CN218241317U - 一种自动化存储芯片测试机台 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种自动化存储芯片测试机台,包含测试机台壳体、设置在所述测试机台壳体内的芯片测试装置、设置在所述测试机台壳体内的动作机构、设置在所述测试机台壳体内的芯片转向装置、设置在所述测试机台壳体内的工控器以及设置在所述测试机台壳体内或所述测试机台壳体上的控制端，本实用新型包含芯片测试装置、动作机构、工控器及控制端，不但可以响应自动化动作指令以及对存储芯片开展自动化测试，还还包含芯片转向装置，可调整存储芯片的朝向，增加本实用新型兼容性,本实用新型不但大大提高了存储芯片的测试效率与兼容性而且还大大节约了人工成本。

Description

一种自动化存储芯片测试机台

技术领域

本实用新型涉及一种存储芯片自动化测试技术领域，特别是涉及一种自动化存储芯片测试机台。

背景技术

IC芯片（Integrated Circuit集成电路）是将大量的微电子元器件集成在一起，形成一块芯片。存储芯片是具有存储功能的IC芯片（如内存芯片，又被人叫做“内存颗粒”），存储芯片是存储器件中最核心的部件，存储芯片的质量可以直接关系到存储设备的性能。所以存储芯片在出厂前要经过严格的检测。

现有技术中多采用人工的操作方式对存储芯片进行测试，比如人工把存储芯片装载入特定的夹具内，人工再把装好存储芯片的夹具插入测试设备中，之后进行测试，测试完后再由人工手动拔下夹具。这种人工的操作方式效率很低，而投入的人工成本巨大。鉴于此，如何开发一种性价比高的自动化的存储芯片测试系统，以低成本的自动测试替代纯人工测试是本领域内技术人员普遍关注的问题。

实用新型内容

针对以上现有技术的不足，本实用新型公开了一种自动化存储芯片测试机台，本技术方案包含芯片测试装置、动作机构、工控器及控制端，本技术方案可以响应自动化动作指令以及对存储芯片开展自动化测试，大大节约了人工成本以及提高了测试效率。在更优的技术方案中,

在更进一步的技术方案中，本实用新型还包含芯片转向装置，芯片转向装置用于调整存储芯片的朝向，可增加本实用新型兼容性。

本实用新型的具体技术方案如下：

一种自动化存储芯片测试机台,包含测试机台壳体、设置在所述测试机台壳体内的芯片测试装置、设置在所述测试机台壳体内的动作机构、设置在所述测试机台壳体内的芯片转向装置、设置在所述测试机台壳体内的工控器、以及设置在所述测试机台壳体内或所述测试机台壳体上的控制端。

在更优的技术方案中，所述的芯片测试装置数量至少为1个。

所述的工控器连接所述的芯片测试装置、动作机构与芯片转向装置，所述的工控器至少包含电机驱动器与电磁阀。

本技术方案中，所述的控制端为工控电脑、PC电脑、笔记本电脑或平板电脑中的一种，并连接所述的工控器。

进一步地,所述的芯片测试装置包含测试板与存储芯片测试台，所述的测试板与所述的存储芯片测试台连接并进行数据通信。

所述的存储芯片测试台上设置有多个容置存储芯片的测试位，每个所述的测试位容置一个存储芯片。

本技术方案中,所述的动作机构包含第一自动上下料机构与第一抓取机构。

所述的第一自动上下料机构用于自动搬运芯片料盘至目标位置，所述的芯片料盘用于置放存储芯片。

所述的第一抓取机构用于抓取存储芯片，以及移动存储芯片至目标位置。

本技术方案中，所述的第一自动上下料机构与第一抓取机构分别连接所述的工控器。

进一步地,所述的第一自动上下料机构包含第一驱动电机、被所述第一驱动电机驱动的第一丝杆滑轨、以及与所述第一丝杆滑轨螺纹连接的第一托盘，所述的第一托盘之上置放所述的芯片料盘。

进一步地,所述的第一驱动电机为伺服电机，并连接所述的电机驱动器。

在更优的技术方案中,所述的动作机构还包含第二自动上下料机构。

所述的第二自动上下料机构用于置放空的芯片料盘以及自动搬运空的芯片料盘至目标位置。

具体地，所述的第二自动上下料机构包含第二驱动电机、被所述第二驱动电机驱动的第二丝杆滑轨、以及与所述第二丝杆滑轨螺纹连接的第二托盘，所述的第二托盘之上置放空的芯片料盘。

