CN218570283U - 屏蔽箱以及灵敏度衰减测试装置 - Google Patents
屏蔽箱以及灵敏度衰减测试装置 Download PDFInfo
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Abstract
本实用新型提供了一种屏蔽箱以及灵敏度衰减测试装置,该屏蔽箱形成有屏蔽空间,屏蔽空间内设置有屏蔽隔离板,屏蔽隔离板分隔屏蔽空间成多个测试腔;每个测试腔内均设置有耦合板,耦合板用于电连接灵敏度衰减测试装置中的综测仪。本实用新型通过在屏蔽箱内设置屏蔽隔离板,从而在屏蔽箱内分隔形成多个测试腔,并在每个测试腔内设置耦合板,这样每个测试腔内均可以放置手机进行灵敏度衰减测试,屏蔽箱能够同时进行多台手机的灵敏度衰减测试,从而缩短了测试耗时,提高了测试效率。
Description
技术领域
本实用新型实施例涉及自动化测试设备技术领域,特别涉及一种屏蔽箱以及灵敏度衰减测试装置。
背景技术
灵敏度衰减(Decline Sensitivity,简称desense)测试是手机测试过程中工作量较大的测试项目,特别是当前随着通信业务的发展,手机频段越来越多,灵敏度衰减测试耗时也越来越长。现有的灵敏度衰减测试都是一台综测仪对应一个屏蔽箱,一个屏蔽箱里面只能放置一部手机进行测试,存在测试效率低的问题。
实用新型内容
本实用新型实施方式的目的在于提供一种屏蔽箱以及灵敏度衰减测试装置,旨在解决现有的灵敏度衰减测试存在测试效率低的问题。
为解决上述技术问题,本实用新型的实施方式提供了一种屏蔽箱,用于灵敏度衰减测试,所述屏蔽箱形成有屏蔽空间,所述屏蔽空间内设置有屏蔽隔离板,所述屏蔽隔离板分隔所述屏蔽空间成多个测试腔;
每个所述测试腔内均设置有耦合板,所述耦合板用于电连接所述灵敏度衰减测试装置中的综测仪。
本实用新型通过在屏蔽箱内设置屏蔽隔离板,从而在屏蔽箱内分隔形成多个测试腔,并在每个测试腔内设置耦合板,这样每个测试腔内均可以放置手机进行灵敏度衰减测试,屏蔽箱能够同时进行多台手机的灵敏度衰减测试,从而缩短了测试耗时,提高了测试效率。
优选地,在所述屏蔽箱中,每个所述测试腔的内表面上设置有吸波层。
优选地,在所述屏蔽箱中,所述屏蔽隔离板为碳纤维板。
优选地,在所述屏蔽箱中,任意相邻两个所述测试腔内所测试的频段不同。
优选地,在所述屏蔽箱中,每个所述测试腔的外表面上设置有电连接所述耦合板的连接口,所述连接口用于通过射频线电连接所述综测仪。
优选地,在所述屏蔽箱中,多个所述连接口分别设置于所述屏蔽箱在长度方向上相对的两个箱壁上。
优选地,在所述屏蔽箱中,多个所述连接口分别设置于所述屏蔽箱在宽度方向上相对的两个箱壁上。
优选地,在所述屏蔽箱中,所述屏蔽隔离板沿着所述屏蔽箱的长度方向和/或宽度方向分隔所述屏蔽空间成多个所述测试腔。
优选地,在所述屏蔽箱中,所述屏蔽隔离板沿着所述屏蔽箱的长度方向和宽度方向分隔所述屏蔽空间成四个所述测试腔。
为了实现上述目的,本实用新型还提供一种灵敏度衰减测试装置,包括:
屏蔽箱,所述屏蔽箱为上述的屏蔽箱;以及,
综测仪,所述综测仪电连接所述屏蔽箱中的多个耦合板。
优选地,在所述屏蔽箱灵敏度衰减测试装置中,所述综测仪对应多个所述耦合板设置有多个端口,每个所述端口均通过射频线电连接对应的所述耦合板。
优选地,在所述屏蔽箱灵敏度衰减测试装置中,所述灵敏度衰减测试装置还包括控制主机,所述控制主机电连接所述综测仪。
附图说明
一个或多个实施例通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明,这些示例性说明并不构成对实施例的限定,附图中具有相同参考数字标号的元件表示为类似的元件,除非有特别申明,附图中的图不构成比例限制。
图1为本实用新型实施例中灵敏度衰减测试装置的结构示意图;
图2为本实用新型实施例中灵敏度衰减测试方法的流程图。
本实用新型附图标号说明:
