CN218156210U - 一种姿态传感器测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种姿态传感器测试装置，其包括用于固定测试板的测试支架，所述测试板包括若干个设有测试槽的测试底座，所述测试支架的底部设有第一通孔，所述测试底座位于所述测试槽的槽底位置开设有第二通孔，所述第一通孔和与其位置相对应的第二通孔相连通；测试装置还包括：辅助底座，所述辅助底座上设有若干个辅助顶针，每个辅助顶针和每个所述第二通孔的位置一一对应。本申请利用辅助底座上的若干个辅助顶针将放置于测试槽上已完成测试的姿态传感器进行批量顶出，具有提高姿态传感器测试后取出的便利性的效果。

Description

一种姿态传感器测试装置

技术领域

本实用新型涉及姿态传感器测试装置领域，尤其是涉及一种姿态传感器测试装置。

背景技术

目前，姿态传感器被广泛应用于无人机、机械云台、机器人及虚拟现实等领域中，姿态传感器可以通过低功耗的ARM处理器输出校准过的角速度、加速度和磁数据等，大大提高了智能产品对运动姿态的掌控，姿态传感器在嵌入智能产品之前通常需要进行标定测试。

现有的姿态传感器测试装置包括测试支架，测试支架上固定安装有测试板，测试板设有测试底座，每个测试底座上分别开设有测试槽，将姿态传感器放置于测试槽中，并将装载有待测试传感器的测试支架放置于测试环境中进行测试，通过电连接的测试电路板和测试槽获取每个姿态传感器的测试数据。

上述中的相关技术在测试结束后，往往需要人员手动逐个取出姿态传感器，存在测试结束后，姿态传感器取出不够便利的缺陷。

实用新型内容

为了提高测试结束的姿态传感器的取出便利性，本申请提供一种姿态传感器测试装置。

本申请提供的一种姿态传感器测试装置，采用如下的技术方案：

一种姿态传感器测试装置，包括有：用于固定测试板的测试支架，所述测试板包括若干个设有测试槽的测试底座，所述测试支架的底部设有第一通孔，所述测试底座位于所述测试槽的槽底位置开设有第二通孔，所述第一通孔和与其位置相对应的第二通孔相连通；测试装置还包括：辅助底座，所述辅助底座上设有若干个辅助顶针，每个辅助顶针和每个所述第二通孔的位置一一对应。

通过采用上述技术方案，在姿态传感器测试结束之后，通过将测试支架和辅助底座进行标定配合，并在标定的过程中，使辅助顶针依次穿过第一通孔和第二通孔，并使辅助顶针的其中一个端部延伸至测试槽中，并将测试槽中的姿态传感器批量顶出，相对于测试人员手动逐个取出姿态传感器的方式，本申请通过辅助底座的辅助顶针对姿态传感器进行批量取出的方式更加便利，从而通过测试支座和辅助底座的标定配合，来提高批量取出姿态传感器的便利性。

优选的，所述辅助底座上固定安装有用于限定所述测试支架与所述辅助底座装配位置的定位组件。

通过采用上述技术方案，在测试支架和辅助底座的标定过程中，通过定位组件限制辅助底座和测试支架的装配位置，从而便于辅助顶针准确地穿过第一通孔和第二通孔，提高辅助顶针与第一通孔、第二通孔的装配准确性。

优选的，所述测试支架的相对两侧开设有卡接槽，所述定位组件包括：与所述卡接槽相匹配的卡接块，所述卡接块相对设置且固定安装于所述辅助底座，所述卡接块用于与所述卡接槽相互卡接。

通过采用上述技术方案，在测试支架朝辅助底座相互靠近的过程中，卡接块与卡接槽进行对位，对测试支架和辅助底座的标定位置进行初步限定，并在测试支架与辅助底座的继续标定过程中，使卡接块卡接于卡接槽中，从而减少辅助顶针在对姿态传感器进行顶出的过程中，发生侧移对姿态传感器造成损坏的情况，从而通过卡接槽和卡接块的相互卡接，提高辅助顶针与第一通孔、第二通孔的对位准确度。

优选的，所述定位组件包括：用于限制所述辅助顶针顶出距离的定位凹槽；所述测试支架的底部位置固定安装有定位板，所述定位板用于卡接于所述定位凹槽。

通过采用上述技术方案，在完成卡接块与卡接槽的初步对位后，操作人员对测试支架继续施加外力，使测试支架上的定位板卡接于辅助底座的定位凹槽中，从而限制辅助顶针在测试槽中的顶出距离，减少姿态传感器被顶飞的情况，且通过定位凹槽和定位板的卡接作用，同时也减少在传感器顶出过程中，测试支架发生位移而造成辅助顶针偏移或折断的不良现象，从而提高辅助顶针在进行顶出工作时的装配稳定性。

优选的，所述测试支架设置有若干个支撑柱，所述卡接块位于相邻两个支撑柱之间，且所述卡接块的两个端部位置分别与相邻两个支撑柱抵接。

通过采用上述技术方案，在对测试支架进行翻转测试时，通过多个角度设置的支撑柱为测试支架提供翻转支撑力，提高姿态传感器的翻转测试便利性，且在测试支架与辅助底座进行初步标定的过程中，通过支撑柱对卡接块的两个端部进行初步限位，提高卡接块与卡接槽的卡接准确性。

