CN218886022U - 一种sd卡接口和sd卡之间的电压和阻抗测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种SD卡接口和SD卡之间的电压和阻抗测试设备，包括基线板，所述基线板连接有供电模块、上位机模块与信号转接模块，所述信号转接模块连接有测试机，所述基线板上电性连接有电源模块、MCU模块、晶体管阵列、第二PIN针、电流源模块与可编程只读存储器，所述第二PIN针与MCU模块之间连接有AD电压采集模块与开关电路模块，所述电源模块连接有移动电源，所述移动电源连接有IC芯片。本实用新型所述的一种SD卡接口和SD卡之间的电压和阻抗测试设备，采用了一种新型的体积小，低成本的测试技术，将测试治具的速度缩小到人工测量的1/5，人力成本的投入大大减少，测试过程中全自动的通信方式使测试更加稳定迅速。

Description

一种SD卡接口和SD卡之间的电压和阻抗测试设备

技术领域

本实用新型涉及自动化测试领域，特别涉及一种SD卡接口和SD卡之间的电压和阻抗测试设备。

背景技术

SD卡接口和SD卡之间的电压和阻抗测试设备是一种进行自动化测试的支撑设备，随着电子行业的蓬勃发展，对于自动化测试需求的越来越多，低成本，小体积的测试需求成为主流，本申请定能带来具有竞争力的SD卡接口和SD卡之间的电压和阻抗信号测试解决方案，带来更满意的测试设备，为行业带来更加光明的方向和思路，本项目主要应用于电子消费智能产品半自动化/自动化测试行业中，测试设备需要对客户的SD卡接口和SD卡之间的电压和阻抗进行测试，使产品处于工作状态，以侦测产品是否正常工作，此SD卡接口和SD卡之间的电压和阻抗测量设备能够提供客户SD卡接口产品进行测量，针对SD卡接口和SD卡之间可实现电压和阻抗信号的模数转换，其测试方便，极大得缩减了测试产量和人力成本，越来越满足低成本，小型化的自动化测试时代潮流，本次研发将极大推动自动化测试行业SD卡接口和SD卡之间的电压和阻抗信号测试行业的发展，迎合电子产品逐渐智能化，小型化世界发展潮流，随着科技的不断发展，人们对于SD卡接口和SD卡之间的电压和阻抗测试设备的制造工艺要求也越来越高。

现有的SD卡接口和SD卡之间的电压和阻抗测试设备在使用时存在一定的弊端，目前智能测试终端对于待测SD卡接口和SD卡之间的电压和阻抗大多使用人工万用表测量进行测试，测试速度慢，人力成本高；使得产品的产量无法得到提高，人力测试成本无法降低，越来越不能满足客户对于低成本，测试速度快的需求，因此对于一种体积小，成本低，稳定的满足待测SD卡接口和SD卡之间的电压和阻抗测试的设备需求十分迫切，为此，我们提出一种SD卡接口和SD卡之间的电压和阻抗测试设备。

实用新型内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种SD卡接口和SD卡之间的电压和阻抗测试设备，采用了一种新型的体积小，低成本的测试技术，将测试治具的速度缩小到人工测量的1/5，人力成本的投入大大减少，测试过程中全自动的通信方式使测试更加稳定迅速，可以有效解决背景技术中的问题。

(二)技术方案

为实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为：一种SD卡接口和SD卡之间的电压和阻抗测试设备，包括基线板，所述基线板连接有供电模块、上位机模块与信号转接模块，所述信号转接模块连接有测试机，所述基线板上电性连接有电源模块、MCU模块、晶体管阵列、第二PIN针、电流源模块与可编程只读存储器，所述第二PIN针与MCU模块之间连接有AD电压采集模块与开关电路模块，所述电源模块连接有移动电源，所述移动电源连接有IC芯片。

优选的，所述信号转接模块内部设置有第一PIN针，所述信号转接模块与基线板之间连接有有线电缆，所述测试机与信号转接模块之间连接有探针，所述上位机模块与基线板之间连接有控制线。

优选的，所述调试串口、可编程只读存储器与晶体管阵列均连接MCU模块的位置，所述AD电压采集模块连接电流源模块的位置。

优选的，所述信号转接模块与第一PIN针之间电性安装，所述测试机与信号转接模块之间通过探针双向电性连接，所述信号转接模块与基线板之间通过有线电缆双向电性连接，所述上位机模块与基线板之间通过控制线双向电性连接。

