CN218727969U - 雷达抗干扰测试系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种雷达抗干扰测试系统，用于对待测雷达进行性能测试，包括雷达测试系统和雷达干扰源系统；所述雷达测试系统与待测雷达的连线同竖直方向垂直；所述雷达干扰源系统设置于所述雷达测试系统邻近区域；所述雷达干扰源系统为紧缩场系统。本实用新型雷达抗干扰测试系统中，采用紧缩场替代干扰源系统，待测雷达接受紧缩场干扰源的平面波信号，使得测试环境接近实际环境，并且，紧缩场的增益至少为40dBm，其替代干扰源天线后，干扰增益功率大大增加，使得测试不受抗干扰系统本身输出的最大增益功率的局限，确保待测雷达实际的抗干扰能力的客观探测。
Description
技术领域
本实用新型涉及雷达性能测试技术领域，尤其涉及一种雷达抗干扰测试系统。
背景技术
在现有技术中，在进行汽车雷达性能测试时，采用如图1所示的雷达抗干扰测试系统。
从图1可以看出，该系统包括待测雷达、雷达测试系统RTS和雷达干扰源系统。干扰源系统包括喇叭天线以及与喇叭天线连接的混频器或倍频器、雷达干扰源等。雷达测试系统RTS设置于待测雷达的正对面，雷达干扰源系统与RTS对齐或偏后，且位于与待测雷达与RTS连线成特定夹角θ(例如，30°)的连线上。
上述结构存在的问题是，干扰源系统的输出的最大增益功率偏小，因此，某些情况下，在抗干扰测试过程中，干扰源系统无法接近待测雷达实际的抗干扰性能。比如，待测雷达的实际抗干扰功率为50dBm，但干扰源天线的最大增益为15dBm，显然，这样的干扰源是很难完成抗干扰测试的。
实用新型内容
本实用新型旨在提出一种雷达抗干扰测试系统，基于本实用新型的雷达抗干扰测试系统，不受抗干扰系统本身输出的最大增益功率的局限，确保待测雷达实际的抗干扰能力的客观探测。
本实用新型公开了一种雷达抗干扰测试系统，用于对待测雷达进行性能测试，包括：雷达测试系统和雷达干扰源系统；所述雷达测试系统与待测雷达的连线同竖直方向垂直；所述雷达干扰源系统设置于所述雷达测试系统邻近区域；所述雷达干扰源系统为紧缩场系统。
进一步地，上述雷达抗干扰测试系统中，所述紧缩场系统包括馈源天线和反射面；所述反射面为曲面；所述馈源天线的相位中心设置于所述曲面的焦点，所述反射面发出类平面波至所述待测雷达形成干扰信号。
进一步地，上述雷达抗干扰测试系统中，所述雷达干扰源系统与所述雷达测试系统位于同一平面；并且，所述雷达干扰源系统与所述雷达测试系统对齐。
进一步地，上述雷达抗干扰测试系统中，所述雷达干扰源系统与所述雷达测试系统位于同一平面；并且，所述雷达干扰源系统与所述待测雷达的距离大于所述雷达测试系统与所述待测雷达的距离。
进一步地，上述雷达抗干扰测试系统中，所述待测雷达的法线方向与所述雷达干扰源系统的干扰信号入射雷达的方向呈预设夹角。
进一步地，上述雷达抗干扰测试系统中，所述预设夹角为30°。
本实用新型雷达抗干扰测试系统中，采用紧缩场替代干扰源系统，待测雷达接受紧缩场干扰源的平面波信号，使得测试环境接近实际环境，并且，紧缩场的增益至少为40dBm，其替代干扰源天线后，干扰增益功率大大增加，使得测试不受抗干扰系统本身输出的最大增益功率的局限，确保待测雷达实际的抗干扰能力的客观探测。
附图说明
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本实用新型的实施例，并与说明书一起用于解释本实用新型的原理。
图1为现有技术中雷达抗干扰测试系统的结构示意图；
图2为本实用新型雷达抗干扰测试系统实施例的结构示意图；
图3为本实用新型雷达抗干扰测试系统实施例中，紧缩场的结构示意图；
图4为本实用新型雷达抗干扰测试系统实施例中，平面波的产生原理示意图。
具体实施方式
应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
参照图2，图2为本实用新型雷达抗干扰测试系统实施例的结构示意图。
本实施例雷达抗干扰测试系统用于对待测雷达进行性能测试，包括：雷达测试系统(RTS)200和雷达干扰源系统300；雷达测试系统200与待测雷达100的连线同竖直方向垂直；雷达干扰源系统300设置于雷达测试系统200的邻近区域；雷达干扰源系统300为紧缩场系统。
在该实施例中，雷达干扰源系统300设置于雷达测试系统200的邻近区域，其中的邻近区域可以为如下两种情况：
(1)雷达干扰源系统300与所述雷达测试系统200位于同一平面；
并且，雷达干扰源系统300与雷达测试系统200对齐。
(2)雷达干扰源系统300与雷达测试系统200位于同一平面；
并且，雷达干扰源系统300与待测雷达100的距离大于雷达测试系统200与待测雷达100的距离。
也就说，雷达干扰源系统300相对于雷达测试系统200偏后。
在具体实施时，满足邻近区域即可，并不局限于上述两种优选的位置关系。
待测雷达100的法线方向与雷达干扰源系统300的干扰信号入射雷达的方向呈预设夹角α，例如，预设夹角为30°。
