CN218647102U - 一种电子工业设备测试探针座 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种电子工业设备测试探针座，包括座体，座体顶部外壁上开设有阶梯槽，且阶梯槽底部内壁靠近边缘处开设有呈等距离结构分布的通孔，座体底部外壁上开设有凹槽，且凹槽顶部内壁上开设有三个卡接槽，卡接槽一侧内壁上开设有限位孔，且三个卡接槽通过限位孔相互贯通，通孔内部设置有探针组件，且探针组件卡接在凹槽内部，座体底部外壁两侧均螺纹连接有两个插销。本实用新型阶梯槽的设计可以使得座体在测试时承载多种不同规格的电子元器件，而后在配合安装的探针组件对电子元器件进行测试，使得电子工业设备生产时无需准备多种测试探针座就可以满足电子工业设备的生产时的测试需求。

Description

一种电子工业设备测试探针座

技术领域

本实用新型涉及电子工业设备生产技术领域，具体涉及一种电子工业设备测试探针座。

背景技术

电子工业设备是指由集成电路、晶体管、电子管、芯片等电子元器件组成，应用电子技术软件发挥作用的设备，且电子工业设备在生产时一般需要对芯片等电子元器件进行检测，而检测方式一般采用测试探针座进行检测。

如授权公告号为CN201335847，授权公告日为20091028的一种用以检测电子芯片的改良式探针座，该探针座包括有：一载板本体以及一设置于该载板本体内的导电性散热垫，当进行电性测试时，一电子芯片嵌入于该载板本体内，而该导电性散热垫代替探针与该电子芯片的中央接地焊垫电性连接，通过该导电性散热垫，该电子芯片与该载板本体电性连接，进而开始电性测试。本实用新型提出另一种用以检测电子芯片的改良式探针座，使用该探针座时，可以真空吸附的方式让该电子芯片结合于探针座内，以降低电子芯片损坏的几率；此外，降低成本，且更容易维护。

上述以及在现有技术中的电子工业设备生产用测试探针座规格一般恒定，使得一种探针座只能够对一种芯片等电气元器件进行检测，无法对其余不同规格的电气元器件进行测试，导致电子工业设备生产时需要准备多种测试探针座，导致生产成本增加，因此，亟需设计一种电子工业设备测试探针座解决上述问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种电子工业设备测试探针座，以解决现有技术中的上述不足之处。

为了实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种电子工业设备测试探针座，包括座体，所述座体顶部外壁上开设有阶梯槽，且阶梯槽底部内壁靠近边缘处开设有呈等距离结构分布的通孔，所述座体底部外壁上开设有凹槽，且凹槽顶部内壁上开设有三个卡接槽，所述卡接槽一侧内壁上开设有限位孔，且三个卡接槽通过限位孔相互贯通，所述通孔内部设置有探针组件，且探针组件卡接在凹槽内部，所述座体底部外壁两侧均螺纹连接有两个插销。

进一步的，所述探针组件包括两个基板一，所述基板一一侧外壁靠近底部处一体成型有两个卡块，两个所述基板一之间卡接有两个基板二，且基板二、基板一插接在卡接槽内部。

进一步的，所述基板二底部外壁两侧进开设有卡槽，且卡块卡接在卡槽内部。

进一步的，所述基板一、基板二顶部外壁上插接有呈等距离结构分布的探针，且探针一端插接在通孔内部，所述基板一一侧外壁上开设有安装槽，且安装槽内部固设有限位组件。

进一步的，所述限位组件包括扣板，所述扣板底部外壁一侧一体成型有推块，且推块、扣板一侧外壁上均通过螺栓安装有安装弹簧，所述安装弹簧一端通过胶水粘接在安装槽内部。

进一步的，所述阶梯槽底部内壁上开设有安置槽，且安置槽底部内壁两侧均通过螺栓安装有两个弹簧，所述弹簧顶端通过螺栓安装有顶板。

进一步的，所述顶板底部外壁一侧粘接有铁块，所述阶梯槽底部内壁一侧通过螺栓安装有电磁铁，且电磁铁与铁块相互接触。

在上述技术方案中，本实用新型提供的一种电子工业设备测试探针座，(1)通过设置的阶梯槽、通孔及探针组件，在使用该探针座对电子元器件进行测试时，阶梯槽的设计可以使得座体在测试时承载多种不同规格的电子元器件，而后在配合安装的探针组件对电子元器件进行测试，使得电子工业设备生产时无需准备多种测试探针座就可以满足电子工业设备的生产时的测试需求；(2)通过设置的限位组件、限位孔及卡接槽，限位组件配合开设在卡接槽上的限位孔可以使得探针组件固定在凹槽内部，且限位组件的设计可以降低探针组件从座体上拆卸下来的难度；(3)通过设置的电磁铁、铁块及弹簧、顶板，在该探针座测试结束后，电磁铁会断电，而后在弹簧的作用下顶板会从安置槽弹出，从而将卡在阶梯槽内部的电子元器件顶出，以便于工人人员拿取电子元器件。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型一种电子工业设备测试探针座实施例提供的整体结构示意图。