进一步地,所述的第二驱动电机为伺服电机，并连接所述的电机驱动器。

本技术方案中,所述的第一抓取机构由X轴滑轨、Y轴滑轨、Z轴滑轨与第一机械手组成。

所述的X轴滑轨与Y轴滑轨水平设置，所述的Z轴滑轨竖直设置，所述的第一机械手设置在所述的Z轴滑轨上。

所述的X轴滑轨为两根，平行设置；所述的Y轴滑轨为一根，架设在所述的两根所述的X轴滑轨之上；所述的Z轴滑轨设置在所述的Y轴滑轨之上。

在更优的技术方案中，所述的X轴滑轨为直线电机。

在更优的技术方案中，所述的Y轴滑轨由第三驱动电机、与所述的第三驱动电机驱动的第三丝杆滑轨组成。

在更优的技术方案中，所述的Z轴滑轨由第四驱动电机、与所述的第四驱动电机驱动的第四丝杆滑轨组成。

所述的第三驱动电机与所述的第四驱动电机均为伺服电机，并分别连接所述的电机驱动器。

进一步地,所述的第一机械手包含变距滑台、以及设置在所述变距滑台上的吸盘，所述的变距滑台与吸盘连接所述的工控器。

所述的吸盘数量至少为两个，所述的吸盘之间的间距以及水平高度可调节。

进一步地,所述的芯片转向装置包含芯片转向台与气缸，所述的气缸连接所述的电磁阀。

所述的芯片转向台上设置有容置存储芯片的转向位，所述的气缸推动所述的转向位转向。

本实用新型一种自动化存储芯片测试机台，本技术方案包含芯片测试装置、动作机构、工控器及控制端，不但可以响应自动化动作指令以及对存储芯片开展自动化测试，还还包含芯片转向装置，可调整存储芯片的朝向，增加本实用新型兼容性。所以本实用新型不但大大提高了存储芯片的测试效率与兼容性而且还大大节约了人工成本。

附图说明

图1本实用新型一种自动化存储芯片测试机台的一种实施例结构示意图。

图2本实用新型一种自动化存储芯片测试机台中芯片测试装置的结构示意图。

图3本实用新型一种自动化存储芯片测试机台中动作机构的结构示意图。

图4本实用新型一种自动化存储芯片测试机台中芯片转向装置的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型做进一步详细的说明。

为了更好说明本实施例，附图某些部件会有省略、放大或缩小，并不代表实际产品的尺寸；对于本领域技术人员来说，附图中某些公知结构及其说明的省略是可以理解的。相同或相似的标号对应相同或相似的部件。

现有技术中多采用人工的操作方式对存储芯片进行测试，人工把存储芯片装载入特定的夹具内，人工再把装好存储芯片的夹具插入测试设备中，之后进行测试，测试完后再由人工手动拔下夹具。这种人工的操作方式效率很低还容易影响测试精度，而且投入的人工成本也是巨大的。

现有技术中也有自动化的存储芯片测试系统或测试机台，但是因为其测试性成本过高而且测试效率不高，从而得不到普及。所以如何开发一种性价比高的自动化存储芯片测试系统，以自动测试替代纯人工测试是本领域内技术人员普遍关注并需要解决的问题。

针对现有技术的不足，本实用新型公开一种自动化存储芯片测试机台，

不但可以实现对存储芯片的全自动化测试还大提高了自动化存储芯片测试机台的兼容性（包含兼容多种存储芯片测试）,而且本技术方案中的上料、测试、下料，每个环节都是自动化操作，为存储芯片的规模化生产奠定了基础，以及提高了企业的核心竞争力。

本实用新型的实施例具体如下：

本实施例如图1所示，一种自动化存储芯片测试机台,包含测试机台壳体1、设置在所述测试机台壳体1内的芯片测试装置2、设置在所述测试机台壳体1内的动作机构3、设置在所述测试机台壳体1内的芯片转向装置4、设置在所述测试机台壳体1内的工控器5、以及设置在所述测试机台壳体1内或所述测试机台壳体1上的控制端6。

需要指出的是，控制端6可以设置在所述测试机台壳体1的内部，也可以设置在所述测试机台壳体1的侧壁上，具体不再做限定。

本实施例中, 所述的芯片测试装置2用于置放并固定存储芯片以及对存储芯片进行测试；所述的动作机构3用于执行存储芯片自动化测试过程中的动作指令；所述的芯片转向装置4用于调整存储芯片的朝向以适应芯片测试装置2中测试位（下文将要提及）的方向设置；所述的工控器5于连接并控制芯片测试装置2对存储芯片开展测试活动以及控制动作机构3执行动作指令；所述的控制端6用于连接并给工控器5下达测试指令和/或动作指令从而实现自动化存储芯片测试机台开展自动化测试。

