CN218782346U - 一种电子设备的测试装置 - Google Patents

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CN218782346U CN202221761360.XU CN202221761360U CN218782346U CN 218782346 U CN218782346 U CN 218782346U CN 202221761360 U CN202221761360 U CN 202221761360U CN 218782346 U CN218782346 U CN 218782346U
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姚海波
吕双
王鹏
李俊烨
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Abstract

本申请实施例提供一种电子设备的测试装置,包括承载组件和多个测试组件,承载组件上开设有至少一个可调测试槽位,可调测试槽位用于固定待测电子设备。至少一个测试组件位于承载组件上,且围绕可调测试槽位设置,和/或,至少一个测试组件位于承载组件的顶部,且面向待测电子设备设置,和/或,至少一个测试组件位于承载组件的底部,且面向待测电子设备设置,以对待测电子设备进行测试。本申请提供的测试装置集合了多项测试项目,可以用于对待测电子设备进行多项测试。并且该测试装置采用可以调节的通用化结构,可以根据不同待测电子设备的实际情况进行调节,以实现对不同待测电子设备的测试,兼容性高。此外,该测试装置还可以实现测试自动化。

Description

一种电子设备的测试装置
技术领域
本申请实施例涉及测试设备技术领域,尤其涉及一种电子设备的测试装置。
背景技术
在电子产品(例如智能手机、平板电脑、智能穿戴设备、大屏显示设备等)出厂前,需要对电子产品进行一些测试,例如对电子产品进行充电测试、相机测试、各类传感器功能测试、无线保真(wireless fidelity,WiFi)功能测试以及近距离无线通信技术(nearfield communication,NFC)功能测试等。对于电子产品的所有测试项目,一般采用人工测试或者人工操作测试夹具对电子产品进行测试的方式。
例如,在进行相机近距离对焦测试时,人工将电子产品固定在用于进行相机近焦测试的测试夹具上,之后利用测试夹具对电子产品进行测试。近焦测试的测试夹具上设置有测试时所需的光源以及标定图(chart)等,之后电子产品可以利用该标定图进行对焦,以完成测试。
然而,为了适应电子产品形态及测试项的具体操作流程,对于电子产品的每一测试项,现有的各测试夹具具有不同的形态,配置有不同的测试组件,因此各个测试项之间的测试夹具并不通用。并且目前的测试夹具对于不同的电子产品采用的是非通用化测试组件,因此对于不同电子产品,还需要开发专用的测试夹具。
实用新型内容
本申请实施例提供了一种电子设备的测试装置,能够对电子设备进行多项测试,同时还能够适用于不同的电子设备。
本申请实施例提供一种电子设备的测试装置,包括:承载组件和多个测试组件;承载组件上开设有至少一个可调测试槽位,可调测试槽位用于固定待测电子设备;至少一个测试组件位于承载组件上,且围绕可调测试槽位设置,和/或,至少一个测试组件位于承载组件的顶部,且面向待测电子设备设置,和/或,至少一个测试组件位于承载组件的底部,且面向待测电子设备设置,以对待测电子设备进行测试。
这样,通过为测试组件进行空间的分配,使得测试装置可以容纳用于执行不同测试项目的测试组件,处于不同位置的测试组件可以分别对待测电子设备进行不同的测试。并且可以针对待测电子设备的实际情况对可调测试槽位进行调节,使得该测试装置可以应用至不同待测电子设备的测试过程中,兼容性高。
在一种实现方式中,承载组件为抽屉形状,包括底板、侧板、夹层板、至少两个直线导轨以及至少两个进出气缸,侧板垂直设置在底板的一端;夹层板设置在底板顶部,夹层板的一侧与侧板固定连接;至少两个直线导轨对称设置在夹层板与底板之间;至少两个进出气缸对称设置在直线导轨外侧,且进出气缸一端固定在底板上,另一端与夹层板连接。
这样,承载组件可以运动,便于将待测电子设备放入测试装置,同时为待测电子设备提供了一个测试环境。
在一种实现方式中,可调测试槽位包括载板和至少两个可调压块;载板设置在夹层板上;至少两个可调压块围设在载板的顶面上,以形成可调测试槽位;待测电子设备置于可调压块围设形成的空间内。
这样,载板可以为待测电子设备提供支撑,可调压块可以根据待测电子设备的尺寸或形状等参数进行调节,并固定待测电子设备,使得测试组件可以对待测电子设备进行测试。
在一种实现方式中,可调压块包括第一气缸和顶面压块,第一气缸用于为顶面压块提供动力,以使顶面压块从待测电子设备的顶面固定待测电子设备,或者,以使顶面压块释放待测电子设备。
在一种实现方式中,底板上开设有第一开口,第一开口由底板的顶面贯穿至底板的底面;载板上开设有第二开口,第二开口开设在可调压块围设形成的空间内,由载板的顶面贯穿至载板的底面;夹层板上开设有第三开口,第三开口由夹层板的顶面贯穿至夹层板的底面;第一开口、第三开口与第二开口之间相通。
这样,处于底板底部的测试组件,可以通过第一开口、第二开口及第三开口,对处于载板上的待测电子设备进行测试。
在一种实现方式中,测试组件包括远焦测试件,远焦测试件设置在底板的底部,且位于第一开口的区域内;远焦测试件包括远焦光源板和远焦标定图,远焦光源板面向待测电子设备设置,远焦标定图铺设在远焦光源板靠近待测电子设备的面上。这样,远焦测试件可以用于对待测电子设备进行相机远距离对焦测试。
在一种实现方式中,测试组件还包括近焦测试件、第三气缸、第一固定件、第二移动件以及至少两个第二导向件;第一固定件固定在底板上;第二移动件位于第一固定件顶部;至少两个第二导向件对称设置在第一固定件与第二移动件之间;近焦测试件固定在第二移动件上,且近焦测试件位于载板远离侧板的一侧;第三气缸一端与第一固定件连接,另一端与第二移动件连接,第三气缸用于为近焦测试件提供动力,以使近焦测试件运动至载板底部,并且位于第二开口的区域内;近焦测试件包括近焦光源板和近焦标定图,近焦光源板与待测电子设备平行设置,近焦标定图铺设在近焦光源板靠近待测电子设备的面上。
这样,近焦测试件可以运动至第二开口的区域内,对待测电子设备进行相机近距离对焦测试。在不需进行相机近距离对焦测试时,近焦测试件还可以运动至载板远离侧板的一侧,以避免对远焦测试件造成遮挡。通过运动的方式,可以使得各个测试项目之间不会相互影响,同时还可以提高空间利用率。
在一种实现方式中,测试组件还包括闪烁测试件,闪烁测试件位于载板与夹层板之间,闪烁测试件为可发闪烁光的光源,闪烁测试件用于运动至第二开口的区域内,以对待测电子设备进行测试。
这样,闪烁测试件可以运动至第二开口的区域内,对待测电子设备进行flicker测试。在不需进行flicker测试时,闪烁测试件还可以运动至载板与夹层板之间靠近待测电子设备尾端的位置,以避免对远焦测试件造成遮挡。通过运动的方式,可以使得各个测试项目之间不会相互影响,同时还可以提高空间利用率。
在一种实现方式中,测试组件还包括Hall测试件及固定平台;固定平台设置在载板的底面上,且固定平台位于第二开口的区域内;Hall测试件固定在固定平台上,且通过第二开口面向待测电子设备设置,Hall测试件为电磁铁。这样,Hall测试件可以用于对待测电子设备的霍尔传感器进行测试。
在一种实现方式中,测试组件还包括无线充电线圈,无线充电线圈固定在第二开口内部,且与待测电子设备的背面相贴合,无线充电线圈用于与待测电子设备电连接。这样,无线充电线圈可以用于对待测电子设备进行无线充电测试。
