CN218037178U - 一种集成电路芯片测试台 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种集成电路芯片测试台,属于芯片测试台领域。一种集成电路芯片测试台,包括顶盖,所述顶盖内壁转动连接有安装框,所述安装框内壁固设有压块,所述压块底部开设有滑槽,所述压块顶部滑动连接有滑杆,所述滑杆圆周外壁套设有弹簧一,所述滑杆底部固设有吸盘;通过向下按压顶盖,使得顶盖带动安装框向测试台内部滑动时,压块会对测试台上的芯片产生挤压固定,吸盘同时会对芯片顶部产生挤压,与芯片产生吸合,测试结束后,在弹簧二的弹力作用下,顶盖会带动连接杆向上滑动,吸盘将芯片吸起;此设计能够便于操作人员对芯片从测试台内部取出,通过在吸盘上设置滑杆和弹簧一,能够避免吸盘将芯片压坏。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片测试台领域,更具体地说,涉及一种集成电路芯片测试台。
背景技术
集成电路芯片是包括硅基板、电路、固定封环、接地环及防护环的电子元件;电路形成于硅基板上,电路具有至少一输出/输入垫。固定封环形成于硅基板上,并围绕电路及输出/输入垫,接地环形成于硅基板及输出/输入垫之间,并与固定封环电连接。防护环设置于硅基板之上,并围绕输出/输入垫,用以与固定封环电连接。
集成电路芯片在使用前需要进行烧录测试,从而判断集成电路芯片是否可以正常使用,但是现有的芯片测试台在使用时,需要将芯片放置在测试台上的测试槽内进行测试,测试结束后,需要将芯片取出,但是由于测试槽的尺寸较小,在拿取芯片时,较为不便,为此,我们提出一种集成电路芯片测试台。
实用新型内容
1、要解决的技术问题
本实用新型的目的在于提供一种集成电路芯片测试台,以解决上述背景技术中提出的问题。
2、技术方案
一种集成电路芯片测试台,包括顶盖,所述顶盖内壁转动连接有安装框,所述安装框内壁固设有压块,所述压块底部开设有滑槽,所述压块顶部滑动连接有滑杆,所述滑杆圆周外壁套设有弹簧一,所述滑杆底部固设有吸盘。
所述顶盖两侧以及背面均固设有连接杆,所述连接杆圆周外壁套设有弹簧二,所述顶盖下方设有底座,所述底座顶部固设有测试台。
优选地,所述弹簧一一端与压块连接固定,所述弹簧一另一端与滑杆连接固定。
优选地,所述测试台内壁与安装框滑动连接,所述连接杆与底座滑动连接。
优选地,所述弹簧二一端与顶盖连接固定,所述弹簧二另一端与底座连接固定。
优选地,所述顶盖顶部呈对称结构开设有两个卡槽,所述安装框正面固设有安装板,所述安装板内壁固设有固定杆,所述固定杆圆周外壁开设有活动槽,所述固定杆圆周外壁套设有弹簧三,所述固定杆圆周外壁滑动连接有卡杆,所述固定杆内壁滑动连接有拉杆,所述拉杆圆周外壁呈环形对称结构固设有两个连接块。
优选地,所述弹簧三一端与安装板内壁连接固定,所述弹簧三另一端与卡杆连接固定,所述卡杆与卡槽卡接配合,所述拉杆与安装板滑动连接,所述连接块与卡杆连接固定,所述连接块与活动槽内壁滑动连接。
3、有益效果
相比于现有技术,本实用新型的优点在于:
1、本实用新型在结构上有所改进,通过向下按压顶盖,使得顶盖带动安装框向测试台内部滑动时,压块会对测试台上的芯片产生挤压固定,吸盘同时会对芯片顶部产生挤压,与芯片产生吸合,测试结束后,在弹簧二的弹力作用下,顶盖会带动连接杆向上滑动,吸盘将芯片吸起;此设计能够便于操作人员对芯片从测试台内部取出,通过在吸盘上设置滑杆和弹簧一,能够避免吸盘将芯片压坏。
2、本实用新型在结构上有所改进,操作人员通过向外侧拉动拉杆,拉杆通过拉动连接块沿着固定杆上的活动槽内壁滑动,连接块带动卡杆沿着卡槽向前方滑动,此时弹簧三被拉升,通过向上托起拉杆,使得安装板带动安装框产生转动,从而将安装框翻转一定角度,此设计能够便于将芯片从吸盘上的芯片取下。
