CN218512574U - 一种具有芯片防护翻转功能的测试检测台 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种具有芯片防护翻转功能的测试检测台，属于测试检测台领域，包括检测台本体和设置在检测台本体上端的检测单元，左支板包括机箱和设置在机箱内部的第一电机，第一电机的输出端贯穿机箱，并与转轴连接，转轴的另一端设置有限位件，利用开关使得气缸件A推动夹持板进行移动，使得四组夹持板分别与芯片的侧壁接触，可以对芯片进行夹持住，开启第二电机工作，可以使丝杆进行转动，并配合螺纹块的使用，能够使螺纹块带动支撑架、气缸件B、连接块、气缸件C和检测探针进行移动，方便对芯片进行检测使用，开启第一电机，促使转轴进行转动，可以使与转轴连接的架体进行转动，同时活动柱在侧槽内进行转动，可以实现芯片翻转的效果。

Description

一种具有芯片防护翻转功能的测试检测台

技术领域

本实用新型涉及测试检测台，更具体的说，涉及一种具有芯片防护翻转功能的测试检测台。

背景技术

芯片是半导体元件产品的统称，又称微电路、微芯片、集成电路。是指内含集成电路的硅片，体积很小，常常是计算机或其他电子设备的一部分。半导体是一类材料的总称，集成电路是用半导体材料制成的电路的大型集合，芯片是由不同种类型的集成电路或者单一类型集成电路形成的产品。而在芯片加工完成后需要将其放在测试检测台上对其进行测试。

现有的测试检测台在使用过程中，通常将其直接放在台体表面，而后利用设置的检测单元对其进行检测，但是在检测过程中，不便对芯片进行翻转，不方便对芯片的两面进行测试检验，实用性较差。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术中检测过程中，不便对芯片进行翻转，不方便对芯片的两面进行测试检验，实用性较差，提供了一种具有芯片防护翻转功能的测试检测台，以解决以上不足，方便使用。

为达到上述目的，本实用新型提供的技术方案为：

本实用新型的一种具有芯片防护翻转功能的测试检测台，包括检测台本体和设置在检测台本体上端的检测单元，所述检测台本体的上端还设置有左支板和右支板，且左支板和右支板关于检测台本体的中心线对称分布；

所述左支板包括机箱和设置在机箱内部的第一电机，第一电机的输出端贯穿机箱，并与转轴连接，转轴的另一端设置有限位件；

所述限位件包括设置在转轴一侧的架体和设置在架体外侧的气缸件A，且气缸件A的一端贯穿架体，并与夹持板连接，且夹持板的表面还设置有防护垫。

优选的，所述右支板的一侧开设有侧槽，侧槽的内壁上活动连接有活动柱，活动柱的另一端与衔接块连接。

优选的，所述衔接块远离机箱的一侧安装有电动推杆B，电动推杆B远离衔接块的一侧同样设置有限位件。

优选的，所述检测单元包括设置在检测台本体外侧的第二电机和开设在检测台本体背侧的槽道，槽道的内部设置有丝杆，且第二电机的输出端与丝杆连接。

优选的，所述丝杆的外侧螺纹套接有螺纹块，螺纹块的上端设置有支撑架，且支撑架呈L形状结构。

优选的，所述支撑架的内侧设置有气缸件B，气缸件B远离支撑架的一侧设置有连接块，连接块的下端安装有气缸件C，气缸件C的下端安装有检测探针。

优选的，所述检测台本体的下端固定安装有底板，底板的下端固定安装有支柱，检测台本体的上表面开设有插槽。

优选的，所述检测台本体的表面设置有橡胶垫，橡胶垫靠近插槽的一侧设置有插柱，且插柱与插槽相适配。

优选的，所述检测台本体的内部还开设有内腔，内腔的内壁上安装有电动推杆A，电动推杆A的一端连接有延展板。

优选的，所述延展板滑动连接在内腔的内部，电动推杆A设置有两组，且两组所述的电动推杆A关于内腔的中心线对称分布。

采用本实用新型提供的技术方案，与现有技术相比，具有如下有益效果：

与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：

(1)本实用新型的一种具有芯片防护翻转功能的测试检测台，通过设置的架体、气缸件A、夹持板、电动推杆B和防护垫，操作人员将芯片放在一组架体的一侧，并利用开关使得电动推杆B推动另一组架体进行移动，使得芯片的两侧分别与两组架体接触，而后利用开关使得气缸件A推动夹持板进行移动，使得四组夹持板分别与芯片的侧壁接触，可以对芯片进行夹持住，固定后，操作人员开启第二电机工作，可以使丝杆进行转动，并配合螺纹块的使用，能够使螺纹块带动支撑架、气缸件B、连接块、气缸件C和检测探针进行移动，方便对芯片进行检测使用，当对芯片的一面进行检测后，开启第一电机，促使转轴进行转动，可以使与转轴连接的架体进行转动，同时活动柱在侧槽内进行转动，可以实现芯片翻转的效果，便于进行检测，同时在夹持板夹持芯片的过程中，利用设置的防护垫可以减少对芯片侧壁的磨损；