本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
需要说明,若本实用新型实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……),则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等,如果该特定姿态发生改变时,则该方向性指示也相应地随之改变。
另外,若本实用新型实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述,则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外,各个实施例之间的技术方案可以相互结合,但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础,当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在,也不在本实用新型要求的保护范围之内。
本实用新型提供一种屏蔽箱,该屏蔽箱能够用于灵敏度衰减测试装置中,以进行手机等电子设备的灵敏度衰减测试,下面将以屏蔽箱用于手机的灵敏度衰减测试为例进行介绍,图1示出了本实用新型提供的屏蔽箱用于灵敏度衰减测试装置中的一较佳实施例。
请参阅图1,在本实施例中,该屏蔽箱1形成有屏蔽空间(未在图中示出),屏蔽空间内设置有屏蔽隔离板11,屏蔽隔离板11分隔屏蔽空间成多个测试腔12;每个测试腔12内均设置有耦合板13,耦合板13用于电连接灵敏度衰减测试装置100中的综测仪2。
具体而言,屏蔽箱1通常是能够开启和闭合的,在屏蔽箱1开启的情况下,能够将手机放置于测试腔12内;在屏蔽箱1闭合的情况下,由于屏蔽箱1通常为屏蔽材料制成,屏蔽箱1能够屏蔽掉外部电磁波对屏蔽箱1内的手机的干扰。
屏蔽箱1的具体形状可以不做特殊限定,可选地,请参阅图1,在本实施例中,屏蔽箱1是方形箱。下面将以屏蔽箱1是方形箱,且屏蔽箱1能够上下开合为例进行介绍,同时定义屏蔽箱1的长度方向为前后向,屏蔽箱1的宽度方向为左右向。
屏蔽空间内直立地设置有屏蔽隔离板11,屏蔽隔离板11将屏蔽箱1内的屏蔽空间分隔成了多个测试腔12。每个测试腔12均是由屏蔽隔离板11与屏蔽箱1的箱壁围合而成的,屏蔽隔离板11与屏蔽箱1的箱壁均具有屏蔽电磁波的功能,使得相邻测试腔12内的电磁波不会相互干扰,通常相邻测试腔12之间的隔离度要能够接近现有的单个屏蔽箱的标准。屏蔽隔离板11可以是使用碳纤维材料或者常规的屏蔽材料制成,可选地,在本实施例中,屏蔽隔离板11为碳纤维板。
进一步地,在本实施例中,每个测试腔12的内表面上设置有吸波层,每个测试腔12的各个内表面上贴敷有吸波材料,吸波材料能够吸收屏蔽隔离板11泄露的电磁波,从而可以保证相邻测试腔12的电磁波不会相互干扰,使得电磁波信号得以完全通过耦合板13接收。
每个测试腔12内设置耦合板13,如此每个测试腔12内均可以放置手机进行灵敏度衰减测试,由于相邻测试腔12内的电磁波不会相互干扰,这样可以在多个测试腔12内均放置手机,同时对多台手机进行灵敏度衰减测试。
可选地,在本实施例中,任意相邻两个测试腔12所测试的频段不同。在同时对多台手机进行灵敏度衰减测试的情况下,任意一个测试腔12内所测试的频段与相邻测试腔12内所测试的频段互不相同,如此进一步保证同时进行测试的多部手机不会相互干扰。