在一种实现方式中,载板与夹层板可转动连接;载板与底板之间设置有第一转动基座、第二转动基座、第三转动基座、第一转动轴、第二转动轴、第三转动轴以及至少两个第一支撑件;第一转动基座、第二转动基座以及第三转动基座设置在载板的一端,至少两个第一支撑件设置在载板的另一端;第一转动基座和第二转动基座对称设置在载板两侧,第三转动基座设置在第一转动基座和第二转动基座之间;第一转动轴贯穿设置在第一转动基座上,第二转动轴贯穿设置在第二转动基座上,第三转动轴贯穿设置在第三转动基座上。这样,载板可以相对于夹层板发生转动。
在一种实现方式中,测试组件还包括顶升件,顶升件设置在载板远离第一转动轴的一端,且顶升件一端与夹层板连接,另一端可转动连接于载板上;顶升件用于伸长或缩短,以使载板围绕第一转动轴、第二转动轴和第三转动轴转动,直至载板所在平面与夹层板所在平面之间形成第一转动角度。
顶升件伸长时载板可以被顶起,这一过程中待测电子设备的姿态发生改变,此时可以进行重力感应测试。
在一种实现方式中,测试组件还包括NFC测试件,NFC测试件位于顶升件顶部;在载板所在平面与夹层板所在平面之间所呈夹角为第一转动角度时,NFC测试件用于运动至与待测电子设备的背面相贴合。
这样,NFC测试件可以用于对待测电子设备进行NFC测试。顶升件、NFC测试件及待测电子设备之间的布局方式,使得NFC测试不会妨碍其他需要在待测电子设备背面完成的测试,可以提高测试装置内部的空间利用率。
在一种实现方式中,测试组件还包括USB母口和USB切换板;USB母口设置在可调压块的一侧,且USB母口设置在载板上,用于与待测电子设备建立连接;USB切换板设置在载板靠近侧板的一侧,USB切换板用于与USB母口连接,以通过USB母口对待测电子设备进行测试。通过USB母口和USB切换板的配合,可以对待测电子设备进行模拟耳机测试、数字耳机测试、各种充电测试及OTG测试等测试。
在一种实现方式中,测试组件还包括红外测试件,红外测试件设置在载板上,且设置在可调压块的一侧;红外测试件的接收端面向待测电子设备设置,用于接收待测电子设备所发红外信号。红外测试件可以用于对待测电子设备进行红外测试。
在一种实现方式中,测试组件还包括相机,相机设置在可调测试槽位顶部,且面向待测电子设备设置,相机用于对待测电子设备进行拍摄。这样,可以获知待测电子设备当前所处的测试项目,或者当前测试项目的测试状态等,便于控制测试进度。
在一种实现方式中,测试组件还包括接近光测试件,接近光测试件设置在可调测试槽位顶部,且面向待测电子设备设置;接近光测试件为测试灰卡,接近光测试件用于沿垂直于待测电子设备的方向上下运动。这样,接近光可以由距离待测电子设备远端运动到近端,以对待测电子设备进行接近光测试,测试完成后可以复位至远端。
在一种实现方式中,测试组件还包括环境光测试件,环境光测试件设置在可调测试槽位顶部,且面向待测电子设备设置,环境光测试件为可控制亮灭的光源。这样,环境光测试件可以用于对待测电子设备进行环境光测试。
在一种实现方式中,接近光测试件的移动路径不与环境光测试件及相机重叠。
在一种实现方式中,环境光测试件的光路不经过接近光测试件及相机。
附图说明
图1是一种电子产品测试示意图;
图2为本申请实施例提供的电子设备的测试装置结构示意图;
图3为本申请实施例提供的电子设备的测试装置柜体示意图;
图4为本申请实施例提供的承载组件结构示意图;
图5为本申请实施例提供的可调测试槽位的结构示意图;
图6为本申请实施例提供的载板与夹层板一种位置关系图;
图7为本申请实施例提供的载板与夹层板另一种位置关系图;
图8为本申请实施例提供的NFC测试件结构示意图;
图9为本申请实施例提供的部分测试组件的结构示意图;
图10为本申请实施例提供的USB切换板及固定板结构示意图;
图11为本申请实施例提供的Hall测试件结构示意图;
图12为本申请实施例提供的声卡结构示意图;
图13为本申请实施例提供的远焦测试件结构示意图;
图14为本申请实施例提供的远焦测试件的截面图;
图15为本申请实施例提供的闪烁测试件的位置关系图;
图16(a)为图15中C向示意图;
图16(b)为图15中D向示意图;
图17为本申请实施例提供的闪烁测试件的结构示意图;
图18为本申请实施例提供的近焦测试件的位置关系图;
图19为本申请实施例提供的近焦测试件的结构示意图;
图20为本申请实施例提供的电子设备的测试装置的又一结构示意图。
其中,100-承载组件;101-底板;1011-第一开口;102-侧板;103-夹层板;1031-第三开口;104-直线导轨;105-进出气缸;200-测试组件;201-相机;202-无线充电线圈;203-闪烁测试件;2031-第一导向件;2032-第五气缸;2033-第二固定件;2034-第三移动件;204-USB母口;2041-第二气缸;205-USB切换板;2051-固定板;206-环境光测试件;207-Hall测试件; 208-红外测试件;209-远焦测试件;2091-远焦光源板;2092-远焦标定图;2093-调节杆;210- 近焦测试件;2101-第三气缸;2102-近焦光源板;2103-近焦标定图;2104-第二导向件;2105- 第一固定件;2106-第二移动件;211-顶升件;2111-第一顶升杆;2112-第二顶升杆;212-NFC 测试件;2121-第三固定件;2122-第四气缸;213-接近光测试件;2131-第一移动件;214-声卡; 2141-声卡固定架;300-待测电子设备;400-可调测试槽位;401-载板;4011-第二开口;4012- 第一转动基座;4013-第二转动基座;4014-第一转动轴;4015-第二转动轴;4016-第三转动基座;4017-第三转动轴;4018-第一支撑件;402-可调压块;402a-第一调节压块;402b-第二调节压块;4021-第一气缸;4022-顶面压块;403-固定平台;4031-连接件;4032-平台件;500-柜体;600-支撑架。
具体实施方式
本申请说明书和权利要求书及附图说明中的术语“第一”、“第二”和“第三”等是用于区别不同对象,而不是用于限定特定顺序。
在本申请实施例中,“示例性的”或者“例如”等词用于表示作示例、例证或说明。本申请实施例中被描述为“示例性的”或者“例如”的任何实施例或设计方案不应被解释为比其它实施例或设计方案更优选或更具优势。确切而言,使用“示例性的”或者“例如”等词旨在以具体方式呈现相关概念。
在电子产品(例如智能手机、平板电脑、智能穿戴设备、大屏显示设备等)出厂前,需要对电子产品进行一些测试,例如对电子产品进行充电测试、相机测试、各类传感器功能测试、WiFi功能测试以及NFC功能测试等。图1是一种电子产品测试示意图。如图1所示,对于电子产品的所有测试项目,一般采用人工测试或者人工操作测试夹具对电子产品进行测试的方式。
例如,在进行相机近距离对焦测试时,人工将电子产品固定在用于进行相机近焦测试的测试夹具上,之后利用测试夹具对电子产品进行测试。其中,近焦测试的测试夹具上设置有测试时所需的光源以及标定图(chart)等,之后电子产品可以利用该标定图进行对焦,以完成测试。
然而,为了适应电子产品形态及测试项的具体操作流程,对于电子产品的每一测试项,现有的各测试夹具具有不同的形态,配置有不同的测试组件,因此各个测试项之间的测试夹具并不通用。并且目前的测试夹具对于不同的电子产品采用的是非通用化测试组件,因此对于不同电子产品,还需要开发专用的测试夹具。
为了便于理解本申请实施例的技术方案,下面对电子设备特别是智能手机在出厂前需要进行的部分测试项目及测试方法进行简单解释说明,下述部分或全部测试项目需依赖测试夹具完成。其中:
模拟耳机测试:首先,将电子设备切换至模拟耳机通道并启动录音,利用声卡等播放扫频信号。之后,控制电子设备播放所录音频,声卡对右/左(R/L)通道进行录音。最后通过对声卡录音结果进行分析,得出测试结果。
