CN217930103U - 高度差精密值测量装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种高度差精密值测量装置，它可以根据偏心轴D偏心平面高低差制作两个标准芯棒C,通过千分表组件Ⅰ9和千分表组件Ⅱ10和基准的测量台6，将千分表组件Ⅰ9和千分表组件Ⅱ10通过两个标准芯棒C对好高低差，再放入加工好的偏心轴D产品，通过设置好高低差值的千分表来验证偏心轴D偏心平面的实际高低差值，从而确认高低差是否符合图纸要求，这种检测装置节省了耗时较长的三坐标检测方式，能够快速获取检测值，提升了生产效率。

Description

高度差精密值测量装置

技术领域

本实用新型涉及偏心轴检测装置，更确切的说是高度差精密值测量装置。

背景技术

偏心轴是应用于空调压缩机内零件，主要功能是带动涡旋盘，实现气体压缩。偏心轴的偏心平面是带动动静涡旋盘的主要结构，因配合需求，平面一般设计为高低差结构，且高低差尺寸值都是微米级，这种微米级精密高低差尺寸值一般需要用三坐标才可以检测出，但三坐标价格高昂，检测耗时也长，并且需要一定专业水平的人员进行检测，检测成本高，从生产角度来讲，不能及时获取检测结果，影响了生产效率。

实用新型内容

针对以上存在的技术问题，本实用新型提供了高度差精密值测量装置。

本实用新型采用了以下技术方案：一种高度差精密值测量装置，它主要包括底板，在底板上安装有下底盘，下底盘固定在底板上，在下底盘上安装有上转盘，上转盘与下底盘为转动连接，上转盘在下底盘上转动，所述的上转盘上安装有测量台，测量台随着上转盘转动，在测量台上分布有若干排的卡槽座，若干排卡槽座由前之后分布在测量台上，每个卡槽座上设有卡槽，被测物在水平方向固定在卡槽内，在底板上安装有千分表组件Ⅰ和千分表组件Ⅱ，千分表组件Ⅰ和千分表组件Ⅱ分布在测量台的外围，千分表组件Ⅰ设有可调节高度的千分表Ⅰ，千分表Ⅰ能够上下移动，千分表组件Ⅱ设有可调节高度的千分表Ⅱ，千分表组件Ⅱ上的千分表Ⅱ能够上下移动，当需要千分表组件Ⅰ测量被测物上的一测试点时，调节千分表Ⅰ的高度使其与一测试点相对应，即可测出该测试点的高度，当需要千分表组件Ⅱ测量被测物上的另一测试点时，调节千分表Ⅱ的高度使其与另一测试点相对应，即可测出该测试点的高度。

进一步说，所述的被测物为标准芯棒或偏心轴。

进一步说，千分表组件Ⅰ主要包括支承座Ⅰ，在支承座Ⅰ上竖直设有安装柱Ⅰ，安装柱Ⅰ连接有水平的支承杆Ⅰ，支承杆Ⅰ的一端通过滑套Ⅰ套在安装柱Ⅰ上与安装柱Ⅰ为滑动连接，在滑套Ⅰ的侧面设有锁紧螺母Ⅰ，锁紧螺母Ⅰ穿过滑套Ⅰ上设有的螺孔Ⅰ与安装柱Ⅰ相接触，千分表Ⅰ安装在支承杆Ⅰ的另一端，支承杆Ⅰ通过滑套Ⅰ在安装柱Ⅰ上滑动时能带动千分表Ⅰ上下移动，当千分表Ⅰ位置到位后，旋动锁紧螺母Ⅰ使得锁紧螺母Ⅰ与安装柱Ⅰ相抵，锁紧螺母Ⅰ将支承杆Ⅰ位置固定，从而使得千分表Ⅰ位置固定。