优选的，所述测试槽的对角位置相对设置有取出凹槽，所述取出凹槽的其中一端与所述测试槽的槽口位置相互连通，所述取出凹槽的另一端与所述测试槽的槽底位置固定连接。

通过采用上述技术方案，在辅助顶针将结束测试工作的姿态传感器从测试槽槽底位置顶出至测试槽的槽口位置后，测试人员将手指伸入相对设置的取出凹槽中将姿态传感器从测试槽中取出，从而通过相对设置的取出凹槽提高姿态传感器的取出便利性。

优选的，每个所述第一通孔(12)的形状与对应的所述测试底座的形状相适配，且每个所述第一通孔(12)分别位于对应的所述测试底座远离所述测试槽的一端。

通过采用上述技术方案，按照测试底座的规格大小设置第一通孔的形状，从而在满足对测试底座和测试板的支撑需求的情况下，减少测试支架的制作成本，从而节约测试装置的生产成本。

优选的，所述辅助顶针设置为螺纹杆，所述螺纹杆的一端可拆卸安装于所述辅助底座，所述螺纹杆的另一端用于依次穿设于所述第一通孔和第二通孔，且延伸至所述测试槽中。

通过采用上述技术方案，姿态传感器的顶出需要动态地调节螺纹杆在辅助底座上的装配距离，从而使伸入测试槽中的螺纹杆长度符合姿态传感器的顶出需要，由于辅助顶针在使用一定时间后容易发生松动，容易对姿态传感器的顶出位置造成偏移，因此通过螺纹杆设置的辅助顶针，可以根据松动情况动态地调整辅助顶针的装配位置，从而提高螺纹杆与辅助底座的装配稳定性。

综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：

1.在姿态传感器测试结束之后，通过将测试支架和辅助底座进行标定配合，并在标定的过程中，使辅助顶针依次穿过第一通孔和第二通孔，并使辅助顶针的其中一个端部延伸至测试槽中，并将测试槽中的姿态传感器批量顶出，相对于测试人员手动逐个取出姿态传感器的方式，本申请通过辅助底座的辅助顶针对姿态传感器进行批量取出的方式更加便利，从而通过测试支座和辅助底座的标定配合，来提高批量取出姿态传感器的便利性；

2.在测试支架朝辅助底座相互靠近的过程中，卡接块与卡接槽进行对位，对测试支架和辅助底座的标定位置进行初步限定，并在测试支架与辅助底座的继续标定过程中，使卡接块卡接于卡接槽中，从而减少辅助顶针在对姿态传感器进行顶出的过程中，发生侧移对姿态传感器造成损坏的情况，从而通过卡接槽和卡接块的相互卡接，提高辅助顶针与第一通孔、第二通孔的对位准确度；还通过定位凹槽和定位板的卡接作用，同时也减少在传感器顶出过程中，测试支架发生位移而造成辅助顶针偏移或折断的不良现象，从而提高辅助顶针在进行顶出工作时的装配稳定性。

附图说明

图1是一种姿态传感器测试装置的整体装配示意图。

图2是第一通孔和第二通孔的装配结构示意图。

图3是第一通孔与测试槽的装配结构示意图。

图4是取出凹槽与测试槽的装配结构示意图。

附图标记说明：

1、测试支架；11、支撑柱；12、第一通孔；13、卡接槽；14、定位板；2、测试板；3、测试底座；31、测试槽；32、第二通孔；33、取出凹槽；4、辅助底座；5、辅助顶针；51、螺纹杆；6、定位组件；61、卡接块；62、定位凹槽。

具体实施方式

以下结合附图1-4对本申请作进一步详细说明。

本申请实施例公开一种姿态传感器测试装置。参照图1和图2，一种姿态传感器测试装置包括：用于固定测试板2的测试支架1，测试支架1呈矩形状，且在边角位置设有四个支撑柱11；测试板2包括多个设有测试槽31的测试底座3，测试支架1的底部设有第一通孔12，第一通孔12的形状与测试底座3的形状相适配；测试底座3位于测试槽31的槽底位置开设有第二通孔32，第一通孔12和第二通孔32的位置相对应且相互连通；测试装置还包括：用于辅助将测试完毕的姿态传感器顶出测试槽31的辅助底座4，辅助底座4上设有多个辅助顶针5，每个辅助顶针5与每个第二通孔32的位置一一对应；辅助底座4上还设有定位组件6，定位组件6用于限定测试支架1与辅助底座4的装配位置，从而提高辅助顶针5和第二通孔32的装配准确性。

参照图4，测试槽31呈与待测试姿态传感器的形状相适配的矩形状，测试槽31的对角位置分别设有便于取出姿态传感器的取出凹槽33；取出凹槽33的其中一端与测试槽31的槽口位置相互连通，取出凹槽33的另一端与测试槽31的槽底固定连接。