数字耳机(digital earphone)测试:首先,将电子设备切换至数字耳机通道并启动录音,利用声卡等播放扫频信号。之后,控制电子设备播放所录音频,声卡对右/左(R/L)通道进行录音。最后通过对声卡录音结果进行分析,得出测试结果。
充电测试:充电测试一般包括高压直充测试、USB-PD(USB-Powerdelivery)充电测试、高压充电测试以及其他扩展快充等。在进行充电测试时,将充电测试线缆连接在电子设备的 USB接口上,得到测试结果。
红外测试:电子设备配置有红外发射组件,用于发射红外信号。电子设备可以利用红外信号与其他电子设备之间进行信息交换,例如,电子设备可以控制电视、空调以及与电脑、智能手机等设备进行无线连接等。在红外测试中,利用红外信号接收板接收电子设备所发红外信号,基于接收板接收的结果可以确定电子设备的红外测试结果。
蓝牙测试:将电子设备置于蓝牙信号环境中,得到蓝牙测试结果。
WiFi测试:将电子设备置于WiFi信号环境中,得到WiFi测试结果。
相机近距离对焦测试:相机近距离对焦测试中为电子设备配备了测试光源及用于近距离对焦的标定图,之后控制电子设备利用该标定图进行对焦,得到相机近距离对焦测试结果。在进行相机近距离对焦测试时,需要控制测试光源亮度、色温、照度及标定图与电子设备相机之间的距离等参数,以得到满足相机近距离对焦测试的测试环境。这一测试项的目的在于测试电子设备的广角摄像头。
相机远距离对焦测试:相机远距离对焦测试中为电子设备配备了测试光源及用于远距离对焦的标定图,之后控制电子设备利用该标定图进行对焦,得到相机远距离对焦测试结果。在进行相机远距离对焦测试时,需要控制测试光源亮度、色温、照度及标定图与电子设备相机之间的距离等参数,以得到满足相机远距离对焦测试的测试环境。这一测试项的目的在于测试电子设备的主摄像头。
接近光测试:电子设备中一般配置有接近传感器(proximity sensor),接近传感器是一种具有感知物体接近能力的器件,接近传感器对接近的物体具有敏感特性,可以用于识别物体的接近,并输出相应开关信号。在实际应用中,电子设备可以依赖接近传感器实现在人耳靠近电子设备时电子设备灭屏。接近光测试中为电子设备配备有测试灰卡,该测试灰卡与电子设备之间的距离可以调节。具体而言,测试灰卡可以在距离电子设备远端做停留,得到一个测试值,之后在距离电子设备近端做停留,得到另一个测试值,基于上述两个测试值可以得到环境光测试结果。
重力感应测试:电子设备中一般配置有对力敏感的重力传感器及相关芯片(例如重力摇杆芯片),该重力传感器可以在电子设备变换姿态时感知电子设备重心的变化,电子设备基于该重力传感器与重力摇杆芯片等部件的配合工作,可以实现摇晃切换界面、翻转静音等功能。在进行重力感应测试时,需要对电子设备进行翻转等操作,以使电子设备姿态发生变化,进而得到重力感应测试结果。
Hall测试:Hall测试用于对电子设备霍尔传感器(hall sensor)进行功能测试。Hall测试为电子设备配置有电磁铁,该电磁铁的设置位置靠近电子设备的霍尔传感器。在进行Hall测试时,可以使电磁铁N极、S极导通,得到Hall测试结果。
NFC测试:电子设备内置有NFC线圈,该NFC线圈可以用于进行NFC通信。拥有NFC 功能的电子设备可以进行本地支付、门禁控制等操作。NFC测试为电子设备配置了NFC卡片,该NFC卡片的设置位置靠近电子设备的NFC线圈。在进行NFC测试时,电子设备的 NFC线圈可以与NFC卡片之间进行通信,得到NFC测试结果。
环境光测试:电子设备中一般配置有环境光传感器(ambient light sensor),在电子设备所处环境光照强度发生变化时,环境光传感器可以感受到该变化,之后可以基于环境光传感器反馈的结果做出调节,例如调节屏幕亮度。环境光测试用于对电子设备的环境光功能进行测试,具体而言,环境光测试用于测试在电子设备所处环境发生光亮变化时,环境光传感器的性能。环境光测试中,为电子设备配置了可控制亮灭的环境光光源,环境光光源与电子设备之间保持一定距离。在进行环境光测试时,首先控制环境光光源打开,之后控制环境光光源关闭,得到环境光测试结果。
Flicker测试:电子设备配置有防闪烁传感器(flicker sensor),flicker传感器可以应用在电子设备利用摄像头进行拍摄的过程中,具体而言,flicker传感器可以精准检测摄像头所摄场景的频闪频率,之后可以基于flicker传感器的反馈实时提供曝光调配,以改善拍摄效果。 Flicker测试中,为电子设备配置有闪烁光源,测试时可以开启闪烁光源,进而得到Flicker测试结果。
无线充电测试:一些电子设备配置有无线充电功能,具体而言,电子设备设置有无线充电芯片,该无线充电芯片可以用于实现贴近无线充电器时充电,远离无线充电器时断电的功能。无线充电测试中为电子设备配置了无线充电线圈,无线充电线圈可以与无线充电芯片贴近,以完成无线充电测试。
此外,电子设备出厂前还包括很多测试项目,例如正反OTG测试、SIM卡测试、陀螺仪测试、TP容值测试、反向无线充电测试等,此处不做详述。
本申请实施例提供一种电子设备的测试装置,该电子设备的测试装置集合了多种测试项目,可以用于对电子设备进行功能测试。该电子设备的测试装置还配置有可调节的组件,可以根据各个电子设备布局及实际硬件参数等进行调节,得到适用于各个电子设备的测试工具。因此,该电子设备的测试装置作为一种通用性夹具,可以应用至多种电子设备的测试过程中。
该电子设备可以为用户设备(user equipment,UE)、终端(terminal)等,例如,电子设备可以为平板电脑(portable android device,PAD)、个人数字处理(personaldigital assistant, PDA)、具有无线通信功能的手持设备、计算设备、车载设备或可穿戴设备,虚拟现实(virtual reality,VR)终端设备、增强现实(augmented reality,AR)终端设备、工业控制(industrial control)中的无线终端、无人驾驶(self driving)中的无线终端、远程医疗(remote medical) 中的无线终端、智能电网(smart grid)中的无线终端、运输安全(transportation safety)中的无线终端、智慧城市(smart city)中的无线终端、智慧家庭(smart home)中的无线终端等。
需要说明的是,对于本申请实施例中相同的零部件,图中可能仅以其中一个零件或部件为例标注了附图标记,应理解的是,对于其他相同的零件或部件,附图标记同样适用。
图2为本申请实施例提供的电子设备的测试装置结构示意图,如图2所示,本申请实施例提供的电子设备的测试装置包括承载组件100和测试组件200,承载组件100用于承载测试组件200,为待测电子设备300提供测试环境。具体而言,承载组件100上开设有至少一个可调测试槽位400,该可调测试槽位400用于固定待测电子设备300,待测电子设备300可以以各种姿态固定在可调测试槽位400中,例如,待测电子设备300可以以屏幕面(正面)向上、后壳面(背面)向下固定在可调测试槽位400中。测试组件200可以分布在承载组件100的顶部并面向待测电子设备300,测试组件200也可以分布在承载组件100的底部并面向待测电子设备300,测试组件200还可以位于承载组件100上,并围绕可调测试槽位400设置,以对待测电子设备300进行测试。
图3为本申请实施例提供的电子设备的测试装置柜体示意图。如图2及图3所示,本申请实施例提供的电子设备的测试装置可以包括柜体500,承载组件100及测试组件200可以位于柜体500内。承载组件100可以为抽屉形状,那么承载组件100可以在柜体500内实现抽出、推入等动作,在抽屉形状的承载组件100打开时,可以取放待测电子设备300,关闭时,可以进行测试。这样,可以为待测电子设备300提供一个暗环境,使得测试可以不受外界光源的影响,测试结果更为准确。