图2为本实用新型一种电子工业设备测试探针座实施例提供的座体结构示意图。

图3为本实用新型一种电子工业设备测试探针座实施例提供的探针组件结构示意图。

图4为本实用新型一种电子工业设备测试探针座实施例提供的限位组件结构示意图。

附图标记说明：

1、座体；2、插销；3、阶梯槽；4、通孔；5、安置槽；6、探针组件；7、顶板；8、弹簧；9、电磁铁；10、铁块；11、凹槽；12、卡接槽；13、限位孔；14、基板一；15、卡块；16、基板二；17、卡槽；18、探针；19、安装槽；20、限位组件；21、扣板；22、安装弹簧；23、推块。

具体实施方式

为了使本领域的技术人员更好地理解本实用新型的技术方案，下面将结合附图对本实用新型作进一步的详细介绍。

如图1-4所示，本实用新型实施例提供的一种电子工业设备测试探针座，包括座体1，座体1顶部外壁上开设有阶梯槽3，且阶梯槽3底部内壁靠近边缘处开设有呈等距离结构分布的通孔4，座体1底部外壁上开设有凹槽11，且凹槽11顶部内壁上开设有三个卡接槽12，卡接槽12一侧内壁上开设有限位孔13，且三个卡接槽12通过限位孔13相互贯通，通孔4内部设置有探针组件6，且探针组件6卡接在凹槽11内部，座体1底部外壁两侧均螺纹连接有两个插销2。

具体的，本实施例中，包括座体1，座体1顶部外壁上开设有阶梯槽3，阶梯槽3的设计可以使得座体1在测试时承载多种不同规格的电子元器件，且阶梯槽3底部内壁靠近边缘处开设有呈等距离结构分布的通孔4，通孔4便于探针组件6顶端伸出到阶梯槽3内部，座体1底部外壁上开设有凹槽11，且凹槽11顶部内壁上开设有三个卡接槽12，卡接槽12便于探针组件6卡接在凹槽11内部，卡接槽12一侧内壁上开设有限位孔13，限位孔13便于探针组件6卡接在卡接槽12内部，且三个卡接槽12通过限位孔13相互贯通，通孔4内部设置有探针组件6，探针组件6通过导线与测试设备连接在一起，且探针组件6可以对落在阶梯槽3内部的电子元器件进行测试，且探针组件6卡接在凹槽11内部，座体1底部外壁两侧均螺纹连接有两个插销2，插销2便于使得座体1固定在测试设备平台上。

本实用新型提供的一种电子工业设备测试探针座，在使用该探针座对电子元器件进行测试时，阶梯槽3的设计可以使得座体1在测试时承载多种不同规格的电子元器件，而后在配合安装的探针组件6对电子元器件进行测试，使得电子工业设备生产时无需准备多种测试探针座就可以满足电子工业设备的生产时的测试需求。

本实用新型提供的一个实施例中，如图3所示的，探针组件6包括两个基板一14，基板一14一侧外壁靠近底部处一体成型有两个卡块15，卡块15配合卡槽17可以使得基板一14与基板二16安装在一起，两个基板一14之间卡接有两个基板二16，且基板二16、基板一14插接在卡接槽12内部，基板二16底部外壁两侧进开设有卡槽17，卡槽17可以使得基板二16卡在两个基板一14之间，且卡块15卡接在卡槽17内部，基板一14、基板二16顶部外壁上插接有呈等距离结构分布的探针18，探针18可以与电子元器件上的点接触，使得电子元器件通电，以便于进行电性测试，且探针18一端插接在通孔4内部。

本实用新型提供的另一个实施例中，如图3-4所示的，基板一14一侧外壁上开设有安装槽19，安装槽19便于限位组件20安装在基板一14上，且安装槽19内部固设有限位组件20，限位组件20包括扣板21，扣板21底部外壁一侧一体成型有推块23，推块23便于按压扣板21，使得扣板21缩回安装槽19内部，使得探针组件6在卡接槽12内部的限制解除，从而更换探针组件6，且推块23、扣板21一侧外壁上均通过螺栓安装有安装弹簧22，安装弹簧22可以使得推块23、扣板21露出安装槽19，使得扣板21可以紧扣在限位孔13内部，安装弹簧22一端通过胶水粘接在安装槽19内部。

