CN218455727U - 一种半导体分立器件的耐压测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种半导体分立器件的耐压测试装置，包括测试箱和测试机构，所述测试箱的内壁上固定连接有固定柱，所述固定柱内开设有空腔，所述固定柱的内壁中转动连接有转动杆，所述转动杆的右端固定连接有第一斜齿轮，所述第一斜齿轮上啮合连接有第二斜齿轮。本实用新型，通过把柄、转动杆和第一斜齿轮可以带动第二斜齿轮转动，第二斜齿轮可以通过蜗杆、蜗轮和双向螺纹杆可以带动螺纹套相背移动，螺纹套通过拉杆可以带动两个引脚插块移动，从而可以根据不同型号的半导体分立器调节两个引脚插块之间的距离，而且只需要旋转把柄即可，省时省力，并且可以逐步调节两个引脚插块之间的距离，更加方便进行调节，方便使用者使用。

Description

一种半导体分立器件的耐压测试装置

技术领域

本实用新型涉及半导体分立器件的耐压测试技术领域，尤其涉及一种半导体分立器件的耐压测试装置。

背景技术

半导体产业中有两大分支：集成电路和分立器件，分立器件被广泛应用到消费电子、计算机及外设、网络通信，汽车电子、led显示屏等领域，半导体分立器件在出厂之前需要进行严格的电性能测试，这会影响半导体的使用性能，现在的半导体分立器件的耐压测试装置在测试时安装半导体分立器件非常的麻烦，会浪费大量的时间在安装于拆卸上，且目前的半导体分立器件的耐压测试装置不能将半导体分立器件稳定的固定住，这会大大影响检测的结果，导致检测数据不精准。

针对上述问题，现有公开号为CN214473743U的实用新型公开了一种半导体分立器件的耐压测试装置，包括耐压测试装置壳体，所述耐压测试装置壳体的中央固定安装有耐压测试装置主体......。本实用新型所述的一种半导体分立器件的耐压测试装置，通过设置的第一滑块、第一滑槽、弹簧安装块、拉杆、弹簧、拉杆把手相互配合工作，使耐压测试装置主体可以通过拉动拉杆把手在耐压测试装置壳体内上下滑动，以便于待检测半导体分立器件的安装与拆卸，并且可以通过弹簧的弹力将半导体分立器件压紧。

上述技术中，可以通过两个锁紧螺母分别对两个引脚插块进行锁紧限位，但是每次调节时需要分别对两个锁紧螺母进行拧紧，费时费力，而且不方便逐步的对两个引脚插块的位置进行调节，不方便使用者使用。

针对上述问题，我们提出一种半导体分立器件的耐压测试装置。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中“上述技术中，可以通过两个锁紧螺母分别对两个引脚插块进行锁紧限位，但是每次调节时需要分别对两个锁紧螺母进行拧紧，费时费力，而且不方便逐步的对两个引脚插块的位置进行调节，不方便使用者使用”的缺陷，从而提出一种半导体分立器件的耐压测试装置。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种半导体分立器件的耐压测试装置，包括测试箱和测试机构，所述测试箱的内壁上固定连接有固定柱，所述固定柱内开设有空腔，所述固定柱的内壁中转动连接有转动杆，所述转动杆的右端固定连接有第一斜齿轮，所述第一斜齿轮上啮合连接有第二斜齿轮，所述第二斜齿轮的中心处竖直固定穿插有蜗杆，所述固定柱的上端固定连接有固定箱，所述蜗杆的上端贯穿空腔和固定箱的下端面并转动连接在固定箱的内壁上，所述蜗杆上啮合连接有蜗轮，所述蜗轮的中心处水平固定穿插有双向螺纹杆，所述双向螺纹杆上对称啮合连接有两个螺纹套，每个所述螺纹套的一侧均固定连接有拉杆，所述固定箱的上端面对称开设有两个滑孔，每个所述拉杆的上端均贯穿滑孔并固定连接有引脚插块，每个所述引脚插块的上端面均等间距的开设有多个引脚插孔，所述测试箱的侧壁上设置有开关门。