本实施例中,所述的控制端6优选为工控电脑，也可以为PC电脑、笔记本电脑或平板电脑中的一种。需要指出的是,本技术方案并不局限与上述几种智能控制端，也可以为其它能实现本实用新型的智能终端设备。本实施例中,所述的控制端6连接所述的工控器5。

本实施例中,所述的工控器5连接所述的芯片测试装置2、动作机构3与芯片转向装置4。

本实施例中,所述的工控器5至少包含电机驱动器与电磁阀。

需要特别说明的是，在本技术方案中，所述的芯片测试装置2数量至少为1个,一般情况下所述的芯片测试装置2数量为多个，在本实施例的优选方案中，所述的芯片测试装置2数量为32个。

本实施例如图2所示,所述的芯片测试装置2包含用于测试存储芯片的测试板21与用于定位置放存储芯片的存储芯片测试台22，所述的测试板21与所述的存储芯片测试台22连接并进行数据通信。

需要指出的是，测试板21优选为安装有存储芯片测试程序的电脑主板，待测存储芯片置放到位后，控制端6发出开始测试指令，测试板21会根据测试程序开展对待测存储芯片的测试，直至测试结束。

本技术方案中，所述的存储芯片测试台22上设置有多个容置存储芯片的测试位，每个所述的测试位容置一个存储芯片，本实施例中，所述的测试位的数量优先设置为5个，也就是说每个存储芯片测试台22可同时测试5片存储芯片，自动化存储芯片测试机台可同时测试160（本实施例中包含32个芯片测试装置2）片存储芯片，所以本实用新型的测试效率是非常的高，可以显著地降低测试成本。

本实施例如图3所示,所述的动作机构3包含第一自动上下料机构31与第一抓取机构32。所述的第一自动上下料机构31与第一抓取机构32分别连接所述的工控器5。

本实施例中，所述的第一自动上下料机构31用于自动搬运芯片料盘至目标位置。需要指出的是，此处的目标位置可以为抓取待测存储芯片的位置，以及其他可设定的位置。

本实施例中的芯片料盘是一个置放存储芯片的物料盘，芯片料盘上阵列置放多个存储芯片。

本实施例中的所述的第一抓取机构32用于抓取存储芯片，以及移动存储芯片至目标位置，此处的目标位置包含测试位中置放存储芯片的位置，测试完成后置放存储芯片的芯片料盘的位置等。

本实施例中,所述的第一自动上下料机构31包含第一驱动电机、被所述第一驱动电机驱动的第一丝杆滑轨、以及与所述第一丝杆滑轨螺纹连接的第一托盘，所述的第一托盘之上置放所述的芯片料盘。

需要指出的是, 本实施例中的第一驱动电机为伺服电机并连接所述的电机驱动器，本实施例中的第一丝杆滑轨优选为滚珠丝杆滑轨。

本实施例中的第一托盘用于置放芯片料盘，所述第一丝杆滑轨竖直设置，所述的第一托盘螺纹连接所述的第一丝杆滑轨。当所述的第一驱动电机在电机驱动器的驱动下工作时，所述的第一丝杆滑轨转动并带动第一托盘上下运动，第一托盘之上放置的芯片料盘可实现自动上下料工作。

本实施例如图3所示,所述的动作机构3还包含用于置放空料盘以及自动搬运空料盘至目标位置的第二自动上下料机构33。

第二自动上下料机构33用于置放自动化测试过程中产生的空的芯片料盘，以及提前置放一些自动化测试过程中需要的空的芯片料盘。

具体地，所述的第二自动上下料机构33包含第二驱动电机、被所述第二驱动电机驱动的第二丝杆滑轨、以及与所述第二丝杆滑轨螺纹连接的第二托盘，所述的第二托盘之上置放空的芯片料盘。

需要指出的是,本实施例中的第二驱动电机为伺服电机并连接所述的电机驱动器，本实施例中的第一丝杆滑轨优选为滚珠丝杆滑轨。

本实施例中的第二托盘用于置放空的芯片料盘，所述第二丝杆滑轨竖直设置，所述的第二托盘螺纹连接所述的第二丝杆滑轨。当所述的第二驱动电机在电机驱动器的驱动下工作时，所述的第二丝杆滑轨转动并带动第二托盘上下运动，第二托盘之上放置的空的芯片料盘可实现上下运动。