进一步说，千分表组件Ⅱ主要包括支承座Ⅱ，在支承座Ⅱ上竖直设有安装柱Ⅱ，安装柱Ⅱ连接有水平的支承杆Ⅱ，支承杆Ⅱ的一端通过滑套Ⅱ套在安装柱Ⅱ上与安装柱Ⅱ为滑动连接，在滑套Ⅱ的侧面设有锁紧螺母Ⅱ，锁紧螺母Ⅱ穿过滑套Ⅱ上设有的螺孔Ⅱ与安装柱Ⅱ相接触，千分表Ⅱ安装在支承杆Ⅱ的另一端，支承杆Ⅱ通过滑套Ⅱ在安装柱Ⅱ上滑动时能带动千分表Ⅱ上下移动，当千分表Ⅱ位置到位后，旋动锁紧螺母Ⅱ使得锁紧螺母Ⅱ与安装柱Ⅱ相抵，锁紧螺母Ⅱ将支承杆Ⅱ位置固定，从而使得千分表Ⅱ固定。

进一步说，所述下底盘的表面固定有轴承套，在轴承套内安装有滚动轴承，在上转盘的底部设有转轴，转轴位于滚动轴承内并在滚动轴承内转动，上转盘通过转轴以及滚动轴承的配合与下底为转动连接。

进一步说，所述的卡槽设置在卡槽座的中间位置。

本实用新型具有以下有益效果：采用了以上技术方案后，本实用新型可以根据偏心轴偏心平面高低差尺寸值0.003mm，制作两个标准芯棒,两个标准芯棒的校对杆径在同一基准上对比纵向尺寸高低差为0.003mm，标准芯棒的基准直径与校对杆径的同轴度和圆柱度保证在0.0005 以内，以忽略测量误差；通过千分表组件Ⅰ和千分表组件Ⅱ和基准的测量台，将千分表组件Ⅰ和千分表组件Ⅱ通过两个标准芯棒对好高低差，再放入加工好的偏心轴产品，通过设置好高低差值的千分表来验证偏心轴偏心平面的实际高低差值，从而确认高低差是否符合图纸要求，这种检测装置节省了耗时较长的三坐标检测方式，能够快速获取检测值，提升了生产效率。

