CN218240156U - 一种半导体测试夹具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种半导体测试夹具，包括夹具台的一侧固定焊接有固定块，固定块的内部通过螺纹连接有螺杆，螺杆的一端滑动连接有推板，推板的侧面固定焊接有导杆，该半导体测试夹具，通过转动螺杆，可以带动推板向一侧移动，推动支撑杆、套筒、支撑板和压块向一侧移动，使得缓冲垫压紧半导体于挡板一侧面，方便对不同大小型号的半导体进行固定，提高一次性测试数量，大幅度提高测试效率，弹簧和缓冲垫的设计可以对半导体进行压紧缓冲，防止被压损，导杆、支撑块和支撑板的设计可以导向压块移动方向，防止侧偏；通过转动松动螺丝，可以转动支撑环带动连接杆和放大镜转动，方便测试人员使用放大镜观察半导体表面是否受损等问题。

Description

一种半导体测试夹具

技术领域

本实用新型涉及测试夹具技术领域，具体为一种半导体测试夹具。

背景技术

半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，如二极管就是采用半导体制作的器件。无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的。大部分的电子产品，如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关联。

目前，在对半导体进行夹紧固定时，都是采用单独对单个半导体进行夹紧固定，一次性无法对多个不同大小型号的半导体进行固定，测试效率较低。因此，需要对现有技术进行改进。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种半导体测试夹具，以解决对不同大小型号的半导体进行固定并检测的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种半导体测试夹具，包括：所述夹具台的一侧固定焊接有固定块，所述固定块的内部通过螺纹连接有螺杆，所述螺杆的一端滑动连接有推板，所述推板的侧面固定焊接有导杆，所述导杆的外侧滑动套接有支撑块，所述推板的一侧固定焊接有支撑杆，所述支撑杆的外侧滑动套接有弹簧，所述支撑杆的一端外侧滑动套接有套筒，所述套筒的外侧滑动套接有支撑板，所述套筒的一端固定焊接有压块，所述压块的一侧固定粘黏有缓冲垫，所述夹具台的一侧固定焊接有挡板，所述挡板的一侧紧贴有半导体，所述夹具台的表面固定焊接有支撑柱，所述支撑柱的外侧套接有支撑环，所述支撑环的内部通过螺纹连接有螺丝，所述支撑环的一侧固定焊接有连接杆，所述连接杆的外侧滑动套接有滑套，所述滑套的一侧固定安装有放大镜。

优选的，所述夹具台的表面滑动连接推板，所述夹具台的表面滑动连接压块，所述夹具台的表面滑动连接缓冲垫，通过转动螺杆，可以带动推板向一侧移动，推动支撑杆、套筒、支撑板和压块向一侧移动，使得缓冲垫压紧半导体于挡板一侧面，方便对不同大小型号的半导体进行固定，提高一次性测试数量，大幅度提高测试效率。

优选的，所述弹簧的一端固定连接推板，所述弹簧的另一端固定连接套筒，弹簧和缓冲垫的设计可以对半导体进行压紧缓冲，防止被压损。

优选的，所述夹具台的一侧固定焊接支撑块，所述夹具台的表面固定焊接支撑板，导杆、支撑块和支撑板的设计可以导向压块移动方向，防止侧偏。

优选的，所述螺丝的一端压紧支撑柱，所述连接杆横截面为矩形，通过转动松动螺丝，可以转动支撑环带动连接杆和放大镜转动，方便测试人员使用放大镜观察半导体表面是否受损等问题。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1.本实用新型夹具台的表面滑动连接推板，夹具台的表面滑动连接压块，夹具台的表面滑动连接缓冲垫，通过转动螺杆，可以带动推板向一侧移动，推动支撑杆、套筒、支撑板和压块向一侧移动，使得缓冲垫压紧半导体于挡板一侧面，方便对不同大小型号的半导体进行固定，提高一次性测试数量，大幅度提高测试效率。

