CN218034862U - 一种薄膜翘曲检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种薄膜翘曲检测装置，包括水平刻度尺(1)、垂直刻度尺(2)、间隙尺(3)、卡槽A(4)、卡扣A(6)、卡槽B(5)和卡扣B(7)；水平刻度尺(1)与垂直刻度尺(2)垂直相交于水平刻度尺(1)的一条短边，水平刻度尺(1)与间隙尺(3)垂直相交于水平刻度尺(1)的一条长边；卡扣A(6)一端放置在水平刻度尺(1)上，另一端紧扣在卡槽A(4)上；卡扣B(7)一端固定在水平刻度尺(1)上，另一端扣在卡槽B(5)上。本实用新型采用尺组合人工读数，构造简单，成本极低易获取，可以测试翘曲的高度、翘曲数量、翘曲宽度、具体位置等，能够尽可能详细地评价翘曲情况，应用前景较好。

Description

一种薄膜翘曲检测装置

技术领域

本实用新型属于薄膜翘曲检测技术领域，涉及一种薄膜翘曲检测装置。

背景技术

薄膜具备无色透明、机械物理性能优良、耐高低温、耐油等优异的性能，且膜的种类很多，常见的有PP、PE、PVC、PET等，因此被广泛的应用于包装、液晶显示、汽车、5G材料等领域。由于薄膜在高端应用领域的不断拓展，该行业的竞争也日益激烈，这就要求我们不断提高产品的表观控制，其中最为常见的外观弊病就是翘曲。

薄膜翘曲会直接影响到下游涂布、镀印、烫金、复合等加工过程。薄膜翘曲在下游加工过程中会严重导致涂布不均，严重的翘曲会导致脱涂，产品复合过程中无法平整贴合。

专利CN 204831212 U公开了一种自动检测光学薄膜翘曲的检测系统，然而不能读取翘曲的深度以及宽度，以及翘曲与翘曲之间的间隙，仅有翘曲高度，信息不全，不能评估翘曲对后续加工过程中的影响。本领域技术人员都知晓翘曲高度并不是翘曲的唯一标准，即翘曲越高的不一定薄膜平整度越差，还要结合翘曲宽度、翘曲所波及的深度来判断翘曲的影响程度；此外，现有的翘曲测试方法高度读取的高度会存在较大误差。

现有技术中的薄膜翘曲检测装置还存在其他问题：

(1)现有装置昂贵成本高，含有光束接受器、发光元件、信号处理器等，其中信号处理器需要及时的去比较检测光束强度差异的垂直高度位置，来转换为以电子信号呈现的翘曲资讯；

(2)现有装置受电、受空间影响，需要有传输带，薄膜受传输带的大小影响；

(3)现有装置只能测试翘曲的等级分类，不能具体到翘曲的高度、翘曲数量、翘曲宽度、具体位置等信息；

(4)现有装置中如果在同一水平面存在多个翘曲时无法进行准确测试，水平面上只能测试一条翘曲，当同一个水平面上存在多个翘曲时无法准确测试。

因此，有必要对现有技术中的薄膜翘曲检测装置进行改进。

实用新型内容

本实用新型的目的是解决现有技术中存在的上述问题，提供一种薄膜翘曲检测装置。

为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案如下：

一种薄膜翘曲检测装置，包括水平刻度尺、垂直刻度尺、间隙尺、卡槽A、卡扣A、卡槽B和卡扣B，间隙尺是一种三角型的尺，三角型尺的刻度即为对应角的宽度；

水平刻度尺与垂直刻度尺垂直相交于水平刻度尺的一条短边，水平刻度尺与间隙尺垂直相交于水平刻度尺的一条长边；

卡槽A为设置于间隙尺上的贯穿条形槽，卡槽A的延伸方向平行于水平刻度尺的长边，卡扣A用于连接水平刻度尺与间隙尺，卡扣A一端放置在水平刻度尺上，另一端紧扣在卡槽A上，从而卡扣A可以带动间隙尺沿着水平刻度尺长度方向水平移动；

卡槽B为设置于垂直刻度尺上的贯穿条形槽，卡槽B的延伸方向平行于水平刻度尺的短边，卡槽B用于连接水平刻度尺与垂直刻度尺，卡扣B一端固定在水平刻度尺上，另一端扣在卡槽B上，从而卡扣B可以在卡槽B上带动水平刻度尺来回移动。

作为优选的技术方案：

如上所述的一种薄膜翘曲检测装置，卡扣A与卡扣B形状相同，由依次相连的第一水平板、第一竖直板、第二水平板和第二竖直板组成，整体呈S形，可以为不锈钢、铝材、塑料等材质。

