CN218350441U - 一种具有限位功能的芯片测试架 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种具有限位功能的芯片测试架,包括底座,所述底座的后侧顶部铰接有盖板,所述盖板的内侧壁设置有检测板;芯片本体,放置在所述底座的内侧顶部,所述底座的顶部前后两侧均设置有限位板,所述限位板对应设置在芯片本体的前后两侧壁;所述检测板与所述芯片本体相对应,且限位板的内侧壁固定连接有夹持板,所述夹持板的内侧壁套设有橡胶材质的夹持垫,所述夹持板的内侧壁与芯片本体的前后两侧壁相贴合。该具有限位功能的芯片测试架底座内部设置有限位板,通过转动调节杆可以带动两个限位板的相向移动,从而能够稳定的对芯片本体进行限位固定,来避免测试过程中芯片本体的错位移动。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片测试架技术领域,具体为一种具有限位功能的芯片测试架。
背景技术
芯片测试架主要是作用于工业电子器件中针对其中的控制芯片进行检查测试的设备装置,且检测治具简单说就是生产线上的一种辅助生产设备,需要对芯片产品或半成品进行检测、试验以判断其功能;
例如公开号为CN215004166U的一种芯片检测治具,其包括检测底座、振动弹簧、支撑底座、转动轴和弧形震动环等,且该装置通过在装置上设置有往复震动结构,且该结构主要是由支撑底座、振动弹簧、转动轴、弧形震动环以及伺服电机等组成的,启动伺服电机使其进行往复转动,使转动轴带着两个弧形震动环进行往复运动,且两个弧形震动环的两端分别与支撑底座固定连接,在两个弧形震动环的往复转动下,使得支撑底座开始上下移动,在四个振动弹簧的支撑下达到一种震动的效果,通过检测装置对芯片测试架内部的芯片进行震动抗性的检测,从而提高装置的检测质量;通过在装置上设置具有缓冲性能的检测结构,且该结构主要是由上检测垫板、缓冲弹簧、下检测垫板以及检测接触轴等组成的,通过上检测垫板与下检测垫板之间的缓冲弹簧的缓冲下,使得下检测垫板上端的检测接触轴在接触芯片检测时,不会因为该装置上端的震动装置而导致接触轴损坏芯片本体,使其进行受到挤压时在缓冲弹簧的弹性可以进行收缩,从而提高装置检测的安全性;
然而该芯片检测治具只是简单的将待检测的芯片放置在支撑底座内部的芯片检测架内侧,该芯片检测架只是简单的一个正方形框,其内部缺乏对芯片的限位结构,导致芯片放置在芯片检测架内部容易在检测的过程中产生错位移动,影响检测的精确度。
因此我们便提出了具有限位功能的芯片测试架能够很好的解决以上问题。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种具有限位功能的芯片测试架,以解决上述背景技术提出该芯片检测治具只是简单的将待检测的芯片放置在支撑底座内部的芯片检测架内侧,该芯片检测架只是简单的一个正方形框,其内部缺乏对芯片的限位结构,导致芯片放置在芯片检测架内部容易在检测的过程中产生错位移动,影响检测的精确度的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种具有限位功能的芯片测试架,包括底座,所述底座的后侧顶部铰接有盖板,所述盖板的内侧壁设置有检测板;
还包括:
芯片本体,放置在所述底座的内侧顶部,所述底座的顶部前后两侧均设置有限位板,所述限位板对应设置在芯片本体的前后两侧壁;
所述检测板与所述芯片本体相对应,且限位板的内侧壁固定连接有夹持板,所述夹持板的内侧壁套设有橡胶材质的夹持垫,所述夹持板的内侧壁与芯片本体的前后两侧壁相贴合。
优选的,所述底座的右侧壁中心处设置有调节杆,所述调节杆贯穿底座,且调节杆与底座轴承连接。
通过采用以上技术方案,使得调节杆可以在底座内部进行转动。
优选的,所述底座的内部设置有螺纹杆,所述螺纹杆的两端均与底座的内侧壁轴承连接,所述螺纹杆通过锥形齿轮组与所述调节杆啮合连接。
通过采用以上技术方案,使得调节杆在转动的过程中通过锥形齿轮组的作用能够带动螺纹杆的旋转。
优选的,所述螺纹杆上螺纹连接有螺纹套,所述螺纹套的两侧均活动轴连接有连杆,所述连杆远离螺纹套的一端活动轴连接有固定套,所述固定套的内部固定连接有活动杆,所述活动杆的顶部与所述限位板的底部固定连接,且活动杆的底部与底座的内壁构成前后滑动结构。
通过采用以上技术方案,使得螺纹杆转动能够带动螺纹套的上下移动,进而来带动螺纹杆两侧的活动杆的移动,从而带动限位板和夹持板来对芯片本体进行限位固定,避免测试的过程中芯片本体产生错位移动。