通过屏蔽隔离板11在屏蔽箱1内间隔出多个测试腔12,屏蔽隔离板11在屏蔽箱1内的具体布置方式可以根据实际情况来进行设定。屏蔽隔离板11可以是沿着屏蔽箱1的长度方向分隔屏蔽空间成多个测试腔12,则屏蔽隔离板11的朝向为前后向,若屏蔽隔离板11为个数为N,则屏蔽箱1内形成N+1个前后排布的测试腔12;屏蔽隔离板11也可以是沿着屏蔽箱1的宽度方向分隔屏蔽空间成多个测试腔12,则屏蔽隔离板11的朝向为左右向,若屏蔽隔离板11为个数为M,则屏蔽箱1内形成M+1个左右排布的测试腔12;屏蔽隔离板11还可以是沿着屏蔽箱1的长度方向和宽度方向分隔屏蔽空间成多个测试腔12,若屏蔽隔离板11的个数为多个,且多个屏蔽隔离板11中包含A个左右朝向的屏蔽隔离板11和B个前后朝向的屏蔽隔离板11,根据每个屏蔽隔离板11的具体尺寸和具体布置方式的实际选择,屏蔽箱1内能够形成A+B个或者(A+1)*(B+1)个等个数的测试腔12。例如,左右朝向的屏蔽隔离板11的个数为2个,且左右朝向的屏蔽隔离板11在前后向上的尺寸等于屏蔽空间在前后向上的尺寸,前后朝向的屏蔽隔离板11的个数为2个,且前后朝向的屏蔽隔离板11在左右向上的尺寸等于屏蔽空间在左右向上的尺寸,该2个左右朝向的屏蔽隔离板11和2个前后朝向的屏蔽隔离板11呈井字布置,则屏蔽箱1内形成9个测试腔12;再如,左右朝向的屏蔽隔离板11的个数为2个,且左右朝向的屏蔽隔离板11在前后向上的尺寸等于屏蔽空间在前后向上的尺寸的一半,前后朝向的屏蔽隔离板11的个数为2个,且前后朝向的屏蔽隔离板11在左右向上的尺寸等于屏蔽空间在左右向上的尺寸的一半,该2个左右朝向的屏蔽隔离板11和2个前后朝向的屏蔽隔离板11呈十字布置,则屏蔽箱1内形成4个测试腔12。
可选地,请参阅图1,在本实施例中,屏蔽隔离板11沿着屏蔽箱1的长度方向和宽度方向分隔屏蔽空间成四个测试腔12。
具体而言,屏蔽隔离板11的个数为四个,四个屏蔽隔离板11中包含两个左右朝向的屏蔽隔离板11和两个前后朝向的屏蔽隔离板11,四个屏蔽隔离板11呈十字形布置,四个屏蔽隔离板11相互靠近的一端相连,四个屏蔽隔离板11相互远离的一端分别连接屏蔽箱1的左箱壁、右箱壁、前箱壁、后箱壁,从而在屏蔽箱1内间隔形成四个测试腔12。
下面定义四个屏蔽隔离板11分别为第一屏蔽隔离板11a、第二屏蔽隔离板11b、第三屏蔽隔离板11c、第四屏蔽隔离板11d。第一屏蔽隔离板11a、第二屏蔽隔离板11b的朝向为左右向,第三屏蔽隔离板11c、第四屏蔽隔离板11d的朝向为前后向,第一屏蔽隔离板11a的前端、第二屏蔽隔离板11b的后端、第三屏蔽隔离板11c的右端、第四屏蔽隔离板11d的左端相连,第一屏蔽隔离板11a的后端、第二屏蔽隔离板11b的前端、第三屏蔽隔离板11c的左端、第四屏蔽隔离板11d的右端分别连接屏蔽箱1的后箱壁、前箱壁、左箱壁、右箱壁。
下面定义四个测试腔12分别为第一测试腔12a、第二测试腔12b、第三测试腔12c、第四测试腔12d,第一屏蔽隔离板11a、第三屏蔽隔离板11c、屏蔽箱1的后箱壁和左箱壁围合形成第一测试腔12a,第一测试腔12a内设置有第一耦合板13a;第二屏蔽隔离板11b、第三屏蔽隔离板11c、屏蔽箱1的前箱壁和左箱壁围合形成第二测试腔12b,第二测试腔12b内设置有第二耦合板13b;第一屏蔽隔离板11a、第四屏蔽隔离板11d、屏蔽箱1的后箱壁和右箱壁围合形成第三测试腔12c,第三测试腔12c内设置有第三耦合板13c;第二屏蔽隔离板11b、第四屏蔽隔离板11d、屏蔽箱1的前箱壁和右箱壁围合形成第四测试腔12d,第四测试腔12d内设置有第四耦合板13d。下面将以屏蔽箱1内形成有上述四个测试腔12为例进行介绍。
可选地,请参阅图1,在本实施例中,每个测试腔12的外表面上设置有电连接耦合板13的连接口14,连接口14用于通过射频线3电连接综测仪2。
具体而言,任意一个测试腔12的外表面上(即屏蔽箱1的箱壁上)贯穿地设置有安装孔(未在图中示出),安装孔处设置有连接口14。任意一个测试腔12的外表面上的连接口14电连接该任意一个测试腔12内的耦合板13。
例如,请参阅图1,在本实施例中,第一测试腔12a的外表面上设置有第一连接口14a,第一连接口14a电连接第一耦合板13a;第二测试腔12b的外表面上设置有第二连接口14b,第二连接口14b电连接第二耦合板13b;第三测试腔12c的外表面上设置有第三连接口14c,第三连接口14c电连接第三耦合板13c;第四测试腔12d的外表面上设置有第四连接口14d,第四连接口14d电连接第四耦合板13d。并且,第一连接口14a、第二连接口14b、第三连接口14c、第四连接口14d均通过射频线3电连接综测仪2。
