CN217739430U - 一种开短路测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型旨在提供一种成本低，IO资源丰富的开短路测试装置。本实用新型包括电源模块、MCU模块、IO扩展模块以及通道切换模块，所述电源模块供压给所述MCU模块、所述IO扩展模块以及所述通道切换模块，所述IO扩展模块包括型号为CAT9555的IO扩展芯片，所述MCU模块通过IC2与所述IO扩展芯片通信，所述IO扩展芯片通过电压的拉高和拉低的组合可以设置出8个地址，每一个所述IO扩展芯片有16个IO口，所述通道切换模块包括继电器，所述继电器的第一引脚作为IO控制信号的端口，所述继电器的第二引脚与所述电源模块电连接，所述继电器的第三引脚作为输出信号的端口，所述继电器的第四引脚作为待测试信号的端口。本实用新型应用于测试通道的技术领域。
Description
技术领域
本实用新型应用于测试通道的技术领域,特别涉及一种开短路测试装置。
背景技术
信号通路是指信号传输的通道，开短路测试主要是用于测试电子器件的连接情况，开短路测试就是测试开路与短路，具体点说就是测试一个电子器件应该连接的地方是否连接，如果没有连接上就是开路，如果不应该连接的地方连接了就是短路。IO口是IC上通用的输入输出引脚的简称，可以供使用者程控自由使用，既可以输出信号，也可以读取信号。目前市面上通过使用MCU自身的IO口直连驱动IC进行通道切换，这样1个IO口只能驱动一路通道，通常测试中多个信号就将耗尽整个MCU的资源，需要叠加多块板卡使用，显然造成很高的成本，中国专利CN207976559U公开了一种多通道高速芯片开短路测试仪，采用12X8的矩阵模式,满足多通道的设置，实现并行通讯，但其IO的数量较少，测试效率不够高，同时MCU模块的芯片型号为STM32F407ZET6，造价较为昂贵，因此有必要提供一种成本低，IO资源丰富的开短路测试装置。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种成本低，IO资源丰富的开短路测试装置。
本实用新型所采用的技术方案是：本实用新型包括电源模块、MCU模块、IO扩展模块以及通道切换模块，所述电源模块供压给所述MCU模块、所述IO扩展模块以及所述通道切换模块，所述IO扩展模块包括型号为CAT9555的IO扩展芯片，所述MCU模块通过IC2与所述IO扩展芯片通信，所述IO扩展芯片通过电压的拉高和拉低的组合可以设置出8个地址，每一个所述IO扩展芯片有16个IO口，所述通道切换模块包括继电器，所述继电器的第一引脚作为IO控制信号的端口，所述继电器的第二引脚与所述电源模块电连接，所述继电器的第三引脚作为输出信号的端口，所述继电器的第四引脚作为待测试信号的端口。
由上述方案可见，所述电源模块供压PP3V3给所述MCU模块，所述电源模块供压PP3V3给所述IO扩展芯片，所述电源模块供压PP5V给所述通道切换模块，所述MCU模块通过I2C通信与所述IO扩展芯片连接起来，所述IO扩展芯片CAT9555的地址位是3位，因此可以连接8PCS所述IO扩展芯片，只要所述IO扩展芯片的地址位够用，就可以添加上去，非常适合快速扩展，所述IO扩展芯片通过电压的拉高和拉低组合可以设置出8种地址，所述MCU模块可以通过I2C接入8个CAT9555，每个CAT9555有16个IO口，共计128个IO口被扩展出来以供使用，所述MCU模块发出的通道选通指令，CAT955接到控制指令，选中自身16路中的1路IO口进行输出高或者低电平，所述继电器为光敏继电器，当输出低电平时，所述光敏继电器的光耦通路导通，LED发光，所述光敏继电器中第一引脚和第二引脚导通，这样DUT的信号通过CC_POS输出，从而达到切换通道的目的。
一个优选方案是，所述MCU模块包括型号为STM32F103RCT6的MCU芯片。
由上述方案可见，STM32F103RCT6价格便宜，IO资源丰富，程序固件对寄存器的封装成熟，非常容易进行程序开发。
一个优选方案是，所述MCU芯片的第五十八引脚与所述IO扩展芯片的第二十二引脚均作为时钟线SCL的端口，所述MCU芯片的第五十九引脚与所述IO扩展芯片的第二十三引脚均作为双向数据线SDA的端口。
由上述方案可见，I2C包括双向数据线SDA和时钟线SCL，所述MCU芯片的第五十八引脚与所述IO扩展芯片的第二十二引脚均作为时钟线SCL的端口，所述MCU芯片的第五十九引脚与所述IO扩展芯片的第二十三引脚均作为双向数据线的端口，从所述MCU芯片上引出通信的I2C的信号PB6,PB7，CAT的地址，3位编码不从所述MCU芯片上走，这样可以节省IO资源。
一个优选方案是，所述IO扩展芯片还包括引脚A0、引脚A1以及引脚A2，所述引脚A0、所述引脚A1以及所述引脚A2分别连接电阻R，形成端口电平，得到地址为：001、000、010、011、100、101、110以及111。
由上述方案可见，所述电阻R的阻值为10K，所述引脚A0、所述引脚A1以及所述引脚A2分别通过所述电阻R上拉和下拉的方式，形成端口电平0或1，当所述引脚A0上拉PP3V3端口为1，所述引脚A1和所述引脚A2下拉到GND端口为0，得到地址A0~A2: 001，通过这个地址所述MCU芯片就能准确的找到当前所述IO扩展芯片CAT9555，其它跟所述MCU芯片通信的所述IO扩展芯片CAT9555通过这样的方法设置成不同的地址位，比如：000、010、011、100、101、110以及111。
附图说明
图1是本实用新型的整体框图；
图2是所述MCU模块与所述IO扩展模块的电路原理图；
图3是所述通道切换模块的电路原理图；
图4是所述IO扩展芯片的电路原理图；
