CN217739616U - 一种光学系统通用拉直模拟装置 - Google Patents

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徐志文
贺仕伟
蒋旭柯
刘永杰
浦恩昌
王贵全
施浩坤
张麟
张�林
陈贤峰
段永进
刘海
李学宽
曲雯丹霞
苏凡
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Abstract

一种光学系统通用拉直模拟装置,涉及光学仪器夹具技术领域。该装置包括底座、导轨、大透镜框、探测器支架和透镜支架;导轨左右对称固定在底座顶面,大透镜框固定在底座最前端中间位置,透镜支架由滑座、第一三维微调架和小透镜框构成,第一三维微调架固定在滑座上,小透镜框通过旋转机构安装在第一三维微调架前侧,滑座滑动安装在导轨上;探测器支架由固定板、第二三维微调架和架板构成,第二三维微调架固定在固定板上,所述架板安装在三维微调支架前侧,固定板通过螺栓安装在底座后端中间位置。该装置具有一定的通用性,可以适用于多种不同的光学系统,减少了浪费情况的发生,也减少了设计工作的工作量,为光学系统的验证带来便利。

Description

一种光学系统通用拉直模拟装置
技术领域
本实用新型涉及光学仪器夹具技术领域,具体为一种光学系统通用拉直模拟装置。
背景技术
在光学系统设计过程中,需要对光学系统成像性能进行验证,这时会将透镜放置在一个辅助的光路拉直装置上,使各透镜处于理论位置并保证光轴一致性,在此状态下进行模拟验证,满足设计要求则可以进行下一步装配;不满足则可以通过对不同透镜进行微调,找出对光学系统性能影响大的透镜,对设计进行改进。
然而,由于不同光学系统透镜直径以及透镜距离各不相同,每设计一套光学系统都需要设计一套与之相匹配的光路拉直装置,一套拉直装置在为一套光学系统服务后就失去了作用,这产生了很大的浪费。在光学系统设计更改时,也要重新设计并制造拉直装置,这也增加了工作量。
发明内容
为避免造成过多浪费并减少设计和生产的工作量,本实用新型提出一种能够满足不同科研试制热像仪产品光学系统通用拉直模拟装置。
一种光学系统通用拉直模拟装置,其特征在于该装置包括底座、导轨、大透镜框、探测器支架和透镜支架;所述底座水平设置,所述导轨左右对称固定在底座顶面,所述大透镜框固定在底座最前端中间位置,所述透镜支架由滑座、第一三维微调架和小透镜框构成,所述第一三维微调架固定在滑座上,所述小透镜框通过旋转机构安装在第一三维微调架前侧,所述滑座滑动安装在导轨上;所述探测器支架由固定板、第二三维微调架和架板构成,所述第二三维微调架固定在固定板上,所述架板安装在三维微调支架前侧,固定板通过螺栓安装在底座后端中间位置。
所述旋转机构的旋转角度最大为180度,并能在180度内的任意角度固定。
所述透镜支架的滑座一侧设置一个紧固螺钉,用于将透镜支架固定在导轨上的固定位置。
所述第一三维微调架上设置有X轴方向调节旋钮、Y轴方向调节旋钮和Z轴方向调节旋钮,用于调节小透镜框在XYZ三轴方向的微距。
所述第二三维微调架上设置有X轴方向调节旋钮、Y轴方向调节旋钮和Z轴方向调节旋钮,用于调节探测器在XYZ三轴方向的微距调节。
所述导轨上设有刻度,用于精准调节透镜支架的间距。
所述探测器支架和透镜支架上均安装角码,加强第一三维微调架和第二三维微调架的稳固性。
所述两根导轨上的小透镜框左右交叉放置,可避免因滑块间的间隙过大导致透镜之间间距过大的情况。
本实用新型的有益效果在于:具有一定的通用性,可以适用于多种不同的光学系统,减少了浪费情况的发生,也减少了设计工作的工作量,为光学系统的验证带来便利。
附图说明
图1为本实用新型的整体结构示意图;
图2为透镜支架的结构示意图;
图3为透镜支架的正视图;
图4为透镜支架的侧视图;
图5为探测器支架的结构示意图;
图6为探测器支架的正视图;
图7为探测器支架的侧视图;
其中,1-底座,2-导轨,3-大头镜框,4-探测器支架,41-固定板,42-第二三维微调架,43-架板,5-透镜支架,51-滑座,52-第一三维微调架,53-小透镜框,54-旋转机构,6-X轴方向调节旋钮,7-Y轴方向调节旋钮,8-Z轴方向调节旋钮,9-紧固螺钉,10-角码
具体实施方式
实施例1:如图1所示的一种光学系统通用拉直模拟装置包括底座1、导轨2、大透镜框3、探测器支架4和透镜支架5;底座1水平放置,导轨2通过螺栓左右对称固定在底座1顶面上,导轨2上有刻度,在对透镜支架5进行调节时能更为精准的控制调节距离;大透镜框3通过螺栓固定在底座1最前端中间位置。
透镜支架5由滑座51、第一三维微调架52和小透镜框53构成,第一三维微调架52固定安装在滑座51上,小透镜框通过旋转机构54安装在第一三维微调架52前侧,旋转机构54能够带动小透镜框进行最大180度的旋转并在180度内的任意角度固定。在第一三维微调架52后侧安装一个角码10,加强第一三维微调架52的稳固性,将滑座51滑动安装在两根导轨2上,因为同一根导轨2上的滑座51间的最小间距大于透镜间的最小间距,本实施例中左右两根导轨2上通过透镜支架5固定的透镜采用左右交叉放置的方法。
探测器支架4由固定板41、第二三维微调架42和架板43构成,第二三维微调架42固定安装在固定板41上,架板41安装在第二三维微调架42前侧,在第二三维微调架42后侧安装一个角码10,加强第二三维微调架42的稳固性,再将固定板41通过螺栓安装在底座1后端中间位置。滑座51一侧设置一个紧固螺钉9,当将透镜支架5滑动到理论位置时,通过紧固螺钉9将该透镜支架5固定住。
在使用该装置时,先将各透镜放入相应透镜框,用特制等厚胶条塞入透镜框与透镜之间四个点,胶条厚度略大于透镜与透镜框的缝隙,通过胶条弹力使透镜位于透镜框正中。将拉直装置放置于水平放置的自准直仪上,先用立方晶体保证大透镜框3的安装基准面垂直于自准直仪发出的光线。将大透镜固定在大头镜框3后,利用自准直仪调节大透镜框3,使透镜光轴与自准直仪光轴处于同一直线。
由于零件在加工过程中存在误差,组装成该装置后会使同轴发生变化。因此单个透镜可以在在X轴、Y轴、Z轴方向进行微调。通过导轨2和第一三维微调架上的滑座51和X轴方向调节钮6进行X轴方向的调节,Y轴方向调节旋钮7进行Y轴方向的调节,Z轴方向调节旋钮8进行Z轴方向的调节。探测器支架4用来放置探测器,探测器支架4上的第二三维微调架42与第一三维微调架52拥有同样的XYZ轴调节部件和调节方法。将探测器安装在架板43上后,通过调节,保证探测器与光学系统的光轴一致性。
调节完成后,对光学系统进行验证。