屏蔽箱1的箱壁上设置有多个连接口14,多个连接口14可以是分别设置于屏蔽箱1在长度方向上相对的两个箱壁上,即多个连接口14可以是分别设置于屏蔽箱1的前箱壁和后箱壁上;多个连接口14也可以是分别设置于屏蔽箱1在宽度方向上相对的两个箱壁上,即多个连接口14也可以是分别设置于屏蔽箱1的左箱壁和右箱壁上。
例如,请参阅图1,在本实施例中,第一连接口14a设置于屏蔽箱1的左箱壁的后半部分上,第二连接口14b设置于屏蔽箱1的左箱壁的前半部分上,第三连接口14c设置于屏蔽箱1的右箱壁的后半部分上,第四连接口14d设置于屏蔽箱1的右箱壁的前半部分上。
本实用新型通过在屏蔽箱1内设置屏蔽隔离板11,从而在屏蔽箱1内分隔形成多个测试腔12,并在每个测试腔12内设置耦合板13,这样每个测试腔12内均可以放置手机进行灵敏度衰减测试,屏蔽箱1能够同时进行多台手机的灵敏度衰减测试,从而缩短了测试耗时,提高了测试效率。
本实用新型还提供一种灵敏度衰减测试装置,该灵敏度衰减测试装置可以用于电子设置的灵敏度衰减测试,图1示出了本实用新型提供的灵敏度衰减测试装置中的一较佳实施例。请参阅图1,在本实施例中,该灵敏度衰减测试装置100包括屏蔽箱1以及综测仪2,由于该屏蔽箱1采用了上述实施例的技术方案,因此具有上述实施例的技术方案所带来的有益效果。
请参阅图1,综测仪2电连接屏蔽箱1中的多个耦合板13。
具体而言,综测仪2通过射频线3与屏蔽箱1连接,用于测试灵敏度探底。综测仪2通过测试腔12内的耦合板13接收该测试腔12内的手机发射的无线信号。
可选地,请参阅图1,在本实施例中,综测仪2对应多个耦合板13设置有多个端口(未在图中示出),每个端口均通过射频线3电连接对应的耦合板13。例如,综测仪2对应屏蔽箱1上的四个连接口14设置有四个端口,综测仪2的四个端口均通过射频线3分别电连接第一连接口14a、第二连接口14b、第三连接口14c、第四连接口14d。
可选地,请参阅图1,在本实施例中,灵敏度衰减测试装置100还包括控制主机4,控制主机4电连接综测仪2。控制主机4可以为电脑等,控制主机4通常会预装有测试软件。例如,控制主机4采用四套相同的测试软件分别控制综测仪2的四个端口,以对屏蔽箱1内的四部手机同时进行灵敏度衰减测试。
以灵敏度衰减测试装置100同时对四部手机进行灵敏度衰减测试为例,手机支持的频段如下表1所示,测试场景为7个(灭屏、动态壁纸、前摄、后摄、扬声器、马达和游戏),每个场景测试所有的频段需要8h,遍历所有场景,遍历所有场景需要56h,耗时很长。
而使用灵敏度衰减测试装置100同时对四部手机进行测试的话,只需要14h,这样就将测试时间缩短为原来的1/4,极大地提高了测试效率。
表1
灵敏度衰减测试装置100对手机进行灵敏度衰减测试之前,灵敏度衰减测试装置100还能够用于测试任意两个测试腔12之间的隔离度,以基于多个测试腔12之间的隔离度对屏蔽箱1内的多个耦合板13进行校准。
本实用新型还提供一种灵敏度衰减测试方法,该灵敏度衰减测试方法是基于上述的灵敏度衰减测试装置来实现的,请参阅图2,该灵敏度衰减测试方法包括但不限于如下步骤:
第一步,校准耦合板。
具体而言,在使用灵敏度衰减测试装置100对手机进行灵敏度衰减测试之前,需要校准第一耦合板13a、第二耦合板13b、第三耦合板13c、第四耦合板13d。
第二步,获取隔离度数据。
具体而言,隔离度数据包括S21、S31、S41、S23、S42、S43,S21为第二测试腔12b与第一测试腔12a之间的隔离度,S31为第三测试腔12c与第一测试腔12a之间的隔离度,S41为第四测试腔12d与第一测试腔12a之间的隔离度,S23为第二测试腔12b与第三测试腔12c之间的隔离度,S42为第四测试腔12d与第二测试腔12b之间的隔离度,S43为第四测试腔12d与第三测试腔12c之间的隔离度。