优选的,所述检测板四周后侧壁与所述盖板的内侧壁固定连接,且检测板与盖板之间存在间隙。
优选的,所述检测板上设置有测试探针,所述测试探针贯穿检测板,且测试探针的顶部固定连接有复位弹簧,所述复位弹簧远离测试探针的一端与盖板固定连接。
通过采用以上技术方案,通过复位弹簧的缓冲作用,使得测试探针在下压抵住芯片本体进行检测的过程中能够起到缓冲效果。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:该具有限位功能的芯片测试架,底座内部设置有限位板,通过转动调节杆可以带动两个限位板的相向移动,从而能够稳定的对芯片本体进行限位固定,来避免测试过程中芯片本体的错位移动,其具体内容如下:
1、该具有限位功能的芯片测试架,设置有限位板,将芯片本体放置在底座上后,可以转动调节杆,通过锥形齿轮组的设置,来带动螺纹杆的旋转,螺纹杆的旋转带动螺纹套的上下移动,来使得连杆拉动两侧的活动杆的移动,从而使得限位板相向移动,来对芯片本体进行稳定的限位固定;
2、该具有限位功能的芯片测试架,设置有复位弹簧,通过复位弹簧的缓冲作用,使得测试探针在下压抵住芯片本体进行检测的过程中能够起到缓冲效果,测试探针起到保护的作用。
附图说明
图1为本实用新型立体结构示意图;
图2为本实用新型检测板主剖结构示意图;
图3为本实用新型底座俯视结构示意图;
图4为本实用新型底座侧剖结构示意图;
图5为本实用新型螺纹杆和调节杆连接结构示意图。
图中:1、底座;2、盖板;3、芯片本体;4、限位板;5、调节杆;6、检测板;7、测试探针;8、复位弹簧;9、锥形齿轮组;10、螺纹杆;11、螺纹套;12、连杆;13、固定套;14、活动杆;15、夹持板。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-5,本实用新型提供一种技术方案:一种具有限位功能的芯片测试架,包括底座1,底座1的后侧顶部铰接有盖板2,盖板2的内侧壁设置有检测板6;
如图1、3、4和5,还包括:芯片本体3,放置在底座1的内侧顶部,底座1的顶部前后两侧均设置有限位板4,限位板4对应设置在芯片本体3的前后两侧壁;检测板6与芯片本体3相对应,使得盖板2盖上后,检测板6上的测试探针7与芯片本体3相互贴合来对芯片本体3进行检测测试,且限位板4的内侧壁固定连接有夹持板15,夹持板15的内侧壁套设有橡胶材质的夹持垫,夹持板15的内侧壁与芯片本体3的前后两侧壁相贴合,夹持板15和限位板4能够对芯片本体3的前后两侧壁进行夹持,从而来对芯片本体3进行限位固定,避免芯片本体3在测试的过程中产生错位移动,提高了测试过程中的稳定性。
底座1的右侧壁中心处设置有调节杆5,调节杆5贯穿底座1,且调节杆5与底座1轴承连接。底座1的内部设置有螺纹杆10,螺纹杆10的两端均与底座1的内侧壁轴承连接,螺纹杆10通过锥形齿轮组9与调节杆5啮合连接。螺纹杆10上螺纹连接有螺纹套11,螺纹套11的两侧均活动轴连接有连杆12,连杆12远离螺纹套11的一端活动轴连接有固定套13,固定套13的内部固定连接有活动杆14,活动杆14的顶部与限位板4的底部固定连接,且活动杆14的底部与底座1的内壁构成前后滑动结构,将芯片本体3放置在底座1上后,可以转动调节杆5,调节杆5的转动配合锥形齿轮组9的设置,从而使得调节杆5转动来带动螺纹杆10的旋转,螺纹杆10的旋转能够带动螺纹套11在螺纹杆10上进行上下移动,从而来带动连杆12的移动,连杆12的移动能够拉动两侧的活动杆14在底座1内部进行前后滑动,从而使得活动杆14顶部的限位板4相向移动,使得限位板4和夹持板15来对芯片本体3进行稳定的限位固定,同时便于调节,便于适应不同尺寸芯片的限位固定,更加实用。
如图1和2,检测板6四周后侧壁与盖板2的内侧壁固定连接,且检测板6与盖板2之间存在间隙。检测板6上设置有测试探针7,测试探针7贯穿检测板6,且测试探针7的顶部固定连接有复位弹簧8,复位弹簧8远离测试探针7的一端与盖板2固定连接,测试探针7在下压抵住芯片本体3进行检测的过程中,通过复位弹簧8的缓冲作用,使得测试探针7在能够起到缓冲效果,避免下压时产生较大的挤压力导致测试探针7的损坏,来保护测试探针7不会承受大的变形量,从而对测试探针7起到保护的作用。
工作原理:在使用该具有限位功能的芯片测试架时,首先夹持板15和限位板4能够对底座1上方的芯片本体3的前后两侧壁进行夹持,从而来对芯片本体3进行限位固定,避免芯片本体3在测试的过程中产生错位移动,提高了测试过程中的稳定性;
