CN217953405U - 一种数显测量长度装置 - Google Patents

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王宇航
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Abstract

本实用新型公开了一种数显测量长度装置,包括底座,所述底座上固定安装有光栅尺,还包括设置于底座上的第一滑轨和第二滑轨,所述第一滑轨上滑动连接有V型块,所述底座一侧的外壁上固定安装有定位抵接块,所述定位抵接块一侧外壁与第一滑轨一端一侧外壁抵接,所述第二滑轨上滑动连接有光栅测量块,所述光栅测量块一侧外壁上固定安装有测量头,所述测量头端面对齐于光栅测量块检测端面。本实用提供的数显测量长度装置,通过安装于第一滑轨一端的定位抵接块抵接工件的另一端,使工件的两端分别与定位抵接块和测量头紧密贴合,以保证光栅测量块能够准确测量轴类工件的端面,从而可以得到准确的长度尺寸,可以提高测量轴类工件时的准确度。

Description

一种数显测量长度装置
技术领域
本实用新型涉及工件测量装置技术领域,具体来说涉及一种数显测量长度装置。
背景技术
在机加工进行轴类工件生产过程中,经常需要对轴类工件进行长度测量,长度测量需要借助数显式卡尺等测量工具,以获得准确的轴类工件长度尺寸。
根据公开号:CN202814347U,公开日为2013-03-20的实用新型专利申请,公开了一种光栅尺长度测量仪包括电连接的测量装置和显示装置,所述的测量装置包括定尺和位于定尺上的动尺,动尺相对于定尺滑动;且定尺内置有光栅玻璃,所述的定尺是容纳待测管件的V型槽结构。其主要的技术效果是:通过光栅尺下料长度测量仪进行精准下料,使员工的生产效率大大提升,节省了人力和生产工时,生产成本也大大降低,可将检出部所读出数据传输给信号线,面板第一排显示的数值即为管件长度,该光栅尺下料长度测量仪,彻底解决了下料管件长短不一致和生产效率低下的问题。
上述光栅尺将待测工件放置在整个V型槽中,测量完成以后难以取出,同时待测工件仅通过V型槽进行定位,当圆度尺寸不标准时,会导致工件在V型槽中处于倾斜状态,测量不准确,为此,提出一种数显测量长度装置,旨在解决现有的光栅尺测量装置仅通过V型槽进行定位,当圆度尺寸不标准时,会导致工件在V型槽中处于倾斜状态,测量不准确的问题。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种数显测量长度装置,旨在解决现有的光栅尺测量装置仅通过V型槽进行定位,当圆度尺寸不标准时,会导致工件在V型槽中处于倾斜状态,测量不准确的问题。
为了实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:
一种数显测量长度装置,包括底座,所述底座上固定安装有光栅尺,还包括设置于底座上的第一滑轨和第二滑轨,所述第一滑轨上滑动连接有V型块,所述底座一侧的外壁上固定安装有定位抵接块,所述定位抵接块一侧外壁与第一滑轨一端一侧外壁抵接,所述第二滑轨上滑动连接有光栅测量块,所述光栅测量块一侧外壁上固定安装有测量头,所述测量头端面对齐于光栅测量块检测端面。
作为优选的,所述底座一侧外壁安装有显示屏,所述显示屏与光栅测量块保持数据连接。
作为优选的,所述光栅测量块顶部的外壁上固定安装有夹持座,所述夹持座一侧的外壁开设有夹持槽,所述夹持槽内螺纹连接有螺纹杆,所述测量头通过螺纹杆固定连接于夹持槽内。
在上述技术方案中,本实用新型提供的一种数显测量长度装置,具有以下有益效果:
该实用新型,通过设置在底座的第一滑轨上的V型块可以将待测工件架设在底座上方,使得在取放工件的时候,工件下方处于悬空状态,便于取放工件,通过光栅测量块沿第二滑轨保持滑动以检测工件具体长度,通过光栅测量块外壁上安装的测量头抵接工件的一端,通过安装于第一滑轨一端的定位抵接块抵接工件的另一端,使工件的两端分别与定位抵接块和测量头紧密贴合,以保证光栅测量块能够准确测量轴类工件的端面,从而可以得到准确的长度尺寸,可以提高测量轴类工件时的准确度。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型中记载的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型实施例提供的立体结构示意图;
图2为本实用新型实施例提供的测量结构示意图;
图3为本实用新型实施例提供的板件连接体和压紧件的结构示意图。
附图标记说明:
1、底座;2、光栅尺;3、第一滑轨;4、第二滑轨;5、V型块;6、定位抵接块;7、光栅测量块;8、测量头;9、显示屏;10、夹持座;11、夹持槽。
具体实施方式
为了使本领域的技术人员更好地理解本实用新型的技术方案,下面将结合附图对本实用新型作进一步的详细介绍。