本实施例中,所述的第一抓取机构32由X轴滑轨、Y轴滑轨、Z轴滑轨与第一机械手组成。

本实施例在具体的技术方案中，所述的X轴滑轨与Y轴滑轨水平设置，所述的Z轴滑轨竖直设置，所述的第一机械手设置在所述的Z轴滑轨上。

本实施例中，所述的X轴滑轨为两根，平行设置。

所述的Y轴滑轨为一根，水平架设在所述的两根所述的X轴滑轨之上，所述的Y轴滑轨可以在两根X轴滑轨上沿X轴的方向往复运动。

所述的Z轴滑轨竖直设置在所述的Y轴滑轨之上，所述的Z轴滑轨可以在Y轴滑轨上沿Y轴的方向往复运动。

所述的第一机械手设置在所述的Z轴滑轨上，所述的第一机械手可以在Z轴滑轨上沿Z轴的方向上下运动。所述的第一机械手在X轴滑轨、Y轴滑轨、Z轴滑轨组成的坐标系中，可以到达任意设定的位置，并抓取这个位置上的存储芯片。

本实施例在更优的技术方案中，所述的X轴滑轨为直线电机，但并不限定于直线电机。

本实施例在更优的技术方案中，所述的Y轴滑轨由第三驱动电机、与所述的第三驱动电机驱动的第三丝杆滑轨组成，本实施例中的第三驱动电机优选为伺服电机并连接所述的电机驱动器，第三丝杆滑轨优选为滚珠丝杆滑轨。

本实施例在更优的技术方案中，所述的Z轴滑轨由第四驱动电机、与所述的第四驱动电机驱动的第四丝杆滑轨组成，本实施例中的第四驱动电机优选为伺服电机并连接所述的电机驱动器，第四丝杆滑轨优选为滚珠丝杆滑轨。

本实施例在更优的技术方案中,所述的第一机械手包含变距滑台、以及设置在所述变距滑台上的吸盘，所述的变距滑台与吸盘连接所述的工控器5，本实施例中的变距滑台优选为同步变距滑台。本实施例中的吸盘为波浪型，薄型、扁平型吸盘、长圆形型吸盘或金具吸盘中的一种，也可以为其他能实现本实施例的吸盘，对于吸盘本实施例不再作限定。

本实施例中，工控器5还包含真空发生器，所述的真空发生器连接外部的空气压缩机与所述的吸盘，所述的真空发生器可以产生负压，这种负压传递至所述的吸盘，使所述的吸盘可以吸附（或叫抓取）存储芯片。

本技术方案中的吸盘数量至少为两个，所述的吸盘之间的间距以及水平高度可调节。

具体到本实施例中，所述的吸盘数量优选为5个，5个吸盘中每个与其它吸盘之间的间距都可调节，5个吸盘中每个与其它吸盘之间的水平高度也可调节，但需要指出的是，本实施例中的吸盘数量并不限定于5个，根据实际需求还可以为其他数量设置，在此不再赘述。

本实施例中,所述的芯片转向装置4用于调整存储芯片的朝向，比如存储芯片测试台22上的测试位是横向设置的，但吸盘吸附起来的存储芯片的方向是纵向的，那么就需要芯片转向装置4把存储芯片的朝向调整为与测试位一致的朝向。

本实施例如图4所示, 所述的芯片转向装置4包含芯片转向台41与气缸42，所述的气缸42连接所述的电磁阀。

本实施例中，所述的芯片转向台上设置有容置存储芯片的转向位，所述的气缸推动所述的转向位转向。

本实施例的工作过程为：

启动第一自动上下料机构31,第一托盘上放置具有待测存储芯片的芯片料盘（可以为多个叠摞在一起的料盘），第一自动上下料机构31自动把最上层的芯片料盘移动到第一抓取机构32抓取的设定位置，第一机械手移动到芯片料盘上方，第一机械手根据芯片料盘上存储芯片的位置调整5个吸盘之间的间距及高度，5个吸盘一次性吸取5个存储芯片（每个吸盘吸一个存储芯片），也可以为5个吸盘中的几个吸取对应的存储芯片。把吸取的存储芯片移动至芯片转向装置4进行朝向调整，吸盘吸取调整好朝向的存储芯片，并移动至存储芯片测试台22中的测试位内，存储芯片测试台22闭合,测试板开始对存储芯片进行测试，存储芯片测试完成后，存储芯片测试台22开放，第一抓取机构32再把存储芯片抓取至空的芯片料盘置放，整个测试周期完成。