Claims (8)

1.一种光学系统通用拉直模拟装置,其特征在于该装置包括底座、导轨、大透镜框、探测器支架和透镜支架;所述底座水平设置,所述导轨左右对称固定在底座顶面,所述大透镜框固定在底座最前端中间位置,所述透镜支架由滑座、第一三维微调架和小透镜框构成,所述第一三维微调架固定在滑座上,所述小透镜框通过旋转机构安装在第一三维微调架前侧,所述滑座滑动安装在导轨上;所述探测器支架由固定板、第二三维微调架和架板构成,所述第二三维微调架固定在固定板上,所述架板安装在三维微调支架前侧,固定板通过螺栓安装在底座后端中间位置。
2.如权利要求1所述的一种光学系统通用拉直模拟装置,其特征在于所述旋转机构的旋转角度最大为180度,并能在180度内的任意角度固定。
3.如权利要求1所述的一种光学系统通用拉直模拟装置,其特征在于所述透镜支架的滑座一侧设置一个紧固螺钉。
4.如权利要求1所述的一种光学系统通用拉直模拟装置,其特征在于所述第一三维微调架上设置有X轴方向调节旋钮、Y轴方向调节旋钮和Z轴方向调节旋钮。
5.如权利要求1所述的一种光学系统通用拉直模拟装置,其特征在于所述第二三维微调架上设置有X轴方向调节旋钮、Y轴方向调节旋钮和Z轴方向调节旋钮。
6.如权利要求1所述的一种光学系统通用拉直模拟装置,其特征在于所述导轨上设有刻度。
7.如权利要求1所述的一种光学系统通用拉直模拟装置,其特征在于所述探测器支架和透镜支架上均安装角码。
8.如权利要求1所述的一种光学系统通用拉直模拟装置,其特征在于所述两根导轨上的小透镜框左右交叉放置。
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