CN218445843U - 激光器芯片的参数测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及激光器芯片测试技术领域，提供一种激光器芯片的参数测试装置，包括设备主体以及设置在设备主体上的工控机；所述设备主体上设置多个容纳槽；每个容纳槽内配合设置抽拉式的测试槽；每个测试槽内设置测试板；所述测试板上留有多个芯片槽；所述芯片槽用于放置测试的激光器芯片；所述设备主体内设置主控板，所述主控板与测试板电性连接；所述主控板上具有多个采集模块；所述主控板与工控机信号连接。采集模块包括：电压采集子模块、功率采集子模块和处理子模块，电压采集子模块、功率采集子模块分别与处理子模块信号连接。本实用新型能够高效便捷的批量测试激光器芯片的参数，提高生产效率，降低人力成本。

Description

激光器芯片的参数测试装置

技术领域

本实用新型涉及激光器芯片测试技术领域，尤其涉及一种激光器芯片的参数测试装置。

背景技术

激光器芯片具有体积小、光电转化效率高等特点，在激光器芯片封装前需要先对单颗激光器芯片进行参数测试，筛选出不合格的芯片，以减少封装不良。

常规的测试方式只能手动在操作台上用电压表、电流表、功率计逐个进行芯片参数测试，操作不便、测试效率较低。

实用新型内容

本实用新型主要解决现有技术的手动在操作台上用电压表、电流表、功率计逐个进行芯片参数测试，操作不便、测试效率较低的技术问题，提出一种激光器芯片的参数测试装置，以高效便捷的批量测试激光器芯片的参数，提高生产效率，降低人力成本。

本实用新型提供了一种激光器芯片的参数测试装置，包括：设备主体以及设置在设备主体上的工控机；

所述设备主体上设置多个容纳槽；每个容纳槽内配合设置抽拉式的测试槽；每个测试槽内设置测试板；所述测试板上留有多个芯片槽；所述芯片槽用于放置测试的激光器芯片；

所述设备主体内设置主控板，所述主控板与测试板电性连接；所述主控板上具有多个采集模块；

所述主控板与工控机信号连接。

优选的，所述设备主体内设置半导体制冷器。

优选的，所述设备主体上设置半导体制冷器控制面板，所述半导体制冷器控制面板与半导体制冷器信号连接。

优选的，所述采集模块包括：电压采集子模块、功率采集子模块和处理子模块，所述电压采集子模块、功率采集子模块分别与处理子模块信号连接。

优选的，所述测试板采用LTS-7540型号测试板。

优选的，所述设备主体上设置显示器，所述显示器与工控机信号连接。

优选的，所述设备主体上设置电源模块，所述电源模块与工控机电连接。

本实用新型提供的一种激光器芯片的参数测试装置，可同时对多个激光器芯片进行参数测试(IVP测试)，能够高效便捷的批量测试激光器芯片的参数(电流-功率、电流-电压)，相比于常规的手动逐个检测，大大缩短了测量时间，提高了生产效率，降低了人力成本。

附图说明

图1是本实用新型提供的激光器芯片的参数测试装置的结构示意图；

图2是本实用新型提供的激光器芯片的参数测试装置的侧向透视图。

附图标记：1、设备主体；2、显示器；3、工控机；4、测试槽；5、主控板；6、半导体制冷器控制面板；7、电源模块；8、容纳槽。

具体实施方式

为使本实用新型解决的技术问题、采用的技术方案和达到的技术效果更加清楚，下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本实用新型，而非对本实用新型的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本实用新型相关的部分而非全部内容。

如图1-2所示，本实用新型实施例提供的激光器芯片的参数测试装置，包括：设备主体1以及设置在设备主体1上的工控机3。

所述设备主体1上设置多个容纳槽8；每个容纳槽8内配合设置抽拉式的测试槽4；每个测试槽4内设置测试板；所述测试板上留有多个芯片槽；所述芯片槽用于放置测试的激光器芯片。所述测试板可以采用LTS-7540型号测试板。如图1展示，参数测试装置具有8个测试槽4，而每个测试板上留有16个芯片槽，具体的个数可根据实际情况而定。本实施例中的参数测试装置，可同时对多个激光器芯片进行参数测试，操作便捷，大大提升了测试效率。