附图说明
图1为本实用新型的整体结构示意图;
图2为本实用新型压块的拆分结构示意图;
图3为本实用新型顶盖的拆分结构示意图;
图4为本实用新型图3中A处的放大图。
图中标号说明:1、顶盖;2、安装框;3、压块;4、滑槽;5、滑杆;6、弹簧一;7、吸盘;8、连接杆;801、弹簧二;9、底座;10、测试台;11、卡槽;12、安装板;13、固定杆;14、活动槽;15、弹簧三;16、卡杆;17、拉杆;18、连接块。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。在本实用新型的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“设置有”、“设有”“套设/接”、“连接”等,应做广义理解,例如“连接”,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
请参阅图1-4,本实用新型提供一种技术方案:
一种集成电路芯片测试台,包括顶盖1,顶盖1内壁转动连接有安装框2,安装框2内壁固设有压块3,压块3底部开设有滑槽4,压块3顶部滑动连接有滑杆5,滑杆5圆周外壁套设有弹簧一6,滑杆5底部固设有吸盘7。
顶盖1两侧以及背面均固设有连接杆8,连接杆8圆周外壁套设有弹簧二801,顶盖1下方设有底座9,底座9顶部固设有测试台10,通过向下按压顶盖1,使得顶盖1带动安装框2向测试台10内部滑动时,压块3会对测试台10上的芯片产生挤压固定,吸盘7同时会对芯片顶部产生挤压,与芯片产生吸合,测试结束后,在弹簧二801的弹力作用下,顶盖1会带动连接杆8向上滑动,吸盘7将芯片吸起;此设计能够便于操作人员对芯片从测试台10内部取出。
具体的,弹簧一6一端与压块3连接固定,弹簧一6另一端与滑杆5连接固定,通过在吸盘7上设置滑杆5和弹簧一6,能够避免吸盘7将芯片压坏。
进一步的,测试台10内壁与安装框2滑动连接,连接杆8与底座9滑动连接,弹簧二801一端与顶盖1连接固定,弹簧二801另一端与底座9连接固定。
更进一步的,顶盖1顶部呈对称结构开设有两个卡槽11,安装框2正面固设有安装板12,安装板12内壁固设有固定杆13,固定杆13圆周外壁开设有活动槽14,固定杆13圆周外壁套设有弹簧三15,固定杆13圆周外壁滑动连接有卡杆16,固定杆13内壁滑动连接有拉杆17,拉杆17圆周外壁呈环形对称结构固设有两个连接块18;操作人员通过向外侧拉动拉杆17,拉杆17通过拉动连接块18沿着固定杆13上的活动槽14内壁滑动,连接块18带动卡杆16沿着卡槽11向前方滑动,此时弹簧三15被拉升,通过向上托起拉杆17,使得安装板12带动安装框2产生转动,从而将安装框2翻转一定角度,此设计能够便于将芯片从吸盘7上的芯片取下。
值得说明的是,弹簧三15一端与安装板12内壁连接固定,弹簧三15另一端与卡杆16连接固定,卡杆16与卡槽11卡接配合,拉杆17与安装板12滑动连接,连接块18与卡杆16连接固定,连接块18与活动槽14内壁滑动连接。