参照图3，图3为本实用新型雷达抗干扰测试系统实施例中，紧缩场的结构示意图。
紧缩场测试的基本原理是：使待测天线和发射天线之间的距离减小，从而使测量系统尺寸变得紧凑。在紧缩场系统中，馈源天线辐射的是球面波，球面波经过一个或多个发射面镜的发射和转换后，将形成符合天线远场测量的类似于平面波的辐射场，称之为伪平面波。
紧缩场测试系统通常包括：馈源301和反射面302。馈源301包括馈源天线；馈源天线的相位中心设置于反射面302曲面的焦点；反射面302为抛物面，抛物面接收紧缩场中馈源301发出的球面波，经过反射后产生的平面波到达至待测雷达。
参照图4，图4为本实用新型雷达抗干扰测试系统实施例中，平面波的产生原理示意图。
从图4可以看出，反射面的抛物面接收紧缩场中的馈源301发出的球面波，经过反射后产生的平面303波到达至待测雷达100。
本实施例雷达抗干扰测试系统采用紧缩场替代干扰源系统，待测雷达接受紧缩场干扰源的平面波信号，使得测试环境接近实际环境，并且，紧缩场的增益至少为40dBm，其替代干扰源天线后，干扰增益功率大大增加，使得测试不受抗干扰系统本身输出的最大增益功率的局限，确保待测雷达实际的抗干扰能力的客观探测。
另一方面，虽然高功率/高频率/高增益的倍频器也可以用于提升干扰增益，但设备成本昂贵，同时通过倍频器产生的雷达干扰信号与实际雷达信号不符，采用紧缩场也可以进一步降低成本并与实际环境相符。
尽管上面已经示出和描述了本实用新型的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本实用新型的限制，本领域的普通技术人员在本实用新型的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。
Claims (6)
1.一种雷达抗干扰测试系统，用于对待测雷达进行性能测试，其特征在于，包括：
雷达测试系统和雷达干扰源系统；
所述雷达测试系统与所述待测雷达的连线同竖直方向垂直；
所述雷达干扰源系统设置于所述雷达测试系统邻近区域；
所述雷达干扰源系统为紧缩场系统。
2.根据权利要求1所述的雷达抗干扰测试系统，其特征在于，
所述紧缩场系统包括馈源天线和反射面；
所述反射面为曲面；
所述馈源天线的相位中心设置于所述曲面的焦点，所述反射面发出类平面波至所述待测雷达形成干扰信号。
3.根据权利要求2所述的雷达抗干扰测试系统，其特征在于，
所述雷达干扰源系统与所述雷达测试系统位于同一平面；
并且，所述雷达干扰源系统与所述雷达测试系统对齐。
4.根据权利要求2所述的雷达抗干扰测试系统，其特征在于，
所述雷达干扰源系统与所述雷达测试系统位于同一平面；
并且，所述雷达干扰源系统与所述待测雷达的距离大于所述雷达测试系统与所述待测雷达的距离。
5.根据权利要求3或4所述的雷达抗干扰测试系统，其特征在于，
所述待测雷达的法线方向与所述雷达干扰源系统的干扰信号入射雷达的方向呈预设夹角。
6.根据权利要求5所述的雷达抗干扰测试系统，其特征在于，
所述预设夹角为30°。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN202222880612.7U CN218727969U (zh) | 2022-10-31 | 2022-10-31 | 雷达抗干扰测试系统 |
Applications Claiming Priority (1)
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|---|---|---|---|
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Publications (1)
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|---|---|
| CN218727969U true CN218727969U (zh) | 2023-03-24 |
Family
ID=85595192
Family Applications (1)
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| CN202222880612.7U Active CN218727969U (zh) | 2022-10-31 | 2022-10-31 | 雷达抗干扰测试系统 |
Country Status (1)
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2022
- 2022-10-31 CN CN202222880612.7U patent/CN218727969U/zh active Active
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