例如,先仅在第一测试腔12a内放置手机,再分别通过第一耦合板13a、第二耦合板13b、第三耦合板13c、第四耦合板13d对第一测试腔12a内的手机进行测试,通过综测仪2分别获取手机的信号强度A1、A2、A3、A4,A1为通过第一耦合板13a对第一测试腔12a内的手机进行测试时的信号强度,A2为通过第二耦合板13b对第一测试腔12a内的手机进行测试时的信号强度,A3为通过第三耦合板13c对第一测试腔12a内的手机进行测试时的信号强度,A4为通过第四耦合板13d对第一测试腔12a内的手机进行测试时的信号强度。
然后,基于A1和A2计算S21,基于A1和A3计算S31,基于A1和A4计算S41。根据相同的原理,也能得到S23、S42、S43。
第三步,判断是否隔离度大于阀值,例如,阈值为50db。
具体而言,若存在隔离度不大于阀值,代表多个测试腔12之间存在相互干扰的情况,则执行第四步,直至所有隔离度大于阀值。若所有隔离度大于阀值,代表多个测试腔12之间不会相互干扰,则执行第五步。
第四步,调整耦合板距离/方向。
具体而言,调整任意一个测试腔12内的耦合板13的位置和/或朝向,就可以调整该任意一个测试腔12与其他测试腔12之间的隔离度。
第五步,发送建议测试频段。
具体而言,开始对手机进行灵敏度衰减测试,将四部手机分别放入第一测试腔12a、第二测试腔12b、第三测试腔12c、第四测试腔12d内,综测仪2分别向第一耦合板13a、第二耦合板13b、第三耦合板13c、第四耦合板13d发送建议测试频段。
第六步,打开轮询测试开关。
具体而言,控制主机4控制综测仪2自动运行测试策略。
第七步,获取desense数据。
以上仅为本实用新型的优选实施例,并非因此限制本实用新型的专利范围,凡是在本实用新型的实用新型构思下,利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换,或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型的专利保护范围内。
Claims (10)
1.一种屏蔽箱,用于灵敏度衰减测试,其特征在于,所述屏蔽箱形成有屏蔽空间,所述屏蔽空间内设置有屏蔽隔离板,所述屏蔽隔离板分隔所述屏蔽空间成多个测试腔;
每个所述测试腔内均设置有耦合板,所述耦合板用于电连接所述灵敏度衰减测试装置中的综测仪。
2.如权利要求1所述的屏蔽箱,其特征在于,每个所述测试腔的内表面上设置有吸波层。
3.如权利要求1所述的屏蔽箱,其特征在于,任意相邻两个所述测试腔内所测试的频段不同。
4.如权利要求1-3任意一项所述的屏蔽箱,其特征在于,每个所述测试腔的外表面上设置有电连接所述耦合板的连接口,所述连接口用于通过射频线电连接所述综测仪。
5.如权利要求4所述的屏蔽箱,其特征在于,多个所述连接口分别设置于所述屏蔽箱在长度方向上相对的两个箱壁上;或者,
多个所述连接口分别设置于所述屏蔽箱在宽度方向上相对的两个箱壁上。
6.如权利要求1-3任意一项所述的屏蔽箱,其特征在于,所述屏蔽隔离板沿着所述屏蔽箱的长度方向和/或宽度方向分隔所述屏蔽空间成多个所述测试腔。
7.如权利要求6所述的屏蔽箱,其特征在于,所述屏蔽隔离板沿着所述屏蔽箱的长度方向和宽度方向分隔所述屏蔽空间成四个所述测试腔。
8.一种灵敏度衰减测试装置,其特征在于,包括:
屏蔽箱,所述屏蔽箱为如权利要求1-7任意一项所述的屏蔽箱;以及,
综测仪,所述综测仪电连接所述屏蔽箱中的多个耦合板。
9.如权利要求8所述的灵敏度衰减测试装置,其特征在于,所述综测仪对应多个所述耦合板设置有多个端口,每个所述端口均通过射频线电连接对应的所述耦合板。
10.如权利要求8或9所述的灵敏度衰减测试装置,其特征在于,所述灵敏度衰减测试装置还包括控制主机,所述控制主机电连接所述综测仪。
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