优选的，所述测试机构包括耐压测试主体，所述耐压测试主体滑动连接在测试箱的内壁上，所述耐压测试主体的侧壁上设置有控制面板，所述耐压测试主体的上端面固定连接有电动伸缩杆，所述电动伸缩杆的上端固定连接在测试箱的内壁上。

优选的，所述空腔的内壁上固定连接有支撑板，所述转动杆转动连接在支撑板的内壁中。

优选的，所述转动杆的左端固定连接有把柄，两个所述拉杆均滑动连接在滑孔中。

优选的，所述双向螺纹杆上设置有两段相反的螺纹，所述双向螺纹杆的左右两段均转动连接在固定箱的内壁上。

优选的，所述蜗杆的下端转动连接在空腔的内壁上，所述蜗杆转动连接在固定柱和固定箱的内壁中。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

通过把柄、转动杆和第一斜齿轮可以带动第二斜齿轮转动，第二斜齿轮可以通过蜗杆、蜗轮和双向螺纹杆可以带动螺纹套相背移动，螺纹套通过拉杆可以带动两个引脚插块移动，从而可以根据不同型号的半导体分立器调节两个引脚插块之间的距离，而且只需要旋转把柄即可，省时省力，并且可以逐步调节两个引脚插块之间的距离，更加方便进行调节，方便使用者使用。

附图说明

图1为本实用新型提出的一种半导体分立器件的耐压测试装置的正面剖视结构示意图；

图2为本实用新型提出的图1中A处的放大结构示意图；

图3为本实用新型提出的一种半导体分立器件的耐压测试装置中引脚插块的俯视结构示意图。

图中：1测试箱、2固定柱、3转动杆、4支撑板、5第一斜齿轮、 6第二斜齿轮、7蜗杆、8蜗轮、9双向螺纹杆、10螺纹套、11拉杆、 12引脚插块、13固定箱、14耐压测试主体、15控制面板、16电动伸缩杆、17把柄。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

参照图1-3，一种半导体分立器件的耐压测试装置，包括测试箱 1和测试机构，测试箱1的内壁上固定连接有固定柱2，固定柱2内开设有空腔，固定柱2的内壁中转动连接有转动杆3，转动杆3的右端固定连接有第一斜齿轮5，第一斜齿轮5上啮合连接有第二斜齿轮6，第二斜齿轮6的中心处竖直固定穿插有蜗杆7，固定柱2的上端固定连接有固定箱13，蜗杆7的上端贯穿空腔和固定箱13的下端面并转动连接在固定箱13的内壁上，蜗杆7上啮合连接有蜗轮8，蜗轮8的中心处水平固定穿插有双向螺纹杆9，双向螺纹杆9上对称啮合连接有两个螺纹套10，每个螺纹套10的一侧均固定连接有拉杆11，固定箱13的上端面对称开设有两个滑孔，每个拉杆11的上端均贯穿滑孔并固定连接有引脚插块12，每个引脚插块12的上端面均等间距的开设有多个引脚插孔，测试箱1的侧壁上设置有开关门，通过把柄 17、转动杆3和第一斜齿轮5可以带动第二斜齿轮6转动，第二斜齿轮6可以通过蜗杆7、蜗轮8和双向螺纹杆9可以带动螺纹套10相背移动，螺纹套10通过拉杆11可以带动两个引脚插块12移动，从而可以根据不同型号的半导体分立器调节两个引脚插块12之间的距离，而且只需要旋转把柄17即可，省时省力，并且可以逐步调节两个引脚插块12之间的距离，更加方便进行调节，方便使用者使用。

其中，测试机构包括耐压测试主体14，耐压测试主体14滑动连接在测试箱1的内壁上，耐压测试主体14的侧壁上设置有控制面板 15，耐压测试主体14的上端面固定连接有电动伸缩杆16，电动伸缩杆16的上端固定连接在测试箱1的内壁上，通过耐压测试主体14可以对半导体分立器进行耐压测试。