附图说明

图1为本实用新型的偏心轴平面高低差检测装置的示意图。

图2为本实用新型的标准芯棒和偏心轴的结构示意图。

图3为本实用新型的偏心轴平面高低差检测装置的结构分解示意图。

图4为本实用新型的偏心轴平面高低差检测装置的实施步骤一的示意图。

图5为本实用新型的偏心轴平面高低差检测装置的实施步骤二的示意图。

图6为本实用新型的偏心轴平面高低差检测装置的实施步骤三的示意图。

图7为本实用新型的偏心轴平面高低差检测装置的实施步骤四的示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型的优选实施例进行详细阐述，以使本实用新型的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本实用新型的保护范围做出更为清楚明确的界定。在图1、图2和图3中，本实用新型提供了一种高度差精密值测量装置，它主要包括底板1，在底板1上安装有下底盘2，下底盘2固定在底板1上，本实施例的下底盘2通过螺栓Ⅶ4-1、螺栓Ⅷ4-2和螺栓Ⅸ4-3与底板1固定连接，在下底盘2上安装有上转盘5，上转盘5与下底盘2为转动连接，上转盘5在下底盘2上转动，本实施例的下底盘2的表面固定有轴承套11，在轴承套11内安装有滚动轴承3，在上转盘5的底部设有转轴5-1，转轴5-1位于滚动轴承3内并在滚动轴承3内转动，上转盘5通过转轴5-1以及滚动轴承3的配合与下底盘2为转动连接，所述的上转盘5上安装有测量台6，测量台6随着上转盘5转动，在测量台6上分布有若干排的卡槽座8，本实施例测量台6上分布有四排的卡槽座8，四排卡槽座8由前之后分布在测量台6上，在每两排卡槽座之间设有螺孔，本实施例的测量台上共有六个螺孔，测量台6通过在六个螺孔内分别插入螺栓Ⅰ7-1、螺栓Ⅱ7-2、螺栓Ⅲ7-3、螺栓Ⅳ7-4、螺栓Ⅴ 7-5和螺栓Ⅵ7-6与上转盘5固定连接，每个卡槽座8上设有卡槽8-1，卡槽8-1设置在卡槽座8的中间位置，被测物在水平方向固定在卡槽8-1内，被测物为标准芯棒C或偏心轴D，在底板1上安装有千分表组件Ⅰ9和千分表组件Ⅱ10，千分表组件Ⅰ9和千分表组件Ⅱ10分布在测量台6的外围，千分表组件Ⅰ9设有可调节高度的千分表Ⅰ9-1，千分表Ⅰ9-1能够上下移动，千分表组件Ⅱ10设有可调节高度的千分表Ⅱ10-1，千分表组件Ⅱ10上的千分表Ⅱ 10-1能够上下移动，当需要千分表组件Ⅰ9测量被测物上的一测试点时，调节千分表Ⅰ9-1 的高度使其与一测试点相对应，即可测出该测试点的高度，当需要千分表组件Ⅱ10测量被测物上的另一测试点时，调节千分表Ⅱ10-1的高度使其与另一测试点相对应，即可测出该测试点的高度，所述的千分表组件Ⅰ9主要包括支承座Ⅰ9-2，在支承座Ⅰ9-2上竖直设有安装柱Ⅰ9-3，安装柱Ⅰ9-3连接有水平的支承杆Ⅰ9-4，支承杆Ⅰ9-4的一端通过滑套Ⅰ9-5套在安装柱Ⅰ9-3上与安装柱Ⅰ9-3为滑动连接，在滑套Ⅰ9-5的侧面设有锁紧螺母Ⅰ9-6，锁紧螺母Ⅰ9-6穿过滑套Ⅰ9-5上设有的螺孔Ⅰ与安装柱Ⅰ9-3相接触，千分表Ⅰ9-1安装在支承杆Ⅰ9-4的另一端，支承杆Ⅰ9-4通过滑套Ⅰ9-5在安装柱Ⅰ9-3上滑动时能带动千分表Ⅰ9-1 上下移动，当千分表Ⅰ9-1位置到位后，旋动锁紧螺母Ⅰ9-6使得锁紧螺母Ⅰ9-6与安装柱Ⅰ 9-3相抵，锁紧螺母Ⅰ9-6将支承杆Ⅰ9-4位置固定，从而使得千分表Ⅰ9-1位置固定，所述的千分表组件Ⅱ10主要包括支承座Ⅱ10-2，在支承座Ⅱ10-2上竖直设有安装柱Ⅱ10-3，安装柱Ⅱ10-3连接有水平的支承杆Ⅱ10-4，支承杆Ⅱ10-4的一端通过滑套Ⅱ10-5套在安装柱Ⅱ 10-3上与安装柱Ⅱ10-3为滑动连接，在滑套Ⅱ10-5的侧面设有锁紧螺母Ⅱ10-6，锁紧螺母Ⅱ10-6穿过滑套Ⅱ10-5上设有的螺孔Ⅱ与安装柱Ⅱ10-3相接触，千分表Ⅱ10-1安装在支承杆Ⅱ10-4的另一端，支承杆Ⅱ10-4通过滑套Ⅱ10-5在安装柱Ⅱ10-3上滑动时能带动千分表Ⅱ10-1上下移动，当千分表Ⅱ10-1位置到位后，旋动锁紧螺母Ⅱ10-6使得锁紧螺母Ⅱ10-6 与安装柱Ⅱ10-3相抵，锁紧螺母Ⅱ10-6将支承杆Ⅱ10-4位置固定，从而使得千分表Ⅱ10-1 固定。