图5是所述MCU芯片的电路原理图。
具体实施方式
如图1至图5所示，在本实施例中，本实用新型包括电源模块1、MCU模块2、IO扩展模块3以及通道切换模块4，所述电源模块1供压给所述MCU模块2、所述IO扩展模块3以及所述通道切换模块4，所述IO扩展模块3包括型号为CAT9555的IO扩展芯片，所述MCU模块2通过IC2与所述IO扩展芯片通信，所述IO扩展芯片通过电压的拉高和拉低的组合可以设置出8个地址，每一个所述IO扩展芯片有16个IO口，所述通道切换模块4包括继电器，所述继电器的第一引脚作为IO控制信号的端口，所述继电器的第二引脚与所述电源模块1电连接，所述继电器的第三引脚作为输出信号6的端口，所述继电器的第四引脚作为待测试信号5的端口。
在本实施例中，所述MCU模块2包括型号为STM32F103RCT6的MCU芯片。
在本实施例中，所述MCU芯片的第五十八引脚与所述IO扩展芯片的第二十二引脚均作为时钟线SCL的端口，所述MCU芯片的第五十九引脚与所述IO扩展芯片的第二十三引脚均作为双向数据线SDA的端口。
在本实施例中，所述IO扩展芯片还包括引脚A0、引脚A1以及引脚A2，所述引脚A0、所述引脚A1以及所述引脚A2分别连接电阻R，形成端口电平，得到地址为：001、000、010、011、100、101、110以及111。
在本实施例中，所述继电器的芯片型号为AQY212GS。
本实用新型的工作原理：所述电源模块供压PP3V3给所述MCU模块，所述电源模块供压PP3V3给所述IO扩展芯片，所述电源模块供压PP5V给所述通道切换模块，所述MCU模块通过I2C通信与所述IO扩展芯片连接起来，所述IO扩展芯片通过电压的拉高和拉低组合可以设置出8种地址，每个所述IO扩展芯片有16个IO口，共计128个IO口被扩展出来以供使用，所述MCU模块发出的通道选通指令，所述IO扩展芯片接到控制指令，选中自身16路中的1路IO口进行输出高或者低电平，当输出低电平时，所述光敏继电器的光耦通路导通，LED发光，所述光敏继电器中第一引脚和第二引脚导通，所述继电器的第三引脚作为所述输出信号的端口，所述继电器的第四引脚作为所述待测试信号的端口，这样DUT的信号通过CC_POS输出，从而达到切换通道的目的。
Claims (4)
1.一种开短路测试装置，其特征在于：它包括电源模块（1）、MCU模块（2）、IO扩展模块（3）以及通道切换模块（4），所述电源模块（1）供压给所述MCU模块（2）、所述IO扩展模块（3）以及所述通道切换模块（4），所述IO扩展模块（3）包括型号为CAT9555的IO扩展芯片，所述MCU模块（2）通过IC2与所述IO扩展芯片通信，所述IO扩展芯片通过电压的拉高和拉低的组合可以设置出8个地址，每一个所述IO扩展芯片有16个IO口，所述通道切换模块（4）包括继电器，所述继电器的第一引脚作为IO控制信号的端口，所述继电器的第二引脚与所述电源模块（1）电连接，所述继电器的第三引脚作为输出信号（6）的端口，所述继电器的第四引脚作为待测试信号（5）的端口。
2.根据权利要求1所述的一种开短路测试装置，其特征在于：所述MCU模块（2）包括型号为STM32F103RCT6的MCU芯片。
3.根据权利要求2所述的一种开短路测试装置，其特征在于：所述MCU芯片的第五十八引脚与所述IO扩展芯片的第二十二引脚均作为时钟线SCL的端口，所述MCU芯片的第五十九引脚与所述IO扩展芯片的第二十三引脚均作为双向数据线SDA的端口。
4.根据权利要求1所述的一种开短路测试装置，其特征在于：所述IO扩展芯片还包括引脚A0、引脚A1以及引脚A2，所述引脚A0、所述引脚A1以及所述引脚A2分别连接电阻R，形成端口电平，得到地址为：001、000、010、011、100、101、110以及111。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN202220139316.9U CN217739430U (zh) | 2022-01-19 | 2022-01-19 | 一种开短路测试装置 |
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Publications (1)
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Country Status (1)
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115856573A (zh) * | 2022-11-30 | 2023-03-28 | 珠海英集芯半导体有限公司 | 一种芯片量产测试的pd协议测试系统及其方法 |
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2022
- 2022-01-19 CN CN202220139316.9U patent/CN217739430U/zh active Active
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| CN115856573A (zh) * | 2022-11-30 | 2023-03-28 | 珠海英集芯半导体有限公司 | 一种芯片量产测试的pd协议测试系统及其方法 |
| CN115856573B (zh) * | 2022-11-30 | 2023-10-03 | 珠海英集芯半导体有限公司 | 一种芯片量产测试的pd协议测试系统及其方法 |
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