2.本实用新型弹簧的一端固定连接推板，弹簧的另一端固定连接套筒，弹簧和缓冲垫的设计可以对半导体进行压紧缓冲，防止被压损。

3.本实用新型夹具台的一侧固定焊接支撑块，夹具台的表面固定焊接支撑板，导杆、支撑块和支撑板的设计可以导向压块移动方向，防止侧偏。

4.本实用新型螺丝的一端压紧支撑柱，连接杆横截面为矩形，通过转动松动螺丝，可以转动支撑环带动连接杆和放大镜转动，方便测试人员使用放大镜观察半导体表面是否受损等问题。

附图说明

图1为本实用新型整体结构示意图；

图2为本实用新型A处放大剖视图；

图3为本实用新型B处放大图。

图中：1夹具台、11固定块、12螺杆、13推板、14导杆、15支撑块、16支撑杆、17弹簧、18套筒、19支撑板、110压块、111缓冲垫、112挡板、113半导体、2支撑柱、21支撑环、22螺丝、23连接杆、24滑套、25放大镜。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

实施例1

请参阅图1-3，图示中的一种半导体测试夹具，包括：夹具台1的一侧固定焊接有固定块11，固定块11的内部通过螺纹连接有螺杆12，螺杆12的一端滑动连接有推板13，推板13的侧面固定焊接有导杆14，导杆14的外侧滑动套接有支撑块15，推板13的一侧固定焊接有支撑杆16，支撑杆16的外侧滑动套接有弹簧17，支撑杆16的一端外侧滑动套接有套筒18，套筒18的外侧滑动套接有支撑板19，套筒18的一端固定焊接有压块110，压块110的一侧固定粘黏有缓冲垫111，夹具台1的一侧固定焊接有挡板112，挡板112的一侧紧贴有半导体113，夹具台1的表面固定焊接有支撑柱2，支撑柱2的外侧套接有支撑环21，支撑环21的内部通过螺纹连接有螺丝22，支撑环21的一侧固定焊接有连接杆23，连接杆23的外侧滑动套接有滑套24，滑套24的一侧固定安装有放大镜25。

为了方便对不同大小型号的半导体113进行固定，夹具台1的表面滑动连接推板13，夹具台1的表面滑动连接压块110，夹具台1的表面滑动连接缓冲垫111，通过转动螺杆12，可以带动推板13向一侧移动，推动支撑杆16、套筒18、支撑板19和压块110向一侧移动，使得缓冲垫111压紧半导体113于挡板112一侧面，方便对不同大小型号的半导体113进行固定，提高一次性测试数量，大幅度提高测试效率，弹簧17的一端固定连接推板13，弹簧17的另一端固定连接套筒18，弹簧17和缓冲垫111的设计可以对半导体113进行压紧缓冲，防止被压损。

本实施方案中，通过转动螺杆12，可以带动推板13向一侧移动，推动支撑杆16、套筒18、支撑板19和压块110向一侧移动，使得缓冲垫111压紧半导体113于挡板112一侧面，方便对不同大小型号的半导体113进行固定，提高一次性测试数量，大幅度提高测试效率，弹簧17和缓冲垫111的设计可以对半导体113进行压紧缓冲，防止被压损。

实施例2

请参阅图1-3，本实施方式对于实施例1进一步说明，图示中一种半导体测试夹具，包括：夹具台1的一侧固定焊接有固定块11，固定块11的内部通过螺纹连接有螺杆12，螺杆12的一端滑动连接有推板13，推板13的侧面固定焊接有导杆14，导杆14的外侧滑动套接有支撑块15，推板13的一侧固定焊接有支撑杆16，支撑杆16的外侧滑动套接有弹簧17，支撑杆16的一端外侧滑动套接有套筒18，套筒18的外侧滑动套接有支撑板19，套筒18的一端固定焊接有压块110，压块110的一侧固定粘黏有缓冲垫111，夹具台1的一侧固定焊接有挡板112，挡板112的一侧紧贴有半导体113，夹具台1的表面固定焊接有支撑柱2，支撑柱2的外侧套接有支撑环21，支撑环21的内部通过螺纹连接有螺丝22，支撑环21的一侧固定焊接有连接杆23，连接杆23的外侧滑动套接有滑套24，滑套24的一侧固定安装有放大镜25。