图4为本申请实施例提供的承载组件结构示意图,如图4所示,承载组件100包括底板 101及侧板102,侧板102沿承载组件100抽出方向设置在底板101的一端。这样,可以形成抽屉形状。承载组件100还可以包括夹层板103、至少两个直线导轨104以及至少两个进出气缸105,夹层板103可以设置在底板101顶部,夹层板103一侧可以与侧板102固定连接。至少两个直线导轨104对称设置在夹层板103与底板101之间,直线导轨104的长度方向为承载组件100的运动方向。至少两个进出气缸105可以对称设置在直线导轨104外侧,且进出气缸105一端固定在底板101上,另一端与夹层板103连接,进出气缸105可以为夹层板 103及侧板102提供动力。这样,通过直线导轨104与进出气缸105的配合,夹层板103及侧板102可以相对底板101运动,那么夹层板103可以运动至柜体500外,也可以进入柜体 500。
继续参见图4,可调测试槽位400可以包括载板401,载板401可以设置在夹层板103上。在需要对待测电子设备300进行测试时,可以利用进出气缸105使夹层板103运动至柜体500外,那么载板401会随夹层板103共同运动,此时可以将待测电子设备300放置在载板401上,之后利用进出气缸105使待测电子设备300进入柜体500,以实现对待测电子设备300的测试。
继续参见图4,承载组件100上还可以设置有支撑架600,支撑架600具体可以架设在可调测试槽位400顶部。本申请实施例中的测试组件200包括多种测试件,每一种测试件可以用于对电子设备进行一种或多种测试,多个测试件也可以组合对电子设备进行测试。那么为了合理排列多种测试项目之间测试先后顺序,需要对多种测试件进行布局设计。因此支撑架 600可以用于固定各个测试件。各个测试件在支撑架600上的设置位置将在下文详述,此处不做赘述。
继续参见图2及图4,底板101至少开设有一个第一开口1011,第一开口1011由底板101的顶面贯穿至底板101的底面。部分测试组件200设置在底板101底面的一侧,并且位于第一开口1011的区域内,例如用于进行相机远距离测试的远焦测试件209。进一步的,夹层板103至少开设有一个第三开口1031,第三开口1031由夹层板103的顶面贯穿至夹层板 103的底面,第三开口1031与第一开口1011之间相通。载板401上至少开设有一个第二开口4011,第二开口4011可以开设在用于固定待测电子设备300的区域,由载板401的顶面贯穿至载板401的底面,第二开口4011与第一开口1011和第三开口1031之间相通。这样,处于底板101底面一侧的测试组件200可以穿过第一开口1011、第三开口1031和第二开口 4011,对置于载板401上的待测电子设备300进行测试。这样,可以使得承载组件100与测试组件200的结构更加紧凑,节省空间。
图5为本申请实施例提供的可调测试槽位的结构示意图,图5为图2中A方向视角的示意图。如图5所示,可调测试槽位400还包括至少两个可调压块402,至少两个可调压块402设置在载板401顶面,这样,可以形成一个可调测试槽位400。测试时,待测电子设备300可以置于可调压块402围设形成的空间内。
本实施例中,可调压块402的数量和围设方式可以根据待测电子设备300的形状确定。对于长方体形状的待测电子设备300,例如智能手机,可以设置四个可调压块402,四个可调压块402分别设置在长方形的四个顶点区域,以固定待测电子设备300。对于圆柱状的待测电子设备300,例如智能手表,可以设置两个可调压块402,两个可调压块402可以相对设置在待测电子设备300的两侧,以固定待测电子设备300。
在一些实现方式中,为了节省测试装置所占空间,在可调压块402围设为长方形时,可以将该长方形与载板401呈一定角度。这样,在长方形的长度方向上可以有更多的空间用于放置测试组件200。
继续参见图5,可调压块402可以包括第一调节压块402a和第二调节压块402b,第一调节压块402a用于在垂直于待测电子设备300边框的方向上进行调节并固定待测电子设备300,第二调节压块402b用于在垂直于待测电子设备300边框的方向上进行调节,并沿垂直于待测电子设备300顶面的方向固定待测电子设备300。这样,可以兼容各个尺寸的待测电子设备 300。上述调节动作可以由人工手动完成,并且上述调节动作可以在首次测试某一型号待测电子设备300时进行,在面对同一型号待测电子设备300的大量测试任务时,无需重复进行调节动作。
在一些实现方式中,第一调节压块402a的数量可以为两个,第二调节压块402b的数量也可以为两个,第一调节压块402a和第二调节压块402b可以分别分布在长方形的四个顶点区域。例如,两个第一调节压块402a可以分别设置在长方形对角线方向上两个相对的对角处,两个第二调节压块402b可以分别设置在另一条长方形对角线方向上的两个相对的对角处。
继续参见图5,第二调节压块402b可以配置有第一气缸4021和顶面压块4022,在第二调节压块402b调节到位后,第一气缸4021可以为顶面压块4022提供动力,以使顶面压块4022从待测电子设备300的顶面固定待测电子设备300,测试完成后,第一气缸4021还可以为顶面压块4022提供动力,以使顶面压块4022释放待测电子设备300。
图6为本申请实施例提供的载板与夹层板一种位置关系图,图7为本申请实施例提供的载板与夹层板另一种位置关系图。如图6及图7所示,载板401与夹层板103可转动连接,载板401与夹层板103之间设置有第一转动基座4012、第二转动基座4013、第三转动基座4016、第一转动轴4014、第二转动轴4015、第三转动轴4017以及至少两个第一支撑件4018,其中,第一转动基座4012、第二转动基座4013、第三转动基座4016、第一转动轴4014、第二转动轴4015及第三转动轴4017设置在载板401的一端,第一转动基座4012和第二转动基座4013对称设置在载板401的两侧,第三转动基座4016设置在第一转动基座4012和第二转动基座4013之间,第一转动轴4014可以贯穿设置在第一转动基座4012上,第二转动轴4015 可以贯穿设置在第二转动基座4013上,第三转动轴4017可以贯穿设置在第三转动基座4016上,这样,载板401可以围绕第一转动轴4014、第二转动轴4015及第三转动轴4017转动。至少两个第一支撑件4018设置在载板401的另一端,且第一支撑件4018与夹层板103固定连接,以起到支撑载板401的作用。
继续参见图6,测试组件200可以包括顶升件211,顶升件211设置在载板401远离第一转动轴4014等部件的一侧。顶升件211可以包括第一顶升杆2111和第二顶升杆2112,第一顶升杆2111和第二顶升杆2112可以对称设置在底板101的边缘处,第一顶升杆2111和第二顶升杆2112均一端与夹层板103连接,另一端可转动连接于载板401上。第一顶升杆2111 可以伸长或缩短,第二顶升杆2112也可以伸长或缩短,第一顶升杆2111和第二顶升杆2112 可以为气缸。
继续参见图7,在第一顶升杆2111和第二顶升杆2112(图中未示出)伸长时,第一顶升杆2111和第二顶升杆2112将载板401顶起,此时处于载板401上的待测电子设备300可以随载板401被顶起,载板401可以依靠第一转动基座4012、第二转动基座4013、第三转动基座4016、第一转动轴4014、第二转动轴4015和第三转动轴4017发生转动(图中仅示出第一转动基座4012和第一转动轴4014)。这样,载板401所在平面与夹层板103所在平面之间可以形成第一转动角度α。在顶升件211将载板401顶起的过程中,待测电子设备300的姿态发生改变,此时待测电子设备300可以进行重力感应测试。