所述设备主体1内设置主控板5，所述主控板5与测试板电性连接；所述主控板5与工控机3信号连接。工控机3可进行装置操控。所述设备主体1上设置显示器2，所述显示器2与工控机3信号连接，显示器2可显示测试数据。

具体的，芯片槽上具有电性接口，激光器芯片插入芯片槽，即可与测试板电性连接；容纳槽8内设置接口板，接口板与主控板5电性连接，测试槽4插入容纳槽8内，测试板上具有电性接口并与容纳槽8内的接口板对接，实现测试板与主控板5的电性连接。

所述主控板5上具有多个采集模块，所述采集模块用于采集激光器芯片的电压信号和功率信号，并得到电流-功率(IP)对应关系数据和电流-电压(IV)对应关系数据；电流信号由工控机3加到主控板5上，且控制电流信号逐步变化。所述采集模块包括：电压采集子模块、功率采集子模块和处理子模块，所述电压采集子模块、功率采集子模块分别与处理子模块信号连接。电压采集子模块采集激光器芯片的电压信号，功率采集子模块采集激光器芯片的功率信号，通过对主控板5施加电流，并控制电流以固定的变化量增长；电压采集子模块、功率采集子模块采集的信号发送到处理子模块，处理子模块获取测试过程的电流值和电压值、功率值，并得到电流-功率(IP)和电流-电压(IV)对应关系数据。

每个采集模块对应n个芯片槽；n可以根据实际测试情况而定，可以一个采集模块对应一个芯片槽，也可以一个采集模块对应2个或多个芯片槽。

进一步的，所述设备主体1内设置半导体制冷器，用来对设备内进行制冷，防止测试时激光器芯片温度过高，影响测试效果。所述设备主体1上设置半导体制冷器控制面板，所述半导体制冷器控制面板与半导体制冷器信号连接，对半导体制冷器进行控制。

另外，所述设备主体1上设置电源模块7，所述电源模块7与工控机3电连接，为装置进行供电。机器外接220V电即可，主控板5上可配置转化器，将220V电压转成5V电压。

本实用新型的激光器芯片的参数测试装置的工作原理：利用工控机3对主控板5施加电流，并控制电流以固定的变化量增长，对激光器芯片进行测试；采集模块得到电流-功率(IP)和电流-电压(IV)对应关系数据，并将得到的数据传输到工控机3中，对工控机3进行测试分析提供数据支撑，由显示器2显示电流-功率、电流-电压的关系曲线，方便测试人员筛选出有问题的激光器芯片。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的范围。

Claims (7)

1.一种激光器芯片的参数测试装置，其特征在于，包括：设备主体(1)以及设置在设备主体(1)上的工控机(3)；

所述设备主体(1)上设置多个容纳槽(8)；每个容纳槽(8)内配合设置抽拉式的测试槽(4)；每个测试槽(4)内设置测试板；所述测试板上留有多个芯片槽；所述芯片槽用于放置测试的激光器芯片；

所述设备主体(1)内设置主控板(5)，所述主控板(5)与测试板电性连接；所述主控板(5)上具有多个采集模块；

所述主控板(5)与工控机(3)信号连接。

2.根据权利要求1所述的激光器芯片的参数测试装置，其特征在于，所述设备主体(1)内设置半导体制冷器。

3.根据权利要求2所述的激光器芯片的参数测试装置，其特征在于，所述设备主体(1)上设置半导体制冷器控制面板，所述半导体制冷器控制面板与半导体制冷器信号连接。

4.根据权利要求1或3所述的激光器芯片的参数测试装置，其特征在于，所述采集模块包括：电压采集子模块、功率采集子模块和处理子模块，所述电压采集子模块、功率采集子模块分别与处理子模块信号连接。

5.根据权利要求1或3所述的激光器芯片的参数测试装置，其特征在于，所述测试板采用LTS-7540型号测试板。

6.根据权利要求1或3所述的激光器芯片的参数测试装置，其特征在于，所述设备主体(1)上设置显示器(2)，所述显示器(2)与工控机(3)信号连接。

7.根据权利要求6所述的激光器芯片的参数测试装置，其特征在于，所述设备主体(1)上设置电源模块(7)，所述电源模块(7)与工控机(3)电连接。

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