(2)本实用新型的一种具有芯片防护翻转功能的测试检测台，通过插柱和插槽的配合，可以将橡胶垫安置在检测台本体的上表面，利用设置的橡胶垫可以对检测台本体的表面进行防护，避免芯片掉落至检测台本体的上表面而损坏，同时利用开关使得电动推杆A推动延展板进行移动，使得延展板移出内腔，从而能够增大检测台本体的使用面积，便于放置芯片。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构图；

图2为本实用新型的电动推杆B工作后状态示意图；

图3为本实用新型的检测台本体结构侧视图；

图4为本实用新型的图2中A处放大示意图；

图5为本实用新型的检测单元结构示意图；

图6为本实用新型的检测台本体局部结构示意图。

图中：1、检测台本体；11、底板；12、支柱；13、橡胶垫；14、插柱；15、插槽；16、内腔；17、电动推杆A；18、延展板；2、左支板；21、机箱；22、转轴；23、限位件；231、架体；232、气缸件A；233、夹持板；234、防护垫；24、第一电机；3、右支板；31、侧槽；32、活动柱；33、衔接块；34、电动推杆B；4、检测单元；41、第二电机；42、槽道；43、丝杆；44、螺纹块；45、支撑架；46、气缸件B；47、连接块；48、气缸件C；49、检测探针。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

为进一步了解本实用新型的内容，结合附图对本实用新型作详细描述。

结合图1，本实用新型的一种具有芯片防护翻转功能的测试检测台，包括检测台本体1和设置在检测台本体1上端的检测单元4，检测台本体1的上端还设置有左支板2和右支板3，且左支板2和右支板3关于检测台本体1的中心线对称分布。

下面结合实施例对本实用新型作进一步的描述。

实施例一：

结合图2-5，左支板2包括机箱21和设置在机箱21内部的第一电机24，第一电机24的输出端贯穿机箱21，并与转轴22连接，转轴22的另一端设置有限位件23；限位件23包括设置在转轴22一侧的架体231和设置在架体231外侧的气缸件A232，且气缸件A232的一端贯穿架体231，并与夹持板233连接，且夹持板233的表面还设置有防护垫234，防护垫234质软，能够避免与芯片接触时使其磨损，右支板3的一侧开设有侧槽31，侧槽31的内壁上活动连接有活动柱32，活动柱32的另一端与衔接块33连接，衔接块33远离机箱21的一侧安装有电动推杆B34，电动推杆B34远离衔接块33的一侧同样设置有限位件23，利用两组限位件23可以将芯片夹持住，检测单元4包括设置在检测台本体1外侧的第二电机41和开设在检测台本体1背侧的槽道42，槽道42的内部设置有丝杆43，且第二电机41的输出端与丝杆43连接，丝杆43的外侧螺纹套接有螺纹块44，螺纹块44的上端设置有支撑架45，且支撑架45呈L形状结构，开启第二电机41工作，可以使丝杆43进行转动，并配合螺纹块44的使用，能够使螺纹块44带动支撑架45、气缸件B46、连接块47、气缸件C48和检测探针49进行移动，方便对芯片进行检测使用，支撑架45的内侧设置有气缸件B46，气缸件B46远离支撑架45的一侧设置有连接块47，连接块47的下端安装有气缸件C48，气缸件C48的下端安装有检测探针49。

本实施例中，操作人员将芯片放在一组架体231的一侧，并利用开关使得电动推杆B34推动另一组架体231进行移动，使得芯片的两侧分别与两组架体231接触，而后利用开关使得气缸件A232推动夹持板233进行移动，使得四组夹持板233分别与芯片的侧壁接触，可以对芯片进行夹持住，固定后，操作人员开启第二电机41工作，可以使丝杆43进行转动，并配合螺纹块44的使用，能够使螺纹块44带动支撑架45、气缸件B46、连接块47、气缸件C48和检测探针49进行移动，方便对芯片进行检测使用，当对芯片的一面进行检测后，开启第一电机24，促使转轴22进行转动，可以使与转轴22连接的架体231进行转动，同时活动柱32在侧槽31内进行转动，可以实现芯片翻转的效果，便于进行检测，同时在夹持板233夹持芯片的过程中，利用设置的防护垫234可以减少对芯片侧壁的磨损。