可以理解的是,第一顶升杆2111、第二顶升杆2112与夹层板103及载板401的连接处设置有用于转动的转动轴等器件,本实施例对此不做详述。
图8为本申请实施例提供的NFC测试件结构示意图。如图8所示,进一步的,测试组件 200还可以包括NFC测试件212,NFC测试件212可以位于顶升件211顶部,具体可以固定在支撑架600上,NFC测试件212可以为NFC测试卡片。NFC测试件212可以配置有第三固定件2121及第四气缸2122,其中,第三固定件2121固定在支撑架600上,第四气缸2122 设置在第三固定件2121上,NFC测试件212设置在第四气缸2122上,第四气缸2122用于为NFC测试件212提供动力,以使NFC测试件212运动。
在载板401转动至第一转动角度后,NFC测试件212可以在第四气缸2122的作用下,向靠近待测电子设备300的方向运动,这样,可以对待测电子设备300进行NFC测试。之后NFC测试件212还可以在第四气缸2122的作用下,沿远离待测电子设备300的方向运动。 NFC测试件212固定在第四气缸2122上时,NFC测试件212所在平面与载板401所在平面之间的角度,可以等于第一转动角度。这样,NFC测试件212可以与待测电子设备300的背面贴合。优选的,第一转动角度可以为45°,具体数值可以根据待测电子设备300的实际硬件参数等设计,本申请对此不做具体限定。
由上述内容可知,顶升件211、NFC测试件212及待测电子设备300之间的布局方式,使得NFC测试不会妨碍其他需要在待测电子设备300背面完成的测试,可以提高测试装置内部的空间利用率。
需要补充说明的是,本实施例中,NFC功能测试和重力感应测试之间可以测试时间复用,这样,可以缩短测试过程的总时长。
图9为本申请实施例提供的部分测试组件的结构示意图,图9为图2中A视角的又一示意图。如图9所示,测试组件200还可以包括无线充电线圈202,无线充电线圈202固定在第二开口4011内部。无线充电线圈202可以与放置在载板401上的待测电子设备300的背面相贴合,并对待测电子设备300进行无线充电,以测试待测电子设备300的无线充电功能。无线充电线圈202为部分镂空结构,不会在处于载板401底面的测试组件200与待测电子设备300被测器件之间形成遮挡,不会影响处于载板401底面的测试组件200对待测电子设备 300的测试。
进一步的,测试组件200还包括USB母口204,USB母口204设置在可调压块402的一侧,且USB母口设置在载板401上,用于与待测电子设备300的USB子口建立功能性连接。可以理解的是,待测电子设备300通常具有USB接口,该USB接口可以用于为待测电子设备300充电、作为数字耳机的接口、或者用于实现OTG连接等,在本实施例中,该USB接口可以被称为USB子口。考虑到USB子口一般设置在待测电子设备300的尾端,在可调压块402围设为长方形时,USB母口204可以设置在长方形短边的一侧,具体可以设置在第一调节压块402a和第二调节压块402b之间。
在本申请实施例中,USB母口204还可以配置有第二气缸2041,以使USB母口204可以插入待测电子设备300的USB子口中,也可以从待测电子设备300的USB子口中拔出。
图10为本申请实施例提供的USB切换板及固定板结构示意图,如图10所示,进一步的,测试组件200还可以包括USB切换板205及固定板2051,USB切换板205设置在载板 401靠近侧板102的一侧,USB切换板205可以与USB母口204电连接,以通过USB母口 204与待测电子设备300连接。固定板2051可以载板401相邻设置在夹层板103上,且固定板2051设置在载板401靠近侧板102的一侧,USB切换板设置在固定板2051的顶面上,以方便与USB母口204连接,同时使得电子设备的测试装置结构紧凑,节省空间。
USB切换板205可以是一种集成了多个测试项目的器件,具体而言,USB切换板205可以用于进行模拟耳机测试、数字耳机测试、各种充电测试及OTG测试等测试。例如,在进行模拟耳机测试时,USB切换板205可以切换到模拟通道,之后通过USB切换板205可以模拟形成hold按键,按下hold按键控制待测电子设备300启动录音或启动播音。通过USB切换板还可以模拟形成音量键(vol+键和/或vol-键),通过按下音量键可以使待测电子设备300 切换至下一测试项目的测试界面。在进行数字耳机测试时,USB切换板205的工作流程可以参见上述模拟耳机测试过程,此处不再赘述。
再如,在进行充电测试时,USB切换板205可以用于切换至高压直充通道、USB-PD充电通道和高压充电通道。本实施例中,电子设备的测试装置还可以包括充电线缆,充电线缆的一端可以以焊接的方式与USB切换板205连接,且充电线缆的另一端可以与充电器电连接,通过该充电线缆及充电器可以为USB切换板205供电,进而实现充电测试功能。在本实施例中,为了准确测试待测电子设备300的充电功能,优选控制USB切换板205与充电器之间的阻抗不大于100mohm,优选控制待测电子设备300与充电器之间的阻抗不大于200mohm,具体阻抗值可以根据待测电子设备300的性能决定。
此外,在进行OTG测试时,USB切换板205还可以用于切换到OTG通道。
继续参见图9,进一步的,测试组件200还包括红外测试件208,红外测试件208可以设置在载板401上,且设置在可调压块402的一侧,用于对待测电子设备300进行红外测试。考虑到待测电子设备300的红外信号发射组件一般设置在待测电子设备300的顶端,红外测试件208可以设置在可调压块402远离的USB母口204的一侧,并且与可调压块402之间保持有一定距离。红外测试件208的接收端面面向待测电子设备300设置,这样,红外测试件 208可以接收待测电子设备300所发红外信号。
图11为本申请实施例提供的Hall测试件结构示意图,图11为图2中B视角的示意图,如图9及图11所示,进一步的,测试组件200还可以包括Hall测试件207,Hall测试件207可以固定在载板401上,具体而言,Hall测试件207固定在固定平台403上,该固定平台403设置在载板401的底面上,位于USB母口204下方,且位于第二开口4011的区域内。固定平台403包括连接件4031和平台件4032,其中,连接件4031固定在载板401背向待测电子设备300的面上,平台件4032一端与连接件4031连接,另一端延伸至超过第二开口4011的内壁,Hall测试件207固定在平台件4032上,此时Hall测试件207可以从第二开口4011中露出、面向待测电子设备300。
Hall测试件207可以是一个支持N/S极导通的电磁铁,磁通量可以为3-20M。这样,Hall 测试件207可以对待测电子设备300的霍尔传感器进行测试。
图12为本申请实施例提供的声卡结构示意图,如图12所示,需要补充说明的是,为了实现模拟耳机测试和数字耳机测试,测试组件200还可以包括声卡214及声卡固定架2141,声卡固定架2141设置在载板401远离第一转动轴4014等部件的一侧,且声卡固定架2141固定在夹层板103上,声卡214设置在声卡固定架2141上,这样,可以提高空间利用率。声卡 214用于播放扫频信号以及对待测电子设备300播放的声音进行右/左(R/L)通道录音,以完成模拟耳机测试和数字耳机测试。