测试探针7在下压抵住芯片本体3进行检测的过程中,通过复位弹簧8的缓冲作用,使得测试探针7在能够起到缓冲效果,从而对测试探针7起到保护的作用。
本说明书中未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员公知的现有技术。
尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明,对于本领域的技术人员来说,其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换,凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种具有限位功能的芯片测试架,包括底座(1),所述底座(1)的后侧顶部铰接有盖板(2),所述盖板(2)的内侧壁设置有检测板(6);
其特征在于,还包括:
芯片本体(3),放置在所述底座(1)的内侧顶部,所述底座(1)的顶部前后两侧均设置有限位板(4),所述限位板(4)对应设置在芯片本体(3)的前后两侧壁;
所述检测板(6)与所述芯片本体(3)相对应,且限位板(4)的内侧壁固定连接有夹持板(15),所述夹持板(15)的内侧壁套设有橡胶材质的夹持垫,所述夹持板(15)的内侧壁与芯片本体(3)的前后两侧壁相贴合。
2.根据权利要求1所述的一种具有限位功能的芯片测试架,其特征在于:所述底座(1)的右侧壁中心处设置有调节杆(5),所述调节杆(5)贯穿底座(1),且调节杆(5)与底座(1)轴承连接。
3.根据权利要求2所述的一种具有限位功能的芯片测试架,其特征在于:所述底座(1)的内部设置有螺纹杆(10),所述螺纹杆(10)的两端均与底座(1)的内侧壁轴承连接,所述螺纹杆(10)通过锥形齿轮组(9)与所述调节杆(5)啮合连接。
4.根据权利要求3所述的一种具有限位功能的芯片测试架,其特征在于:所述螺纹杆(10)上螺纹连接有螺纹套(11),所述螺纹套(11)的两侧均活动轴连接有连杆(12),所述连杆(12)远离螺纹套(11)的一端活动轴连接有固定套(13),所述固定套(13)的内部固定连接有活动杆(14),所述活动杆(14)的顶部与所述限位板(4)的底部固定连接,且活动杆(14)的底部与底座(1)的内壁构成前后滑动结构。
5.根据权利要求1所述的一种具有限位功能的芯片测试架,其特征在于:所述检测板(6)四周后侧壁与所述盖板(2)的内侧壁固定连接,且检测板(6)与盖板(2)之间存在间隙。
6.根据权利要求1所述的一种具有限位功能的芯片测试架,其特征在于:所述检测板(6)上设置有测试探针(7),所述测试探针(7)贯穿检测板(6),且测试探针(7)的顶部固定连接有复位弹簧(8),所述复位弹簧(8)远离测试探针(7)的一端与盖板(2)固定连接。
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CN202222585104.6U CN218350441U (zh) | 2022-09-28 | 2022-09-28 | 一种具有限位功能的芯片测试架 |
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Cited By (1)
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CN117148120A (zh) * | 2023-10-31 | 2023-12-01 | 镇江矽佳测试技术有限公司 | 一种带有自动矫正功能的芯片测试装置 |
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2022
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CN117148120A (zh) * | 2023-10-31 | 2023-12-01 | 镇江矽佳测试技术有限公司 | 一种带有自动矫正功能的芯片测试装置 |
CN117148120B (zh) * | 2023-10-31 | 2024-01-26 | 镇江矽佳测试技术有限公司 | 一种带有自动矫正功能的芯片测试装置 |
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