参照图2和图3，测试支架1的相对两侧开设有卡接槽13，定位组件6包括：与卡接槽13相适配的卡接块61，卡接块61相对设置且固定安装于辅助底座4，在测试装置进行顶出工作时，卡接块61与卡接槽13相互卡接，在卡接块61与卡接槽13相互靠近进行卡接的过程中，卡接块61的两个端部分别与相邻的两个支撑支脚相互抵接，从而对卡接块61和卡接槽13的卡接位置进行初步定位，再通过卡接块61和卡接槽13的卡接作用，对测试支架1和辅助底座4进行初步对位；定位组件6还包括：用于限制辅助顶针5顶出距离的定位凹槽62，定位凹槽62位于相对设置的卡接块61之间；测试支架1的底部位置设有定位板14，在对测试支架1和辅助底座4的装配位置进行锁定过程中，定位板14卡接于定位凹槽62中，从而对测试支架1和辅助底座4的装配位置进行限制，并通过多重定位限制提高测试支架1和辅助底座4之间的装配稳定性。

本实施例中的辅助顶针5设置为螺纹杆51，螺纹杆51的一端可拆卸安装于辅助底座4，螺纹杆51的另一端依次穿设于第一通孔12和第二通孔32，且延伸至测试槽31中将姿态传感器顶出至测试槽31槽口位置。

本实施例中的姿态传感器测试装置用于对标准PLCC封装式姿态传感器的测试，需要说明的是，本申请中的传感器测试装置还可以应用于对其它多种传感器的测试，不局限于本实施例中的姿态传感器一种。

本申请实施例一种姿态传感器测试装置的实施原理为：在姿态传感器测试结束之后，测试人员将测试支架1与辅助底座4相互标定的过程中，通过卡接槽13和卡接块61的相互配合对标定位置进行限制，并将定位板14卡接于定位凹槽62中，在测试支架1靠近辅助底座4的过程中，辅助顶针5依次穿过第一通孔12和第二通孔32，并延伸至测试槽31中将姿态传感器顶出至测试槽31槽口位置，从而便于测试人员通过取出凹槽33批量将姿态传感器取出，提高姿态传感器的取出便利性。

以上均为本申请的较佳实施例，并非依此限制本申请的保护范围，故：凡依本申请的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本申请的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种姿态传感器测试装置，包括有：用于固定测试板(2)的测试支架(1)，所述测试板(2)包括若干个设有测试槽(31)的测试底座(3)，其特征在于，所述测试支架(1)的底部设有第一通孔(12)，所述测试底座(3)位于所述测试槽(31)的槽底位置开设有第二通孔(32)，所述第一通孔(12)和与其位置相对应的第二通孔(32)相连通；测试装置还包括：辅助底座(4)，所述辅助底座(4)上设有若干个辅助顶针(5)，每个辅助顶针(5)和每个所述第二通孔(32)的位置一一对应。

2.根据权利要求1所述的一种姿态传感器测试装置，其特征在于，所述辅助底座(4)上固定安装有用于限定所述测试支架(1)与所述辅助底座(4)装配位置的定位组件(6)。

3.根据权利要求2所述的一种姿态传感器测试装置，其特征在于，所述测试支架(1)的相对两侧开设有卡接槽(13)，所述定位组件(6)包括：与所述卡接槽(13)相匹配的卡接块(61)，所述卡接块(61)相对设置且固定安装于所述辅助底座(4)，所述卡接块(61)用于与所述卡接槽(13)相互卡接。

4.根据权利要求2所述的一种姿态传感器测试装置，其特征在于，所述定位组件(6)包括：用于限制所述辅助顶针(5)顶出距离的定位凹槽(62)；所述测试支架(1)的底部位置固定安装有定位板(14)，所述定位板(14)用于卡接于所述定位凹槽(62)。

5.根据权利要求3所述的一种姿态传感器测试装置，其特征在于，所述测试支架(1)设置有若干个支撑柱(11)，所述卡接块(61)位于相邻两个支撑柱(11)之间，且所述卡接块(61)的两个端部位置分别与相邻两个支撑柱(11)抵接。

6.根据权利要求1所述的一种姿态传感器测试装置，其特征在于，所述测试槽(31)的对角位置相对设置有取出凹槽(33)，所述取出凹槽(33)的其中一端与所述测试槽(31)的槽口位置相互连通，所述取出凹槽(33)的另一端与所述测试槽(31)的槽底位置固定连接。

7.根据权利要求1所述的一种姿态传感器测试装置，其特征在于，每个所述第一通孔(12)的形状与对应的所述测试底座(3)的形状相适配，且每个所述第一通孔(12)分别位于对应的所述测试底座(3)远离所述测试槽(31)的一端。

8.根据权利要求1所述的一种姿态传感器测试装置，其特征在于，所述辅助顶针(5)设置为螺纹杆(51)，所述螺纹杆(51)的一端可拆卸安装于所述辅助底座(4)，所述螺纹杆(51)的另一端用于依次穿设于所述第一通孔(12)和第二通孔(32)，且延伸至所述测试槽(31)中。

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