图13为本申请实施例提供的远焦测试件结构示意图,图14为本申请实施例提供的远焦测试件的截面图。如图13及图14所示,进一步的,测试组件200还包括远焦测试件209,远焦测试件209可以设置在底板101远离待测电子设备300的一面。远焦测试件209包括远焦光源板2091和远焦标定图2092,远焦光源板2091面向待测电子设备300可以设置,远焦标定图2092可以铺设在该远焦光源板2091靠近待测电子设备300的面上。这样,远焦光源板2091可以照亮远焦标定图2092,之后远焦标定图2092反射的光可以依次穿过第一开口 1011、第三开口1031和第二开口4011,到达置于载板401上的待测电子设备300背面的摄像头处。本实施例中,远焦测试件209可以用于对待测电子设备300进行相机远距离对焦测试。
在一些实现方式中,可以控制远焦光源板2091色温、照度及均匀度等参数,优选的,远焦光源板2091可以是色温为3800K-6500K、照度为240±20lux、均匀度>90%的光源,具体可以根据实际情况进行设计,本申请对此不做具体限定。远焦标定图2092可以是根据待测电子设备300的相机参数进行设计的图片,例如,远焦标定图2092可以为棋盘格图片。
继续参见图13,在一些实现方式中,远焦测试件209还包括调节杆2093,远焦光源板 2091和远焦标定图2092设置在调节杆2093上,调节杆2093可以用于调节远焦光源板2091 及远焦标定图2092与载板401之间的距离。这样,可以根据不同的待测电子设备300所需的远焦测试距离,对远焦光源板2091和远焦标定图2092进行调节。优选的,远焦光源板2091 与待测电子设备300之间的距离的调节范围可以为7cm-15cm,具体数值可以根据待测电子设备300的实际硬件参数进行调节。上述调节动作可以由人工手动完成,并且上述调节动作可以在首次测试某一型号待测电子设备300时进行,在面对同一型号待测电子设备300的大量测试任务时,无需重复进行调节动作。
图15为本申请实施例提供的闪烁测试件的位置关系图,如图15所示,进一步的,测试组件200还包括闪烁测试件203,闪烁测试件203可以是一个可以发出闪烁光的光源板,用于对待测电子设备300进行flicker测试,闪烁测试件203可以设置在载板401与夹层板103之间。本实施例中,闪烁测试件203可以包括两种状态,第一种状态中,闪烁测试件203可以设置在待测电子设备300下方,具体处于靠近待测电子设备300尾端的位置,这样,可以避免在进行远焦测试时闪烁测试件203对远焦测试件209造成遮挡。第二种状态中,考虑到待测电子设备300的flicker传感器一般设置在背面靠近顶部的位置,因此闪烁测试件203可以处于待测电子设备300顶端的下方,闪烁测试件203所发闪烁光可以穿过第二开口4011到达待测电子设备300的flicker传感器,以对待测电子设备300进行flicker测试。通过状态变换的方式,可以使测试组件200在待测电子设备300周围分布更加紧凑,且各个测试项目之间不会相互影响,提高空间利用率。
图16(a)为图15中C向示意图,图16(b)为图15中D向示意图,图17为本申请实施例提供的闪烁测试件的结构示意图,如图15-图17所示,为了使闪烁测试件203可以进行状态变换,为闪烁测试件203配置有第五气缸2032、第二固定件2033、第三移动件2034以及第一导向件2031,第二固定件2033固定在所述底板101上,第三移动件2034位于所述第二固定件2033顶部,第一导向件2031设置在第二固定件2033与第三移动件2034之间。第一导向件2031的数量可以为两个,两个第一导向件2031对称设置,第一导向件2031可以为导轨,闪烁测试件203固定在第三移动件2034上。第五气缸2032一端可以与侧板102连接,另一端可以与第三移动件2034连接,用于为第三移动件2034提供动力。这样,第三移动件 2034可以带动闪烁测试件203运动,以使闪烁测试件203可以在两种状态之间切换。
本实施例中,可以控制闪烁测试件203的频率及占空比,例如闪烁测试件203的闪烁频率可以为0-200Hz之间的任意值,优选为80Hz,占空比优选为50%。还可以控制闪烁测试件 203的色温、均匀度以及照度等参数,本申请对此不做具体限定。
图18为本申请实施例提供的近焦测试件的位置关系图,如图18所示,进一步的,测试组件200还可以包括近焦测试件210,本实施例中,近焦测试件210可以包括两种状态,第一种状态中,近焦测试件210可以处于夹层板103下方,以对置于载板401上的待测电子设备300进行相机近焦测试。第二种状态中,近焦测试件210可以处于载板401远离侧板102 的一侧,以避免在远焦测试时近焦测试件210对远焦测试件209造成遮挡。通过状态变换的方式,可以使测试组件200在待测电子设备300周围的分布更加紧凑,且各个测试项目之间不会相互影响,提高空间利用率。
图19为本申请实施例提供的近焦测试件的结构示意图,如图18及图19所示,近焦测试件210可以配置有第三气缸2101、第一固定件2105、第二移动件2106以及至少两个第二导向件2104,第一固定件2105设置在载板401远离侧板102的一侧,且第一固定件2105固定在底板101上。第二移动件2106位于所述第一固定件2105顶部,至少两个第二导向件2104对称设置在第一固定件2105与第二移动件2106之间,第二导向件2104可以为导轨,近焦测试件210固定在第二移动件2106上。第三气缸2101设置在第二导向件2104外侧,且第三气缸2101一端与第一固定件2105连接,另一端与第二移动件2106连接。第三气缸2101用于为第二移动件2106的运动提供动力,这样,第二移动件2106可以带动近焦测试件210运动,以使近焦测试件210可以在两种状态之间切换。
本实施例中,近焦测试件210可以包括近焦光源板2102和近焦标定图2103,在近焦测试件210处于夹层板103下方时,近焦光源板2102可以面向待测电子设备300设置,近焦标定图2103可以铺设在该近焦光源板2102靠近待测电子设备300的面上。这样,近焦光源板2102可以照亮近焦标定图2103,之后近焦标定图2103反射的光可以穿过第二开口4011,到达置于载板401上的待测电子设备300背面的摄像头处。本实施例中,近焦测试件210可以用于对待测电子设备300进行相机近距离对焦测试。
本实施例中,可以控制近焦光源板2102色温、照度及均匀度等参数,具体数值可以参见远焦光源板2091的参数范围,本申请对此不做具体限定。近焦标定图2103可以是根据待测电子设备300的相机参数进行设计的图片,例如,近焦标定图2103可以为棋盘格图片。
在一些实现方式中,近焦测试件210所在平面与待测电子设备300所在平面之间的距离也可以调节,优选的,近焦光源板2102与待测电子设备300之间的距离的调节范围可以为 2.5cm-3.5cm,具体数值可以根据待测电子设备300的实际硬件参数确定。调节距离的动作可以由人工手动完成,并且调节动作可以在首次测试某一型号待测电子设备300时进行,在面对同一型号待测电子设备300的大量测试任务时,无需重复进行调节动作。
图20为本申请实施例提供的电子设备的测试装置的又一结构示意图。如图20所示,进一步的,本申请实施例中,测试组件200包括相机201,相机201设置在承载组件100上,具体可以设置在支撑架600上。相机201设置在可调测试槽位400顶部,且面向待测电子设备300设置,用于对固定于可调测试槽位400中的待测电子设备300进行扫描或拍摄。示例性的,待测电子设备300的屏幕上可以显示有包括当前测试状态的特征,例如项目编码、图片或者二维码等,相机201可以对待测电子设备300的屏幕进行扫描或拍摄,以获知待测电子设备300当前所处的测试项目,或者当前测试项目的测试状态等。该相机可以是ccd(chargecoupled device)相机。