其中，空腔的内壁上固定连接有支撑板4，转动杆3转动连接在支撑板4的内壁中，支撑板4可以对转动杆3起到支撑的作用。

其中，转动杆3的左端固定连接有把柄17，两个拉杆11均滑动连接在滑孔中，把柄17可以带动转动杆3转动。

其中，双向螺纹杆9上设置有两段相反的螺纹，双向螺纹杆9的左右两段均转动连接在固定箱13的内壁上，双向螺纹杆9可以带动螺纹套10移动。

其中，蜗杆7的下端转动连接在空腔的内壁上，蜗杆7转动连接在固定柱2和固定箱13的内壁中，蜗杆7可以带动蜗轮8转动。

本实用新型中，使用时，打开开关门，旋转把柄17，把柄17会带动转动杆3转动，转动杆3会带动第一斜齿轮5转动，第一斜齿轮 5会带动第二斜齿轮6转动，第二斜齿轮6会带动蜗杆7转动，蜗杆 7会带动蜗轮8转动，蜗轮8会带动双向螺纹杆9转动，双向螺纹杆 9会带动两个螺纹套10转动，螺纹套10会带动两个拉杆11移动，拉杆11会带动两个引脚插块12相背移动，从而可以根据不同型号的半导体分立器调节两个引脚插块12之间的距离，而且只需要旋转把柄17即可，省时省力，并且可以逐步调节两个引脚插块12之间的距离，更加方便进行调节，方便使用者使用；把半导体分立器插在引脚插块12上，通过电动伸缩杆16带动耐压测试主体14向下移动并压紧在半导体分立器上，对半导体分立器进行耐压检测。

以上，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种半导体分立器件的耐压测试装置，包括测试箱（1）和测试机构，其特征在于，所述测试箱（1）的内壁上固定连接有固定柱（2），所述固定柱（2）内开设有空腔，所述固定柱（2）的内壁中转动连接有转动杆（3），所述转动杆（3）的右端固定连接有第一斜齿轮（5），所述第一斜齿轮（5）上啮合连接有第二斜齿轮（6），所述第二斜齿轮（6）的中心处竖直固定穿插有蜗杆（7），所述固定柱（2）的上端固定连接有固定箱（13），所述蜗杆（7）的上端贯穿空腔和固定箱（13）的下端面并转动连接在固定箱（13）的内壁上，所述蜗杆（7）上啮合连接有蜗轮（8），所述蜗轮（8）的中心处水平固定穿插有双向螺纹杆（9），所述双向螺纹杆（9）上对称啮合连接有两个螺纹套（10），每个所述螺纹套（10）的一侧均固定连接有拉杆（11），所述固定箱（13）的上端面对称开设有两个滑孔，每个所述拉杆（11）的上端均贯穿滑孔并固定连接有引脚插块（12），每个所述引脚插块（12）的上端面均等间距的开设有多个引脚插孔，所述测试箱（1）的侧壁上设置有开关门。

2.根据权利要求1所述的一种半导体分立器件的耐压测试装置，其特征在于，所述测试机构包括耐压测试主体（14），所述耐压测试主体（14）滑动连接在测试箱（1）的内壁上，所述耐压测试主体（14）的侧壁上设置有控制面板（15），所述耐压测试主体（14）的上端面固定连接有电动伸缩杆（16），所述电动伸缩杆（16）的上端固定连接在测试箱（1）的内壁上。

3.根据权利要求1所述的一种半导体分立器件的耐压测试装置，其特征在于，所述空腔的内壁上固定连接有支撑板（4），所述转动杆（3）转动连接在支撑板（4）的内壁中。

4.根据权利要求1所述的一种半导体分立器件的耐压测试装置，其特征在于，所述转动杆（3）的左端固定连接有把柄（17），两个所述拉杆（11）均滑动连接在滑孔中。

5.根据权利要求1所述的一种半导体分立器件的耐压测试装置，其特征在于，所述双向螺纹杆（9）上设置有两段相反的螺纹，所述双向螺纹杆（9）的左右两段均转动连接在固定箱（13）的内壁上。

6.根据权利要求1所述的一种半导体分立器件的耐压测试装置，其特征在于，所述蜗杆（7）的下端转动连接在空腔的内壁上，所述蜗杆（7）转动连接在固定柱（2）和固定箱（13）的内壁中。

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