如上所述的一种薄膜翘曲检测装置，卡扣A的第一水平板与水平刻度尺贴合，卡扣A上由第一竖直板、第二水平板和第二竖直板围成的部分紧扣在卡槽A上(卡扣A的第二竖直板可以采用胶水与间隙尺粘连，确保其紧扣在间隙尺上的卡槽A中，从而保证卡扣A带动间隙尺移动时不会与间隙尺发生相对位移)。

如上所述的一种薄膜翘曲检测装置，卡扣A的第二水平板的宽度与间隙尺的厚度相同。

如上所述的一种薄膜翘曲检测装置，卡扣B的第一水平板与水平刻度尺通过胶水粘贴在一起，卡扣B上由第一竖直板、第二水平板和第二竖直板围成的部分扣在卡槽B上，卡扣B可以在卡槽B上带动水平刻度尺水平移动。

如上所述的一种薄膜翘曲检测装置，卡扣A的第一竖直板的高度与卡槽A距离水平面的高度相同，卡扣B的第一竖直板的高度与卡槽B距离水平面的高度相同。

如上所述的一种薄膜翘曲检测装置，水平刻度尺与间隙尺相连的一条边上标识刻度，刻度范围从左到右，为0～20cm；水平刻度尺的两条短边上标注刻度，刻度范围为0～10cm。

如上所述的一种薄膜翘曲检测装置，垂直刻度尺与水平刻度尺相连的边上标识刻度，刻度范围为0～50cm。

如上所述的一种薄膜翘曲检测装置，间隙尺上的刻度范围为0～5cm。

如上所述的一种薄膜翘曲检测装置，水平刻度尺和垂直刻度尺上刻度范围的分度值为1mm，间隙尺上刻度范围的分度值为0.1mm。

本实用新型的一种薄膜翘曲检测装置，通过卡扣和卡槽把水平刻度尺、垂直刻度尺、间隙尺巧妙连接后，可以非常方便地读取薄膜的翘曲程度，精准到三维空间。

测试薄膜的翘曲高度，采用了间隙尺，其一般用在测试孔隙，被用在测试薄膜高度上，可以同时得到翘曲高度与翘曲深度，克服了之前只能用直尺测试高度存在的缺陷—误差大，且不能读取翘曲深度，更不能读出翘曲深度和翘曲高度的对应性关系。

原习知的翘曲测试只能测试高度，而高度不能作为翘曲的唯一衡量标准，本领域技术人员可以理解，有时候翘曲高度不是高，但是翘曲宽度很宽，薄膜平整度其实更差，更影响后续加工生产，随着薄膜产品应用于高端电子领域，对薄膜的翘曲要求越来越严格，所以翘曲测试会成为薄膜后续出货检验必不可少的项目。

该设备只是简单机械的组合，制造成本低，且易获得，较最接近的自动检测光学薄膜翘曲的检测系统，无需发收光束接收器、信号处理器等。

有益效果：

本实用新型的一种薄膜翘曲检测装置，具有如下优点：

(1)采用尺组合人工读数，构造简单，成本极低易获取；

(2)不受空间、区域的影响，随时随地进行测试；

(3)可以测试翘曲的高度、翘曲数量、翘曲宽度、具体位置等，能够尽可能详细的评价翘曲情况；

(4)同一水平面多个翘曲时均可以进行测试，只要薄膜表面有的翘曲都能测试出来。

附图说明

图1为薄膜翘曲检测装置示意图；

图2为卡扣结构示意图；

图3为单张薄膜翘曲示意图；

图4和图5为薄膜翘曲测试时的俯视图；

图6为薄膜翘曲测试时的正视图；

其中，1-水平刻度尺，2-垂直刻度尺，3-间隙尺，4-卡槽A，5-卡槽B，6-卡扣A，7-卡扣B，8-薄膜。

具体实施方式

下面结合具体实施方式，进一步阐述本实用新型。应理解，这些实施例仅用于说明本实用新型而不用于限制本实用新型的范围。此外应理解，在阅读了本实用新型讲授的内容之后，本领域技术人员可以对本实用新型作各种改动或修改，这些等价形式同样落于本申请所附权利要求书所限定的范围。