实施例二：

结合图2、图3和图6，检测台本体1的下端固定安装有底板11，底板11的下端固定安装有支柱12，检测台本体1的上表面开设有插槽15，检测台本体1的表面设置有橡胶垫13，橡胶垫13靠近插槽15的一侧设置有插柱14，且插柱14与插槽15相适配，通过插柱14和插槽15的配合，可以将橡胶垫13安置在检测台本体1的上表面，检测台本体1的内部还开设有内腔16，内腔16的内壁上安装有电动推杆A17，电动推杆A17的一端连接有延展板18，延展板18滑动连接在内腔16的内部，电动推杆A17设置有两组，且两组所述的电动推杆A17关于内腔16的中心线对称分布。

本实施例中，通过插柱14和插槽15的配合，可以将橡胶垫13安置在检测台本体1的上表面，利用设置的橡胶垫13可以对检测台本体1的表面进行防护，避免芯片掉落至检测台本体1的上表面而损坏，同时利用开关使得电动推杆A17推动延展板18进行移动，使得延展板18移出内腔16，从而能够增大检测台本体1的使用面积，便于放置芯片。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (10)

1.一种具有芯片防护翻转功能的测试检测台，包括检测台本体(1)和设置在检测台本体(1)上端的检测单元(4)，其特征在于：所述检测台本体(1)的上端还设置有左支板(2)和右支板(3)，且左支板(2)和右支板(3)关于检测台本体(1)的中心线对称分布；

所述左支板(2)包括机箱(21)和设置在机箱(21)内部的第一电机(24)，第一电机(24)的输出端贯穿机箱(21)，并与转轴(22)连接，转轴(22)的另一端设置有限位件(23)；

所述限位件(23)包括设置在转轴(22)一侧的架体(231)和设置在架体(231)外侧的气缸件A(232)，且气缸件A(232)的一端贯穿架体(231)，并与夹持板(233)连接，且夹持板(233)的表面还设置有防护垫(234)。

2.根据权利要求1所述的一种具有芯片防护翻转功能的测试检测台，其特征在于：所述右支板(3)的一侧开设有侧槽(31)，侧槽(31)的内壁上活动连接有活动柱(32)，活动柱(32)的另一端与衔接块(33)连接。

3.根据权利要求2所述的一种具有芯片防护翻转功能的测试检测台，其特征在于：所述衔接块(33)远离机箱(21)的一侧安装有电动推杆B(34)，电动推杆B(34)远离衔接块(33)的一侧同样设置有限位件(23)。

4.根据权利要求3所述的一种具有芯片防护翻转功能的测试检测台，其特征在于：所述检测单元(4)包括设置在检测台本体(1)外侧的第二电机(41)和开设在检测台本体(1)背侧的槽道(42)，槽道(42)的内部设置有丝杆(43)，且第二电机(41)的输出端与丝杆(43)连接。

5.根据权利要求4所述的一种具有芯片防护翻转功能的测试检测台，其特征在于：所述丝杆(43)的外侧螺纹套接有螺纹块(44)，螺纹块(44)的上端设置有支撑架(45)，且支撑架(45)呈L形状结构。

6.根据权利要求5所述的一种具有芯片防护翻转功能的测试检测台，其特征在于：所述支撑架(45)的内侧设置有气缸件B(46)，气缸件B(46)远离支撑架(45)的一侧设置有连接块(47)，连接块(47)的下端安装有气缸件C(48)，气缸件C(48)的下端安装有检测探针(49)。

7.根据权利要求6所述的一种具有芯片防护翻转功能的测试检测台，其特征在于：所述检测台本体(1)的下端固定安装有底板(11)，底板(11)的下端固定安装有支柱(12)，检测台本体(1)的上表面开设有插槽(15)。

8.根据权利要求7所述的一种具有芯片防护翻转功能的测试检测台，其特征在于：所述检测台本体(1)的表面设置有橡胶垫(13)，橡胶垫(13)靠近插槽(15)的一侧设置有插柱(14)，且插柱(14)与插槽(15)相适配。

9.根据权利要求8所述的一种具有芯片防护翻转功能的测试检测台，其特征在于：所述检测台本体(1)的内部还开设有内腔(16)，内腔(16)的内壁上安装有电动推杆A(17)，电动推杆A(17)的一端连接有延展板(18)。

10.根据权利要求9所述的一种具有芯片防护翻转功能的测试检测台，其特征在于：所述延展板(18)滑动连接在内腔(16)的内部，电动推杆A(17)设置有两组，且两组所述的电动推杆A(17)关于内腔(16)的中心线对称分布。

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