CN218097454U - 一种机台共面性量测治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种机台共面性量测治具，包括共平面测量尺，共平面测量尺的外侧壁上活动套设有移动套，移动套的一侧固定有指针板，移动套远离指针板的内侧壁上活动设置有抵触层，移动套远离指针板的一侧开设有抵触滑槽，抵触滑槽的内壁上固定有摩擦层，抵触层与摩擦层的侧壁相抵接触，共平面测量尺的一端设置有磁体底座；本实用新型在使用过程中，向外侧拉动拉手，将移动套移动到指定的位置后，释放拉手，此时抵触层在多个抵触弹簧弹性势能的作用下，再次与摩擦层相抵接触，对移动套进行限位固定，方便操作人员使用。

Description

一种机台共面性量测治具

技术领域

本实用新型涉及量测治具技术领域，尤其涉及一种机台共面性量测治具。

背景技术

机台每次在调试的过程中，需要通过测量钢尺测量机台的轴心、轨道、导轮和部分机构之间的偏移距离，然后根据偏移距离进行调节修正，但是测量钢尺在使用的过程中存在局限性，不方便配合各个机构进行测量读数，并且测量钢尺无法固定在机台表面，由于钢尺本身较薄，在放置测量的过程中容易歪斜，导致量测数据不精准。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的问题，而提出的一种机台共面性量测治具。

为达到上述目的，本实用新型采用了下列技术方案：

一种机台共面性量测治具，包括共平面测量尺，所述共平面测量尺的外侧壁上活动套设有移动套，移动套的一侧固定有指针板，移动套远离指针板的内侧壁上活动设置有抵触层，共平面测量尺远离指针板的一侧开设有抵触滑槽，抵触滑槽的内壁上固定有摩擦层，抵触层与摩擦层的侧壁相抵接触，共平面测量尺的一端设置有磁体底座。

作为本实用新型的进一步技术方案，所述移动套的内侧壁上开设有内置凹槽，抵触层活动设置于内置凹槽内，内置凹槽内设有抵触组件，抵触层远离摩擦层的一侧固定有拉杆，拉杆活动贯穿移动套，拉杆远离抵触层的一端固定有拉手。

作为本实用新型的进一步技术方案，所述抵触组件包括四个固定在内置凹槽内壁上的抵触弹簧，抵触弹簧远离内置凹槽的一端与抵触层固定连接。

作为本实用新型的进一步技术方案，所述移动套的内顶部和内底部均转动设置有多个辊轮，共平面测量尺的两侧均开设有配合辊轮使用的滑动凹槽。

作为本实用新型的进一步技术方案，所述磁体底座的底部开设有底部沉头槽，底部沉头槽内设置有底部螺栓，底部螺栓的螺纹端螺纹贯穿至共平面测量尺内。

本实用新型的有益效果：

1、当需要移动移动套时，即可向外侧拉动拉手，拉手通过拉杆带动抵触层移动，抵触层在向内置凹槽内壁移动的过程中，挤压抵触弹簧，此时抵触层不与摩擦层接触，然后操作人员即可通过拉手带动移动套上下移动，将移动套移动到指定的位置后，释放拉手，此时抵触层在多个抵触弹簧弹性势能的作用下，再次与摩擦层相抵接触，对移动套进行限位固定，方便操作人员使用。

2、将磁体底座与共平面测量尺通过底部螺栓连接固定在一起后，将共平面测量尺垂直放置于机台的表面，在此过程中，磁体底座吸附在机台的表面上，对共平面测量尺进行限位固定，避免共平面测量尺在测量时出现晃动偏移，影响共平面测量尺的测量精准度。

附图说明

图1为本实用新型的正面结构示意图；

图2为本实用新型的背面结构示意图；

图3为本实用新型的移动套与辊轮的连接示意图；

图4为本实用新型的内置凹槽的内部结构示意图。

图中：1、共平面测量尺；2、移动套；3、指针板；4、抵触层；5、抵触滑槽；6、摩擦层；7、磁体底座；8、内置凹槽；9、拉杆；10、拉手；11、抵触弹簧；12、辊轮；13、滑动凹槽；14、底部螺栓。

具体实施方式

为更进一步阐述本实用新型为实现预定目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本实用新型的具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。

参照图1-图4，一种机台共面性量测治具，包括共平面测量尺1，共平面测量尺1的外侧壁上活动套设有移动套2，移动套2的一侧固定有指针板3，移动套2远离指针板3的内侧壁上活动设置有抵触层4，共平面测量尺1远离指针板3的一侧开设有抵触滑槽5，抵触滑槽5的内壁上固定有摩擦层6，抵触层4与摩擦层6的侧壁相抵接触，当抵触层4与摩擦层6的侧壁相抵接触后，产生摩擦力，使移动套2和指针板3被限位固定在此处，使操作人员可以通过共平面测量尺1的刻度线，读取测量读数，判断机台的各个机构是否处于同一平面。