继续参见图20,测试组件200还可以包括接近光测试件213,接近光测试件213可以设置在可调测试槽位400的顶部,且面向待测电子设备300设置。接近光测试件213可以配置有第一移动件2131以及第六气缸2132,第六气缸2132固定在支撑架600上,第一移动件2131一端与第六气缸2132连接,另一端与接近光测试件213连接。第六气缸2132用于为第一移动件2131提供动力,使得第一移动件2131可以沿垂直于待测电子设备300的方向上下运动,这样,第一移动件2131可以带动接近光测试件213运动。接近光测试件213可以用于对待测电子设备300进行接近光测试,接近光测试件213可以为测试灰卡。由于待测电子设备300的接近传感器一般设置在其正面顶端的位置,因此,本申请实施例中,接近光测试件 213在垂直于待测电子设备300的方向上的投影,位于待测电子设备300的顶端。
在进行接近光测试时,接近光测试件213可以在第一移动件2131的带动下,由远端运动到近端。其中,远端为离待测电子设备300顶面较远位置,近端为离待测电子设备300顶面较近位置。远端和近端的具体距离可以由待测电子设备的实际硬件参数决定。优选的,远端可以是距离载板401 60mm的位置,近端可以是距离载板401 15mm的位置。在本实施例中,接近光测试件213与待测电子设备300顶面之间的起始距离(远端距离),可以由人工手动调节。并且上述调节动作可以在首次测试某一型号待测电子设备300时进行,在面对同一型号待测电子设备300的大量测试任务时,无需重复进行调节动作。
进一步的,测试组件200还可以包括环境光测试件206,环境光测试件206可以设置在可调测试槽位400的顶部,且面向待测电子设备300设置。环境光测试件206可以是一个发光光源,用于对待测电子设备300进行环境光测试。本实施例中,为了保证环境光测试的准确性,环境光测试件206发出的光到达待测电子设备300环境光传感器的光亮度优选大于500ul。
需要补充说明的是,环境光测试件206可以固定在支撑架600上,具体可以设置在接近光测试件213与相机201之间,并且环境光测试件206可以位于接近光测试件213的下方,这样,接近光测试件213的移动时不会经过环境光测试件206,同时接近光测试件213的光路也不会经过相机201,测试的结果更为准确。
需要补充说明的是,本申请实施例中,承载组件100上可以开设有两个可调测试槽位400,两个可调测试槽位400可以同时并列设置,两个测试槽位400的载板401可以为一体结构。因此,本申请实施例提供的电子设备的测试装置可以同时对两个待测电子设备300进行测试。每个可调测试测试槽位400周围分别配置有用于测试的测试组件200,两个可调测试槽位400 之间的测试任务可以是同步进行的。对于一些测试项目,两个可调测试槽位400还可以共用一个测试件,例如,在进行环境光测试时,两个可调测试槽位400上的待测电子设备300可以同时进入该项测试的界面,此时环境光测试件206可以被打开及关闭,因此两个待测电子设备300之间可以共用一个环境光测试件206。此外,在进行相机近距离对焦测试时,两个待测电子设备300之间也可以共用一个近焦测试件210。在进行相机远距离对焦测试时,两个待测电子设备300之间也可以共用一个远焦测试件209。这样,可以提高测试效率,并且可以节省测试装置的内部空间。
在一些实现方式中,本申请实施例提供的电子设备的测试装置还可以包括多个可调测试槽位400,同时对多个待测电子设备300进行测试,本申请实施例不对可调测试槽位400的数量做具体限定。
需要补充说明的是,本申请实施例的测试装置中覆盖有WiFi信号和蓝牙信号,可以用于对待测电子设备300进行WiFi测试和蓝牙测试。此外,基于本申请实施例提供的测试装置,还可以对待测电子设备300进行SIM测试、陀螺仪测试、TP容置测试等测试。
由以上技术方案可知,本申请实施例的电子设备的测试装置,可以集合多个测试项目,包括但不限于模拟耳机测试、数字耳机测试、各种快充测试、OTG测试、红外测试、接近光测试、环境光测试、相机近距离对焦测试、相机远距离对焦测试、Hall测试、NFC测试、WiFi测试、蓝牙测试以及flicker测试等。并且,该测试装置采用可以调节的通用化结构,可以根据不同待测电子设备300的实际情况进行调节,以实现对不同待测电子设备300的测试,兼容性高。此外,该测试装置在测试前可以利用机械手进行上料操作,对待测电子设备300进行测试的过程中也不需要人工干预,能够实现测试自动化,测试结果准确,不会出现遗漏测试项目的问题,提高了测试效率。
本申请的实施方式部分使用的术语仅用于对本申请的具体实施例进行解释,而非旨在限定本申请,下面将结合附图对本申请的实施例进行详细描述。
以上的具体实施方式,对本实用新型的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明,所应理解的是,以上仅为本实用新型的具体实施方式而已,并不用于限定本实用新型的保护范围,凡在本实用新型的技术方案的基础之上,所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包括在本实用新型的保护范围之内。

Claims (20)

1.一种电子设备的测试装置,其特征在于,包括:
承载组件(100)和多个测试组件(200);
所述承载组件(100)上开设有至少一个可调测试槽位(400),所述可调测试槽位(400)用于固定待测电子设备(300);
至少一个所述测试组件(200)位于所述承载组件(100)上,且围绕所述可调测试槽位(400)设置,和/或,至少一个所述测试组件(200)位于所述承载组件(100)的顶部,且面向所述待测电子设备(300)设置,和/或,至少一个所述测试组件(200)位于所述承载组件(100)的底部,且面向所述待测电子设备(300)设置,以对所述待测电子设备(300)进行测试。
2.根据权利要求1所述的电子设备的测试装置,其特征在于,
所述承载组件(100)为抽屉形状,包括底板(101)、侧板(102)、夹层板(103)、至少两个直线导轨(104)以及至少两个进出气缸(105),所述侧板(102)垂直设置在底板(101)的一端;
所述夹层板(103)设置在所述底板(101)顶部,所述夹层板(103)的一侧与所述侧板(102)固定连接;
至少两个所述直线导轨(104)对称设置在所述夹层板(103)与所述底板(101)之间;
至少两个所述进出气缸(105)对称设置在所述直线导轨(104)外侧,且所述进出气缸(105)一端固定在所述底板(101)上,另一端与所述夹层板(103)连接。
3.根据权利要求2所述的电子设备的测试装置,其特征在于,
所述可调测试槽位(400)包括载板(401)和至少两个可调压块(402);
所述载板(401)设置在所述夹层板(103)上;
至少两个所述可调压块(402)围设在所述载板(401)的顶面上,以形成所述可调测试槽位(400);
所述待测电子设备(300)置于所述可调压块(402)围设形成的空间内。
4.根据权利要求3所述的电子设备的测试装置,其特征在于,
所述可调压块(402)包括第一气缸(4021)和顶面压块(4022),所述第一气缸(4021)用于为所述顶面压块(4022)提供动力,以使所述顶面压块(4022)从所述待测电子设备(300)的顶面固定所述待测电子设备(300),或者,以使所述顶面压块(4022)释放所述待测电子设备(300)。
5.根据权利要求3所述的电子设备的测试装置,其特征在于,
所述底板(101)上开设有第一开口(1011),所述第一开口(1011)由所述底板(101)的顶面贯穿至所述底板(101)的底面;
所述载板(401)上开设有第二开口(4011),所述第二开口(4011)开设在所述可调压块(402)围设形成的空间内,由所述载板(401)的顶面贯穿至所述载板(401)的底面;