本实用新型中薄膜边缘不平整所涉及的翘曲参数定义如下：

翘曲数：翘曲的个数；

翘曲峰高(翘曲高度)：翘曲的最高高度；

翘曲宽度：翘曲所涉及的膜面宽度；

翘曲深度：翘曲所涉及的膜面深度；

翘曲间距：两个翘曲之间的水平距离。

如图1所示，一种薄膜翘曲检测装置，包括水平刻度尺1、垂直刻度尺2、间隙尺3、卡槽A 4、卡扣A 6、卡槽B 5和卡扣B7；水平刻度尺1与垂直刻度尺2垂直相交于水平刻度尺1的一条短边，水平刻度尺1与间隙尺3垂直相交于水平刻度尺1的一条长边；水平刻度尺1与间隙尺3相交的一条边上标识刻度，刻度范围为0～20cm；水平刻度尺1的两条短边上标注刻度，刻度范围为0～10cm；垂直刻度尺2与水平刻度尺1相交的边上标识刻度，刻度范围为0～50cm；间隙尺3上的刻度范围为0～5cm；水平刻度尺1和垂直刻度尺2上刻度范围的分度值为1mm，间隙尺3上刻度范围的分度值为0.1mm；

卡槽A 4为设置于间隙尺3上的贯穿条形槽，卡槽A 4的延伸方向平行于水平刻度尺1的长边；卡槽B 5为设置于垂直刻度尺2上的贯穿条形槽，卡槽B 5的延伸方向平行于水平刻度尺1的短边；如图2所示，卡扣A 6与卡扣B 7形状相同，由依次相连的第一水平板、第一竖直板、第二水平板和第二竖直板组成，整体呈S形；卡扣A 6的第一水平板与水平刻度尺1贴合，卡扣A 6的第二水平板的宽度与间隙尺3的厚度相同，卡扣A 6上由第一竖直板、第二水平板和第二竖直板围成的部分紧扣在卡槽A 4上(卡扣A的第二竖直板采用胶水与间隙尺粘连，确保其紧扣在间隙尺上的卡槽A中)，卡扣A 6的第一竖直板的高度与卡槽A4距离水平面的高度相同，从而卡扣A 6可以带动间隙尺3沿着水平刻度尺1长度方向水平移动；卡扣B7的第一水平板与水平刻度尺1通过胶水粘贴在一起，卡扣B 7上由第一竖直板、第二水平板和第二竖直板围成的部分扣在卡槽B 5上，卡扣B7的第一竖直板的高度与卡槽B5距离水平面的高度相同，从而卡扣B 7可以在卡槽B 5上带动水平刻度尺来回移动。

具体实施步骤如下：

(1)取如图3所示的薄膜8水平铺展在大理石平台上，大理石平台吸附性小，对翘曲的测试影响较小；

(2)如图4～6所示，薄膜翘曲检测装置放置在薄膜8的纵向方向一侧(本领域技术人员都知道翘曲一般看纵向的分布，纵向为薄膜分切方向，纵向翘曲直接影响涂布效果)，在测试前，先选择薄膜的一条纵向边进行测试，薄膜的一条纵向边与垂直刻度尺2平行，薄膜的一条横向边与水平刻度尺1平行，且与水平刻度尺1与间隙尺3相交的那一条边在一条直线上。间隙尺3的0刻度紧挨着需要测试的那一条薄膜纵向边。通过观测薄膜表面平整度，寻找该条测试边上的翘曲，优先选择从纵横向相交的角依次测试；

(3)将薄膜翘曲检测装置沿着纵向水平移动到翘曲的边缘，在翘曲的边缘处，观察卡扣A 6的第一水平面左侧所对应的水平刻度尺1的初始刻度，记为L₁，缓慢地水平滑动卡扣A 6，使其带动间隙尺3水平移动，注意观察间隙尺3的上边缘与薄膜8接触时，读取间隙尺3与薄膜8的测试边接触点上的间隙尺3上的垂直刻度，即为翘曲高度(如图6)，读取卡扣A 6第一水平面左侧所对应的水平刻度尺1的刻度为L₂，读取该翘曲中最高点对应的垂直刻度尺2上的刻度为D₁；翘曲深度即为L₁与L₂的差值，如图6中标识的翘曲深度；

(4)测试完成后，恢复间隙尺3到初始位置，继续测试刚刚测试的那个翘曲的宽度，该翘曲中薄膜8与大理石平台接触的两个点之间的距离就是翘曲宽度，可以通过读取水平刻度尺1与薄膜8接触的短边上对应的这两个刻度，这两个刻度分别为L₃和L₄，翘曲宽度即为L₃与L₄的差值，如图4中标识的翘曲宽度；

(5)缓慢的水平移动卡扣B7带动水平刻度尺1测试下一个翘曲高度、翘曲深度、翘曲宽度，以及该翘曲中最高点对应的垂直刻度尺2上的刻度为D₂，翘曲间距为两个翘曲之间的距离，即为D₂与D₁的差值，如图5中所标识的翘曲间距。同理，继续测试下一个翘曲的深度、高度、宽度、翘曲中最高点对应的水平刻度尺1上的刻度(为了推算翘曲间距)；

