均设置有第二滑槽(11)，两个所述第二活动块(13)的前后侧均固定连接有第二滑块(14)。

6.根据权利要求1所述的一种微型芯片的测试治具，其特征在于：所述夹板(8)的相邻一侧均固定连接有橡胶垫(28)。

7.根据权利要求1所述的一种微型芯片的测试治具，其特征在于：所述箱体(1)和箱盖(25)均采用不锈钢材质。

8.根据权利要求1所述的一种微型芯片的测试治具，其特征在于：两个所述夹板(8)之间设置有芯片(27)。

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