工作原理:在使用的过程中,首先将测试芯片放置在测试台10顶部的测试槽内,通过向下按压顶盖1,使得顶盖1带动连接杆8沿着底座9向下滑动,并对弹簧二801产生压缩,当顶盖1带动安装框2向测试台10内部滑动时,安装框2内部的压块3会对测试台10上的芯片产生挤压固定,从而避免芯片在测试过程中产生晃动,从而对测试产生影响,压块3在挤压时,吸盘7同时会对芯片顶部产生挤压,与芯片产生吸合,而滑杆5会沿着压块3向上滑动,从而弹簧一6被拉升,直至吸盘7移动至滑槽4内部,测试结束后,在弹簧二801的弹力作用下,顶盖1会带动连接杆8向上滑动,吸盘7将芯片吸起,操作人员通过向外侧拉动拉杆17,拉杆17通过拉动连接块18沿着固定杆13上的活动槽14内壁滑动,连接块18带动卡杆16沿着卡槽11向前方滑动,此时弹簧三15被拉升,通过向上托起拉杆17,使得安装板12带动安装框2产生转动,从而将安装框2翻转一定角度,从而便于将吸盘7上的芯片取下,松开拉杆17后,在弹簧三15拉动卡杆16恢复最初位置,然后通过向下按压安装板12,使得卡杆16沿着卡槽11斜边滑进其内部,同时卡杆16沿着固定杆13滑动时,拉杆17和连接块18会同时移动,而弹簧三15跟随卡杆16的移动缓慢被拉升,直至卡杆16与卡槽11卡接固定。
以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解,本实用新型不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的仅为本实用新型的优选例,并不用来限制本实用新型,在不脱离本实用新型精神和范围的前提下,本实用新型还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
Claims (6)
1.一种集成电路芯片测试台,包括顶盖(1),其特征在于:所述顶盖(1)内壁转动连接有安装框(2),所述安装框(2)内壁固设有压块(3),所述压块(3)底部开设有滑槽(4),所述压块(3)顶部滑动连接有滑杆(5),所述滑杆(5)圆周外壁套设有弹簧一(6),所述滑杆(5)底部固设有吸盘(7);
所述顶盖(1)两侧以及背面均固设有连接杆(8),所述连接杆(8)圆周外壁套设有弹簧二(801),所述顶盖(1)下方设有底座(9),所述底座(9)顶部固设有测试台(10)。
2.根据权利要求1所述的集成电路芯片测试台,其特征在于:所述弹簧一(6)一端与压块(3)连接固定,所述弹簧一(6)另一端与滑杆(5)连接固定。
3.根据权利要求1所述的集成电路芯片测试台,其特征在于:所述测试台(10)内壁与安装框(2)滑动连接,所述连接杆(8)与底座(9)滑动连接。
4.根据权利要求1所述的集成电路芯片测试台,其特征在于:所述弹簧二(801)一端与顶盖(1)连接固定,所述弹簧二(801)另一端与底座(9)连接固定。
5.根据权利要求1所述的集成电路芯片测试台,其特征在于:所述顶盖(1)顶部呈对称结构开设有两个卡槽(11),所述安装框(2)正面固设有安装板(12),所述安装板(12)内壁固设有固定杆(13),所述固定杆(13)圆周外壁开设有活动槽(14),所述固定杆(13)圆周外壁套设有弹簧三(15),所述固定杆(13)圆周外壁滑动连接有卡杆(16),所述固定杆(13)内壁滑动连接有拉杆(17),所述拉杆(17)圆周外壁呈环形对称结构固设有两个连接块(18)。
6.根据权利要求5所述的集成电路芯片测试台,其特征在于:所述弹簧三(15)一端与安装板(12)内壁连接固定,所述弹簧三(15)另一端与卡杆(16)连接固定,所述卡杆(16)与卡槽(11)卡接配合,所述拉杆(17)与安装板(12)滑动连接,所述连接块(18)与卡杆(16)连接固定,所述连接块(18)与活动槽(14)内壁滑动连接。
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CN117589952A (zh) * | 2024-01-18 | 2024-02-23 | 山东省蚕业研究所 | 一种西甜瓜甜度测试装置 |
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