(6)数取刚刚测试的这一条边上的翘曲个数，也就是薄膜边缘与大理石面不能贴合的个数，即为翘曲数(如图4)；换一条纵向边再依次测试，步骤如(1)-(5)。

(7)翘曲程度一般优先比较翘曲高度、其次翘曲宽度、最后翘曲数。具体翘曲要求可结合客户应用要求做限度样本以及与客户协商制定。

应当说明的是，本实用新型中采用间隙尺测试翘曲高度时，可能会由于间隙尺与水平面不是完全垂直的关系，导致测试结果存在误差，但此误差极小且为本领域公认的可接受误差范围。

提供一组薄膜产品(样品编号分别为A、B，厚度为250mm)，长度一般取薄膜卷绕方向1m，宽度为1.2m即为薄膜产品的宽度。通过该翘曲检测装置测试结果(以每张样品的左侧为例，右侧同理测试)：

右侧测试方法同理，暂不考虑右侧结果，从左侧结果来看，A产品的翘曲小于B产品，即A产品的平整度好于B产品。

翘曲程度一般优先比较翘曲高度、其次翘曲宽度、最后翘曲数。具体翘曲要求可结合客户应用要求做限度样本以及与客户协商制定。

Claims (10)

1.一种薄膜翘曲检测装置，其特征在于：包括水平刻度尺(1)、垂直刻度尺(2)、间隙尺(3)、卡槽A(4)、卡扣A(6)、卡槽B(5)和卡扣B(7)；

水平刻度尺(1)与垂直刻度尺(2)垂直相交于水平刻度尺(1)的一条短边，水平刻度尺(1)与间隙尺(3)垂直相交于水平刻度尺(1)的一条长边；

卡槽A(4)为设置于间隙尺(3)上的贯穿条形槽，卡槽A(4)的延伸方向平行于水平刻度尺(1)的长边，卡扣A(6)用于连接水平刻度尺(1)与间隙尺(3)，卡扣A(6)一端放置在水平刻度尺(1)上，另一端紧扣在卡槽A(4)上；

卡槽B(5)为设置于垂直刻度尺(2)上的贯穿条形槽，卡槽B(5)的延伸方向平行于水平刻度尺(1)的短边，卡槽B(5)用于连接水平刻度尺(1)与垂直刻度尺(2)，卡扣B(7)一端固定在水平刻度尺(1)上，另一端扣在卡槽B(5)上。

2.根据权利要求1所述的一种薄膜翘曲检测装置，其特征在于，卡扣A(6)与卡扣B(7)形状相同，由依次相连的第一水平板、第一竖直板、第二水平板和第二竖直板组成，整体呈S形。

3.根据权利要求2所述的一种薄膜翘曲检测装置，其特征在于，卡扣A(6)的第一水平板与水平刻度尺(1)贴合，卡扣A(6)上由第一竖直板、第二水平板和第二竖直板围成的部分紧扣在卡槽A(4)上。

4.根据权利要求3所述的一种薄膜翘曲检测装置，其特征在于，卡扣A(6)的第二水平板的宽度与间隙尺(3)的厚度相同。

5.根据权利要求4所述的一种薄膜翘曲检测装置，其特征在于，卡扣B(7)的第一水平板与水平刻度尺(1)通过胶水粘贴在一起，卡扣B(7)上由第一竖直板、第二水平板和第二竖直板围成的部分扣在卡槽B(5)上。

6.根据权利要求5所述的一种薄膜翘曲检测装置，其特征在于，卡扣A(6)的第一竖直板的高度与卡槽A(4)距离水平面的高度相同，卡扣B(7)的第一竖直板的高度与卡槽B(5)距离水平面的高度相同。

7.根据权利要求1所述的一种薄膜翘曲检测装置，其特征在于，水平刻度尺(1)与间隙尺(3)相连的一条边上标识刻度，刻度范围为0～20cm；水平刻度尺(1)的两条短边上标注刻度，刻度范围为0～10cm。

8.根据权利要求1所述的一种薄膜翘曲检测装置，其特征在于，垂直刻度尺(2)与水平刻度尺(1)相连的边上标识刻度，刻度范围为0～50cm。

9.根据权利要求1所述的一种薄膜翘曲检测装置，其特征在于，间隙尺(3)上的刻度范围为0～5cm。

10.根据权利要求7～9任一项所述的一种薄膜翘曲检测装置，其特征在于，水平刻度尺(1)和垂直刻度尺(2)上刻度范围的分度值为1mm，间隙尺(3)上刻度范围的分度值为0.1mm。

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