请参阅图1—3,一种数显测量长度装置,包括底座1,底座1上固定安装有光栅尺2,还包括设置于底座1上的第一滑轨3和第二滑轨4,第一滑轨3上滑动连接有V型块5,底座1一侧的外壁上固定安装有定位抵接块6,定位抵接块6一侧外壁与第一滑轨3一端一侧外壁抵接,第二滑轨4上滑动连接有光栅测量块7,光栅测量块7一侧外壁上固定安装有测量头8,测量头8端面对齐于光栅测量块7检测端面。
具体的,底座1为矩形结构,矩形结构的底座1一侧的外壁上固定安装有光栅尺2,在底座1一侧的外壁上还固定安装有第一滑轨3和第二滑轨4,在第一滑轨3上滑动连接有V型块5,优选的,V型块5的数量为两个,两个V型块5均滑动连接于第一滑轨3,在V型块5一侧的外壁上开设有V型槽,在使用的时候,可以通过两个V型块5与待测工件外壁进行抵接,从而可以将工件架设在底座1上方,使工件下方处于悬空状态,从而在进行工件测量的时候方便检测人员将工件放置到两个V型块5之上,或是方便检测人员将工件从V型块5中取下,以提高检测人员取放待测工件的效率,在第二滑轨4上滑动连接有光栅测量块7,优选的,第一滑轨3以及第二滑轨4均与光栅尺2保持平行,使得第一滑轨3上的V型块5、第二滑轨4上的光栅测量块7均与光栅尺2保持平行,进而可以使第二滑轨4上的光栅测量块7与光栅尺2之间具有很好的测量精度,需要指出的是关于光栅测量块7与光栅尺2的检测原理为现有技术,本申请在此不过多赘述。在底座1一侧的外壁上固定安装有定位抵接块6,具体的,定位抵接块6为矩形结构,矩形结构的定位抵接块6固定安装在底座1一侧的外壁上,且矩形结构的定位抵接块6一侧外壁抵接与第一滑轨3的一端,使得第一滑轨3和垂直于定位抵接块6一侧的外壁上,从而可以将架设在两个V型块5上的工件一端的端面贴合到定位抵接块6一侧的外壁上。在光栅测量块7一侧的外壁上固定安装有测量头8,测量头8一端的端面与光栅测量块7检测端面相对齐,可以保证工件远离定位抵接块6的一端可以与光栅测量块7的检测端面平面相重合,保证轴类工件的两端可以分别与定位抵接块6一侧外壁以及光栅测量块7检测平面相贴合,可以提高对轴类工件的测量精度。如图3所示,光栅测量块7位于光栅尺2上方,以保证能够完成测量。将光栅测量块7和光栅尺2进行分离可以减少光栅尺2的磨损,延长光栅尺2的使用寿命,减少光栅尺2的磨损。
该实用新型,通过设置在底座1的第一滑轨3上的V型块5可以将待测工件架设在底座1上方,使得在取放工件的时候,工件下方处于悬空状态,便于取放工件,通过光栅测量块7沿第二滑轨4保持滑动以检测工件具体长度,通过光栅测量块7外壁上安装的测量头8抵接工件的一端,通过安装于第一滑轨3一端的定位抵接块6抵接工件的另一端,使工件的两端分别与定位抵接块6和测量头8紧密贴合,以保证光栅测量块7能够准确测量轴类工件的端面,从而可以得到准确的长度尺寸,可以提高测量轴类工件时的准确度。
在底座1一侧的外壁上还固定安装有显示屏9,显示屏9和光栅测量块7保持数据连接,通过光栅测量块7以及光栅尺2测量V型块5上的工件,并通过与光栅测量块7保持数据连接的显示屏9将检测到的数据进行显示,以方便检测人员观察光栅测量块7检测的工件具体数值。
在光栅测量块7的顶部固定安装有夹持座10,夹持座10一侧的外壁上开设有夹持槽11,夹持槽11的外形与测量头8一端的外形相适配,测量头8的一端可以插接至夹持槽11内部,在夹持槽11的内部还螺纹连接有螺纹杆,通过螺纹杆可以将测量头8的一端固定在夹持槽11中,可以便于将测量头8进行更换。
本领域技术人员可以理解的是,其他类似连接方式也可以实现本实用新型。例如焊接、粘接或者螺接等方式。
以上只通过说明的方式描述了本实用新型的某些示范性实施例,毋庸置疑,对于本领域的普通技术人员,在不偏离本实用新型的精神和范围的情况下,可以用各种不同的方式对所描述的实施例进行修正。因此,上述附图和描述在本质上是说明性的,不应理解为对本实用新型权利要求保护范围的限制。

Claims (3)

1.一种数显测量长度装置,包括底座(1),所述底座(1)上固定安装有光栅尺(2),其特征在于,还包括设置于底座(1)上的第一滑轨(3)和第二滑轨(4),所述第一滑轨(3)上滑动连接有V型块(5),所述底座(1)一侧的外壁上固定安装有定位抵接块(6),所述定位抵接块(6)一侧外壁与第一滑轨(3)一端一侧外壁抵接,所述第二滑轨(4)上滑动连接有光栅测量块(7),所述光栅测量块(7)一侧外壁上固定安装有测量头(8),所述测量头(8)端面对齐于光栅测量块(7)检测端面。
2.根据权利要求1所述的一种数显测量长度装置,其特征在于,所述底座(1)一侧外壁安装有显示屏(9),所述显示屏(9)与光栅测量块(7)保持数据连接。
3.根据权利要求1所述的一种数显测量长度装置,其特征在于,所述光栅测量块(7)顶部的外壁上固定安装有夹持座(10),所述夹持座(10)一侧的外壁开设有夹持槽(11),所述夹持槽(11)内螺纹连接有螺纹杆,所述测量头(8)通过螺纹杆固定连接于夹持槽(11)内。
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