在图3、图4、图5和图6中，本实用新型使用过程为：

S1，取标准芯棒C，将标准芯棒C放置在测量台6上的卡槽8-1内，同时标准芯棒C一端的小头平面Q与测量台上最外侧的卡槽8-1贴合，最外侧的卡槽标记为Z,从而确保标准芯棒C 上的测量点A和测量点B两点位置固定，上下移动千分表Ⅱ10-1的高度，使千分表Ⅱ10-1与标准芯棒C上测量点A位置相对应，当千分表Ⅱ10-1位置到位后，通过千分表Ⅱ10-1测量标准芯棒C上测量点A的高度并通过锁紧螺母Ⅱ10-6固定住千分表Ⅱ10-1位置；

S2，转动上转盘5，将标准芯棒C的小头调整至千分表组件Ⅰ9的千分表Ⅰ9-1表头附近，上下移动千分表Ⅰ9-1的高度，使用千分表Ⅰ9-1表头测量标准芯棒C上测量点B的位置数值；调整千分表Ⅰ9-1使其与千分表Ⅱ10-1在同一高度，最后通过锁紧螺母Ⅰ9-6固定住千分表Ⅰ9-1位置；

S3、取下标准芯棒C，将需要检测的偏心轴D放置在测量台6上的卡槽8-1内，转动上转盘5 将偏心轴D的小头转至S1中调整好的千分表Ⅱ10-1表头附近，同时偏心轴D的小头平面N 需要与测量台上最外侧的卡槽8-1贴合，最外侧的卡槽标记为Z,从而确保标偏心轴D上的测量点A和测量点B两点位置固定，最后使用S1中调整好的千分表Ⅱ10-1测量偏心轴D上测量点A的高度；

S4、再转动上底盘5，将偏心轴D的小头调整至千分表Ⅰ9-1处，使用S2中调整好的千分表Ⅰ9-1测量偏心轴D上测量点B点高度,然后确认数值，最终可以快速得出偏心轴D上的测量点A和测量点B两点高度差。

本实用新型可以根据偏心轴D偏心平面高低差尺寸值0.003mm，制作两个标准芯棒C,两个标准芯棒C的校对杆径在同一基准上对比纵向尺寸高低差为0.003mm，标准芯棒C的基准直径与校对杆径的同轴度和圆柱度保证在0.0005以内，以忽略测量误差；通过千分表组件Ⅰ9和千分表组件Ⅱ10和基准的测量台6，将千分表组件Ⅰ9和千分表组件Ⅱ10通过两个标准芯棒 C对好高低差，再放入加工好的偏心轴D产品，通过设置好高低差值的千分表来验证偏心轴D 偏心平面的实际高低差值，从而确认高低差是否符合图纸要求。

不局限于此，任何不经过创造性劳动想到的变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应该以权利要求书所限定的保护范围为准。

Claims (6)

1.高度差精密值测量装置，其特征是它主要包括底板(1)，在底板(1)上安装有下底盘(2)，下底盘(2)固定在底板(1)上，在下底盘(2)上安装有上转盘(5)，上转盘(5)与下底盘(2)为转动连接，上转盘(5)在下底盘(2)上转动，所述的上转盘(5)上安装有测量台(6)，测量台(6)随着上转盘(5)转动，在测量台(6)上分布有若干排的卡槽座(8)，若干排卡槽座(8)由前之后分布在测量台(6)上，每个卡槽座(8)上设有卡槽(8-1)，被测物在水平方向固定在卡槽(8-1)内，在底板(1)上安装有千分表组件Ⅰ(9)和千分表组件Ⅱ(10)，千分表组件Ⅰ(9)和千分表组件Ⅱ(10)分布在测量台(6)的外围，千分表组件Ⅰ(9)设有可调节高度的千分表Ⅰ(9-1)，千分表Ⅰ(9-1)能够上下移动，千分表组件Ⅱ(10)设有可调节高度的千分表Ⅱ(10-1)，千分表组件Ⅱ(10)上的千分表Ⅱ(10-1)能够上下移动，当需要千分表组件Ⅰ(9)测量被测物上的一测试点时，调节千分表Ⅰ(9-1)的高度使其与一测试点相对应，即可测出该测试点的高度，当需要千分表组件Ⅱ(10)测量被测物上的另一测试点时，调节千分表Ⅱ(10-1)的高度使其与另一测试点相对应，即可测出该测试点的高度。