优选的，所述调试串口、可编程只读存储器和晶体管阵列均与MCU模块之间双向电性连接。

优选的，所述基线板与供电模块、之间双向电性连接，所述电源模块的输出端与移动电源的输入端电性连接，所述移动电源的输出端与IC芯片的输入端电性连接。

(三)有益效果

与现有技术相比，本实用新型提供了一种SD卡接口和SD卡之间的电压和阻抗测试设备，具备以下有益效果：该一种SD卡接口和SD卡之间的电压和阻抗测试设备，采用了一种新型的体积小，低成本的测试技术，将测试治具的速度缩小到人工测量的1/5，人力成本的投入大大减少，测试过程中全自动的通信方式使测试更加稳定迅速，此测试设备共包含开关电路模块、AD电压采集模块、MCU模块、恒流源模块、IPC模块、信号转接模块共6个部分，第一部分，开关电路模块，将待测信号连接到AD电压信号采集模块，第二部AD电压采集模块，其功能为将被测量信号放大到一定倍数，减少测试的误差；第三部分MCU模块，把采集到模拟信号转化为数字信号然后与IPC模块进行通讯；第四部分恒流源模块，将待测试产品提供恒定电流；第五部分IPC模块，负责与Base Board进行串口通信获得测试数据，通过软件处理数据得出测量结果；第六部分信号转接模块，将产品上的待测信号连接到Base Board的开关电路模块，将待测产品放入测试设备的载具中，控制上压板将产品压紧，按下双启动按钮进行测试，底部部探针模块上压，对产品的电压和阻抗进行测试，测试完成后，数据通过USB线传输数据至IPC上位机显示测量结果，测试设备操作简单易懂，降低操作员的技术门槛，本设备双启动开关，必须双手同时控制才能启动，以防止操作员误碰等情况发生，大大提高了测试过程的安全性，测试速度快，成本低，整个SD卡接口和SD卡之间的电压和阻抗测试设备结构简单，操作方便，使用的效果相对于传统方式更好。

附图说明

图1为本实用新型一种SD卡接口和SD卡之间的电压和阻抗测试设备的整体结构示意图。

图2为本实用新型一种SD卡接口和SD卡之间的电压和阻抗测试设备中基线板的结构示意图。

图中：1、基线板；2、IC芯片；3、移动电源；4、电源模块；5、供电模块；6、调试串口；7、上位机模块；8、电流源模块；9、测试机；10、信号转接模块；11、第一PIN针；12、第二PIN针；13、AD电压采集模块；14、晶体管阵列；15、MCU模块；16、可编程只读存储器；17、控制线；18、探针；19、有线电缆；20、开关电路模块。

具体实施方式

下面将结合附图和具体实施方式对本实用新型的技术方案进行清楚、完整地描述，但是本领域技术人员将会理解，下列所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例，仅用于说明本实用新型，而不应视为限制本实用新型的范围。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。实施例中未注明具体条件者，按照常规条件或制造商建议的条件进行。所用试剂或仪器未注明生产厂商者，均为可以通过市售购买获得的常规产品。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

如图1、2所示，一种SD卡接口和SD卡之间的电压和阻抗测试设备，包括基线板1，基线板1连接有供电模块5、上位机模块7与信号转接模块10，信号转接模块10连接有测试机9，基线板1上电性连接有电源模块4、MCU模块15、晶体管阵列14、第二PIN针12、电流源模块8与可编程只读存储器16，第二PIN针12与MCU模块15之间连接有AD电压采集模块13与开关电路模块20，电源模块4连接有移动电源3，移动电源3连接有IC芯片2，采用了一种新型的体积小，低成本的测试技术，将测试治具的速度缩小到人工测量的1/5，人力成本的投入大大减少，测试过程中全自动的通信方式使测试更加稳定迅速。

进一步的，信号转接模块10内部设置有第一PIN针11，信号转接模块10与基线板1之间连接有有线电缆19，测试机9与信号转接模块10之间连接有探针18，上位机模块7与基线板1之间连接有控制线17。

进一步的，调试串口6、可编程只读存储器16与晶体管阵列14均连接MCU模块15的位置，AD电压采集模块13连接电流源模块8的位置。

进一步的，信号转接模块10与第一PIN针11之间电性安装，测试机9与信号转接模块10之间通过探针18双向电性连接，信号转接模块10与基线板1之间通过有线电缆19双向电性连接，上位机模块7与基线板1之间通过控制线17双向电性连接。