共平面测量尺1的一端设置有磁体底座7，磁体底座7的底部开设有底部沉头槽，底部沉头槽内设置有底部螺栓14，底部螺栓14的螺纹端螺纹贯穿至共平面测量尺1内，将磁体底座7与共平面测量尺1通过底部螺栓14连接固定在一起后，将共平面测量尺1垂直放置于机台的表面，在此过程中，磁体底座7吸附在机台的表面上，对共平面测量尺1进行限位固定，避免共平面测量尺1在测量时出现晃动偏移，影响共平面测量尺1的测量精准度。

移动套2的内侧壁上开设有内置凹槽8，抵触层4活动设置于内置凹槽8内，内置凹槽8内设有抵触组件，抵触层4远离摩擦层6的一侧固定有拉杆9，拉杆9活动贯穿移动套2，拉杆9远离抵触层4的一端固定有拉手10，抵触组件包括四个固定在内置凹槽8内壁上的抵触弹簧11，多个抵触弹簧11在内置凹槽8内均匀分布，抵触弹簧11远离内置凹槽8的一端与抵触层4固定连接，在抵触层4与摩擦层6接触时，多个抵触弹簧11均处于被压缩状态，多个抵触弹簧11在弹性势能的作用下，推动抵触层4靠近摩擦层6产生摩擦力，对移动套2进行限位固定，当需要移动移动套2时，即可向外侧拉动拉手10，拉手10通过拉杆9带动抵触层4移动，抵触层4在向内置凹槽8内壁移动的过程中，挤压抵触弹簧11，此时抵触层4不与摩擦层6接触，然后操作人员即可通过拉手10带动移动套2上下移动，将移动套2移动到指定的位置后，释放拉手10，此时抵触层4在多个抵触弹簧11弹性势能的作用下，再次与摩擦层6相抵接触，对移动套2进行限位固定，方便操作人员使用。

移动套2的内顶部和内底部均转动设置有多个辊轮12，共平面测量尺1的两侧均开设有配合辊轮12使用的滑动凹槽13，通过设置的辊轮12和滑动凹槽13的配合，使移动套2在上下移动的过程中更加顺滑，避免移动套2在移动的过程中出现卡塞，影响使用效果。

本实用新型在使用时，将磁体底座7与共平面测量尺1通过底部螺栓14连接固定在一起后，将共平面测量尺1垂直放置于机台的表面，在此过程中，磁体底座7吸附在机台的表面上，对共平面测量尺1进行限位固定，避免共平面测量尺1在测量时出现晃动偏移，影响共平面测量尺1的测量精准度；

当需要移动移动套2时，即可向外侧拉动拉手10，拉手10通过拉杆9带动抵触层4移动，抵触层4在向内置凹槽8内壁移动的过程中，挤压抵触弹簧11，此时抵触层4不与摩擦层6接触，然后操作人员即可通过拉手10带动移动套2上下移动，将移动套2移动到指定的位置后，释放拉手10，此时抵触层4在多个抵触弹簧11弹性势能的作用下，再次与摩擦层6相抵接触，对移动套2进行限位固定，使操作人员可以通过共平面测量尺1的刻度线，读取测量读数，判断机台的各个机构是否处于同一平面。

以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型作任何形式上的限制，虽然本实用新型已以较佳实施例揭示如上，然而并非用以限定本实用新型，任何本领域技术人员，在不脱离本实用新型技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容做出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本实用新型技术方案内容，依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简介修改、等同变化与修饰，均仍属于本实用新型技术方案的范围内。

Claims (5)

1.一种机台共面性量测治具，包括共平面测量尺(1)，其特征在于，所述共平面测量尺(1)的外侧壁上活动套设有移动套(2)，移动套(2)的一侧固定有指针板(3)，移动套(2)远离指针板(3)的内侧壁上活动设置有抵触层(4)，共平面测量尺(1)远离指针板(3)的一侧开设有抵触滑槽(5)，抵触滑槽(5)的内壁上固定有摩擦层(6)，抵触层(4)与摩擦层(6)的侧壁相抵接触，共平面测量尺(1)的一端设置有磁体底座(7)。

2.根据权利要求1所述的一种机台共面性量测治具，其特征在于，所述移动套(2)的内侧壁上开设有内置凹槽(8)，抵触层(4)活动设置于内置凹槽(8)内，内置凹槽(8)内设有抵触组件，抵触层(4)远离摩擦层(6)的一侧固定有拉杆(9)，拉杆(9)活动贯穿移动套(2)，拉杆(9)远离抵触层(4)的一端固定有拉手(10)。

3.根据权利要求2所述的一种机台共面性量测治具，其特征在于，所述抵触组件包括四个固定在内置凹槽(8)内壁上的抵触弹簧(11)，抵触弹簧(11)远离内置凹槽(8)的一端与抵触层(4)固定连接。

4.根据权利要求2所述的一种机台共面性量测治具，其特征在于，所述移动套(2)的内顶部和内底部均转动设置有多个辊轮(12)，共平面测量尺(1)的两侧均开设有配合辊轮(12)使用的滑动凹槽(13)。

5.根据权利要求1所述的一种机台共面性量测治具，其特征在于，所述磁体底座(7)的底部开设有底部沉头槽，底部沉头槽内设置有底部螺栓(14)，底部螺栓(14)的螺纹端螺纹贯穿至共平面测量尺(1)内。

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