为了方便测试人员检查，夹具台1的一侧固定焊接支撑块15，夹具台1的表面固定焊接支撑板19，导杆14、支撑块15和支撑板19的设计可以导向压块110移动方向，防止侧偏，螺丝22的一端压紧支撑柱2，连接杆23横截面为矩形，通过转动松动螺丝22，可以转动支撑环21带动连接杆23和放大镜25转动，方便测试人员使用放大镜25观察半导体113表面是否受损等问题。

本实施方案中，导杆14、支撑块15和支撑板19的设计可以导向压块110移动方向，防止侧偏，通过转动松动螺丝22，可以转动支撑环21带动连接杆23和放大镜25转动，方便测试人员使用放大镜25观察半导体113表面是否受损等问题。

该半导体测试夹具，通过转动螺杆12，可以带动推板13向一侧移动，推动支撑杆16、套筒18、支撑板19和压块110向一侧移动，使得缓冲垫111压紧半导体113于挡板112一侧面，方便对不同大小型号的半导体113进行固定，提高一次性测试数量，大幅度提高测试效率，弹簧17和缓冲垫111的设计可以对半导体113进行压紧缓冲，防止被压损，导杆14、支撑块15和支撑板19的设计可以导向压块110移动方向，防止侧偏；通过转动松动螺丝22，可以转动支撑环21带动连接杆23和放大镜25转动，方便测试人员使用放大镜25观察半导体113表面是否受损等问题。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (5)

1.一种半导体测试夹具，其特征在于，包括：夹具台(1)的一侧固定焊接有固定块(11)，所述固定块(11)的内部通过螺纹连接有螺杆(12)，所述螺杆(12)的一端滑动连接有推板(13)，所述推板(13)的侧面固定焊接有导杆(14)，所述导杆(14)的外侧滑动套接有支撑块(15)，所述推板(13)的一侧固定焊接有支撑杆(16)，所述支撑杆(16)的外侧滑动套接有弹簧(17)，所述支撑杆(16)的一端外侧滑动套接有套筒(18)，所述套筒(18)的外侧滑动套接有支撑板(19)，所述套筒(18)的一端固定焊接有压块(110)，所述压块(110)的一侧固定粘黏有缓冲垫(111)，所述夹具台(1)的一侧固定焊接有挡板(112)，所述挡板(112)的一侧紧贴有半导体(113)，所述夹具台(1)的表面固定焊接有支撑柱(2)，所述支撑柱(2)的外侧套接有支撑环(21)，所述支撑环(21)的内部通过螺纹连接有螺丝(22)，所述支撑环(21)的一侧固定焊接有连接杆(23)，所述连接杆(23)的外侧滑动套接有滑套(24)，所述滑套(24)的一侧固定安装有放大镜(25)。

2.根据权利要求1所述的一种半导体测试夹具，其特征在于：所述夹具台(1)的表面滑动连接推板(13)，所述夹具台(1)的表面滑动连接压块(110)，所述夹具台(1)的表面滑动连接缓冲垫(111)。

3.根据权利要求1所述的一种半导体测试夹具，其特征在于：所述弹簧(17)的一端固定连接推板(13)，所述弹簧(17)的另一端固定连接套筒(18)。

4.根据权利要求1所述的一种半导体测试夹具，其特征在于：所述夹具台(1)的一侧固定焊接支撑块(15)，所述夹具台(1)的表面固定焊接支撑板(19)。

5.根据权利要求1所述的一种半导体测试夹具，其特征在于：所述螺丝(22)的一端压紧支撑柱(2)，所述连接杆(23)横截面为矩形。

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