进一步的，调试串口6、可编程只读存储器16和晶体管阵列14均与MCU模块15之间双向电性连接。

进一步的，基线板1与供电模块5、之间双向电性连接，电源模块4的输出端与移动电源3的输入端电性连接，移动电源3的输出端与IC芯片2的输入端电性连接。

工作原理：本实用新型包括基线板1、IC芯片2、移动电源3、电源模块4、供电模块5、调试串口6、上位机模块7、电流源模块8、测试机9、信号转接模块10、第一PIN针11、第二PIN针12、AD电压采集模块13、晶体管阵列14、MCU模块15、可编程只读存储器16、控制线17、探针18、有线电缆19，采用了一种新型的体积小，低成本的测试技术，将测试治具的速度缩小到人工测量的1/5，人力成本的投入大大减少，测试过程中全自动的通信方式使测试更加稳定迅速，此测试设备共包含开关电路模块、AD电压采集模块、MCU模块、恒流源模块、IPC模块、信号转接模块共6个部分，第一部分，开关电路模块，将待测信号连接到AD电压信号采集模块，第二部AD电压采集模块，其功能为将被测量信号放大到一定倍数，减少测试的误差；第三部分MCU模块，把采集到模拟信号转化为数字信号然后与IPC模块进行通讯；第四部分恒流源模块，将待测试产品提供恒定电流；第五部分IPC模块，负责与Base Board进行串口通信获得测试数据，通过软件处理数据得出测量结果；第六部分信号转接模块，将产品上的待测信号连接到Base Board的开关电路模块，将待测产品放入测试设备的载具中，控制上压板将产品压紧，按下双启动按钮进行测试，底部部探针模块上压，对产品的电压和阻抗进行测试，测试完成后，数据通过USB线传输数据至IPC上位机显示测量结果，测试设备操作简单易懂，降低操作员的技术门槛，本设备双启动开关，必须双手同时控制才能启动，以防止操作员误碰等情况发生，大大提高了测试过程的安全性，测试速度快，成本低。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二(一号、二号)等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。

Claims (6)

1.一种SD卡接口和SD卡之间的电压和阻抗测试设备，包括基线板(1)，其特征在于：所述基线板(1)连接有供电模块(5)、上位机模块(7)与信号转接模块(10)，所述信号转接模块(10)连接有测试机(9)，所述基线板(1)上电性连接有电源模块(4)、MCU模块(15)、晶体管阵列(14)、第二PIN针(12)、电流源模块(8)与可编程只读存储器(16)，所述第二PIN针(12)与MCU模块(15)之间连接有AD电压采集模块(13)与开关电路模块(20)，所述电源模块(4)连接有移动电源(3)，所述移动电源(3)连接有IC芯片(2)。

2.根据权利要求1所述的一种SD卡接口和SD卡之间的电压和阻抗测试设备，其特征在于：所述信号转接模块(10)内部设置有第一PIN针(11)，所述信号转接模块(10)与基线板(1)之间连接有有线电缆(19)，所述测试机(9)与信号转接模块(10)之间连接有探针(18)，所述上位机模块(7)与基线板(1)之间连接有控制线(17)。

3.根据权利要求1所述的一种SD卡接口和SD卡之间的电压和阻抗测试设备，其特征在于：调试串口(6)、可编程只读存储器(16)与晶体管阵列(14)均连接MCU模块(15)的位置，所述AD电压采集模块(13)连接电流源模块(8)的位置。

4.根据权利要求2所述的一种SD卡接口和SD卡之间的电压和阻抗测试设备，其特征在于：所述信号转接模块(10)与第一PIN针(11)之间电性安装，所述测试机(9)与信号转接模块(10)之间通过探针(18)双向电性连接，所述信号转接模块(10)与基线板(1)之间通过有线电缆(19)双向电性连接，所述上位机模块(7)与基线板(1)之间通过控制线(17)双向电性连接。

5.根据权利要求3所述的一种SD卡接口和SD卡之间的电压和阻抗测试设备，其特征在于：所述调试串口(6)、可编程只读存储器(16)和晶体管阵列(14)均与MCU模块(15)之间双向电性连接。

6.根据权利要求1所述的一种SD卡接口和SD卡之间的电压和阻抗测试设备，其特征在于：所述基线板(1)与供电模块(5)、之间双向电性连接，所述电源模块(4)的输出端与移动电源(3)的输入端电性连接，所述移动电源(3)的输出端与IC芯片(2)的输入端电性连接。

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