本实用新型提供的再一个实施例中，如图2所示的，阶梯槽3底部内壁上开设有安置槽5，且安置槽5底部内壁两侧均通过螺栓安装有两个弹簧8，弹簧8便于支撑顶板7，弹簧8顶端通过螺栓安装有顶板7，顶板7可以在电磁铁9断电时被弹簧8顶起，从而将阶梯槽3内部的电子元器件顶出，以便于后续拿取电子元器件，顶板7底部外壁一侧粘接有铁块10，阶梯槽3底部内壁一侧通过螺栓安装有电磁铁9，电磁铁9通电可以吸附住铁块10，使得顶板7限制在安置槽5内部，且电磁铁9与铁块10相互接触。

工作原理：在使用该探针座时，可以根据测试的电子元器件的大小将不同的探针组件6安装在卡接槽12内部，此时可以先将基板一14、基板二15通过卡块15、卡槽17组合在一起，而后再将组合好的探针组件6插接在相应的卡接槽12内部，同时可以挤压推块23，使得限位组件20不会影响探针组件6的安装，之后在探针组件6安装结束后，松开对推块23的挤压，此时在安装弹簧22的作用下扣板21会卡接在限位孔13内部，使得探针组件6固定在座体1上，随后通过插销2将该探针座安装在测试设备上，在准备结束后，可以将待测试的电子元器件放置在阶梯槽3内部，使得电子元器件与探针18接触，以便于后续进行电性测试，而后在测试结束后，可以使得电磁铁9断电，而后在弹簧8的弹性能力下顶板7会在安置槽5内部滑动，使得顶板7将阶梯槽3内部的电子元器件顶出座体1，以便于后续工作人员拿取电子元器件。

以上只通过说明的方式描述了本实用新型的某些示范性实施例，毋庸置疑，对于本领域的普通技术人员，在不偏离本实用新型的精神和范围的情况下，可以用各种不同的方式对所描述的实施例进行修正。因此，上述附图和描述在本质上是说明性的，不应理解为对本实用新型权利要求保护范围的限制。

Claims (7)

1.一种电子工业设备测试探针座，包括座体(1)，其特征在于，所述座体(1)顶部外壁上开设有阶梯槽(3)，且阶梯槽(3)底部内壁靠近边缘处开设有呈等距离结构分布的通孔(4)，所述座体(1)底部外壁上开设有凹槽(11)，且凹槽(11)顶部内壁上开设有三个卡接槽(12)，所述卡接槽(12)一侧内壁上开设有限位孔(13)，且三个卡接槽(12)通过限位孔(13)相互贯通，所述通孔(4)内部设置有探针组件(6)，且探针组件(6)卡接在凹槽(11)内部，所述座体(1)底部外壁两侧均螺纹连接有两个插销(2)。

2.根据权利要求1所述的一种电子工业设备测试探针座，其特征在于，所述探针组件(6)包括两个基板一(14)，所述基板一(14)一侧外壁靠近底部处一体成型有两个卡块(15)，两个所述基板一(14)之间卡接有两个基板二(16)，且基板二(16)、基板一(14)插接在卡接槽(12)内部。

3.根据权利要求2所述的一种电子工业设备测试探针座，其特征在于，所述基板二(16)底部外壁两侧进开设有卡槽(17)，且卡块(15)卡接在卡槽(17)内部。

4.根据权利要求2所述的一种电子工业设备测试探针座，其特征在于，所述基板一(14)、基板二(16)顶部外壁上插接有呈等距离结构分布的探针(18)，且探针(18)一端插接在通孔(4)内部，所述基板一(14)一侧外壁上开设有安装槽(19)，且安装槽(19)内部固设有限位组件(20)。

5.根据权利要求4所述的一种电子工业设备测试探针座，其特征在于，所述限位组件(20)包括扣板(21)，所述扣板(21)底部外壁一侧一体成型有推块(23)，且推块(23)、扣板(21)一侧外壁上均通过螺栓安装有安装弹簧(22)，所述安装弹簧(22)一端通过胶水粘接在安装槽(19)内部。

6.根据权利要求1所述的一种电子工业设备测试探针座，其特征在于，所述阶梯槽(3)底部内壁上开设有安置槽(5)，且安置槽(5)底部内壁两侧均通过螺栓安装有两个弹簧(8)，所述弹簧(8)顶端通过螺栓安装有顶板(7)。

7.根据权利要求6所述的一种电子工业设备测试探针座，其特征在于，所述顶板(7)底部外壁一侧粘接有铁块(10)，所述阶梯槽(3)底部内壁一侧通过螺栓安装有电磁铁(9)，且电磁铁(9)与铁块(10)相互接触。

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