所述夹层板(103)上开设有第三开口(1031),所述第三开口(1031)由所述夹层板(103)的顶面贯穿至所述夹层板(103)的底面;
所述第一开口(1011)、所述第三开口(1031)与所述第二开口(4011)之间相通。
6.根据权利要求5所述的电子设备的测试装置,其特征在于,
所述测试组件(200)包括远焦测试件(209),所述远焦测试件(209)设置在所述底板(101)的底部,且位于所述第一开口(1011)的区域内;
所述远焦测试件(209)包括远焦光源板(2091)和远焦标定图(2092),所述远焦光源板(2091)面向所述待测电子设备(300)设置,所述远焦标定图(2092)铺设在所述远焦光源板(2091)靠近所述待测电子设备(300)的面上。
7.根据权利要求5所述的电子设备的测试装置,其特征在于,
所述测试组件(200)还包括近焦测试件(210)、第三气缸(2101)、第一固定件(2105)、第二移动件(2106)以及至少两个第二导向件(2104);
所述第一固定件(2105)固定在所述底板(101)上;
所述第二移动件(2106)位于所述第一固定件(2105)顶部;
至少两个所述第二导向件(2104)对称设置在所述第一固定件(2105)与所述第二移动件(2106)之间;
所述近焦测试件(210)固定在所述第二移动件(2106)上,且所述近焦测试件(210)位于所述载板(401)远离所述侧板(102)的一侧;
所述第三气缸(2101)一端与所述第一固定件(2105)连接,另一端与所述第二移动件(2106)连接,所述第三气缸(2101)用于为所述近焦测试件(210)提供动力,以使所述近焦测试件(210)运动至所述载板(401)底部,并且位于所述第二开口(4011)的区域内;
所述近焦测试件(210)包括近焦光源板(2102)和近焦标定图(2103),所述近焦光源板(2102)与所述待测电子设备(300)平行设置,所述近焦标定图(2103)铺设在所述近焦光源板(2102)靠近所述待测电子设备(300)的面上。
8.根据权利要求7所述的电子设备的测试装置,其特征在于,
所述测试组件(200)还包括闪烁测试件(203),所述闪烁测试件(203)位于所述载板(401)与所述夹层板(103)之间,所述闪烁测试件(203)为可发闪烁光的光源,所述闪烁测试件(203)用于运动至所述第二开口(4011)的区域内,以对所述待测电子设备(300)进行测试。
9.根据权利要求5所述的电子设备的测试装置,其特征在于,
所述测试组件(200)还包括Hall测试件(207)及固定平台(403);
所述固定平台(403)设置在所述载板(401)的底面上,且所述固定平台(403)位于所述第二开口(4011)的区域内;
所述Hall测试件(207)固定在固定平台(403)上,且通过所述第二开口(4011)面向所述待测电子设备(300)设置,所述Hall测试件(207)为电磁铁。
10.根据权利要求5所述的电子设备的测试装置,其特征在于,
所述测试组件(200)还包括无线充电线圈(202),所述无线充电线圈(202)固定在所述第二开口(4011)内部,且与所述待测电子设备(300)的背面相贴合,所述无线充电线圈(202)用于与所述待测电子设备(300)电连接。
11.根据权利要求5所述的电子设备的测试装置,其特征在于,
所述载板(401)与所述夹层板(103)可转动连接;
所述载板(401)与所述底板(101)之间设置有第一转动基座(4012)、第二转动基座(4013)、第三转动基座(4016)、第一转动轴(4014)、第二转动轴(4015)、第三转动轴(4017)以及至少两个第一支撑件(4018);
所述第一转动基座(4012)、所述第二转动基座(4013)以及所述第三转动基座(4016)设置在所述载板(401)的一端,至少两个所述第一支撑件(4018)设置在所述载板(401)的另一端;
所述第一转动基座(4012)和所述第二转动基座(4013)对称设置在所述载板(401)两侧,第三转动基座(4016)设置在所述第一转动基座(4012)和所述第二转动基座(4013)之间;
所述第一转动轴(4014)贯穿设置在所述第一转动基座(4012)上,所述第二转动轴(4015)贯穿设置在所述第二转动基座(4013)上,所述第三转动轴(4017)贯穿设置在所述第三转动基座(4016)上。
12.根据权利要求11所述的电子设备的测试装置,其特征在于,
所述测试组件(200)还包括顶升件(211),所述顶升件(211)设置在所述载板(401)远离所述第一转动轴(4014)的一端,且所述顶升件(211)一端与所述夹层板(103)连接,另一端可转动连接于所述载板(401)上;所述顶升件(211)用于伸长或缩短,以使所述载板(401)围绕所述第一转动轴(4014)、所述第二转动轴(4015)和所述第三转动轴(4017)转动,直至所述载板(401)所在平面与所述夹层板(103)所在平面之间形成第一转动角度。
13.根据权利要求12所述的电子设备的测试装置,其特征在于,
所述测试组件(200)还包括NFC测试件(212),所述NFC测试件(212)位于所述顶升件(211)顶部;在所述载板(401)所在平面与所述夹层板(103)所在平面之间所呈夹角为所述第一转动角度时,所述NFC测试件(212)用于运动至与所述待测电子设备(300)的背面相贴合。
14.根据权利要求3所述的电子设备的测试装置,其特征在于,
所述测试组件(200)还包括USB母口(204)和USB切换板(205);
所述USB母口(204)设置在所述可调压块(402)的一侧,且所述USB母口(204)设置在所述载板(401)上,用于与所述待测电子设备(300)建立连接;
所述USB切换板(205)设置在所述载板(401)靠近所述侧板(102)的一侧,所述USB切换板(205)用于与所述USB母口(204)连接,以通过所述USB母口(204)对所述待测电子设备(300)进行测试。
15.根据权利要求3所述的电子设备的测试装置,其特征在于,
所述测试组件(200)还包括红外测试件(208),所述红外测试件(208)设置在所述载板(401)上,且设置在所述可调压块(402)的一侧;所述红外测试件(208)的接收端面向所述待测电子设备(300)设置,用于接收所述待测电子设备(300)所发红外信号。
16.根据权利要求1所述的电子设备的测试装置,其特征在于,
所述测试组件(200)还包括相机(201),所述相机(201)设置在所述可调测试槽位(400)顶部,且面向所述待测电子设备(300)设置,所述相机(201)用于对所述待测电子设备(300)进行拍摄。
17.根据权利要求16所述的电子设备的测试装置,其特征在于,
所述测试组件(200)还包括接近光测试件(213),所述接近光测试件(213)设置在所述可调测试槽位(400)顶部,且面向所述待测电子设备(300)设置;所述接近光测试件(213)为测试灰卡,所述接近光测试件(213)用于沿垂直于所述待测电子设备(300)的方向上下运动。
18.根据权利要求17所述的电子设备的测试装置,其特征在于,
所述测试组件(200)还包括环境光测试件(206),所述环境光测试件(206)设置在所述可调测试槽位(400)顶部,且面向所述待测电子设备(300)设置,所述环境光测试件(206)为可控制亮灭的光源。
19.根据权利要求18所述的电子设备的测试装置,其特征在于,
所述接近光测试件(213)的移动路径不与所述环境光测试件(206)及所述相机(201)重叠。
20.根据权利要求19所述的电子设备的测试装置,其特征在于,
所述环境光测试件(206)的光路不经过所述接近光测试件(213)及所述相机(201)。
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