2.根据权利要求1所述的高度差精密值测量装置，其特征是所述的被测物为标准芯棒(C)或偏心轴(D)。

3.根据权利要求1所述的高度差精密值测量装置，其特征是千分表组件Ⅰ(9)主要包括支承座Ⅰ(9-2)，在支承座Ⅰ(9-2)上竖直设有安装柱Ⅰ(9-3)，安装柱Ⅰ(9-3)连接有水平的支承杆Ⅰ(9-4)，支承杆Ⅰ(9-4)的一端通过滑套Ⅰ(9-5)套在安装柱Ⅰ(9-3)上与安装柱Ⅰ(9-3)为滑动连接，在滑套Ⅰ(9-5)的侧面设有锁紧螺母Ⅰ(9-6)，锁紧螺母Ⅰ(9-6)穿过滑套Ⅰ(9-5)上设有的螺孔Ⅰ与安装柱Ⅰ(9-3)相接触，千分表Ⅰ(9-1)安装在支承杆Ⅰ(9-4)的另一端，支承杆Ⅰ(9-4)通过滑套Ⅰ(9-5)在安装柱Ⅰ(9-3)上滑动时能带动千分表Ⅰ(9-1)上下移动，当千分表Ⅰ(9-1)位置到位后，旋动锁紧螺母Ⅰ(9-6)使得锁紧螺母Ⅰ(9-6)与安装柱Ⅰ(9-3)相抵，锁紧螺母Ⅰ(9-6)将支承杆Ⅰ(9-4)位置固定，从而使得千分表Ⅰ(9-1)位置固定。

4.根据权利要求1所述的高度差精密值测量装置，其特征是千分表组件Ⅱ(10)主要包括支承座Ⅱ(10-2)，在支承座Ⅱ(10-2)上竖直设有安装柱Ⅱ(10-3)，安装柱Ⅱ(10-3)连接有水平的支承杆Ⅱ(10-4)，支承杆Ⅱ(10-4)的一端通过滑套Ⅱ(10-5)套在安装柱Ⅱ(10-3)上与安装柱Ⅱ(10-3)为滑动连接，在滑套Ⅱ(10-5)的侧面设有锁紧螺母Ⅱ(10-6)，锁紧螺母Ⅱ(10-6)穿过滑套Ⅱ(10-5)上设有的螺孔Ⅱ与安装柱Ⅱ(10-3)相接触，千分表Ⅱ(10-1)安装在支承杆Ⅱ(10-4)的另一端，支承杆Ⅱ(10-4)通过滑套Ⅱ(10-5)在安装柱Ⅱ(10-3)上滑动时能带动千分表Ⅱ(10-1)上下移动，当千分表Ⅱ(10-1)位置到位后，旋动锁紧螺母Ⅱ(10-6)使得锁紧螺母Ⅱ(10-6)与安装柱Ⅱ(10-3)相抵，锁紧螺母Ⅱ(10-6)将支承杆Ⅱ(10-4)位置固定，从而使得千分表Ⅱ(10-1)固定。

5.根据权利要求1所述的高度差精密值测量装置，其特征是所述下底盘(2)的表面固定有轴承套(11)，在轴承套(11)内安装有滚动轴承(3)，在上转盘(5)的底部设有转轴(5-1)，转轴(5-1)位于滚动轴承(3)内并在滚动轴承(3)内转动，上转盘(5)通过转轴(5-1)以及滚动轴承(3)的配合与下底盘(2)为转动连接。

6.根据权利要求1所述的高度差精密值测量装置，其特征是卡槽(8-1)设置在卡槽座(8)的中间位置。

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