本实施例中，每个环节都是自动化操作，为存储芯片的规模化生产奠定了基础，大大地提高了企业的核心竞争力。

显然，本实用新型的上述实施例仅仅是为清楚地说明本实用新型所作的举例，而并非是对本实用新型的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型权利要求的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种自动化存储芯片测试机台,包含测试机台壳体, 其特征在于,还包含:

芯片测试装置, 设置在所述测试机台壳体内，数量至少为1个；

动作机构, 设置在所述测试机台壳体内；

芯片转向装置, 设置在所述测试机台壳体内;

工控器,设置在所述测试机台壳体内,连接所述的芯片测试装置、动作机构与芯片转向装置，所述的工控器至少包含电机驱动器与电磁阀；

控制端, 设置在所述测试机台壳体内或所述测试机台壳体上,连接所述的工控器。

2.如权利要求1所述的自动化存储芯片测试机台,其特征在于,所述的芯片测试装置包含测试板与存储芯片测试台，所述的测试板与所述的存储芯片测试台连接并进行数据通信；

所述的存储芯片测试台上设置有多个容置存储芯片的测试位，每个所述的测试位容置一个存储芯片。

3.如权利要求1所述的自动化存储芯片测试机台,其特征在于,所述的动作机构包含：

第一自动上下料机构，用于自动搬运芯片料盘至目标位置，所述的芯片料盘用于置放存储芯片；

第一抓取机构，用于抓取存储芯片，以及移动存储芯片至目标位置；

所述的第一自动上下料机构与第一抓取机构分别连接所述的工控器。

4.如权利要求3所述的自动化存储芯片测试机台,其特征在于,所述的第一自动上下料机构包含第一驱动电机、被所述第一驱动电机驱动的第一丝杆滑轨、以及与所述第一丝杆滑轨螺纹连接的第一托盘，所述的第一托盘之上置放所述的芯片料盘；

所述的第一驱动电机为伺服电机，并连接所述的电机驱动器。

5.如权利要求3所述的自动化存储芯片测试机台,其特征在于,所述的动作机构还包含第二自动上下料机构,用于置放空的芯片料盘以及自动搬运空的芯片料盘至目标位置;

所述的第二自动上下料机构包含第二驱动电机、被所述第二驱动电机驱动的第二丝杆滑轨、以及与所述第二丝杆滑轨螺纹连接的第二托盘，所述的第二托盘之上置放空的芯片料盘；

所述的第二驱动电机为伺服电机，并连接所述的电机驱动器。

6.如权利要求3所述的自动化存储芯片测试机台,其特征在于,所述的第一抓取机构由X轴滑轨、Y轴滑轨、Z轴滑轨与第一机械手组成；

所述的X轴滑轨与Y轴滑轨水平设置，所述的Z轴滑轨竖直设置，所述的第一机械手设置在所述的Z轴滑轨上；

所述的X轴滑轨为两根，平行设置；所述的Y轴滑轨为一根，架设在所述的两根所述的X轴滑轨之上；所述的Z轴滑轨设置在所述的Y轴滑轨之上。

7.如权利要求6所述的自动化存储芯片测试机台,其特征在于：

所述的X轴滑轨为直线电机；

所述的Y轴滑轨由第三驱动电机、与所述的第三驱动电机驱动的第三丝杆滑轨组成；

所述的Z轴滑轨由第四驱动电机、与所述的第四驱动电机驱动的第四丝杆滑轨组成；

所述的第三驱动电机与所述的第四驱动电机均为伺服电机，并分别连接所述的电机驱动器。

8.如权利要求6所述的自动化存储芯片测试机台,其特征在于,所述的第一机械手包含变距滑台、以及设置在所述变距滑台上的吸盘，所述的变距滑台与吸盘连接所述的工控器；

所述的吸盘数量至少为两个，所述的吸盘之间的间距以及水平高度可调节。

9.如权利要求1所述的自动化存储芯片测试机台,其特征在于,所述的芯片转向装置包含芯片转向台与气缸，所述的气缸连接所述的电磁阀；

所述的芯片转向台上设置有容置存储芯片的转向位，所述的气缸推动所述的转向位转向。

10.如权利要求1所述的自动化存储芯片测试机台,其特征在于,所述的控制端为工控电脑、PC电脑、笔记本电脑或平板电脑中的一种。

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